JP2699377B2 - ハードウエア論理シミユレータ - Google Patents
ハードウエア論理シミユレータInfo
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- JP2699377B2 JP2699377B2 JP3402788A JP3402788A JP2699377B2 JP 2699377 B2 JP2699377 B2 JP 2699377B2 JP 3402788 A JP3402788 A JP 3402788A JP 3402788 A JP3402788 A JP 3402788A JP 2699377 B2 JP2699377 B2 JP 2699377B2
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- 238000010348 incorporation Methods 0.000 claims description 3
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 10
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 4
- 238000012942 design verification Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 238000012795 verification Methods 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
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- 230000010365 information processing Effects 0.000 description 1
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- 230000008685 targeting Effects 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F30/00—Computer-aided design [CAD]
- G06F30/30—Circuit design
- G06F30/32—Circuit design at the digital level
- G06F30/33—Design verification, e.g. functional simulation or model checking
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はハードウェア論理シミュレータに関し、特
に、テストデータによるシミュレーション実行時にシミ
ュレーション対象がどの程度動作したかを検出するハー
ドウェア論理シミュレータに関するものである。
に、テストデータによるシミュレーション実行時にシミ
ュレーション対象がどの程度動作したかを検出するハー
ドウェア論理シミュレータに関するものである。
LSI等の論理回路あるいは論理装置の設計段階におい
て必要になる設計検証は一般に各種のシミュレータを用
いて行なわれている。このシミュレータを用いた設計検
証は、設計検証しようとするLSI等のシミュレーション
モデルをシミュレータ内に生成し、予め用意されたテス
トデータを用いてシミュレーションを実行させることに
より行なうもので、従来より各種の方式が知られている
（例えば、『情報処理』1984年10月号,p.1048〜p.1055,
「2.方式・機能・論理設計におけるCAD,2.3方式・機能
・論理シミュレーション」、あるいは昭和55年度情報処
理学会第21回全国大会予稿集7E−１〜7E−５、あるいは
情報処理学会第26回（昭和58年前期）全国大会予稿集7P
−２〜7P−５参照）。
て必要になる設計検証は一般に各種のシミュレータを用
いて行なわれている。このシミュレータを用いた設計検
証は、設計検証しようとするLSI等のシミュレーション
モデルをシミュレータ内に生成し、予め用意されたテス
トデータを用いてシミュレーションを実行させることに
より行なうもので、従来より各種の方式が知られている
（例えば、『情報処理』1984年10月号,p.1048〜p.1055,
「2.方式・機能・論理設計におけるCAD,2.3方式・機能
・論理シミュレーション」、あるいは昭和55年度情報処
理学会第21回全国大会予稿集7E−１〜7E−５、あるいは
情報処理学会第26回（昭和58年前期）全国大会予稿集7P
−２〜7P−５参照）。
ところで、設計検証の正確度は、シミュレーション対
象がどの程度動作したか即ちシミュレーションの網羅性
に依存する。このため、シミュレータによる論理検証に
