JPS60149956A - 抵抗器における塗膜の検査装置 - Google Patents

抵抗器における塗膜の検査装置

Info

Publication number
JPS60149956A
JPS60149956A JP59006584A JP658484A JPS60149956A JP S60149956 A JPS60149956 A JP S60149956A JP 59006584 A JP59006584 A JP 59006584A JP 658484 A JP658484 A JP 658484A JP S60149956 A JPS60149956 A JP S60149956A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
resistor
contact terminal
terminal piece
contact
high voltage
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP59006584A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0331382B2 (ja
Inventor
Taneichi Inoue
井上 胤一
Yoshio Abiko
安彦 好雄
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Rohm Co Ltd
Original Assignee
Rohm Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Rohm Co Ltd filed Critical Rohm Co Ltd
Priority to JP59006584A priority Critical patent/JPS60149956A/ja
Publication of JPS60149956A publication Critical patent/JPS60149956A/ja
Publication of JPH0331382B2 publication Critical patent/JPH0331382B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/02Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance
    • G01N27/04Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance by investigating resistance
    • G01N27/20Investigating the presence of flaws

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Electrochemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
  • Apparatuses And Processes For Manufacturing Resistors (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、リート線伺きの抵抗器の表面に塗布された塗
膜の良否を判別する検査装置に関するものである。
一般にこの種の抵抗器Aは、第1図に示すように磁器製
のボビン13の外周面に抵抗皮lI栄Cを形成し、該ボ
ビンBIE+)両端にリニド線D(fき序ヤツプEを被
嵌固着したのち、全体を非導電体製塗料の塗布による塗
膜Fで被覆することで製作されるが、前記塗膜Fの塗布
形成に際しては、塗膜が全く形成されない部分を生じた
り、塗膜の厚さが極めて薄い部分を生したりすることが
ある。
この場合、従来は抵抗器の製造後における塗膜の良否を
、−(11jづつ肉I■によって検査しているから、極
めて非能率的であるばかりか、肉Jiffによる検査に
はバラ付きがあって不正確であった。
本発明は、前記のようにして製造した抵抗器を、導電体
勢の接触端子片に接触して回転する一方、前記接触61
11子片と抵抗器との間に高電圧を印加することにより
、接触端子片と抵抗器との間に電流が流れるか否かによ
って、塗膜の良否をハラ(dきなく且つ能率的に検査す
るようにしたものである。
以下本発明を実施例の図面について説明すると、図にお
いて1はリード線り付き抵抗器へを矢印2の方向に適宜
速度で移送するテーブルで、該テーブル弓は導電体製で
、前記抵抗器へをそのリード線りが当該テーブル1の上
面に回転自在に載置した状態で移送するようになってい
る。
3は前記テーブル1の上方部に配設の固定部材4に上下
方向に回転自在にピン5枢着した導電体製の接触端子片
を示し、該接触端子片3の先端に前記抵抗器への円周長
さより若干長い寸法りの直線部6を設けて、この直線部
6を前記テーブル1にて移送中の抵抗器Aの外周面に、
ばね7及び重さにて接触するように構成する。
8は、100Vの電源に基づいて前記テーブル1と接触
端子片3との間に例えば400〜800Vの高電圧を印
加するだめの倍電圧整流回路で、該倍電圧整流回路8に
おける一方の出力端子9を手’Jr 操作のスイッチ1
0伺き回路11を介して前記接触f’iji子片3に、
他方の出力端子12を抵抗器13と定電圧ダイオード1
4とを並列に設けた回路15を介して前記テーブル1に
各々接続し、前記倍電圧整流回路8におりる他方の出力
端子12からの抵抗器13及び定電圧タイオード14イ
づき回路15には、抵抗器13及び定電圧ダイオード1
4の両端に検出用出力a114子16を接続して成るも
のである。なお、前記検出用出力端子16には、抵抗器
17とコンデンサー】8とから成るi呉動作防止用のフ
ィルターが設けられている。
この構成において、テーブル1による抵抗器Aの移送中
に当該抵抗器Aの外周面が接触端子片3の直線部6に接
触すると、抵抗器Aはこの接触状態で回転する一方、該
抵抗器への塗膜Fには、倍電圧整流回路8にて高電圧が
印加される。この場合、抵抗器Aにおける塗膜Fの厚さ
が抵抗器の全円周について一定以上のとき、つまり塗膜
Fに欠陥がないときには当−亥塗H5=’ Fの絶縁の
ために、接触端子片3から抵抗器へへの電!fiEの流
れはないが極めて小さいので、検出用量カy1;1子1
6に電流が発生しないが、塗膜Fがない部分があるが塗
膜Fの厚さか所定値より薄くなっている部分があると、
接触端子片3から抵抗器A側に電流が流れ、検出用出力
端子16に電流か発生ずるから、これにより抵抗器Aに
おりる塗膜Fの欠陥を、抵抗器への全円周面について検
出できるのである。
なお、riij記接触Dri子片3の数を第3図に二点
鎖線で示すように、複数本にすることによって、抵1ノ
”し器Aの長さ方向におりる塗1模の欠陥を検出できる
ことは勿論であり、また、接触端子片3とテーブル1と
の間の電流を検出する回路としては、前記実施例の検出
用出力端子16に限らず接触端子片3とテーブル1との
間に設けたものでも良いのである。
以上の通り本発明は、リード線付き抵抗器をそのリード
線を回転自在に支持した状態で移送する導電体製のテー
ブルと、前記移送中の抵抗器の外周面に接触するように
した導電体製の接触端子片とからなり、前記テーブルと
接触端子片とに、その間に高電圧をE11加する回路と
、その間の電流を検出する回路とを設けたことを特徴と
するもので、これにより、抵抗器における塗膜の良否を
、自動的に検査できるから、肉眼による場合に比較して
著しく能率的でコストを低減できると共に、塗膜の検査
に肉眼による場合のようなハラ付きがなくて、抵抗器の
品質を向上できる等の効果を有する。
【図面の簡単な説明】
第1図は抵抗器の縦断正面図、第2図は本発明の実施例
を示す図、第3図は第2図の[1−III視断面断面図
る。 1・・・・テーブル、3・・・・接触端子片、4・・・
・固定部月、5・・・・ピン、6・・・・直線部、7・
・・・ばね、8・・・・倍電圧整流回路、16・・・・
検出用出力端子、A・・・・抵抗器、D・・・・リード
線。 特許出願人 ローム 株式会社

