JPS60144981A - 光発電素子およびその製造方法 - Google Patents
光発電素子およびその製造方法Info
- Publication number
- JPS60144981A JPS60144981A JP59000327A JP32784A JPS60144981A JP S60144981 A JPS60144981 A JP S60144981A JP 59000327 A JP59000327 A JP 59000327A JP 32784 A JP32784 A JP 32784A JP S60144981 A JPS60144981 A JP S60144981A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- amorphous silicon
- diodes
- electrodes
- silicon layer
- substrate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 8
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title abstract 2
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 claims abstract description 26
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 11
- 238000010248 power generation Methods 0.000 claims description 20
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 4
- BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N Silane Chemical compound [SiH4] BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 3
- 229910000077 silane Inorganic materials 0.000 abstract description 3
- 229910003437 indium oxide Inorganic materials 0.000 abstract description 2
- PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N indium(iii) oxide Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[In+3].[In+3] PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 2
- 238000005268 plasma chemical vapour deposition Methods 0.000 abstract description 2
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 abstract description 2
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 abstract 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 4
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 4
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 3
- XYFCBTPGUUZFHI-UHFFFAOYSA-N Phosphine Chemical compound P XYFCBTPGUUZFHI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 244000007853 Sarothamnus scoparius Species 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 1
- 235000009508 confectionery Nutrition 0.000 description 1
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 1
- 230000001771 impaired effect Effects 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 1
- 229910000073 phosphorus hydride Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 1
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/02—Details
- H01L31/0224—Electrodes
- H01L31/022408—Electrodes for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier
- H01L31/022425—Electrodes for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier for solar cells
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/04—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices
- H01L31/042—PV modules or arrays of single PV cells
- H01L31/0445—PV modules or arrays of single PV cells including thin film solar cells, e.g. single thin film a-Si, CIS or CdTe solar cells
- H01L31/046—PV modules composed of a plurality of thin film solar cells deposited on the same substrate