際してはシミュレーションの網羅性を調べるとが大切で
あるが、従来、シミュレータによるシミュレーションの
網羅性を簡単に確認することが困難であり、そのため、
不十分なシミュレーション即ち不十分なテストケースを
用いた検証しか行なわれず、LSI等の製造後に論理誤り
が発見されたり、重複する無駄なテストケースによりシ
ミュレーションを行なって多大な工数を費やすといった
問題がある。
象がどの程度動作したか即ちシミュレーションの網羅性
に依存する。このため、シミュレータによる論理検証に
際してはシミュレーションの網羅性を調べるとが大切で
あるが、従来、シミュレータによるシミュレーションの
網羅性を簡単に確認することが困難であり、そのため、
不十分なシミュレーション即ち不十分なテストケースを
用いた検証しか行なわれず、LSI等の製造後に論理誤り
が発見されたり、重複する無駄なテストケースによりシ
ミュレーションを行なって多大な工数を費やすといった
問題がある。
本発明はこのような点に鑑みてなされたものであり、
その目的とするところは、シミュレーションの網羅性を
簡単に検出することができるハードウェア論理シミュレ
ータを得ることにある。
その目的とするところは、シミュレーションの網羅性を
簡単に検出することができるハードウェア論理シミュレ
ータを得ることにある。
このような目的を達成するために本願の第１の発明
は、シミュレーションモデル内の信号群を指定する指定
手段と、 この指定手段で指定された信号群をアドレスとして入
力する記憶手段を発生しシミュレーションモデル内に組
み込む組込み手段と、 シミュレーション実行時、指定手段で指定された信号
群の状態が変化することにより、変化後の信号群の状態
で決まる記憶手段のアドレスに所定のデータを書き込む
書込み手段と、 記憶手段に記憶されたデータを読み出す読出し手段と
を有している。
は、シミュレーションモデル内の信号群を指定する指定
手段と、 この指定手段で指定された信号群をアドレスとして入
力する記憶手段を発生しシミュレーションモデル内に組
み込む組込み手段と、 シミュレーション実行時、指定手段で指定された信号
群の状態が変化することにより、変化後の信号群の状態
で決まる記憶手段のアドレスに所定のデータを書き込む
書込み手段と、 記憶手段に記憶されたデータを読み出す読出し手段と
を有している。
また本願の第２の発明は、状態値を保持する第１のメ
モリと対に存在し且つ状態値が変化したか否かの判断情
報を保持する第２のメモリと、 状態値が変化したか否かを判断する回路と、 状態値が変化した際に前記第２のメモリ内に状態値が
変化したことを意味する情報を書き込む回路とを備え、
シミュレーションの網羅性を確認し得るようにしてい
る。
モリと対に存在し且つ状態値が変化したか否かの判断情
報を保持する第２のメモリと、 状態値が変化したか否かを判断する回路と、 状態値が変化した際に前記第２のメモリ内に状態値が
変化したことを意味する情報を書き込む回路とを備え、
シミュレーションの網羅性を確認し得るようにしてい
る。
第１の発明においては、シミュレーション終了後、読
出し手段から読み出された記憶手段の記憶データを調べ
ることにより、記憶手段における未書込みアドレスが判
明し、この未書込みアドレスは指定された信号群の状態
値のすべての組合せの中でシミュレーションで発生しな
かった組合せを表わしている。従って、次のシミュレー
ションでは、その発生しなかった組合せをターゲットと
したテストケースの作成実行が可能になると共に重複し
たテストケースを排除でき、充分な論理検証を行なうた
めの効率良いシミュレーションが可能となる。
出し手段から読み出された記憶手段の記憶データを調べ
ることにより、記憶手段における未書込みアドレスが判
明し、この未書込みアドレスは指定された信号群の状態
値のすべての組合せの中でシミュレーションで発生しな
かった組合せを表わしている。従って、次のシミュレー
ションでは、その発生しなかった組合せをターゲットと
したテストケースの作成実行が可能になると共に重複し
たテストケースを排除でき、充分な論理検証を行なうた
めの効率良いシミュレーションが可能となる。
また第２の発明においては、状態値が変化したか否か
を判断し、状態値が変化した場合に上記状態値が変化し
たか否かの判断情報を保持するメモリ内に状態値が変化
したことを意味する情報を書き込み、このメモリの内容
を読出し状態値変化判断と読み出す。
を判断し、状態値が変化した場合に上記状態値が変化し
たか否かの判断情報を保持するメモリ内に状態値が変化
したことを意味する情報を書き込み、このメモリの内容
を読出し状態値変化判断と読み出す。
次に、本発明の実施例について図面を参照して説明す
る。
る。
第１図は第１の発明の実施例のハードウェア論理シミ
ュレータを示す系統図であり、シミュレーションモデル
作成部１と、信号群指定部２と、メモリ素子発生部３
と、シミュレーション部４と、データ読出し部５と、解
