JPS60158527A - リレ−駆動方法 - Google Patents
リレ−駆動方法Info
- Publication number
- JPS60158527A JPS60158527A JP59013970A JP1397084A JPS60158527A JP S60158527 A JPS60158527 A JP S60158527A JP 59013970 A JP59013970 A JP 59013970A JP 1397084 A JP1397084 A JP 1397084A JP S60158527 A JPS60158527 A JP S60158527A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- relay
- switch
- switching mode
- matrix
- switches
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01H—ELECTRIC SWITCHES; RELAYS; SELECTORS; EMERGENCY PROTECTIVE DEVICES
- H01H1/00—Contacts
- H01H1/60—Auxiliary means structurally associated with the switch for cleaning or lubricating contact-making surfaces
- H01H1/605—Cleaning of contact-making surfaces by relatively high voltage pulses
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01H—ELECTRIC SWITCHES; RELAYS; SELECTORS; EMERGENCY PROTECTIVE DEVICES
- H01H47/00—Circuit arrangements not adapted to a particular application of the relay and designed to obtain desired operating characteristics or to provide energising current
Landscapes
- Relay Circuits (AREA)
- Keying Circuit Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
何）発明の利用分野
本発明は集積回路試験装置（ＩＣテスタ）等で使用され
るリレーマトリクスの駆動方法に関する。
るリレーマトリクスの駆動方法に関する。
（ロ）従来技術
従来から、ＩＣテスタ等の種々の装置でリレーマトリク
スが使用さｎでいる。前記リレーマトリクスを駆動する
方法は、大別すると２種類の方法に分げらｎる。まず第
１の方法は、ウェット・スイッチング・モードと称され
る方法で、前記リレーマトリクスを測定用電源に接続し
た状態即ち、前記リレーマトリクスに電圧ｌ電流を供給
した状態で、前記リレーマトリクス内のリレーを切り換
える方法である。
スが使用さｎでいる。前記リレーマトリクスを駆動する
方法は、大別すると２種類の方法に分げらｎる。まず第
１の方法は、ウェット・スイッチング・モードと称され
る方法で、前記リレーマトリクスを測定用電源に接続し
た状態即ち、前記リレーマトリクスに電圧ｌ電流を供給
した状態で、前記リレーマトリクス内のリレーを切り換
える方法である。
第２の方法は、ドライ・スイッチング・モードと称さイ
する方法で、前記リレーマトリクスを前記測定用′電源
から切り離しｔこ状態即ち、前記リレーマ） ＩＪクス
に直圧ノ成流を供給しない状態で、前記リレーを切り換
える方法である。
する方法で、前記リレーマトリクスを前記測定用′電源
から切り離しｔこ状態即ち、前記リレーマ） ＩＪクス
に直圧ノ成流を供給しない状態で、前記リレーを切り換
える方法である。
ウエツ）−スイッチング・モードにおいては、前記リレ
ーに電圧７醒流を印加した状態で前記リレーを切り換え
