JPS60160618A - X線リトグラフイー用のマスクリングアセンブリ - Google Patents

X線リトグラフイー用のマスクリングアセンブリ

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JPS60160618A
JPS60160618A JP60000265A JP26585A JPS60160618A JP S60160618 A JPS60160618 A JP S60160618A JP 60000265 A JP60000265 A JP 60000265A JP 26585 A JP26585 A JP 26585A JP S60160618 A JPS60160618 A JP S60160618A
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JP
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assembly
mask ring
shaped
mask
ball
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JP60000265A
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ウオレン・デスケノクス
グレゴリイ・ヒユーズ
ジヤステイン・クロイツアー
カルロ・ラ・フイアンドラ
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Applied Biosystems Inc
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Perkin Elmer Corp
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F1/00Originals for photomechanical production of textured or patterned surfaces, e.g., masks, photo-masks, reticles; Mask blanks or pellicles therefor; Containers specially adapted therefor; Preparation thereof
    • G03F1/22Masks or mask blanks for imaging by radiation of 100nm or shorter wavelength, e.g. X-ray masks, extreme ultraviolet [EUV] masks; Preparation thereof

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野: 本発明はリトグラフィー系に関し、詳細にはX線リトグ
ラフィー系に使用するための新規の改善されたマスクリ
ングアセンブリに関する。
本発明の概念により形成されたX線リトグラフィー系は
種々の可能な用途のうち工Cパターン複製に使用するた
めにとくに適する。
本出願はxlfM陽極アセンブリ″X −ray An
odeAssembly”の名称による米国特願第号(
代1人整理番号M x −5’2 Q 5 )、X線リ
トグラフィー系” X−ray Lithogr’ap
hy System”の名称による米国特許第 号(代
理人 整理番号(MI−’3052)およびX線マスクシンゲ
アセンブリおよびその製造装置” An X−ray 
Mask Ring Assembly、ana Ap
paratus forMakingSame”の名称
による米国特願第号(代理人整理番号Mニー3167)
と密接に関連する。これらすべての特願は本出願と同日
出願で同じ出願人による。これらの特願に含まれる開示
もここに参照される。
従来の技術: X線IJ )グラフィーは近接パターン製造技術である
。金パターンX線マスクはマスクに密に近接して保持さ
れるレジスト被覆したウエノ・を露光するため軟X線を
選択的に吸収および透過するため使用される。X線マス
ク自体は剛性マウントリン〃8によって支持されるBN
XSiC!またはTiの薄い基板からなる。金マスク吸
収体パターンは基板に析出した厚さ700DAの金フィ
ルムのエツチングにより、または特殊な低応力金メツキ
法により形成される。
7入軟X線は真空室内にいっしょに配置した高出力源、
水冷回転陽極および電子銃によって発生させる。X線は
中空円錐形電子ビーム全陽極の回転するタングステン表
面へ集束することによって発生する。円筒形の高出力電
子銃により小直径のスポットに発生したX線がこのスポ
ットを通過するようにすることができる。X線放射のこ
の発散円錐は次に薄いべIJ IJウム真空窓全通って
ヘリウム全光てんした露光室へ入る。
マスクとウニ・・は露光室へ挿入する前に近接して位置
合せされ、露光の間その位置が維持される。
現在まで提案されたマスクリングアセンブリはかなり好
結果を有するけれど、本発明により後述のようにこのよ
うな系が改善される。
この分野の関連特許にはとくに米国特許第674384
2号、第3892973号、第403’7111号、第
4085529号、第4185202号、第41874
31号、第4215192号、第4238682号、第
4301267号および第4335313号が含まれる
発明が解決しようとする問題点: したがって本発明の目的はX線リトグラフィー系に使用
する間、許容しうる歪限界内でその位置に保持しうる新
規の改善されたマスクリングアセンブリを得ることであ
る。
問題点全解決するための手段: 要約すれば本発明のこの目的および他の目的はマスクリ
ング、位置合せカートリッジ上にこのマスクリングを除
去可能にマウントするだめの多数の可動マウント(ki
nematic mounts) ’t’有し、この可
動マウントがそれぞれたとえば円錐形または球形シート
(6θat)部材のようなロート形シートおよびたとえ
ば球形でありうる対応するボール形部材を有し、この部
材の1つがマスクリングの部拐であり、他の部材が位置
合せカートリッジにマウントされることにより達成され
る。本発明の1実施例によればこの部材を互いに保持す
るため真空装置が備えられる。
本発明の他の実施例によればボール形部材を位置合せカ
ートリッジ上にマウントするため半径方向に弾性のたわ
み装置が備えられる。
以下の詳細な説明をよりよく理解しうるように、かつ本
発明の当業界に対する貢献をよりよく評価しうるように
、本発明の多数の重要な特徴を広範囲に概観した。後述
の本発明の付加的特徴は特許請求の範囲第2〜9項およ