析表示部６と、表示装置７とで構成されている。
ュレータを示す系統図であり、シミュレーションモデル
作成部１と、信号群指定部２と、メモリ素子発生部３
と、シミュレーション部４と、データ読出し部５と、解
析表示部６と、表示装置７とで構成されている。
シミュレーションモデル作成部１は、論理検証しよう
とするLSI等の論理回路の回路記述ａを入力してシミュ
レーションモデルを作成する。信号群指定部２は、シミ
ュレーションモデル作成部１で作成されたシミュレーシ
ョンモデル内の信号群を、外部からの信号群指定記述ｂ
によって選択する。メモリ素子発生部３は、信号群指定
部２で選択された信号群をアドレスとして入力するメモ
リ素子を発生し、このメモリ素子をシミュレーションモ
デル作成部１で作成されたシミュレーションモデルに追
加する。なお、メモリ素子発生部３はシミュレーション
実行開始前においてはメモリ素子の各アドレスに対応す
る領域を論理「０」にクリアする。シミュレーション部
４は、メモリ素子の追加されたシミュレーションモデル
をテストケースに基づいてシミュレーションを行なう。
このとき、シミュレーション部４では、シミュレーショ
ンモデルに追加されたメモリ素子のアドレス即ち信号群
指定記述ｂで指定された信号群の状態が変化する都度、
その変化後の信号群の状態で決まるメモリ素子のアドレ
スに所定のデータ例えば論理「１」を書き込む。データ
読出し部５は、追加されたメモリ素子の記憶データをシ
ミュレーションの実行後に読み出すものであり、解析表
示部６は、メモリ素子の記憶データを解析し、論理
「０」の状態のままになっているアドレスを未アクセス
アドレス即ち実現しなかった信号群状態とする解析結果
ｃを生成し、表示装置７に編集表示する。
とするLSI等の論理回路の回路記述ａを入力してシミュ
レーションモデルを作成する。信号群指定部２は、シミ
ュレーションモデル作成部１で作成されたシミュレーシ
ョンモデル内の信号群を、外部からの信号群指定記述ｂ
によって選択する。メモリ素子発生部３は、信号群指定
部２で選択された信号群をアドレスとして入力するメモ
リ素子を発生し、このメモリ素子をシミュレーションモ
デル作成部１で作成されたシミュレーションモデルに追
加する。なお、メモリ素子発生部３はシミュレーション
実行開始前においてはメモリ素子の各アドレスに対応す
る領域を論理「０」にクリアする。シミュレーション部
４は、メモリ素子の追加されたシミュレーションモデル
をテストケースに基づいてシミュレーションを行なう。
このとき、シミュレーション部４では、シミュレーショ
ンモデルに追加されたメモリ素子のアドレス即ち信号群
指定記述ｂで指定された信号群の状態が変化する都度、
その変化後の信号群の状態で決まるメモリ素子のアドレ
スに所定のデータ例えば論理「１」を書き込む。データ
読出し部５は、追加されたメモリ素子の記憶データをシ
ミュレーションの実行後に読み出すものであり、解析表
示部６は、メモリ素子の記憶データを解析し、論理
「０」の状態のままになっているアドレスを未アクセス
アドレス即ち実現しなかった信号群状態とする解析結果
ｃを生成し、表示装置７に編集表示する。
第２図はシミュレーションモデル作成部１で作成され
たシミュレーションモデルの一例を示すモデル説明図、
第３図はメモリ素子発生後のシミュレーションモデルの
一例を示すモデル説明図である。
たシミュレーションモデルの一例を示すモデル説明図、
第３図はメモリ素子発生後のシミュレーションモデルの
一例を示すモデル説明図である。
シミュレーションモデル作成部１で作成されたシミュ
レーションモデルが、例えば第２図に示すようにゲート
g1,g2,g3,g4,g5と、ゲートg1の出力とゲートg4の入力と
をつなぐ信号線ｄと、ゲートg2の出力とゲートg5の一方
の入力とをつなぐ信号線ｅと、ゲートg3の出力とゲート
g5の他方の入力とをつなぐ信号線ｆとを含む場合、信号
群指定記述ｂによって信号線d,e,fを指定すると、その
旨が信号群指定部２からメモリ素子発生部３に通知さ
れ、メモリ装置発生部３は、例えば第３図に示すように
信号線d,e,fをアドレス入力とし、データ入力として論
理「１」を持つメモリ素子ｍを発生する。ここで、メモ
リ素子ｍは、少なくとも信号線d,e,fの状態の組合せの
個数だけの記憶エリアを持ち、各記憶エリアはその組合
せに対応している。そして、シミュレーション実行開始
前においては各記憶エリアには論理「０」が格納されて
いる。シミュレーション部４がテストケースに基づいて
シミュレーションモデルのシミュレーションを行ない
と、そのテストケースがゲートg1,g2,g3に関係する場
合、ゲートg1,g2,g3の出力状態がそのテストケースに応
じて変化することになり、その出力状態つまりアドレス
変化がある毎に、変化後の出力状態の組合せで決まるメ
モリ素子ｍのアドレスに論理「１」が書き込まれる。