ているので、リレーを開閉するたびに火花が発生する。
ーに電圧７醒流を印加した状態で前記リレーを切り換え
ているので、リレーを開閉するたびに火花が発生する。
そのために前記リレーの接点が摩耗し、寿命が短かくな
るという欠点があった。一方、ドライ・スイッチング・
モードにおいては′電源を切り離した状態で前記リレー
の切り換えを行なっているため、切り換え時の火花は発
生せず、寿命が短か（なる等の欠点は生じない。実験結
果によれば、ドライ・スイッチング・モードの場合とウ
ェット・スイッチングモードの場合とを比較すると、リ
レーの寿命には１００倍のオーダーの開きがある。しか
しながら、ドライ・スイッチング・モードでは火花が発
生しないために、異物、酸化膜等が前記接点に形成８４
Ｌ、接点の接触抵抗が増大し、測定誤差が太き（なる等
の欠点かあつｔこ。
るという欠点があった。一方、ドライ・スイッチング・
モードにおいては′電源を切り離した状態で前記リレー
の切り換えを行なっているため、切り換え時の火花は発
生せず、寿命が短か（なる等の欠点は生じない。実験結
果によれば、ドライ・スイッチング・モードの場合とウ
ェット・スイッチングモードの場合とを比較すると、リ
レーの寿命には１００倍のオーダーの開きがある。しか
しながら、ドライ・スイッチング・モードでは火花が発
生しないために、異物、酸化膜等が前記接点に形成８４
Ｌ、接点の接触抵抗が増大し、測定誤差が太き（なる等
の欠点かあつｔこ。
（ハ）発明の要約
本発明のリレー駆動方法は、通笥ドライ・スイッチング
・モードで前記ＩＪ ７−を駆動し、所ｕ時にウェット
・スイッチング・モードで前記リレーを駆動することに
より、長寿命且′り接触抵抗が増大しないリレー駆動方
法を提供することを目的とする。ウェット・スイッチン
グ・モードで駆動する回数は使用するリレーの構造、材
質等に応じて選択され、火花によって酸化膜等を除去で
き且′）リレー接点が摩耗しない程度の回数だけ行なわ
れる。又、駆動時期はいつでもよい。
・モードで前記ＩＪ ７−を駆動し、所ｕ時にウェット
・スイッチング・モードで前記リレーを駆動することに
より、長寿命且′り接触抵抗が増大しないリレー駆動方
法を提供することを目的とする。ウェット・スイッチン
グ・モードで駆動する回数は使用するリレーの構造、材
質等に応じて選択され、火花によって酸化膜等を除去で
き且′）リレー接点が摩耗しない程度の回数だけ行なわ
れる。又、駆動時期はいつでもよい。
例えば、駆動時期としては、ＩＣテスタに使用さイする
リレーマトリクスにおいては、ＩＣテスタの起動直後、
ＩＣ特性の測定開始前、あるいはりレーマトリクスの動
作試験前等にウェット・スイッチング−モードで駆動す
る。こｎにより、リレー接点の異物、酸化膜等を除去す
ムその後、１６％性の測定、またはりレーマトリクスの
動作試験を行なう。リレー接点には過大な接触抵抗等が
発生しないため、正確な測定および試験が行なえる。ま
た、実際にｌＣテスタな使用する場合、ウェット・スイ
ッチング・モードで駆動“する回数は１日当り数回で十
分であり、火花によるリレー接点の摩耗はほとんど発生
しないため、ドライ・スイッチング・そ−ドのみによっ
て駆動する場合と同程度に寿命は長（なる。
リレーマトリクスにおいては、ＩＣテスタの起動直後、
ＩＣ特性の測定開始前、あるいはりレーマトリクスの動
作試験前等にウェット・スイッチング−モードで駆動す
る。こｎにより、リレー接点の異物、酸化膜等を除去す
ムその後、１６％性の測定、またはりレーマトリクスの
動作試験を行なう。リレー接点には過大な接触抵抗等が
発生しないため、正確な測定および試験が行なえる。ま
た、実際にｌＣテスタな使用する場合、ウェット・スイ
ッチング・モードで駆動“する回数は１日当り数回で十
分であり、火花によるリレー接点の摩耗はほとんど発生
しないため、ドライ・スイッチング・そ−ドのみによっ
て駆動する場合と同程度に寿命は長（なる。
に）実施例
図は本発明のリレー駆動方法で駆動されるリレーマトリ
クスを具備するＩＣテスタのブロック図である。
クスを具備するＩＣテスタのブロック図である。
図において、リレースイッチ５ｉ−８２５で構成さイす
るリレーマトリクスＩＯは、電圧計２およびスイッチ６
