JPS6320543A - 論理シミユレ−シヨン方式 - Google Patents

論理シミユレ−シヨン方式

Info

Publication number
JPS6320543A
JPS6320543A JP61164641A JP16464186A JPS6320543A JP S6320543 A JPS6320543 A JP S6320543A JP 61164641 A JP61164641 A JP 61164641A JP 16464186 A JP16464186 A JP 16464186A JP S6320543 A JPS6320543 A JP S6320543A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
lsi
logic
actual
simulation
component mounting
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP61164641A
Other languages
English (en)
Inventor
Kimio Oe
大江 公夫
Nobutaka Amano
天野 亘孝
Takashige Kubo
久保 隆重
Masato Morita
正人 森田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Microcomputer System Ltd
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Hitachi Microcomputer Engineering Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd, Hitachi Microcomputer Engineering Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP61164641A priority Critical patent/JPS6320543A/ja
Publication of JPS6320543A publication Critical patent/JPS6320543A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
  • Management, Administration, Business Operations System, And Electronic Commerce (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野〕 本発明は、内部論理の不明な素子を搭載しているプリン
ト板ユニット及び装置の論理シミュレーション方式に関
する。
〔従来の技術〕
プリント板ユニット上の内部論理の不明な素子について
は、その実際の素子を使用して、プリント板ユニットの
診断用のテストデータを作成する方法を述べている特許
として特開昭56−2046号公報がある。
〔発明が解決しようとする問題点〕
この方法ではソフトウェア故障シミュレータと、実際の
素子からなるエミュレータを設けその人力と出力を互い
に補充しあうように動作し、テストデータの作成を可能
としている。しかし、本発明の対象である論理シミュレ
ーションにおいては、シミュレーションの過程において
実際の部品を用いてシミュレーションを行う内部論理不
明なLSIの入力ピンに信号変化があるたびにその出力
を必要となるため、この方法は適用できない。
本発明は論理素子の、特に内部論理の知れない素子を含
む論理回路の論理シミュレーション方式に係わる。デジ
タル論理回路のLSI化が顕著になっているが、これに
伴ないプリント板ユニット又は装置レベルの論理シミュ
レーションは非常に困鴛になって来ている。本発明の目
的は、この内部論理の不明な素子を実際の部品を使用す
ることで論理シミュレーションを可能とした論理シミュ
レーション方式を提供することにある。
[問題点を解決するための手段〕 LSIは自ら設計したカスタムLSIを除き内部論理の
詳細は解らないことが多い。又回路規模が大きいマイク
ロプロセッサ等の場合、機能から内部の構成を推定する
ことは困難であることばかりでなく、あくまで推定の域
を脱することはできない。
これら内部論理の解らないLSIを含む論理回路の論理
シミュレーションを行う方法とじて■、SIをソフトウ