レーションモデルが、例えば第２図に示すようにゲート
g1,g2,g3,g4,g5と、ゲートg1の出力とゲートg4の入力と
をつなぐ信号線ｄと、ゲートg2の出力とゲートg5の一方
の入力とをつなぐ信号線ｅと、ゲートg3の出力とゲート
g5の他方の入力とをつなぐ信号線ｆとを含む場合、信号
群指定記述ｂによって信号線d,e,fを指定すると、その
旨が信号群指定部２からメモリ素子発生部３に通知さ
れ、メモリ装置発生部３は、例えば第３図に示すように
信号線d,e,fをアドレス入力とし、データ入力として論
理「１」を持つメモリ素子ｍを発生する。ここで、メモ
リ素子ｍは、少なくとも信号線d,e,fの状態の組合せの
個数だけの記憶エリアを持ち、各記憶エリアはその組合
せに対応している。そして、シミュレーション実行開始
前においては各記憶エリアには論理「０」が格納されて
いる。シミュレーション部４がテストケースに基づいて
シミュレーションモデルのシミュレーションを行ない
と、そのテストケースがゲートg1,g2,g3に関係する場
合、ゲートg1,g2,g3の出力状態がそのテストケースに応
じて変化することになり、その出力状態つまりアドレス
変化がある毎に、変化後の出力状態の組合せで決まるメ
モリ素子ｍのアドレスに論理「１」が書き込まれる。
次に、第２の発明の実施例について説明する。第４図
は第２の発明の一実施例を示すブロック系統図である。
第４図において、11は状態値を保持する状態値メモリ、
12はこの状態値メモリ11と対に存在し且つ状態値が変化
したか否かの判断情報を保持する状態値変化判断メモ
リ、13は状態値が変化したか否かを判断する状態値変化
判断回路、14は状態値が変化した場合に上記状態値変化
判断メモリ12内に状態値が変化したことを意味する情報
を書き込む状態値変化判断書込み回路である。
は第２の発明の一実施例を示すブロック系統図である。
第４図において、11は状態値を保持する状態値メモリ、
12はこの状態値メモリ11と対に存在し且つ状態値が変化
したか否かの判断情報を保持する状態値変化判断メモ
リ、13は状態値が変化したか否かを判断する状態値変化
判断回路、14は状態値が変化した場合に上記状態値変化
判断メモリ12内に状態値が変化したことを意味する情報
を書き込む状態値変化判断書込み回路である。
次に、第４図に示す実施例の動作を説明する。まず、
論理シミュレーション実施中、回路の状態値を変更する
ため、状態値書込みアドレスｇと状態値ｈが送られてく
る。そして、状態値メモリ11はこの状態値書込みアドレ
スｇから旧状態値ｉを読み出した後、状態値ｈを書き込
む。これと同時に、状態値変化判断メモリ12は状態値書
込みアドレスｇから読み出し状態値変化判断ｋを読み出
す。
論理シミュレーション実施中、回路の状態値を変更する
ため、状態値書込みアドレスｇと状態値ｈが送られてく
る。そして、状態値メモリ11はこの状態値書込みアドレ
スｇから旧状態値ｉを読み出した後、状態値ｈを書き込
む。これと同時に、状態値変化判断メモリ12は状態値書
込みアドレスｇから読み出し状態値変化判断ｋを読み出
す。
次に、状態値変化判断回路13は、状態値ｈと旧状態値
ｉの排他的論理和を行なうことにより、状態値が変化し
たか否かを判断し、状態値変化判断フラグｊを出力す
る。そして、状態値変化判断書込み回路14は、上記状態
値変化判断フラグｊと読出し状態値変化判断ｋの論理和
を行なうことにより書込み状態値変化判断ｌを求め、状
態値変化判断メモリ12の状態値書込みアドレスｇに書込
み状態値変換判断ｌを書き込む。
ｉの排他的論理和を行なうことにより、状態値が変化し
たか否かを判断し、状態値変化判断フラグｊを出力す
る。そして、状態値変化判断書込み回路14は、上記状態
値変化判断フラグｊと読出し状態値変化判断ｋの論理和
を行なうことにより書込み状態値変化判断ｌを求め、状
態値変化判断メモリ12の状態値書込みアドレスｇに書込
み状態値変換判断ｌを書き込む。
このようにして、状態値変化判断メモリ２は、シミュ
レーション対象回路内の全回路の状態値変化の有無を保
持する。
レーション対象回路内の全回路の状態値変化の有無を保
持する。
そして、シミュレーション終了後、状態値変化判断メ
モリ12の内容を読出し状態値変化判断ｎと読み出し、シ
ミュレーションの効果を測定することができる。
モリ12の内容を読出し状態値変化判断ｎと読み出し、シ
ミュレーションの効果を測定することができる。
以上説明したように本願の第１の発明は、シミュレー
ションモデル内の信号群に指定する指定手段と、この指
定手段で指定された信号群をアドレスとして入力する記
憶手段を発生し，シミュレーションモデル内に組み込む
組み込み手段と、シミュレーション実行時，指定手段で
指定された信号群の状態が変化することにより，その変
化後の信号群の状態で決まる記憶手段のアドレスに所定
のデータを書き込む書込み手段と、記憶手段に記憶され
