JPH02213778A - 集積回路装置の検査装置 - Google Patents
集積回路装置の検査装置Info
- Publication number
- JPH02213778A JPH02213778A JP1033744A JP3374489A JPH02213778A JP H02213778 A JPH02213778 A JP H02213778A JP 1033744 A JP1033744 A JP 1033744A JP 3374489 A JP3374489 A JP 3374489A JP H02213778 A JPH02213778 A JP H02213778A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- integrated circuit
- capacitor
- power source
- circuit device
- relay
- Prior art date
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- Pending
Links
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims abstract description 21
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 15
- 238000007689 inspection Methods 0.000 abstract description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、集積回路装置の検査装置に関するものである
。
。
（従来の技術）
第２図は、従来の検査方法を示す図である。第２図を参
照しながら従来例を説明する。
照しながら従来例を説明する。
集積回路装置を集積回路自動検査機を用いて検査する場
合、被検査集積回路装置１の周辺に外付は回路２が付加
される場合が有る。この外付は回路２は、集積回路自動
検査機では実現することのできない測定条件を作るため
、あるいは被検査集積回路装置ｌｌの異常発振を防ぐた
めに付加される。
合、被検査集積回路装置１の周辺に外付は回路２が付加
される場合が有る。この外付は回路２は、集積回路自動
検査機では実現することのできない測定条件を作るため
、あるいは被検査集積回路装置ｌｌの異常発振を防ぐた
めに付加される。
従来この外付は回路２は、第２図に示すように。
直接被検査集積回路装置！！１に接続されていた。
（発明が解決しようとする課題）
しかしながら、上記のような方法では、外付は回路内に
コンデンサが含まれていて、その充電を被検査集積回路
装置が行なわねばならない場合。
コンデンサが含まれていて、その充電を被検査集積回路
装置が行なわねばならない場合。
充電に時間がかかり、そのため検査時間が長くなってし
まうという問題があった。
まうという問題があった。
（課題を解決するための手段）
本発明は、上記の問題を解決するため、被検査集積回路
装置とは別に、コンデンサの充電用電源と、被検査集積
回路と充電用電源との切換リレーを備えたものである。
装置とは別に、コンデンサの充電用電源と、被検査集積
回路と充電用電源との切換リレーを備えたものである。
（作 用）
上記の手段により、外付は回路内のコンデンサを予じめ
高速に充電でき、検査時間を短縮することが可能となる
。
高速に充電でき、検査時間を短縮することが可能となる
。
（実施例）
本発明の実施例について第１図を参照しながら説明する
。第１図においては、外付は回路は電解コンデンサ２そ
のものである。電解コンデンサ２と被検査集積回路装置
１の間にリレー３を設けて、リレー３の一方は集積回路
自動検査機の電源４に接続し、他の一方は被検査集積回
路装Ｗ１に接続する。まず検査のはじめの段階では、リ
レー３は、電源４の方に接続されていて、この電源４に
よってコンデンサ２が充電される１通常このような電ｇ
４の電流容量は１００＠ＡからＩＡ程度であるので。
。第１図においては、外付は回路は電解コンデンサ２そ
のものである。電解コンデンサ２と被検査集積回路装置
１の間にリレー３を設けて、リレー３の一方は集積回路
自動検査機の電源４に接続し、他の一方は被検査集積回
路装Ｗ１に接続する。まず検査のはじめの段階では、リ
レー３は、電源４の方に接続されていて、この電源４に
よってコンデンサ２が充電される１通常このような電ｇ
４の電流容量は１００＠ＡからＩＡ程度であるので。
コンデンサ２の充電は高速に行われる。電源４の印加電
圧としては、被検査集積回路装置ｌｌに直接コンデンサ
２が接続されて定常状態になった時の電圧値をあらかじ
め測定して、これを用いる。電解コンデンサ２の充電が
完了した時点で、リレー３を切換えて、電解コンデンサ
２と被検査集積回路装置１とを接続する。
圧としては、被検査集積回路装置ｌｌに直接コンデンサ
２が接続されて定常状態になった時の電圧値をあらかじ
め測定して、これを用いる。電解コンデンサ２の充電が
完了した時点で、リレー３を切換えて、電解コンデンサ
２と被検査集積回路装置１とを接続する。
（発明の効果）
本発明によれば、集積回路自動検査機内の電源を用いて
外付は回路を高速に定常状態にすることができるので、
集積回路装置の検査時間を大幅に短縮することができる
。
外付は回路を高速に定常状態にすることができるので、
集積回路装置の検査時間を大幅に短縮することができる
。
第１図は、本発明の一実施例における集積回路装置の検
査手段を示す図、第２図は、従来の検査手段を示す図で
ある。 １・・・被検査集積回路装置、 ２・・・外付は回路と
しての電解コンデンサ、 ３ ・・・リレー ４ ・・
・集積回路自動検査機内の電源。 特許出願人 松下電子工業株式会社 第 図 第２図
査手段を示す図、第２図は、従来の検査手段を示す図で
ある。 １・・・被検査集積回路装置、 ２・・・外付は回路と
しての電解コンデンサ、 ３ ・・・リレー ４ ・・
・集積回路自動検査機内の電源。 特許出願人 松下電子工業株式会社 第 図 第２図
Claims (1)
- 集積回路装置を検査する集積回路自動検査機において、
外付け回路中のコンデンサと、前記コンデンサに充電す
る電源と、前記コンデンサを前記充電用電源または被検
査集積回路装置に切換える切換リレーとを備えたことを
特徴とする集積回路装置の検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1033744A JPH02213778A (ja) | 1989-02-15 | 1989-02-15 | 集積回路装置の検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1033744A JPH02213778A (ja) | 1989-02-15 | 1989-02-15 | 集積回路装置の検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02213778A true JPH02213778A (ja) | 1990-08-24 |
Family
ID=12394924
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1033744A Pending JPH02213778A (ja) | 1989-02-15 | 1989-02-15 | 集積回路装置の検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02213778A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN118112397A (zh) * | 2024-04-30 | 2024-05-31 | 杭州芯云半导体技术有限公司 | 一种用于测试集成电路的电路架构及集成电路测试方法 |
-
1989
- 1989-02-15 JP JP1033744A patent/JPH02213778A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN118112397A (zh) * | 2024-04-30 | 2024-05-31 | 杭州芯云半导体技术有限公司 | 一种用于测试集成电路的电路架构及集成电路测试方法 |
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