JPS6014377B2 - 論理装置の試験方式 - Google Patents

論理装置の試験方式

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JPS6014377B2
JPS6014377B2 JP54064642A JP6464279A JPS6014377B2 JP S6014377 B2 JPS6014377 B2 JP S6014377B2 JP 54064642 A JP54064642 A JP 54064642A JP 6464279 A JP6464279 A JP 6464279A JP S6014377 B2 JPS6014377 B2 JP S6014377B2
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JP
Japan
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logic
logic device
circuit unit
test
printed board
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JP54064642A
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JPS55157039A (en
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正治 玉井
悦男 志村
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Fujitsu Ltd
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Fujitsu Ltd
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Publication date
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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は論理装置の試験方式に関し、その試験に要する
コスト、及び時間を削減するとともに試験率を向上する
ことを目的とするものである。
以下、論理装置としてプリント板ユニット、論理回路単
位として大規模集積回路素子(瓜1と略す)を例にとり
説明を加えるが、本発明はこれに限られることなく、論
理装置として多数のプリント板ユニットからなる装置を
、論理回路単位としてプリント板ユニットを相当させて
もよい。多数の素子が実装されたプリント板ユニットの
試験は、該プリント板ユニットの入力端子にテストデー
タを与え、それに対する出力端子からの出力を正解値と
比較する方法が従来より広く行なわれている。しかし近
年、実装される素子に高集積度のLSIが含まれるよう
になり、その各LSI単位の入出力応答をシミュレート
してテストデータを作成すること自身が非常に困難とな
ってきている。従ってそのようなLSIを実装したプリ
ント板ユニットの入出力応答をシミュレートすることは
ますます困難となり、上記テストデータの作成(これは
電子計算機により被試験装置をシミュレートして作成す
る)に多大の時間と労力を要し、しかも被試験装置のと
り得るあらゆる状態をすべて試験すること、即ち試験率
100%を達成することは現実的に不可能に近い。例え
ばいわゆるワンボードコンピュー夕と称される如きマイ
クロコンピュータLSI及びその周辺LSIを実装した
プリント板ユニットの試験は、テストデータの作成に大
型電子計算機を数十〜数百時間使用したとしても得られ
る試験率は高々70%乃至80%程度であるといわれて
いる。タ 本発明はこのように集積度の高い、従って論
理的に複雑な偽1を実装したプリント板ュニットの試験
を容易にすることを目的としており、そのために、■
プリント板ユニットへのLSIの実装はソケットを利用
するなどして、容易に着脱可能な態様で実装する。
■ LSIは単体で別にLSIテスタによりシミュレー
ション試験を行なう。■ プリント板ユニットの試験時
には上託りSIの代りに試験用のダミー回路を実装して
プリント板ユニット試験機でシミュレーション試験を行
なう。
■ この場合のテストデータの作成は、当然ながら上記
ダミー回路を含んだ回路をシミュレートして作成される
尚、ダミー回路は上記は1よりは非常に集積度が低く、
論理的にも単純なものである。以下図面を参照しつつさ
らに本発明を詳説する。
第1図はプリント板ユニットの試験を概念的に示してお
り、1はプリント板ユニット、2はプリント板ユニット
試験機、3はコネクタ、4は瓜1、5はソケット、6は
MS1(中規模集積回路)やメモリ素子、7はSS1(
小規模集積回路)、8はその他のディスクリート部品を
含む回路である。従来は各は1、MS1、SS1、ディ
スクリート部品、及びプリント基板の夫々を単体で試験
した後、実装・半田付けを行なって、さらに第1図の如
く試験機に接続して、その入出力応答をチェックするこ
とが行なわれている。
しかし上述の如く特にLSI4が非常に複雑な機能を有
するようになると、プリント板ユニット1の全体の試験
をコネクタ3を介する入出力信号のみを用いて行なうこ
とは困難となる。そこで本発明では、山14を除く周辺
回路の正当性のみを試験できれば、プリント板ユニット
1全体の正当性も実用上充分に保証できる(但し、BU
鴬体の正当性は保証されているとする)との考えに立ち
、周辺回路の試験を行なうに必要かつ充分な機能のみを
持ったダミー回賂4′を作成し、それを本来のLSI4
の代りに実装してプリント板ユニット1の試験を行なう
ことを特徴としている。ダミー回路4′は入出力端子の
配列は本来のは14と同一とする必要があるがその内部
回路は第2図の如く簡単なゲート論理もしくは若干のシ
ーケンシャル論理で済ませることができる。
本発明の場合、ダミー回路4′を新たに作成する必要が
あるが、それを組込んだ周辺回路のためのテストデータ
は、本来のLSI4を含んだ回路のためのテストデータ
に比べれば格段に単純化することができ、かつ充分な試
験率を得ることが可能となる。従って全体的にみたコス
ト、時間、試験率は従来方式よりもはるかに有利となる
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明及び従来例におけるプリント板ユニット
の試験を概念的に示す図、第2図は本発明の一実施例を
示す図である。 図中1はプリント板ユニット、2はプリント板ユニット
試験機、3はコネクタ、4はは1、6,7,8は周辺回
路、4′はダミー回路である。 第1図第2図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 容易に着脱可能な態様で実装された少くとも1つの
    論理回路単位と、該論理回路単位と電気的に接続されて
    所定の論理動作を行なう周辺論理回路とが実装された論
    理装置の試験方式において、上記論理回路単位に対して
    はそれ単体でその入出力端子からシミユレーシヨン試験
    を行なうとともに、上記論理装置に対しては上記論理回
    路単位の代りにダミーの論理回路単位を実装して、該論
    理装置の入出力端子からシミユレーシヨン試験を行なう
    ことを特徴とする論理装置の試験方式。 2 上記論理回路単位が集積回路素子であり、上記論理
    装置がプリント板ユニツトであることを特徴とする特許
    請求の範囲第1項記載の論理装置の試験方式。 3 上記ダミーの論理回路単位が上記集積回路素子と同
    一の入出力端子配列を有し、かつ該集積回路素子よも低
    集積度の集積回路素子であることを特徴とする特許請求
    の範囲第2項記載の論理装置の試験方式。
JP54064642A 1979-05-25 1979-05-25 論理装置の試験方式 Expired JPS6014377B2 (ja)

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JPS55157039A JPS55157039A (en) 1980-12-06
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US4744084A (en) * 1986-02-27 1988-05-10 Mentor Graphics Corporation Hardware modeling system and method for simulating portions of electrical circuits

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JPS55157039A (en) 1980-12-06

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