JPS60163143A - 高インピ−ダンス状態検知方法 - Google Patents
高インピ−ダンス状態検知方法Info
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- JPS60163143A JPS60163143A JP59218737A JP21873784A JPS60163143A JP S60163143 A JPS60163143 A JP S60163143A JP 59218737 A JP59218737 A JP 59218737A JP 21873784 A JP21873784 A JP 21873784A JP S60163143 A JPS60163143 A JP S60163143A
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
- G06F11/26—Functional testing
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
- G06F11/26—Functional testing
- G06F11/261—Functional testing by simulating additional hardware, e.g. fault simulation
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- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F30/00—Computer-aided design [CAD]
- G06F30/30—Circuit design
- G06F30/32—Circuit design at the digital level
- G06F30/33—Design verification, e.g. functional simulation or model checking
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- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は、複雑な回路およびシステムの開発・テストに
用いる複雑な大規模集積回路(LSI) または超大規
模集積回路(VLSI)装置の動作のモデリングに関す
る。より詳細にいうと、本発明は、プログラムコントロ
ールによって命令を実行することのできる装置を含む複
雑なディジタル回路およびシステムの論理シミュレーシ
ョンおよび論理テストに関するものであって、本発明に
おいてはLSIまたは■、SI装置の動作特性もまた正
確にシミュレートされなければならない。特に、本発明
は、特願昭59−91162に開示されているように、
ハードフェアライブラリ素子を基礎とした論理ノミュレ
ーンヨンモデルの開発に付随する問題の解決手段に関す
るものである。
用いる複雑な大規模集積回路(LSI) または超大規
模集積回路(VLSI)装置の動作のモデリングに関す
る。より詳細にいうと、本発明は、プログラムコントロ
ールによって命令を実行することのできる装置を含む複
雑なディジタル回路およびシステムの論理シミュレーシ
ョンおよび論理テストに関するものであって、本発明に
おいてはLSIまたは■、SI装置の動作特性もまた正
確にシミュレートされなければならない。特に、本発明
は、特願昭59−91162に開示されているように、
ハードフェアライブラリ素子を基礎とした論理ノミュレ
ーンヨンモデルの開発に付随する問題の解決手段に関す
るものである。
装置の論理シミュレーションモデルは、通常動−作状態
にある装置の論理動作およびタイミング動作を正確に模
擬する診断ツールである。このようなモデルの目的は、
その装置を含む演算ディジタルシステムの論理およびタ
イミングの両方ともが正しいことを確かめることである
。論理シミュレーションモデルでは、内部動作および内
部構造は、シミュレートされる実際の装置のそれらと同
様である必要はない。ただ1つの前提条件は、外部から
観察される動作が実際の装置と等しいことである。
にある装置の論理動作およびタイミング動作を正確に模
擬する診断ツールである。このようなモデルの目的は、
その装置を含む演算ディジタルシステムの論理およびタ
イミングの両方ともが正しいことを確かめることである