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明iz光発電素子およびその製造方法に係わシ、特
にアモルファスシリコンを主材料とする集積形太陽電池
の直列接続構造およびその接続構造の形成方法に関する
ものである。
にアモルファスシリコンを主材料とする集積形太陽電池
の直列接続構造およびその接続構造の形成方法に関する
ものである。
従来、この櫛の集積形太陽電池は、複数の上。
下電極間にアモルファスシリコン層を介在させて形成さ
れる複数の発電区域と、これらの隣接する各発電区域相
互間をアモルファスシリコンを介在させず単なる隣接す
る発電区域の異極電極同志を電気的に接続させて形成で
れる接続区域とを一枚の基板上に形成して構成される。
れる複数の発電区域と、これらの隣接する各発電区域相
互間をアモルファスシリコンを介在させず単なる隣接す
る発電区域の異極電極同志を電気的に接続させて形成で
れる接続区域とを一枚の基板上に形成して構成される。
しかしながら、このように構成される集積形太@電池は
、発電区域のみにアモルファスシリコンMを形成してい
るため、アモルファスシリコン層成膜時に接続区域を保
砿するマスクが必要となり製造装置tが大型かつ複雑と
なるとともに、歩留シ低下によるコストアップを生じる
という欠点があった。
、発電区域のみにアモルファスシリコンMを形成してい
るため、アモルファスシリコン層成膜時に接続区域を保
砿するマスクが必要となり製造装置tが大型かつ複雑と
なるとともに、歩留シ低下によるコストアップを生じる
という欠点があった。
したがって、本発明rz、 #σ述した従来の欠点を#
消するためになされたものであシ、その目的とするとこ
ろ+X、特性を低下aせることなく、低コストで得られ
る元発電素子?徒供することにある。
消するためになされたものであシ、その目的とするとこ
ろ+X、特性を低下aせることなく、低コストで得られ
る元発電素子?徒供することにある。
また、このような先発′IIL菓子を高歩W勺で生産可
カeとした製造方法を提供することにある。
カeとした製造方法を提供することにある。
このような目的を達成するために不発゛明は、羞狐上の
上、下篭極間全面にわたってアモルファスシリコンノー
′Jk設け、接続区域のみアモルファスシリコンjfi
を電気的に破壊し抵抗値の低い導電部を形成するもので
ある。
上、下篭極間全面にわたってアモルファスシリコンノー
′Jk設け、接続区域のみアモルファスシリコンjfi
を電気的に破壊し抵抗値の低い導電部を形成するもので
ある。
すなわち、アモルファスシリコン層を発電区域および接
続区域に一括して形成すると11発電区域にeよフォト
ダイオードが、接続区域にiはブロッキングダイオード
がそれぞれ形成される。このうち、フォトダイオードは
太陽電池として動作し、ブロッキングダイオードは起電
力を阻止する方向に動作するので、このブロッキングダ
イオードを電気的に選択破壊、することによって光発電
素子を形成するものである。
続区域に一括して形成すると11発電区域にeよフォト
ダイオードが、接続区域にiはブロッキングダイオード
がそれぞれ形成される。このうち、フォトダイオードは
太陽電池として動作し、ブロッキングダイオードは起電
力を阻止する方向に動作するので、このブロッキングダ
イオードを電気的に選択破壊、することによって光発電
素子を形成するものである。
次に図面を用いて本発明の実施例を詳細に説明する。
第1図(a) 、 (b)は本発明による光発電素子と
して例えば果横形太陽電池の一例を示す図であp1同図
(a)に平面図、同図(b)は同図(a)のI −I’
断面図である。同図において、まず、絶縁性基板1上に
例えばステンレスあるいはクロム蒸着換からなる下部電
極2およびその引き出し接続部2aを複数個一体形成す
る。この場合、この下部電極2およびその引き出し接続
部2aは成膜時にマスクによシ形成するかもしくは成膜
後にホトレジストをマスクとじてエツチングしバターニ
ングすれば良い。
して例えば果横形太陽電池の一例を示す図であp1同図
(a)に平面図、同図(b)は同図(a)のI −I’
断面図である。同図において、まず、絶縁性基板1上に
例えばステンレスあるいはクロム蒸着換からなる下部電
極2およびその引き出し接続部2aを複数個一体形成す
る。この場合、この下部電極2およびその引き出し接続
部2aは成膜時にマスクによシ形成するかもしくは成膜
後にホトレジストをマスクとじてエツチングしバターニ
ングすれば良い。
次に、基板l上の全面にプラズマCVD法によりシラン
ガスをグロー放電してアモルファスシリコン層3を形成
する。この場合、シランガス中に微量のシボランガスも
しく(′よフォスフインガスをドープすることによシ、
電気的特性をp形もしくはn形にそれぞれ制御すること
ができる。したがって、アモルファスシリコン層3はこ
のようにして形成Infcpin形ダイオードとなるが
、マスク成膜の必要がないので、同図(a) 、 (b
)に示すように基似lと同じ大きさで形成される。次に
、このアモルファスシリコン績3上の前記各下部電極2
と対応する部位にスパッタリング法により、酸化インジ
ウムからなる透光性の上部′成極4およびその引き出し
接@部4aV形成する。これによって第1゜第2.第3
の発電区域5.6.7および第1.第2の接続区域8.
9がそれぞれ形成される。そして、これらの発電区域>
、6.7ではアそル7アスシリコンJ1#3からなるP
a1e”ダイオードが下部1ic412と上部電極今と
で挾持されているので一上部電極4の上方から入射した
光を電子と正孔とに分離することができる。すなわち、
光起電力γ発生することが可能となる。また、接続区域
8゜9も前述した発′或区域5,6.7と同様に下部電
極2の引き出し接続s2aとアモルファスシリコンノー
3と下部電極4の引き出し接続部4aとから形成されて
おシ、同様にp+i+nダイオードを構成している。し
かしながら、電気的接続の方向が発電区域5.6.7と
逆方向に直列接続ぢれる。
ガスをグロー放電してアモルファスシリコン層3を形成
する。この場合、シランガス中に微量のシボランガスも
しく(′よフォスフインガスをドープすることによシ、
電気的特性をp形もしくはn形にそれぞれ制御すること
ができる。したがって、アモルファスシリコン層3はこ
のようにして形成Infcpin形ダイオードとなるが
、マスク成膜の必要がないので、同図(a) 、 (b
)に示すように基似lと同じ大きさで形成される。次に
、このアモルファスシリコン績3上の前記各下部電極2
と対応する部位にスパッタリング法により、酸化インジ
ウムからなる透光性の上部′成極4およびその引き出し
接@部4aV形成する。これによって第1゜第2.第3
の発電区域5.6.7および第1.第2の接続区域8.