ェア的に機能記述する方法がある。これは内部論理の解
らないLSIであっても機能及び動作は判っているので
これを論理的に表現、定義して、一定の入力データに対
してLSIの動作をソフトウェア上で疑似的に動作させ
出力期待値としての出力データを得るものである。この
方法は内部論理の知れないLSI等に対して1品種毎に
機能及び動作の定義をしなければならない。特に複雑な
機能を持っT、 S Iをこの様に定義する作業は動作
記述用言語の開発と相伴って高度の知識と熟練と時間を
要し、その作業は非常に困難である。さらに、この様に
して機能及び動作が定義されたソフトウェアモデルが実
際のLSIと同じ出力値であるかを多くの場合について
確認する必要があり、このソフトウェアモデルのデバッ
グ作業も極めて多大な工数を必要とする。
もう1つの方法として内部論理の解らないLSIについ
ては実際の部品を用いて論理シミュレーションを行う方
法がある。ソフトウェア論理シミュレーシヨンを行うコ
ンピュータシステムに■10接続装置を通して実際の部
品を接続する。論理シミュレーションの過程で実際の部
品の入力ピンにあたる部分に変化が生じたときには、実
際の部品をサブルーチンの様に呼び出し、その実際の部
品の出力をソフトウェア論理シミュレータに引き渡すこ
とにより、内部論理の解らない論理素子を含む論理回路
の論理シミュレーションを行う方法である。
実際の部品を用いて論理シミュレーションを行う場合、
ソフトウェアとハードウェアのタイミングを考慮する必
要がある。特にMOSトランジスタを用いたダイナミッ
クな回路構成を持つLSIの場合、最低動作速度を満た
さなければその内部状態は保証されが、単にソフトウェ
アから実際の部品にデータを転送しただけではこの最低
動作速度を満たすことはできない。これを解決する方法
を以下に述べる。論理シミュレーションの最初からのL
SI入力データをすべて履歴データとして記録しておき
、ソフトウェア論理シミュレータより実際の部品が呼び
出される毎に、前記の履歴と新しい入力データをLSI
の最低動作速度以上で順に実際の部品であるLSIに入
力することによりLSI内部の状態を保証し、その出力
を得ることが可能である。
一般にMO3回路やCMO3回路で構成されたLSIの
場合、その取り扱いにより静電気等による破壊が起こる
可能性がある。実際の部品である工、SIを用いて論理
シミュレーションを行う場合、対象となる論理回路によ
って実際の部品を搭載する実部品搭載装置上のLSIを
変更することがあるため、このような変更が行われた時
には論理シミュレーション実行前に部品の良否、即ち、
部品が正常に動作するか、及び実部品搭載アダプタ上に
正しく接続されているかを何等かの方法で確認する必要
がある。
本発明は前記問題点を除去すること、即ち実部品搭載ア
ダプタ上に部品に固有の部品HDを設けておき、ソフト
ウェアによりこれを読み取ることにより部品の種類を識
別し、あらかじめ用意しておいた部品検証用のテストデ
ータの甲からその部品に固有のテストデータを選び出し
、テスト入力列として部品に入力し、その出力結果を期
待値と比較することにより、実部の部品であるLSIが
正しく動作することを確認した上で実際の部品を用いる
ことにより論理シミュレーションを可能とすることを特
徴とする。
〔作用〕
本発明では、内部論理の不明な素子を実際の部品を使用
することで論理シミュレーションを可能にした。
〔実施例〕
以下、図面に従って本発明の詳細な説明する。
第1図は本発明の一実施例としてのコンビュータシテス
ム構成図である。コンピュータシステム11はCPt7
111、メモリー12および任意の数のI10チャンネ
ル113,114からなり、データバス12に接続され
ているものとする。コンピュータシステム11はさらに
このデータバス12にI10チャンネル113,114
を通してづ 実部品搭載装置13に接続する。lンピュータシステム
11は従来のソフトウェア論理シミュレーションが可能
なものである。ここで実部品搭載装置はコンピュータシ
ステム上のソフトウェア論理シミュレータよりI10チ
ャンネル113゜114を通して】つのサブルーチンの
ように呼び出され、CPtJlllより入力データを受
信し、出力データをCPtJlllへ送出するものであ
る。
第2図は本発明の一実施例としての実部品搭載装置の構
成図である。第1図と同じ部分については同一符号を付
している。コンピュータCPU111よりI10チャン