び第11項に記載される。当業者は開示が基健とする概
念を本発明の種々の目的を実施するだめの他のアセンプ
IJ e設計するだめの基礎として容易に使用すること
ができる。それゆえ特許請求の範囲は本発明の精神およ
び範囲から離れない同等のアセンシリを改善するもので
あることは重要である。
実施例: 第1図は真直な円形マスクリング10を示し、その上面
にマスク薄膜12が緊張される。このリングの底面にた
とえば円錐形または球形シート14のような6つの離れ
たロート状シートが配置される。マスクリングはたとえ
ばチタンまたはパイレックスのような任意・の適当な材
料から製造される。シートはリング内に設置される。
マスクの歪みの原因となる大きい応力およびそれに伴う
歪み金避けるため、マスクリングの6つの円錐形シート
の位置は非常に狭い機械的公差たとえば約0.005 
L++i(0,OD 02インチ)程度に維持しなけれ
ばならない。
マスクパターンはマスク薄膜12に適当な手段たとえば
電子ビームによりエッチされる。電子♂−ム装置は位置
合せのためリング10の上面およびノツチまたはスロッ
ト16を使用する。
これらの同じ参照手段がマスクリングアセンブリの製造
にも使用され、それによって参照位置の連続性が得られ
る。
第2図は第6図に全体的に18で示す位置合せカートリ
ッジにマスクリング10を除去可能にマウントするため
の可動マウント會示す。とくに6つのこのようなマウン
トが使用される。
各マウントはロート状シート14および対応するたとえ
ば球形でありうるボール形部材20全含む。第2図に示
す実施例ではロート状7−ト14は円錐形である。円錐
角は有利な位置合せ処理が特定の方向に得られるように
決定される。
たとえば直線的円筒を使用すればすべての水平または横
のアラインメントがあり、垂直のアラインメントはない
。平らな表面を使用すればすべての垂直アラインメント
があり、水平または横のアラインメントはない。図示の
実施例で円錐角は約60°でろり、それによって臨界的
水平すなわちXおよびY方向アラインメントが優先する
円錐形シート部材をカートリッジによって支持し、ボー
ル部材をマスクリングによって支持しうるけれど、第2
図は1反対を示し、すなわちシートはリングに、ボール
はカートリッジに配置される。
第2図に明らかなようにボール形部材20はポスト22
にたとえば24で摩擦溶接により固定的に結合される。
孔または通路26がが−ルおよびポストにたとえば放電
加工される。通路26の外側端部28は真空源に接続さ
れ、内側端部は円錐またはシート14とボール200間
の空間または室に接続される。これはシールされた室で
あり、したがって真空はシート全ボールへ繰返し可能の
正確な力で引付けるために役立つ。円錐形または球形シ
ートをVブロックの代りに使用しうろことは有利である
。というのはシートはボールとの組合せで小さいシール
された室を形成し、この室へ真空がシートラ正確な繰返
し可能の力で引付けるため適用されるからである。この
力はX線リトグラフィー系に必要な種々の作業を通して
維持される。所望により正圧を通路26の端部28に適
用し、シート14に対する分離力を得ることができる。
これはクリーニングの目的で使用することもできる。
ポスト22は半径方向に弾性のたわみ装置32の孔へた
とえば圧力嵌めすることによりカートリッジに固定的に
結合される。
次に第6図によればマスクリング10はカートリッジ1
8にマウントして示され、この場合シート14はンぜ−
ル20に支持される。各ボール20はカートリッジ18
内の共通の板34に半径方向に弾性のたわみ装置32を
介して支持される。すなわち6つの1ドールおよび6つ
の円錐が使用され、それによってマスクリング突上の正
確な位置に最小の変形および適当な力で保持するため真
空を使用することができる。しかし6つの円錐を使用す
る事実から過大拘束が生じ、そのためボールを半径方向
に弾性にすることが必要であり、それによって拘束のな
い適当な可動支持が達成される。弾性たわみ装置32は
この目的に役立つ。
さらに第6図によればカートリッジの関連部材は共通の
板34をカートリッジボデー38へ接続するためのねじ
装置36を含む。共通板34はX線パターンのマスクリ
ングに対する配置誤差を調節するためX、Y方向および
垂直軸を中心とする回転方向に調節可能である。X 線
パターンは非常に正確に製造できるけれど、この正確に
製造したパターンの位置は高度の精度でセットし得ない
。この系内の調節から逸脱しないように粗または前位置
合せ装置が備えられる。
これは共通板34の配置によって実施される。
さらにカートリッジはウェハ42を支持するだめのウェ
ハチャック40を有する。垂直たわみロッド44はウェ
ハチャック40の下部に結合され、レバー縮小機構46
は垂直たわみロッド44を調節ノブ47と結合する。6
つの離れた垂直たわみロッドがウェハの微調節およびそ
の2方向の傾斜の制御ならびにマスク位置に対する近接
ギャップ全制御するため配置される。°さらに半径方向
または水平たわみロッド48がレバー縮小機構50に接
続され、この機構はこの目的のため備えた調節ノブ52
によって制御される。6つの離れた水平たわみロッドは
そのXおよびY方向の横の制御およびマスクに対し垂直
軸全中心に回転するウェハの微調節全制御するため備え
られる。
このように本発明によりX線リトグラフィー用の新規の
改善されたマスクリングアセンブリが得られ、このアセ
ンブリは使用の間最小の応力および歪みをリングに負荷
しながら許容しうる歪みの限界内でその場に剛性に保持
することができ、この制限された歪みはすべての自由度
に高度に再現可能であり、このアセンブリは電子ビーム
装置および方法に適する。
特殊な実施例を説明したけれど、特許請求の範囲によっ
てのみ制限される本発明の思想および範囲から離れるこ
となく種々の改善葡なしうろことは当業者には明らかで
ある。。
【図面の簡単な説明】
第1図はマスクリングを下から見た平面図、第1a図は
第1図のIa−1aの線断面図、第2図は第1図のマス
クリングを位置合せカートリッジにマウントするだめの
可動マウントの垂直断面図、第6図は位置合せカー) 
IJツジにマウントしたマスクリングアセンブリの垂直
断面図である。 10・・・マスクリング 12・・・マスク 14・・
・シート 20・・・が−ル 22・・・ボスト 32
・・・たわみ装置 34・・・共通板 38・・・カー
トリッジボデー 40・・・ウェハチャック 44 、
48・・・たわみロッド FIG、 /α FIG、/ ! I J、、、1 第1頁の続き 0発 明 者 カル口・う・フイアン アメドラ ズ・ リカ合衆国コネチカット・ニュー・カナーン・チースプ
リング・ロード 725