9がそれぞれ形成される。そして、これらの発電区域>
、6.7ではアそル7アスシリコンJ1#3からなるP
a1e”ダイオードが下部1ic412と上部電極今と
で挾持されているので一上部電極4の上方から入射した
光を電子と正孔とに分離することができる。すなわち、
光起電力γ発生することが可能となる。また、接続区域
8゜9も前述した発′或区域5,6.7と同様に下部電
極2の引き出し接続s2aとアモルファスシリコンノー
3と下部電極4の引き出し接続部4aとから形成されて
おシ、同様にp+i+nダイオードを構成している。し
かしながら、電気的接続の方向が発電区域5.6.7と
逆方向に直列接続ぢれる。
第2図はその等価回路を示したものである。同図におい
て、5’、 6’、 7’がそれぞれ第1.第2.第3
の発電区域5,6.7に形成される第1.第2゜第3の
ダイオード、8/、9/は第1.第2の接続区域8.9
に形成される第4.第5のダイオード、28は前記下S
t極2の引き出し接続部、48μ前記上部電極今の引き
出し接続部である。このように発電区域5,6.7に形
成ちれるダイオード5’、 6/I 7’は接続方向が
逆方向となる。ここで、発電用ダイオード5’、 6’
、 7’には順方向とな9、接続用ダイオード8’、9
’には逆方向となるように外部から直流電圧を印加する
と、接続用ダイオード8’、9’のみに電圧が加わる。
て、5’、 6’、 7’がそれぞれ第1.第2.第3
の発電区域5,6.7に形成される第1.第2゜第3の
ダイオード、8/、9/は第1.第2の接続区域8.9
に形成される第4.第5のダイオード、28は前記下S
t極2の引き出し接続部、48μ前記上部電極今の引き
出し接続部である。このように発電区域5,6.7に形
成ちれるダイオード5’、 6/I 7’は接続方向が
逆方向となる。ここで、発電用ダイオード5’、 6’
、 7’には順方向とな9、接続用ダイオード8’、9
’には逆方向となるように外部から直流電圧を印加する
と、接続用ダイオード8’、9’のみに電圧が加わる。
そして、この電圧を1段当910〜100V程度印加す
ると、接続用ダイオード8’、 9’の接合が破壊され
てオーミックとなり、この抵抗値rf、通常約IKΩ程
度となる。
ると、接続用ダイオード8’、 9’の接合が破壊され
てオーミックとなり、この抵抗値rf、通常約IKΩ程
度となる。
このようにして接続用ダイオード8’、9’を低抵抗化
することができる。このとき、発電用ダイオード5’、
6’、 7’にrJ:順方向電流が流れるが、この順
方向電流でダイオード5’、 6’、 7’を破壊する
には通常約10 A/d程度の電流密度が必要である。
することができる。このとき、発電用ダイオード5’、
6’、 7’にrJ:順方向電流が流れるが、この順
方向電流でダイオード5’、 6’、 7’を破壊する
には通常約10 A/d程度の電流密度が必要である。
したがって、接続用ダイオード8’、 9’を破壊する
ときには1O−8〜1O−IA4度の電流リミッタを設
けておけば、発電用ダイオード5/、 6/、 7/の
特性を損なうことはない。
ときには1O−8〜1O−IA4度の電流リミッタを設
けておけば、発電用ダイオード5/、 6/、 7/の
特性を損なうことはない。
以上説明したように本発明によれば、接続区域をアモル
ファスシリコン層の外側に設ける必要がなくなるので、
接続区域と発電区域とを近接配置させることが可能とな
夛、アクティブエリアを増大させることができる。また
、アモルファスシリコン層をバターニング形成しなくて
も光発電素子が形成できるので、アモルファスシリコン
層形成時のマスクが不要となシ、歩留シを大幅に向上さ
せることができるなどの極めて優れた効果が得られる。
ファスシリコン層の外側に設ける必要がなくなるので、
接続区域と発電区域とを近接配置させることが可能とな
夛、アクティブエリアを増大させることができる。また
、アモルファスシリコン層をバターニング形成しなくて
も光発電素子が形成できるので、アモルファスシリコン
層形成時のマスクが不要となシ、歩留シを大幅に向上さ
せることができるなどの極めて優れた効果が得られる。
第1図(a) 、 (b)は本発明による光発電素子の
一例を示す集積形太陽電池の要部平面図、そのI −f
’Wr面図、第2図は箒1図(Jl) 、 (b) I
c示す集積形太陽′鑞池の勢価回路図である。 l・・・・IIA緑性基板、2・・・・下部電極、2a
・・・・引き出し接続部、3・・・・アモルファスシリ
コン層、4・・・・上部電極、4a・・・・引き出し接
続部、5・・・・Mlの発電区域、5′・・・・第1の
ダイオード、6・・・・第2の発電区域、6′・・−@
2のダイオード、7・・・・第3の発電区域、7′・・
・・第3のダイオード、8・・・・第1の接続区域、8
’−・・・第4のダイオ−、ド、9・・・・第2の接続
区域、9′・・−第5のダイオード。
一例を示す集積形太陽電池の要部平面図、そのI −f
’Wr面図、第2図は箒1図(Jl) 、 (b) I
c示す集積形太陽′鑞池の勢価回路図である。 l・・・・IIA緑性基板、2・・・・下部電極、2a
・・・・引き出し接続部、3・・・・アモルファスシリ
コン層、4・・・・上部電極、4a・・・・引き出し接
続部、5・・・・Mlの発電区域、5′・・・・第1の
ダイオード、6・・・・第2の発電区域、6′・・−@
2のダイオード、7・・・・第3の発電区域、7′・・
・・第3のダイオード、8・・・・第1の接続区域、8
’−・・・第4のダイオ−、ド、9・・・・第2の接続