ネル113,114を通して実部品搭載装置】3に送ら
れる入力データ及びLSI選択データはデータレジスタ
21及びLSI選択レジスタ22に一時記録される。実
部品搭載装置13は複数の実部品搭載サブモジュール2
3を含み、それぞれが各種のLSIのシミュレーション
を行うことができる。これらのサブモジュールはLSI
選択レジスタからの選択信号24により選択される。
第3図は本発明の一実施例としての実部品搭載サブモジ
ュールの構成図である。実部品搭載サブモジュール23
には入力ラッチ32と出力ラッチ35をもち、実部品搭
載アダプタ33を介して搭載LS I 34の入出力端
子に接続される。H歴メモリ31には、CPUより送出
された過去の入力データ37(1〜n)が記録されてい
るものとする・CPUより新しい入力データn + 1
が送出されてきた場合、実部品コントローラ36は履歴
メモリに入力データn+1を追加し、最初のデータ1か
ら順に最後のデータn+1までを、入力ラッチ32通し
てI、5T34に入力する。LSIの出力が安定した一
定時間後、実部品コントローラ36はLSI34の出力
を出力ラッチ35にラッチし、データレジスタ21を通
し入力データn+1に対する出力データとしてCPUに
送出する。
第4図は本発明の一実施例としての実部品搭載アダプタ
33の構成図である。実際の部品である1□5T34は
実部品搭載アダプタ33にはんだ付は等で接続し、T、
SIのピンとアダプタのピン35を結線する。実部品搭
載アダプタ33の所定のピンにはディップスイッチやジ
ャンパ線等で部品の種類に固有の部品ID42を付ける
CPt1はこれを読み取ることにより、実部品搭載装[
13の任意の位置のLSIの種類を識別することが可能
である。実部品搭載アダプタ33は実部品搭載サブモジ
ュール23の所定の位置に搭載される。′Aなる論理回
路の論理シミュレーションを行う場合は、実部品搭載サ
ブモジュール23上の実部品搭載アダプタ33を交換す
ることにより任意の内部論理の不明なLSIを含む論理
回路の論理シミュレーションが可能である。
ここでCPU上のソフトウェアと実部品搭載装置との動
作の関係を第1図〜第8図を用いて詳細に説明する。
まず論理シミュレーションの対象となる論理回路上のL
 S Iの内、内部論理の不明なLSIについては、実
部品搭載装置13上でシミュレーションを行う。このた
めLSIの外部仕様をよく理解した上で、前記入力ラッ
チ32及び出力ラッチ35にL S I 34の入出力
情報をセットできるように接続した実部品搭載アダプタ
33を実部品搭載サブモジュール23に用意する・ 次に実部品搭載アダプタ33上に用意したLSI 34
が良品かどうかをテストするために実部品管理プログラ
ム51を実行する。
以下に実部品管理プログラム51の動作を第6図のフロ
ーチャートを使用して説明する。
(1)実部品管理プログラム51は実部品搭載装置13
上の全実部品搭載アダプタの部品ID42を読み出す(
ステップ60)。
(2)部品IDより実部品搭載装置13上に搭載されて
いるすべてのLSIについての搭載位置、良否を示す情
報を記録する実部品管理テーブル52を生成する(ステ
ップ61)。
(3)個々の実部品搭載アダプタ13上のLSI34に
対して、LSIに固有のテストデータ54中のテスト入
力列を送出する(ステップ62)。
(4)実部品搭載装置13は第8図のフローチャートに
従いLS I 34にテスト入力列を入力し、その出力
結果をCPU上の魅部品管理プログラムに送出する(ス
テップ63)・ (5)実部品管理プログラム51は実部品搭載装置から
送られたLSI 34の出力結果とテストデータ54中
の期待値とを比較する(ステップ64)。
(6)上記(3)〜(5)までをテストデータ54があ
る間繰り返す(ステップ65)。
(7)上記(3)〜(5)においてLSI34の出力と
、テストデータ54中の期待値とが一致しなかった場合
にはメツセージを出力する(ステップ67)。
(8)LSIの良否を示すフラグを実部品管理テーブル
52に出力する(ステップ68)。
(9)上記(3)〜(8)を実部品搭載装置13上の全
LSIについておこなう(ステップ69)。
以上実部品搭載装置13上の搭載LSIを変更した場合
に、上記の実部品管理プログラムを実行し、実部品管理
テーブルを生成することにより、ソフトウェア論理シミ
ュレータはこれを参照することにより、利用可能は良品
LSIカー実部品搭載装置13上のどの実部品搭載サブ