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、 マスクリング; このマスクリング全位置合せカートリッジ上に除去可能
    にマウントするだめの多数の可動マウント 合有し、 この可動マウントがそれぞれロート状シート部材および
    対応するボール形部材を有し、この部材の1つがマスク
    リングに配置され、他の部材が位置合せカートリッジ上
    にマウントされている ことを特徴とするX線リトグラフィー用のマスクリング
    アセンブリ。 2、 ボール形部材が位置合せカートリッジにマウント
    され、ロート状シート部材がマスクリングに設けられて
    いる特許請求の範囲第1項記載のアセンブリ。 6、 多数の可動マウントが互いに120°離れた3つ
    のマウントからなる特許請求の範囲第1項記載のアセン
    ブリ。 4、各ボール形部材がそれを貫通してそれぞれのロート
    形シート部材へ拡がる流体通路を有する特許請求の範囲
    第1項記載のアセンブリ。 5、位置合せカートリッジ上に他の部材をマウントする
    ため半径方向に弾性のたわみ装置上布する特許請求の範
    囲第1項記載のアセンブリ。 6、 ロート形シート部材が円錐形ノート部材である特
    許請求の範囲第1項記載のアセンブリ。 l 各円錐形シートが60°の頂角を有する特許請求の
    範囲第6項記載のアセンブリ。 8、 ロート形シート部材および対応するボール形部材
    がそれぞれその間にシールした完全形成するように協力
    作用し、さらにこのアセンブリがこれらの部材をいっし
    ょに保持するため、この室に真空を形成する装置を有す
    る特許請求の範囲第1項記載のアセ/、ブリ。 9. マスクリングがその周縁に位置合せノツチ全方す
    る特許請求の範囲第1項記載のアセンブリ。 10、マスクリング; 位置合せカートリッジ上にこのマスクリング全除去可能
    にマウントするだめの互いに120°離れた6つの可動
    マウント 全有し、 この可動マウントがそれぞれマスクリングの部材として
    円錐形シートを有し、各円錐形シートが60°の円錐角
    を有し、 可動マウントがそれぞれ対応するボール形部材およびこ
    のボール形部材のそれぞれを位置合せカートリッジにマ
    ウントするための半径方向に弾性のたわみ装置?有し、 各円錐形シートおよびその対応するボール形部材がその
    間にシールした室を形成するように協力作用し、これら
    の部材を互いに保持するようにこの室内に真空全形成す
    るため、が−ル形部材がそれを貫通して円錐形シートま
    で拡がる流体通路を有する ことを特徴とするX線リトグラフィー用のマスクリング
    アセンブリ。 11、各ボール形部材がポストへ摩擦溶接され、このポ
    ストが半径方向に弾性のたわみ装置へ固定的に結合され
    ている特許請求の範囲第10項記載のアセンブリ。
JP60000265A 1984-01-06 1985-01-07 X線リトグラフイー用のマスクリングアセンブリ Granted JPS60160618A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US06/568,776 US4534047A (en) 1984-01-06 1984-01-06 Mask ring assembly for X-ray lithography
US568776 1984-01-06

Publications (2)

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JPS60160618A true JPS60160618A (ja) 1985-08-22
JPH0447452B2 JPH0447452B2 (ja) 1992-08-04

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JP60000265A Granted JPS60160618A (ja) 1984-01-06 1985-01-07 X線リトグラフイー用のマスクリングアセンブリ

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JP (1) JPS60160618A (ja)
DE (1) DE3435019A1 (ja)
GB (1) GB2152704B (ja)

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