。論理シミュレーションモデルでは、内部動作および内
部構造は、シミュレートされる実際の装置のそれらと同
様である必要はない。ただ1つの前提条件は、外部から
観察される動作が実際の装置と等しいことである。
従来の論理シミュレーションモデルはソフトウェアで実
現された。これに対して1本発明は、ライブラリ素子を
基礎とした論理ノミュレーションモデルの開発に関する
もので、ライブラリ素子は実際のハードウェア装置であ
り、それはまたハードウェアとソフトウェアの組合せに
よって他のライブラリ素子と相互作用する。
現された。これに対して1本発明は、ライブラリ素子を
基礎とした論理ノミュレーションモデルの開発に関する
もので、ライブラリ素子は実際のハードウェア装置であ
り、それはまたハードウェアとソフトウェアの組合せに
よって他のライブラリ素子と相互作用する。
ソフトウェア論理シミュレーゾヨンモデルニハ、2つの
型がある。すなわち構造モデルと動作モデルである。構
造モデルは、装置の実際の内部論理構造を模擬し、それ
により観察できる機能的動作が生じる。動作モデルは、
ただ単に外部の論理動作およびタイミング動作を模擬す
るにすぎない。
型がある。すなわち構造モデルと動作モデルである。構
造モデルは、装置の実際の内部論理構造を模擬し、それ
により観察できる機能的動作が生じる。動作モデルは、
ただ単に外部の論理動作およびタイミング動作を模擬す
るにすぎない。
複雑な装置のソフトウェアモデルは数多くの欠点をもっ
ている。第1に、それらは、つくるのに比較的費用と時
間が多くかかる。また、正確なモデルを設計するには、
装置の仕様を収集して完全に理解しなければならない。
ている。第1に、それらは、つくるのに比較的費用と時
間が多くかかる。また、正確なモデルを設計するには、
装置の仕様を収集して完全に理解しなければならない。
このことは重大々制約となってきた。なぜなら、装置の
製造者は一投的にこのような詳細を明らかにしたがらな
いからである。さらに、装置のモデリングのために必要
な仕様は、典型的には、装置の普通のユーザに適するも
のよりずっと詳細なものである。
製造者は一投的にこのような詳細を明らかにしたがらな
いからである。さらに、装置のモデリングのために必要
な仕様は、典型的には、装置の普通のユーザに適するも
のよりずっと詳細なものである。
さらに、ソフトウェアシミュレーションモデルは、装置
機能をシミュレートするのに必要な計算量のために、速
度が遅くなる。
機能をシミュレートするのに必要な計算量のために、速
度が遅くなる。
典型的には、外部の部品をシミュレートするのに必要な
計算の量は、複雑な装置それ自身をシミュレートするの
に必要な計算の量に較べれば無視できる程のものである
。事実、ソフトウェアシミュレーションモデルは、しば
しば、あまり遅いので実際の使用にたえないことがある
。
計算の量は、複雑な装置それ自身をシミュレートするの
に必要な計算の量に較べれば無視できる程のものである
。事実、ソフトウェアシミュレーションモデルは、しば
しば、あまり遅いので実際の使用にたえないことがある
。
ハードウェアをベースにした複合回路シミュレ−ジョン
の開発中に、ハードフェアの検知能力の制約のために、
論理出力値の簡便な検知が妨げられてしまう、というこ
とが発見された。特に、基準素子のある一定の端子での
高インピーダンス状態を検知することは困難であること
がわかった。
の開発中に、ハードフェアの検知能力の制約のために、
論理出力値の簡便な検知が妨げられてしまう、というこ
とが発見された。特に、基準素子のある一定の端子での
高インピーダンス状態を検知することは困難であること
がわかった。
本発明によれば、ディジタル回路システムの動作をシミ
ュレートするだめの装置において、装置出力端での信号
値を検知するだめの方法は、ある出力端子の駆動レベル
を、高インピーダンス源の駆動レベルと比較することを
含んでいる。したがって、各信号端子に接続され、他の
検知抵抗と共通に駆動される抵抗のような、単純な電流
検知回路が信号レベルを識別するのに用いられる。
ュレートするだめの装置において、装置出力端での信号
値を検知するだめの方法は、ある出力端子の駆動レベル
を、高インピーダンス源の駆動レベルと比較することを
含んでいる。したがって、各信号端子に接続され、他の
検知抵抗と共通に駆動される抵抗のような、単純な電流
検知回路が信号レベルを識別するのに用いられる。
本発明は添付図面を参照した以下の詳細な説明によって