．７，８．９の一方の端子に接続されている。スイッチ
６の他方の端子は直流電源ｌに接続されている。スイッ
チ７．８の他方の端子は′電流計３に接続されている。
るリレーマトリクスＩＯは、電圧計２およびスイッチ６
．７，８．９の一方の端子に接続されている。スイッチ
６の他方の端子は直流電源ｌに接続されている。スイッ
チ７．８の他方の端子は′電流計３に接続されている。
また、スイッチ９の他方の端子は、内部に直流電源およ
び比較回路を有する検出回路５に接続さイｔている。リ
レーマトリクスｌＯの端子１” ■−’Ｉ’ ５は図示
しない東積回路（ＩＣ）の所定端子へ接続８イしている
。スイッチ６〜９およびリレースイッチＳｌ・〜Ｓ２５
は制御回路４によって開閉制御される。
び比較回路を有する検出回路５に接続さイｔている。リ
レーマトリクスｌＯの端子１” ■−’Ｉ’ ５は図示
しない東積回路（ＩＣ）の所定端子へ接続８イしている
。スイッチ６〜９およびリレースイッチＳｌ・〜Ｓ２５
は制御回路４によって開閉制御される。
以［図面を用いて、ＩＣ特性の測定開始前にウェット拳
スイッチング・モードでリレーマトリクス１０を駆動し
、その後ドライ・スイッチング・モードでＩＣ特性の測
定する場合を説明する。
スイッチング・モードでリレーマトリクス１０を駆動し
、その後ドライ・スイッチング・モードでＩＣ特性の測
定する場合を説明する。
初期状態として、スイッチ６・−９およびリレースイッ
チＳ１・〜Ｓ２５は開状態にある。この状態から制御回
路４によりスイッチ９を閉状態にする。
チＳ１・〜Ｓ２５は開状態にある。この状態から制御回
路４によりスイッチ９を閉状態にする。
これによって、検出回路５内の直流電源からりレーマト
リクス１０へ所定の電流が供給される。次にリレースイ
ッチＳｌ、Ｓ２が閉結さイする。これによって、検出器
９からの直流電流がりレースイッチＳ２．Ｓｌを介して
基準電位へ流れ、リレースイッチＳ１，８２はウェット
拳スイッチング・モードで駆動さイｔたことになる。同
様に、リレースイッチＳ２．Ｓ５．Ｓ２５ 、Ｓ２１を
閉結することにより、リレースイッチＳ２．Ｓ５．Ｓ２
５．Ｓ２１はウェット・スイッチング・モードで駆動さ
れる。
リクス１０へ所定の電流が供給される。次にリレースイ
ッチＳｌ、Ｓ２が閉結さイする。これによって、検出器
９からの直流電流がりレースイッチＳ２．Ｓｌを介して
基準電位へ流れ、リレースイッチＳ１，８２はウェット
拳スイッチング・モードで駆動さイｔたことになる。同
様に、リレースイッチＳ２．Ｓ５．Ｓ２５ 、Ｓ２１を
閉結することにより、リレースイッチＳ２．Ｓ５．Ｓ２
５．Ｓ２１はウェット・スイッチング・モードで駆動さ
れる。
リレースイッチ５ｌ−５２５のウェット・スイッチング
・モード駆動は制御回路４に記憶さイｔたプログラムに
よって行なわれる。リレースイッチＳ１・〜８２５全て
が駆動された後、上記動作は完ＴＬ、スイッチ９および
リレースイッチ５ｌ−８２５は開状態にさイする。
・モード駆動は制御回路４に記憶さイｔたプログラムに
よって行なわれる。リレースイッチＳ１・〜８２５全て
が駆動された後、上記動作は完ＴＬ、スイッチ９および
リレースイッチ５ｌ−８２５は開状態にさイする。
次にドライ・スイッチング・モード駆動によるＩＣ測定
が開始される。端子Ｔｌ、Ｔ２間の電圧、直流特性を測
定する場合を考える。この場合、まずリレースイッチＳ
５ 、Ｓ６ 、Ｓ１２ 、Ｓ１３．８１４およびスイッ
チ７．８が閉結さイする。次にスイッチ６が閉結され、
その後、直流′電源ｌの出力電圧はＯＶから所定値電圧
に設定される。直流電源ｌからの′直流はスイッチ６、
リレースイッチ１２゜１４、スイッチ７、電流計３．ス
イッチ８．リソースイソ＋８５＋端子Ｔｌ＋ＩＣ＋ｉ子
’ｆ’２．すｔｚ−スイッチＳ６を通って基準電位へ流
れる。又、′電圧計２はリレースイッチＳ３を介して端
子ｒｉに接続される。これによって端子Ｔ １ 、 Ｔ
２間の電圧、′直流が測定され、電圧計１．電流計３
の測定直からＩＣの直流特性等が得られる。
が開始される。端子Ｔｌ、Ｔ２間の電圧、直流特性を測
定する場合を考える。この場合、まずリレースイッチＳ
５ 、Ｓ６ 、Ｓ１２ 、Ｓ１３．８１４およびスイッ