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)、リード線((Jき抵抗器をそのリード線を回転
    自在に支持した状態で移送する導電体勢のテーブルと、
    前記移送中の抵抗器の外周面に接触するようにした導電
    体製の接触端子片とからなり、前記テーブルと接触端子
    台とに、その間に高電圧を印加する回路と、その間の電
    流を検出する回路とを設けたことを特徴とする抵抗器に
    おける塗膜の検査装置。
JP59006584A 1984-01-17 1984-01-17 抵抗器における塗膜の検査装置 Granted JPS60149956A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59006584A JPS60149956A (ja) 1984-01-17 1984-01-17 抵抗器における塗膜の検査装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59006584A JPS60149956A (ja) 1984-01-17 1984-01-17 抵抗器における塗膜の検査装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS60149956A true JPS60149956A (ja) 1985-08-07
JPH0331382B2 JPH0331382B2 (ja) 1991-05-02

Family

ID=11642371

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP59006584A Granted JPS60149956A (ja) 1984-01-17 1984-01-17 抵抗器における塗膜の検査装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS60149956A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11326408A (ja) * 1998-04-21 1999-11-26 Illinois Tool Works Inc <Itw> 電圧増倍器回路を有する抵抗測定メ―タ
JP2007185126A (ja) * 2006-01-12 2007-07-26 Sekisui Film Kk 畝の被覆構造及び畝の被覆方法

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS55162047A (en) * 1979-06-04 1980-12-17 Kawasaki Steel Corp Pinhole detecting method for coated steel pipe

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS55162047A (en) * 1979-06-04 1980-12-17 Kawasaki Steel Corp Pinhole detecting method for coated steel pipe

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11326408A (ja) * 1998-04-21 1999-11-26 Illinois Tool Works Inc <Itw> 電圧増倍器回路を有する抵抗測定メ―タ
JP2007185126A (ja) * 2006-01-12 2007-07-26 Sekisui Film Kk 畝の被覆構造及び畝の被覆方法

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0331382B2 (ja) 1991-05-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP7167780B2 (ja) ヒータ、および画像形成装置
US3384815A (en) Moisture content measuring method and apparatus including a roller for periodically contacting a flexible travelling sheet member
JPS60149956A (ja) 抵抗器における塗膜の検査装置
JP2008506110A (ja) コンドームテスト装置
KR830009484A (ko) 피복된 물품의 표면 검사 방법
US7538654B2 (en) Temperature detector and fixing device provided therewith
KR100487260B1 (ko) 콘돔 시험 장치
JPH04309981A (ja) 現像ユニット
US5508622A (en) Coating defect detector system
JPH03262949A (ja) 液体種別検知装置
JPH06100449B2 (ja) 抵抗器における塗膜の検査装置
JP4137513B2 (ja) 密封包装物の検査装置用電極
TW201823740A (zh) 靜電檢測系統與方法
JPH074594Y2 (ja) 抵抗測定用プローブ
JPH07191573A (ja) 定着装置
JPH087192B2 (ja) 被膜欠陥検査方法と装置
JP2013160646A (ja) 半導電性ベルトの検査方法、製造方法および検査装置
EP0086415B1 (en) Humidity sensitive device
JP2018179828A (ja) 液漏れ検出装置および液漏れ検査システム
JPS6265500A (ja) 電気回路素子の搬送方法
JPH06118105A (ja) 体積抵抗の連続測定方法とその装置
JP2000002642A (ja) 擦傷性評価装置および擦傷性評価方法
JPH10206466A (ja) 電圧測定装置
JPH02228546A (ja) 温度・湿度センサー
JP3699521B2 (ja) ハンダコーティング方法およびハンダコートの判定法