十分に理解されるでろろう。
十分に理解されるでろろう。
本発明の理解には、本発明の方法を用いることのでキル
シミュレーションシステムの動作を考えるのが便利であ
る。次に本発明の方法を一例として説明する。
シミュレーションシステムの動作を考えるのが便利であ
る。次に本発明の方法を一例として説明する。
第1図を参照すると、メインバス16に接続された汎用
中央処理装置(CPU)1Bを有し、汎用ディジタルコ
ンピュータとして形成され得るシミュレーションシステ
ム10が示されている。シミュレーションシステム10
にハ、すらに、メインバス16に接続された記憶装置2
0.および、入出力装置(Ilo)22が含まれていて
もよい。制御端末装置24および大容量記憶装置(マス
メモリ)26は、入出力装置22を介してメインバス1
6に接続されている。完全にソフトフェアをベースにし
たノミュレー/ヨンでは他にハードクエ7”全必要とし
ないのに対し1本発明においては、第1のシミュレーシ
ョンジグ(DSJ、) 12.および、第2のシミュレ
ーションジグ(DSJ2) 14の少くとも1方をメイ
ンバス16に接続することができる。
中央処理装置(CPU)1Bを有し、汎用ディジタルコ
ンピュータとして形成され得るシミュレーションシステ
ム10が示されている。シミュレーションシステム10
にハ、すらに、メインバス16に接続された記憶装置2
0.および、入出力装置(Ilo)22が含まれていて
もよい。制御端末装置24および大容量記憶装置(マス
メモリ)26は、入出力装置22を介してメインバス1
6に接続されている。完全にソフトフェアをベースにし
たノミュレー/ヨンでは他にハードクエ7”全必要とし
ないのに対し1本発明においては、第1のシミュレーシ
ョンジグ(DSJ、) 12.および、第2のシミュレ
ーションジグ(DSJ2) 14の少くとも1方をメイ
ンバス16に接続することができる。
シミュレーションジグ12および14の機能は。
第3図に関連して説明する。
第2図を参照すると、シミュレーションシステム10の
ソフトフェアの、記憶装置20のメモリマツプ28にお
ける編成態様が概略的に示されている。記憶装置20に
おいて、メモリスペースがコンピュータシステムの制御
プログラム30のために予約すしている。システムシミ
ュレーションプログラム32が、記憶装置20において
オブジェクト・コードとして記憶されている。記憶装置
20には、さらに、シミュレーションジグ12および1
4のデスクリプタ36および38に対するポインタ34
も記憶されている。システムシミュレーションプログラ
ム用の作業データ値を含むシミュレータデータベース4
0も記憶装置20内にオンラインで記憶されている。記
憶装置20は、また、大容量記憶装置26からの7ミユ
レーシヨンプログラムによって要求されるようなデータ
を記憶するのにも用いられる。
ソフトフェアの、記憶装置20のメモリマツプ28にお
ける編成態様が概略的に示されている。記憶装置20に
おいて、メモリスペースがコンピュータシステムの制御
プログラム30のために予約すしている。システムシミ
ュレーションプログラム32が、記憶装置20において
オブジェクト・コードとして記憶されている。記憶装置
20には、さらに、シミュレーションジグ12および1
4のデスクリプタ36および38に対するポインタ34
も記憶されている。システムシミュレーションプログラ
ム用の作業データ値を含むシミュレータデータベース4
0も記憶装置20内にオンラインで記憶されている。記
憶装置20は、また、大容量記憶装置26からの7ミユ
レーシヨンプログラムによって要求されるようなデータ
を記憶するのにも用いられる。
第3図に示されるように、入カバターンを、入カバター
ンレジスタ52を介して、ここで基準素子42と称する
装置に与えるために動作するシミュレーションジグ12
の動作を考える。(大部分の制御信号線は、不必要な複
雑化を避けるために示されていない。制御機能は、当業
者により現在の記載から実現できるものである。)予め
選択可能な波形、クロック速度および相対的な位相関係
を有する少なくとも1つのクロック信号が、クロック5
6によって、クロックライン57.59および61を介
して、パーソナリティモジュール46゜入カバターンレ
ジスタ52、および、出力レジスタ64に与えられる。
ンレジスタ52を介して、ここで基準素子42と称する
装置に与えるために動作するシミュレーションジグ12