チ７．８が閉結さイする。次にスイッチ６が閉結され、
その後、直流′電源ｌの出力電圧はＯＶから所定値電圧
に設定される。直流電源ｌからの′直流はスイッチ６、
リレースイッチ１２゜１４、スイッチ７、電流計３．ス
イッチ８．リソースイソ＋８５＋端子Ｔｌ＋ＩＣ＋ｉ子
’ｆ’２．すｔｚ−スイッチＳ６を通って基準電位へ流
れる。又、′電圧計２はリレースイッチＳ３を介して端
子ｒｉに接続される。これによって端子Ｔ １ 、 Ｔ
２間の電圧、′直流が測定され、電圧計１．電流計３
の測定直からＩＣの直流特性等が得られる。
続いて、端子Ｔ ３． Ｔ ４間の特性測定を行なう場
合には、直流′電源の出力電圧がＯｖに戻され、次にス
イッチ６が開状態にされる。次に、リレースイッチ５ｌ
ｆ−８２５の中の所定のリレースイッチのみが閉状態に
さ？”Ｌ、その後スイッチ６が閉結され、前記同様の測
定が行なわれる。測定が完Ｔすると、スイッチ６・〜９
およびリレースイッチ５ｌ−８２５は開状態にされる。
合には、直流′電源の出力電圧がＯｖに戻され、次にス
イッチ６が開状態にされる。次に、リレースイッチ５ｌ
ｆ−８２５の中の所定のリレースイッチのみが閉状態に
さ？”Ｌ、その後スイッチ６が閉結され、前記同様の測
定が行なわれる。測定が完Ｔすると、スイッチ６・〜９
およびリレースイッチ５ｌ−８２５は開状態にされる。
次に、リレーマトリクス１０の動作試験を行なう場合を
考える。
考える。
スイッチ６〜９およびリレースイッチ８１〜Ｓ２５は開
状態にあるものとする。動作試験前にまずウェット・ス
イッチング・モードでリレーマトリクスを駆動する。ま
ず、スイッチ９が閉結サイｔ、リレーマトリクスｌＯへ
検出回路５から直流電圧が印加される。その後制御回路
４に記憶さイｔたプログラムの手順に従がってリレース
イッチＳｌ〜Ｓ２５が順に閉結される。これによって、
ウェット・ス、イツチング・モード駆動がなされたこと
になる。前記動作終了後、スイッチ９、リレースイッチ
８１−８２５は全て開状態にされる。
状態にあるものとする。動作試験前にまずウェット・ス
イッチング・モードでリレーマトリクスを駆動する。ま
ず、スイッチ９が閉結サイｔ、リレーマトリクスｌＯへ
検出回路５から直流電圧が印加される。その後制御回路
４に記憶さイｔたプログラムの手順に従がってリレース
イッチＳｌ〜Ｓ２５が順に閉結される。これによって、
ウェット・ス、イツチング・モード駆動がなされたこと
になる。前記動作終了後、スイッチ９、リレースイッチ
８１−８２５は全て開状態にされる。
次にリレーマトリクスｌＯの動作試験を行なう場合、リ
レースイッチＳｌ・−８２５の中の所定のリレースイッ
チが閉結さＪ”Ｌる。
レースイッチＳｌ・−８２５の中の所定のリレースイッ
チが閉結さＪ”Ｌる。
次にスイッチ９が閉結ｇ Ｊ’Ｌ 、検出回路５かも所
定の直流電流が印加される。前記直流′直流は閉結され
たリレースイッチを介して基準電位に流れる。
定の直流電流が印加される。前記直流′直流は閉結され
たリレースイッチを介して基準電位に流れる。
リレースイッチは接触抵抗等を有しているため、′電圧
を発生する。前記電圧は検出回路５内の比較器によって
期待暗と比較され、各リレースイッチが正常か否かが検
出される。続いて他のリレースイッチの動作試験を行な
う場合は、まずスイッチ９が開かれ、次に所定のリレー
スイッチが閉結された後、スイッチ９が閉結される。上
記動作はリレースイッチＳｌ・〜Ｓ２５全ての動作試験
が行なわれるまで、制御回路４に記憶さイ″したプログ
ラムに従って行なわれる。
を発生する。前記電圧は検出回路５内の比較器によって
期待暗と比較され、各リレースイッチが正常か否かが検
出される。続いて他のリレースイッチの動作試験を行な
う場合は、まずスイッチ９が開かれ、次に所定のリレー
スイッチが閉結された後、スイッチ９が閉結される。上
記動作はリレースイッチＳｌ・〜Ｓ２５全ての動作試験
が行なわれるまで、制御回路４に記憶さイ″したプログ
ラムに従って行なわれる。
図は本発明のリレー駆動方法で駆動さ４％るＩＣテスタ
のブロック図。 ｌ：直流電源、 ２：′醒圧計 ３：電流計、 ４：制御回路 ５：検出回路、 ６，７，８，９ ：スイッチ、ｌＯ：
