JPS582622B2 - リレ−寿命試験方式 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はリレー寿命試験方式に関するものである。

一般に、リレーの寿命（信頼度）試１験は、■動作時間
試験、■開放時間試験、■感動電流試験、■開放電流試
験、■接点接触抵抗試験、■接点開放抵抗試験等の各種
試験項目を種々の接点負荷のもとで行うのが理想的であ
る。

接点負荷として純抵抗負荷を用いた場合には上記■項乃
至■項の試験を容易に実施することができるが、接点負
荷としてコンデンサ及び又はコイルを含んだ回路を用い
る場合には、接点の開閉時に接点間に誘導電圧或は共振
電圧等が発生するので、リレーの寿命試験としては最も
重要である上記■項及び■項の試験を半導体素子を用い
た従来の試験装置で試験することが極めて困難である。

従って、従来のリレー寿命試験方式は、接点負荷として
純抵抗負荷のみを用いて上記■項乃至■項の試験を行な
い所要のデータを得ると共に、接点負荷としてキャパシ
タンス及び又はインダクタンスを含む負荷を用いて被試
験リレーを公称動作回数だけ動作させ、しかる後に、純
抵抗負荷におきかえてリレーの所定の公称規格を満足し
ているか否かのチェックを行なっている。

従って従来の試験方式では、接点負荷がキャパシタンス
及び又はインダクタンスを含む負荷である場合の試験デ
ータは、公称動作回数だけ動作した後のデータしか得ら
れず、このため、動作回数の増大に伴うリレーの各種電
気的特性の変化の様子を知ることができず、得られたデ
ータとしての価値が低いという欠点を有している。

また、従来のリレー寿命試験方式として、リレーの１回
当りの開閉動作時間を比較的長くとり、リレーの接点が
閉じた後或は開いた後、負荷回路の影響による過渡的な
状態がほぼ定常状態に移行した時点で測定器を接点に接
続して所要の試験を行うことを繰返すようにした方式も
用いられているが、この従来の方式では測定に多くの時
間を要し、極めて非能率であるきいう欠点を有している
。

本発明の目的は、従来方式の上記欠点を除去した、リレ
ーの寿命試験方式を提供することにある。

上記目的を達成するための本発明の方式の特徴は、リレ
ーの寿命を試験するためのリレー寿命試験方式において
、前記リレーの接点に容量性素子又は誘導性素子の少な
くとも一方を含んで成る接点負荷回路を接続して前記リ
レーの接点を所定回数開閉動作させる操作と、前記リレ
ーの接点に純抵抗負荷を接続して前記リレーの各種試験
データを得るための試験回路に前記リレーを接続して所
要の試験データを所定数得る操作とを繰返し交互に行な
うリレー寿命試験方式にある。

以下、図示の実施例により、本発明の方式を詳細に説明
する。

図面には、本発明の方式によりリレーの寿命試験を行な
うためのリレー試験装置１が示されている。

リレー試験装置１は、リレー２を断続的に駆動するため
、リレー２のコイル３にパルス状の駆動電圧を印加する
ためのリレー駆動回路４と、リレー２の接点５に誘導性
素子及び又は容量性素子の少なくとも１つを含んで成る
負荷を与えるための負荷回路６と、接点５に純抵抗負荷
を接続して、■動作時間試験、■開放時間試験、■感動
電流試験、■開放抵抗試験、■接点接触抵抗試験、■接
点開放抵抗試験の６種の試験を行ない、各試験データを
記録することができる測定装置γとを備えている。

測定装置７の入力７ａと負荷回路６の入力６ａとは切替
スイッチ８に接続されており、制御回路９からの切替信
号Ｓ１によって、入力５ａ，７ａのいずれか一方を選択
的に接点５に接続することができる。

制御回路９は、切替スイッチ８の切替動作のほかに、リ
レー駆動回路４の出力パルスの数、負荷回路６内の抵抗
、コンデンサ、コイルの接続状態、及び測定装置７の各
制御を夫々制御信号Ｓ２乃至Ｓ４によって行う。