の動作を考える。(大部分の制御信号線は、不必要な複
雑化を避けるために示されていない。制御機能は、当業
者により現在の記載から実現できるものである。)予め
選択可能な波形、クロック速度および相対的な位相関係
を有する少なくとも1つのクロック信号が、クロック5
6によって、クロックライン57.59および61を介
して、パーソナリティモジュール46゜入カバターンレ
ジスタ52、および、出力レジスタ64に与えられる。
出力レジスタ64は5高インピーダンスデコーダ60を
介してその信号を受け、この高インピーダンスデコーダ
60は回路開放に対して検知動作をする。出力駆動が不
十分であるなら、デコーダ60は高状態と高インピーダ
ンス状態を識別することができない。パーソナリティモ
ジュール46は、特注のインタフェース装置でろって、
汎用シミュレーションジグ12のために、信号レベル整
合および適切なソケットを提供するものである。7ミユ
レーシヨンジグ12は動作して一組の入力信号を基準素
子42にクロック56に同期して与えるが、その入力信
号は入カバターン記憶装置50に記憶された値を表わし
5その入カバターン記憶装置50は上記−組の定義され
た入力信号パターン全部を論理シーケンスで含んでいる
。入カバターン記憶装置50は、逐次アクセスまたけラ
ンダムアクセスメモリ装置であって、メモリ素子の型に
適合させて選択したコントロールラインおよびボートを
備えている。
介してその信号を受け、この高インピーダンスデコーダ
60は回路開放に対して検知動作をする。出力駆動が不
十分であるなら、デコーダ60は高状態と高インピーダ
ンス状態を識別することができない。パーソナリティモ
ジュール46は、特注のインタフェース装置でろって、
汎用シミュレーションジグ12のために、信号レベル整
合および適切なソケットを提供するものである。7ミユ
レーシヨンジグ12は動作して一組の入力信号を基準素
子42にクロック56に同期して与えるが、その入力信
号は入カバターン記憶装置50に記憶された値を表わし
5その入カバターン記憶装置50は上記−組の定義され
た入力信号パターン全部を論理シーケンスで含んでいる
。入カバターン記憶装置50は、逐次アクセスまたけラ
ンダムアクセスメモリ装置であって、メモリ素子の型に
適合させて選択したコントロールラインおよびボートを
備えている。
各クロック周期またはクロックエツジに対応した固定時
刻で、シミュレーンヨンジグ12の入カバターンレジス
タ52は、定義された入力信号パターンに応答して実時
間環境で動作しているかの如く、出力信号を発生する。
刻で、シミュレーンヨンジグ12の入カバターンレジス
タ52は、定義された入力信号パターンに応答して実時
間環境で動作しているかの如く、出力信号を発生する。
しかし、連続した全ての使用可能な入力信号パターンが
基準素子42に与えられるまで、出力信号は、データ回
復素子すなわち出力レジスタ64によって無視される。
基準素子42に与えられるまで、出力信号は、データ回
復素子すなわち出力レジスタ64によって無視される。
最後の入力信号パターンが基準素子42に与えられると
、クロック信号の印加が中止される。基準素子42のど
の出力の最大指定遅延よりも大きい時間が経過する。す
ると、上記出力信号値がサンプリングされ、出力レジス
タ64に記憶される。
、クロック信号の印加が中止される。基準素子42のど
の出力の最大指定遅延よりも大きい時間が経過する。す
ると、上記出力信号値がサンプリングされ、出力レジス
タ64に記憶される。
ソノ後、ノミュレーゾヨンジグ12がバスバッファおヨ
ヒバスコントローラ15およびメインバス16を介して
接続されているノミュレータシステム10(第1図)は
、基準素子42の各出力の状態を検査する。これらの状
態は、出力レジスタ64の値によって明示される。次に
シミュレータ10け、シミュレータデータベース40の
シミュレートされた出力をスケジュールして、対応する
入力変化の後固有の遅延時間で変化させる。各出力に対
するこの指定された遅延時間は、変化する出力の同一性
およびその変化を起こす入力の同一性の関数である。そ
れは、製造者によって特定される最小遅延と最大遅延の
間で任意の値に設定でき。
ヒバスコントローラ15およびメインバス16を介して
接続されているノミュレータシステム10(第1図)は
、基準素子42の各出力の状態を検査する。これらの状
態は、出力レジスタ64の値によって明示される。次に
シミュレータ10け、シミュレータデータベース40の