たデータを読み出す読出し手段とを有するものであり、
シミュレーション対象がどの程度動作したか即ちシミュ
レーションの網羅性を簡単に検出することができ、効率
的にシミュレーションを行なうことができる効果があ
る。
ションモデル内の信号群に指定する指定手段と、この指
定手段で指定された信号群をアドレスとして入力する記
憶手段を発生し，シミュレーションモデル内に組み込む
組み込み手段と、シミュレーション実行時，指定手段で
指定された信号群の状態が変化することにより，その変
化後の信号群の状態で決まる記憶手段のアドレスに所定
のデータを書き込む書込み手段と、記憶手段に記憶され
たデータを読み出す読出し手段とを有するものであり、
シミュレーション対象がどの程度動作したか即ちシミュ
レーションの網羅性を簡単に検出することができ、効率
的にシミュレーションを行なうことができる効果があ
る。
また本願の第２の発明は、状態値が変化したか否かを
判断し、状態値が変化した場合に上記状態値が変化した
か否かの判断情報を保持するメモリ内に状態値が変化し
たことを意味する情報を書き込み、このメモリの内容を
読出し状態値変化判断と読み出すことにより、シミュレ
ーションの網羅性の判断が可能となり、効率的にシミュ
レーションができる効果がある。
判断し、状態値が変化した場合に上記状態値が変化した
か否かの判断情報を保持するメモリ内に状態値が変化し
たことを意味する情報を書き込み、このメモリの内容を
読出し状態値変化判断と読み出すことにより、シミュレ
ーションの網羅性の判断が可能となり、効率的にシミュ
レーションができる効果がある。
第１図は第１の発明の実施例を示す系統図、第２図はシ
ミュレーションモデル作成部で作成されるシミュレーシ
ョンモデルの一例を示すモデル図、第３図はメモリ素子
発生後のシミュレーションモデルの一例を示すモデル
図、第４図は第２の発明の実施例を示すブロック系統図
である。 １……シミュレーションモデル作成部、２……信号群指
定部、３……メモリ素子発生部、４……シミュレーショ
ン部、５……データ読出し部、６……解析表示部、７…
…表示位置、g1〜g5……シミュレーションモデル上のゲ
ート、d,e,f……シミュレーションモデル上の信号線、
ｍ……シミュレーションモデルに追加されたメモリ素
子、11……状態値メモリ、12……状態値変化判断メモ
リ、13……状態値変化判断回路、14……状態値変化判断
書込み回路。
ミュレーションモデル作成部で作成されるシミュレーシ
ョンモデルの一例を示すモデル図、第３図はメモリ素子
発生後のシミュレーションモデルの一例を示すモデル
図、第４図は第２の発明の実施例を示すブロック系統図
である。 １……シミュレーションモデル作成部、２……信号群指
定部、３……メモリ素子発生部、４……シミュレーショ
ン部、５……データ読出し部、６……解析表示部、７…
…表示位置、g1〜g5……シミュレーションモデル上のゲ
ート、d,e,f……シミュレーションモデル上の信号線、
ｍ……シミュレーションモデルに追加されたメモリ素
子、11……状態値メモリ、12……状態値変化判断メモ
リ、13……状態値変化判断回路、14……状態値変化判断
書込み回路。
Claims (2)
- 【請求項１】シミュレーションモデル内の信号群を指定
する指定手段と、 この指定手段で指定された信号群をアドレスとして入力
する記憶手段を発生し前記シミュレーションモデル内に
組み込む組込み手段と、 シミュレーション実行時、前記指定手段で指定された信
号群の状態が変化することにより、前記変化後の信号群
の状態で決まる前記記憶手段のアドレスに所定のデータ
を書き込む書込み手段と、 前記記憶手段に記憶されたデータを読み出す読出し手段
とを具備したハードウェア論理シミュレータ。 - 【請求項２】状態値を保持する第１のメモリと対に存在
し且つ状態値が変化したか否かの判断情報を保持する第
２のメモリと、 状態値が変化したか否かを判断する回路と、 状態値が変化した際に前記第２のメモリ内に状態値が変
化したことを意味する情報を書き込む回路とを備え、シ
ミュレーションの網羅性を確認し得るようにしたことを
特徴とするハードウェア論理シミュレータ。
Applications Claiming Priority (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4034387 | 1987-02-25 | ||
| JP62-40343 | 1987-04-23 | ||
| JP62-100287 | 1987-04-23 | ||
| JP10028787 | 1987-04-23 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6426243A JPS6426243A (en) | 1989-01-27 |
| JP2699377B2 true JP2699377B2 (ja) | 1998-01-19 |