リレーマトリクス 出願人 横河・ヒユー−ノド・パンカード株式会社代理
人 弁理士 長 谷 川 次 男
のブロック図。 ｌ：直流電源、 ２：′醒圧計 ３：電流計、 ４：制御回路 ５：検出回路、 ６，７，８，９ ：スイッチ、ｌＯ：
リレーマトリクス 出願人 横河・ヒユー−ノド・パンカード株式会社代理
人 弁理士 長 谷 川 次 男
Claims (1)
- 通常、リレーをドライ・スイッチング・モードで駆動し
、所望時、前記リレーをウェット・スイッチング・モー
ドで駆動するリレー駆動方法。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59013970A JPS60158527A (ja) | 1984-01-27 | 1984-01-27 | リレ−駆動方法 |
| US06/689,358 US4617604A (en) | 1984-01-27 | 1985-01-07 | Method for driving a relay |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59013970A JPS60158527A (ja) | 1984-01-27 | 1984-01-27 | リレ−駆動方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60158527A true JPS60158527A (ja) | 1985-08-19 |
Family
ID=11848077
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59013970A Pending JPS60158527A (ja) | 1984-01-27 | 1984-01-27 | リレ−駆動方法 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4617604A (ja) |
| JP (1) | JPS60158527A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8532829B2 (en) * | 2010-10-18 | 2013-09-10 | Delaware Capital Formation, Inc. | Controller for water treatment |
| DE102015016992B4 (de) | 2015-12-24 | 2017-09-28 | Audi Ag | Verfahren zum Reinigen elektrischer Kontakte einer elektrischen Schalteinrichtung und Kraftfahrzeug |
| WO2018011925A1 (ja) | 2016-07-13 | 2018-01-18 | 三菱電機株式会社 | 無電圧出力及び有電圧出力の切り替え回路 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4348759A (en) * | 1979-12-17 | 1982-09-07 | International Business Machines Corporation | Automatic testing of complex semiconductor components with test equipment having less channels than those required by the component under test |
-
1984
- 1984-01-27 JP JP59013970A patent/JPS60158527A/ja active Pending
-
1985
- 1985-01-07 US US06/689,358 patent/US4617604A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4617604A (en) | 1986-10-14 |
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