シミュレートされた出力をスケジュールして、対応する
入力変化の後固有の遅延時間で変化させる。各出力に対
するこの指定された遅延時間は、変化する出力の同一性
およびその変化を起こす入力の同一性の関数である。そ
れは、製造者によって特定される最小遅延と最大遅延の
間で任意の値に設定でき。
基準素子42に対応する装置を規定することによって特
定されるパラメータである。(経験的には。
定されるパラメータである。(経験的には。
最大遅延時間は、とりかかっている設計の大部分のタイ
ミングエラーを明らかにするために選ばれる) 本発明によれば、高インピーダンスすなわち高2デコー
ド装置60は電流検知手段を備えており、それは装置端
子での駆動レベルと高インピーダンス源の駆動レベルと
を比較する。
ミングエラーを明らかにするために選ばれる) 本発明によれば、高インピーダンスすなわち高2デコー
ド装置60は電流検知手段を備えており、それは装置端
子での駆動レベルと高インピーダンス源の駆動レベルと
を比較する。
第4図を参照すると、第3図のシステムにみられるよう
な基準素子42の入出力端子82のノード92に接続さ
れた電流検知手段80の一実施例が示されている。ノー
ド92には、3状態ドライバ88およびデータラッテ9
0が接続されている。
な基準素子42の入出力端子82のノード92に接続さ
れた電流検知手段80の一実施例が示されている。ノー
ド92には、3状態ドライバ88およびデータラッテ9
0が接続されている。
ドライバ88は2状態データライン96によって制御さ
れ、イネーブルライン98によってイネーブルにされる
。ドライバ88は、イネーブルライン98が生き状態に
あるときはいつでも、適当な電流駆動を信号端子82の
状態に与える。データラッテ90は、信号端子82の状
態を出力ライン100に読み出すのに動作する高入力イ
ンピーダンスレジスタであって、それは、クロックライ
ン102の活性化によって得られるクロック遷移が起る
ときになされる。ドライバ88およびデータラッチ90
は、全ての入出力信号線に接続される回路の例である。
れ、イネーブルライン98によってイネーブルにされる
。ドライバ88は、イネーブルライン98が生き状態に
あるときはいつでも、適当な電流駆動を信号端子82の
状態に与える。データラッテ90は、信号端子82の状
態を出力ライン100に読み出すのに動作する高入力イ
ンピーダンスレジスタであって、それは、クロックライ
ン102の活性化によって得られるクロック遷移が起る
ときになされる。ドライバ88およびデータラッチ90
は、全ての入出力信号線に接続される回路の例である。
電流検知手段80は、信号端子82のノード92に接続
され、データテストライン94によって制御されるテス
トドライバ素子86によって駆動される抵抗84を有し
ている。
され、データテストライン94によって制御されるテス
トドライバ素子86によって駆動される抵抗84を有し
ている。
通常のテストドライバ86は、複数個の抵抗84を駆動
し、各抵抗84は別々の端子82のノードに接続されて
いる。抵抗の値は十分に高く、信号端子82に与えられ
た比較的小さなドライブに応答して両端に測定可能な電
圧降下を起すには十分な程度のものである。データラッ
チ90は、ノード92の電圧レベルをサンプリングし、
その結果を出力ライン100に供給する。データテスト
ライン94.データライン96.イネーブルライン98
、および、出力ライン100の値は、信号端子82の値
を表わすことになる。
し、各抵抗84は別々の端子82のノードに接続されて
いる。抵抗の値は十分に高く、信号端子82に与えられ
た比較的小さなドライブに応答して両端に測定可能な電
圧降下を起すには十分な程度のものである。データラッ
チ90は、ノード92の電圧レベルをサンプリングし、
その結果を出力ライン100に供給する。データテスト
ライン94.データライン96.イネーブルライン98
、および、出力ライン100の値は、信号端子82の値
を表わすことになる。
典型的な検知方法は次のとおりである。ドライバ88は
、信号端子82を高値、低値のいずれかに至らせてノー
ド92をプリチャージする。イネーブルライン98はド
ライバ88を非活性化する。
、信号端子82を高値、低値のいずれかに至らせてノー
ド92をプリチャージする。イネーブルライン98はド
ライバ88を非活性化する。
データテストライン94はテストドライノく86の出力