区域、9′・・−第5のダイオード。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 ■、上、下部′醒極間にアモルファスシリコン層を挾持
させてなる複数の発電区域が基板上に形成されるととも
に、前記アモルファスシリコン層が前記谷発゛畦区域と
隣接する発電区域を電気的に接続する区域にわたって票
がシ、かつ接続区域の前記アモルファスシリコン層が選
択的に抵抗値の低い導電部を有していることを特徴とし
た光発電素子。 2 基板上に複数の下部電極を形成する工程と、前記下
部′に極が形成された基板上全面にアモルファスシリコ
ン層を形成する工程と、前記アモルファスシリコン層上
の前記下部電極・と対応する部位に透光性上部電極を形
成し前記下部電極と上部電極との間にアモルファスシリ
コン層を゛介在させたM数の発電区域と相互に隣接する
前記下部電極と上部電極との間にアモルファスシリコン
!#を介在させた複数の接続区域とを形成する工程と、
前記発電区域が順方向、接続区域が逆方向となるように
両端側上、下部電極間に直流電圧を印加し前記接続区域
の前記アモルファスシリコンNI勿選択的に破壊させる
工程とを富むことを特徴とした光発電素子の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59000327A JPS60144981A (ja) | 1984-01-06 | 1984-01-06 | 光発電素子およびその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59000327A JPS60144981A (ja) | 1984-01-06 | 1984-01-06 | 光発電素子およびその製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60144981A true JPS60144981A (ja) | 1985-07-31 |
Family
ID=11470808
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59000327A Pending JPS60144981A (ja) | 1984-01-06 | 1984-01-06 | 光発電素子およびその製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS60144981A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4773943A (en) * | 1986-03-31 | 1988-09-27 | Kyocera Corporation | Photovoltaic device and a method of producing the same |
-
1984
- 1984-01-06 JP JP59000327A patent/JPS60144981A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4773943A (en) * | 1986-03-31 | 1988-09-27 | Kyocera Corporation | Photovoltaic device and a method of producing the same |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3203078B2 (ja) | 光起電力素子 | |
JPH10233517A (ja) | 光電変換装置およびその製造方法 | |
JPH0261158B2 (ja) | ||
US4744862A (en) | Manufacturing methods for nonlinear semiconductor element and liquid crystal display panel using the same | |
JPS60144981A (ja) | 光発電素子およびその製造方法 | |
JPH02222582A (ja) | 半導体装置 | |
JPS6313358B2 (ja) | ||
JP3111805B2 (ja) | 薄膜太陽電池およびその製造方法 | |
JPS6132571A (ja) | 光電変換装置 | |
JPS61199672A (ja) | 光起電力装置 | |
JPS61217087A (ja) | 液晶表示装置用非線形抵抗素子 | |
JPS6161551B2 (ja) | ||
JPH0650997Y2 (ja) | 透光性太陽電池 | |
JPS63228766A (ja) | 太陽電池 | |
JPS609177A (ja) | 薄膜非線形抵抗素子 | |
JPH0711475Y2 (ja) | 太陽電池セル | |
JPH0289376A (ja) | 太陽電池セル | |
JPS58118142A (ja) | 半導体装置 | |
JPS6141156B2 (ja) | ||
JPS6211280A (ja) | 太陽電池およびその製造方法 | |
JPH1126786A (ja) | 集積型光発電素子 | |
JPH0610702Y2 (ja) | 光起電力装置 | |
JPS6252927A (ja) | 薄膜半導体装置の電極形成方法 | |
JP3407917B2 (ja) | 光センサ | |
JP3237471B2 (ja) | 薄膜光電変換装置 |