Family
ID=26379797
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3402788A Expired - Lifetime JP2699377B2 (ja) | 1987-02-25 | 1988-02-18 | ハードウエア論理シミユレータ |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4924429A (ja) |
| JP (1) | JP2699377B2 (ja) |
Families Citing this family (36)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5452231A (en) * | 1988-10-05 | 1995-09-19 | Quickturn Design Systems, Inc. | Hierarchically connected reconfigurable logic assembly |
| US5329470A (en) * | 1988-12-02 | 1994-07-12 | Quickturn Systems, Inc. | Reconfigurable hardware emulation system |
| US5109353A (en) * | 1988-12-02 | 1992-04-28 | Quickturn Systems, Incorporated | Apparatus for emulation of electronic hardware system |
| US5253181A (en) * | 1989-04-27 | 1993-10-12 | Kawasaki Steel Corporation | Programmable one-board computer, and methods of verification of logic circuit and alteration to actual circuit using the programmable one-board computer |
| US5353243A (en) | 1989-05-31 | 1994-10-04 | Synopsys Inc. | Hardware modeling system and method of use |
| US5369593A (en) | 1989-05-31 | 1994-11-29 | Synopsys Inc. | System for and method of connecting a hardware modeling element to a hardware modeling system |
| JPH0341565A (ja) * | 1989-07-10 | 1991-02-22 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 論理回路の機能検証方法 |
| US5068812A (en) * | 1989-07-18 | 1991-11-26 | Vlsi Technology, Inc. | Event-controlled LCC stimulation |
| US5038307A (en) * | 1989-10-30 | 1991-08-06 | At&T Bell Laboratories | Measurement of performance of an extended finite state machine |
| US5081602A (en) * | 1989-11-07 | 1992-01-14 | Amp Incorporated | Computer simulator for electrical connectors |
| EP0440553B1 (en) * | 1990-01-29 | 2001-10-17 | Fujitsu Limited | Gate addressing system for logic simulation machine |
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1988
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- 1988-02-24 US US07/159,741 patent/US4924429A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4924429A (en) | 1990-05-08 |
| JPS6426243A (en) | 1989-01-27 |
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