を高電圧(+5v)、低電圧(−5V)のいずれかに切
り換えて、それによって抵抗84の一端子の基準電圧レ
ベルをプリセットする。次に、データラッチ90は、ノ
ード92の電圧レベルをサンプリングする。信号端子8
2の電圧は、そのドライブレベルと、その状態を示すこ
とになる。抵抗84は比較的高いインピーダンスをもつ
から、どんな低インピーダンスドライブでもノード92
の状態を変化させられる。信号端子82が「高インピー
ダンス」であるなら、そのときはノード92はデータテ
キストライン94と同じ状態を達成することになる。
を高電圧(+5v)、低電圧(−5V)のいずれかに切
り換えて、それによって抵抗84の一端子の基準電圧レ
ベルをプリセットする。次に、データラッチ90は、ノ
ード92の電圧レベルをサンプリングする。信号端子8
2の電圧は、そのドライブレベルと、その状態を示すこ
とになる。抵抗84は比較的高いインピーダンスをもつ
から、どんな低インピーダンスドライブでもノード92
の状態を変化させられる。信号端子82が「高インピー
ダンス」であるなら、そのときはノード92はデータテ
キストライン94と同じ状態を達成することになる。
次に、具体例を説明する。ドライバ88はノード92を
ある値にプリチャージし、次にディスエーブルされると
する。さらに、テストドライバ素子86は、高値として
+5v、低値として一5■を与え、たとえば、 18,
000 オームの高インピーダンス抵抗に接続されてい
るものとする。まず低値が抵抗84を介してノード92
に与えられる。そしてノード92がサンプリングされる
。次に高値が与えられ、再びサンプリングされる。デー
タランチ90が低値(0)および高値(1)を読み取る
ならば、その時は、信号端子82は高インピーダンス状
態にあると結論されうる。なぜなら、ノード92に不十
分な電流があってテストドライバ素子86によって与え
られる高インピーダンスに打ち勝つからである。しかし
、テストドライバ素子86が低値と高値を与え、データ
ラッテ90が、ドライバ8Bのディスエーブル時、それ
ぞれ高値と高値を読み取るとすれば、その時出力100
は高値として指定することができる。これは、抵抗84
両端の゛電圧降下を起す電流は、データラッチ90によ
って検知される高値のしきい値以上のレベルに、ノード
92での電圧を維持するに十分な大きさであるからであ
る。
ある値にプリチャージし、次にディスエーブルされると
する。さらに、テストドライバ素子86は、高値として
+5v、低値として一5■を与え、たとえば、 18,
000 オームの高インピーダンス抵抗に接続されてい
るものとする。まず低値が抵抗84を介してノード92
に与えられる。そしてノード92がサンプリングされる
。次に高値が与えられ、再びサンプリングされる。デー
タランチ90が低値(0)および高値(1)を読み取る
ならば、その時は、信号端子82は高インピーダンス状
態にあると結論されうる。なぜなら、ノード92に不十
分な電流があってテストドライバ素子86によって与え
られる高インピーダンスに打ち勝つからである。しかし
、テストドライバ素子86が低値と高値を与え、データ
ラッテ90が、ドライバ8Bのディスエーブル時、それ
ぞれ高値と高値を読み取るとすれば、その時出力100
は高値として指定することができる。これは、抵抗84
両端の゛電圧降下を起す電流は、データラッチ90によ
って検知される高値のしきい値以上のレベルに、ノード
92での電圧を維持するに十分な大きさであるからであ
る。
次に、テストドライバ素子86は、低値と高値を与え、
データラッチ90は、ドライバ88のディスエーブル時
、それぞれ、低値と低値を読みとるものとする。その時
、出力100は低値として指定できる。
データラッチ90は、ドライバ88のディスエーブル時
、それぞれ、低値と低値を読みとるものとする。その時
、出力100は低値として指定できる。
最後に、テストドライバ素子86は、それぞれ、高値お
よび低値として読み取られる低値および高値を与えるも
のと仮定する。これは正しく構成されたテストシステム
では起り得ない状態でおる。
よび低値として読み取られる低値および高値を与えるも
のと仮定する。これは正しく構成されたテストシステム
では起り得ない状態でおる。
テストシステムまたは基準素子42のいずれかに欠陥が
あるということである。せいぜい、その値は未知のもの
として指定され得るだけであり、その問題を訂正する努
力を払った後で次のシミュレーションを行なうべきであ
る。