制御回路９には、リレーの駆動回数Ｎ，を予め設定でき
る駆動回数設定回路１０からの駆動回数情報Ｓ５と、測
定装置γにおける測定回数Ｎ２を予め設定できる測定回
数設定回路１１からの測定回数情報Ｓ６とが入力されて
おり、制御回路９は、これらの情報Ｓ５，Ｓ６をもとに
、以下に説明するようにして、接点５に負荷回路６を接
続して該接点５を所定回数開閉させる動作と、接点５を
測定装置７に接続して所要の試験データを所定数得る動
作とを繰返し交互に行なわせる。

制御回路９は、先ず、切替信号Ｓ１により切替スイッチ
８を測定装置γ側に切替え、しかる後、測定回数情報Ｓ
６の内容に従い、リレー駆動回路４を制御信号Ｓ２によ
りＮ２回開閉動作させる。

この開閉動作によって接点５がＮ２回開閉され、この開
閉により測定装置７は、上記の■項乃至■項の試験デー
タを夫々Ｎ２個得ることができる。

これらの試験データは図示しないプリンタにより打出さ
れて記録される。

このようにしてＮ２回の測定が終了すると、次に、切替
信号Ｓ１によりスイッチ８が負荷回路６側に切替えられ
ると共に、負荷回路６は、制御信号Ｓ３によってコンデ
ンサ又はコイルのいずれか一方を必ず含む所定の負荷回
路に接続され、この所定の負荷回路が接点５に接続され
る。

この状態において、制御回路９は駆動回路情報Ｓ５を基
に、リレー７駆動回路４からＮ１個のパルスを出力し、
コイル３をＮ１回断続的に付勢することにより所定の負
荷回路が接続されている接点５をＮ１回開閉させる。

しかる後、切替信号Ｓ，によりスイッチ８を再び測定装
置Ｔ側に切替え、以後上述の動作を所定回数交互に繰返
し行なう。

ここで、測定装置７により所要の試験データをＮ２回得
るのは統計学的なデータを得るためでＮ２は例えば１０
０乃至２００程度の適宜の回数に設定すればよい。

また、接点５に負荷回路６を接続して開閉動作を繰返す
のは、この開閉動作によるリレーの電気的特性の変化を
見るためであるから、Ｎ２の値はこの特性の変化が現わ
れるように５００乃至１０００程度に設定すればよい。

この方式によると、リレー接点の負荷回路として容量性
素子又は誘導性素子の少なくとも一方を用いたりアクタ
ンスを有する回路を用いてリレーの寿命試験を極めて合
理的に行うことができ、従来のように、試験のために多
犬な時間を使うことなく、極めて能率的である。

以上、本発明によれば、上記の如く、被試験リレーの動
作スピードの上限付近でリレーを動作させて、リアクタ
ンス成分を含む負荷回路を接点負荷とした場合の各種特
性を測定することができるので、試験時間を従来の方式
に比して著しく短縮することができる優れた効果を奏す
る。

【図面の簡単な説明】

図面は本発明の方式によるリレー試験装置の一実施例を
示すブロック図である。 １：リレー試験装置、２：リレー、４：リレー駆動回路
、５：接点、６：負荷回路、７：測定装置、８：切替ス
イッチ、９：制御回路、１０：駆動回数設定回路、１１
：測定回数設定回路。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １ リレーの寿命を試験するためのリレー寿命試験方式
   において、前記リレーの接点に容量性素子又は誘導性素
   子の少なくとも一方を含んで成る接点負荷回路を接続し
   て前記リレーの接点を所定回数開閉動作させる操作と、
   前記リレーの接点に純抵抗負荷を接続して前記リレーの
   各種試験データを得るための試験回路に前記リレーを接
   続して所要の試験データを所定数得る操作とを繰返し交
   互に行なうことを特徴とするリレー寿命試験方式。