あるということである。せいぜい、その値は未知のもの
として指定され得るだけであり、その問題を訂正する努
力を払った後で次のシミュレーションを行なうべきであ
る。
抵抗84の抵抗値およびテストドライブ電圧の選択は、
実際のシステムにおいては重要課題でろる。正しい選択
は、テストされる回路の性質に依存するものでちる。抵
抗値は、通常の出力ドライブが抵抗を介したいかなる電
流にも打ち勝つ程十分に大きくなければならず、また、
テストドライブ電圧は、通常の漏れ電流が高インピーダ
ンス状態とみなされうる程のものでなければならない。
実際のシステムにおいては重要課題でろる。正しい選択
は、テストされる回路の性質に依存するものでちる。抵
抗値は、通常の出力ドライブが抵抗を介したいかなる電
流にも打ち勝つ程十分に大きくなければならず、また、
テストドライブ電圧は、通常の漏れ電流が高インピーダ
ンス状態とみなされうる程のものでなければならない。
本発明を固有の実施例に関して説明したが、他の実施例
も当業者には明らかであろう。それ故、本発明の範囲は
、特許請求の範囲によってのみ限定される。
も当業者には明らかであろう。それ故、本発明の範囲は
、特許請求の範囲によってのみ限定される。
第1図は、シミュレーションモデリング装置を備えたシ
ミュレーションシステムのブロック図である。 第2図は、コンピュータ制御シミュレーションシステム
のメモリマツプを示す図である。 第3図は1本発明によって動作するシミュレーションジ
グのブロック図である。 第4図は、電流感知回路の概略図である。 10・・・・シミュレーションシステム、16・・・・
メインバス、12・・・・シミュレーションジグ、28
・・・・メモリマツプ、42.44・・・・基準素子、
50・・・・入カバターン記憶装置、52.54・・・
・入カバターンレジスタ、60.62・・・・高インピ
ーダンスデコーダ、64.66・・・・出力レジスタ、
80・・・・電流検知手段、88・・・・ドライバ、9
0・・・・データラッチ。 代理人 山川数構(Qυ・2名)
ミュレーションシステムのブロック図である。 第2図は、コンピュータ制御シミュレーションシステム
のメモリマツプを示す図である。 第3図は1本発明によって動作するシミュレーションジ
グのブロック図である。 第4図は、電流感知回路の概略図である。 10・・・・シミュレーションシステム、16・・・・
メインバス、12・・・・シミュレーションジグ、28
・・・・メモリマツプ、42.44・・・・基準素子、
50・・・・入カバターン記憶装置、52.54・・・
・入カバターンレジスタ、60.62・・・・高インピ
ーダンスデコーダ、64.66・・・・出力レジスタ、
80・・・・電流検知手段、88・・・・ドライバ、9
0・・・・データラッチ。 代理人 山川数構(Qυ・2名)
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 (1)ディジタル回路システムの動作をシミュレートす
る装置において、そのディジタル回路システム中の複雑
なディジタルデバイスの端子における高インピーダンス
状態の存在を検知するだめの方法であって、前記ディジ
タル回路システムにおいては前記複雑なディジタルデバ
イスの物理的サンプルが動作基準素子として用いられて
おり、第1の2進値を示す第1の電圧レベルを有する高
インピーダンス電流源で前記端子を駆動するステップと
; 前記端子の′6圧レベルを検知して第3の2進値を決定
するステップと; 第2の2進値を表わす第2の電圧レベルを有する高イン
ピーダンス電流源で前記端子を駆動するステップと; 前記端子の電圧レベルを検知して第4の2進値を決定す
るステップと; 前記第4の2進値が前記第3の2進値と異なる場合、前
記端子を高インピーダンス状態にあるものとして指定す
るステップ とを含むことを特徴とする高インピーダンス状態検知方
法。 (2、特許請求の範囲第1項記載の方法であって。 前記第1の2進値が前記第3の2進値と同じである場合
、前記端子を、前記第1の2進値に対応する状態にある
ものとして指定するステップを含むこと・を特徴とする
方法。 (3)特許請求の範囲第1項記載の方法であって、前記
第2の2進値が前記第4の2進値と同じである場合、前
記端子を前記第2の2進値に対応する状態にあるものと
して指定するステップを含むことを%徴とする方法。 (4) ディジタル回路システムの動作をエミュレート
するだめの装置において、前記ディジタル回路システム
中の複雑なディジタルデバイスの端子における高インピ
ーダンス状態の存在を検知するための方法であって、前
記ディジタル回路7ステムにおいては、前記複雑なディ
ジタルデバイスの物理的サンプルが動作基準素子として
用いられており、 第1の2進値を表わす第1の電圧レベルへ向けて高イン
ピーダンス電流源で前記端子を駆動するステップと; 前記端子の電圧レベルを検知して2進値を決定するステ
ップと; 第2の2進値を表わす第2の゛電圧レベルへ向けて前記
高インピーダンス電流源で前記端子を駆動するステップ
と; 前記端子の電圧レベルを検知して2進値を決定するステ
ップと; ゛ 前記検知に従がって、前記端子の2進値を前記第1の2
進値または第2の2進値に対応するものとして指定する
ステップ とを含むことを特徴とする高インピーダンス状態検知方
法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US57536884A | 1984-01-30 | 1984-01-30 | |
US575368 | 1984-01-30 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60163143A true JPS60163143A (ja) | 1985-08-26 |
Family
ID=24300038
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59218737A Pending JPS60163143A (ja) | 1984-01-30 | 1984-10-19 | 高インピ−ダンス状態検知方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP0150260A2 (ja) |
JP (1) | JPS60163143A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0611143A (ja) * | 1992-03-26 | 1994-01-21 | Mitsubishi Electric Corp | 液体供給手段付クッキングヒータ |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4744084A (en) * | 1986-02-27 | 1988-05-10 | Mentor Graphics Corporation | Hardware modeling system and method for simulating portions of electrical circuits |
US5353243A (en) * | 1989-05-31 | 1994-10-04 | Synopsys Inc. | Hardware modeling system and method of use |
US5673295A (en) * | 1995-04-13 | 1997-09-30 | Synopsis, Incorporated | Method and apparatus for generating and synchronizing a plurality of digital signals |
GB9925659D0 (en) * | 1999-10-29 | 1999-12-29 | Sgs Thomson Microelectronics | A method of verification |
-
1984
- 1984-08-24 EP EP84110138A patent/EP0150260A2/en not_active Withdrawn
- 1984-10-19 JP JP59218737A patent/JPS60163143A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0611143A (ja) * | 1992-03-26 | 1994-01-21 | Mitsubishi Electric Corp | 液体供給手段付クッキングヒータ |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0150260A2 (en) | 1985-08-07 |
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