モジュール23に搭載されているかを認識することが可
能である。
これらの準備がすべて完了すると、論理シミュレーショ
ンが開始できるようになる。
以下、第1図〜第8図を用いてソフトウェア論理シミュ
レータと実部品搭載装置13との動作の関係及び、上記
テストデータ54の生成方法を第7図のフローチャート
を中心に詳細に説明する。
(1)ソフトウェア論理シミュレータは全論理回路の初
期設定をおこなう。
従って、実部品搭載装置13上で実際の部品によってシ
ミュレーションされるLSIについても必要な場合は適
当な信号を送り初期設定を行う(ステップ70)。
(2)次に従来同様にソフトウェアによる論理シミュレ
ーションを行う、ソフトウェア論理シミュレータは先ず
信号変化(イベント)を取り出す(ステップ71)。
(3)信号の変化(イベント)が実部品搭載装置13上
で実際の部品によってシミュレーションされるLSIの
入力ビンに相当する場合(ステップ72)、ソフトウェ
ア論理シミュレータは実部品搭載装置13に送出する入
力列を生成する。又、実部品搭載サブモジュール23を
選択するデータを前記実部品管理テーブル52を参照し
て得る(ステップ76)。
(4)ソフトウェア論理シミュレータは実部品搭載装置
13を一つのサブルーチンのように呼び出し入力ビンの
データ及び搭載LSIを選択するためのデータを実部品
搭載装置13に送出する(ステップ77)。
(5)実部品搭載装置13に引き渡された入力ビンのデ
ータ及びLSI選択データはそれぞれデータレジスタ2
1およびLSI選択レジスタ22に一時記録される。デ
ータレジスタ21に設定された入力ビンデータはさらに
T、 S N選択レジスタ22によって目的の実部品搭
載サブモジュー1% 23を選択すル(ステップ8o)
(6)データレジスタ21に一時記録された入力ピンの
データは実部品搭載サブモジュール23の履歴メモリ3
1の末尾に追加される(ステップ81)。
(7)実部品搭載サブモジュール23は履歴メモリ31
内の最初の入力データを1データ読み出す(ステップ8
2)。
(8)読み出されたデータは入力ラッチ33を通してL
S I 34に入力される(ステップ83)。
(9)上記(7)〜(8)を履歴メモリに入力データが
なくなるまで繰り返しくステップ84)、履歴メモリの
最後のデータがLS I 34に入力された後、実部品
コントローラ36はLSI34の出力を出力ラッチ35
に記録しソフトウェア論理シミュレータに送出する(ス
テップ85)。
(10)ソフトウェア論理シミュレータは実部品搭載装
置から受は取ったデータをLSIの出力データとして受
は取りイベント登録を行う(ステップ74)。
(11)ソフトウェア論理シミュレータは、上記(2)
〜(10)をシミュレーション終了まで繰り返す(ステ
ップ75)。
次にテストデータ54の生成方法についてのべる。
上記ソフトウェア論理シミュレータが実部品搭載装置に
送出したデータ76と実部品搭載装置がソフトウェア論
理シミュレータに送出したデータ78をテストデータ5
4、即ちLSIテスト入力列及びその期待値として抽出
しておく(ステップ79)。
論理シミュレーション終了後、そのシミュレーション結
果より実部品搭載装置上のLSIが正しく動作している
と確認された場合、上記で抽出したテストデータは有効
であり、以後実部品管理プログラムによるLSIの良否
テストに使用することができる。
以上の様に従来のソフトウェア論理シミュレーションを
使用して内部論理の解らない回路を含む論理回路のシミ
ュレーションを内部論理の不明なLSIを実際の部品で
あるLSIを良品であることを確かめた上で使用するこ
とにより可能とする。
〔発明の効果〕
以上本発明によって、内部論理の知れないLSIを含む
論理回路の論理シミュレーションにおいて、その部分を
実際の部品を使用し、シミュレーションの実行前に前記
の動作を用いてLSIが良品であるかどうかを確認した
上で使用することにより、部品の不良や、搭載ミスによ
るミスシミュレーション等を無くすことが可能である。
又。
本方式では実際の部品であるLSI毎にテスト入力列及
びその期待値から成るテストデータ54を作成する必要
があるが、これはそのLSIを使用した論理シミュレー
ションより簡単に抽出することができ、そのテストデー
タの正当性を1度だけシミュレーション結果から確かめ
ることにより簡単に得ることができる。又、対象LSI
毎に実部品搭載アダプタ33を作成する必要があるが、
新しいLSIを採用する場合、割合に容易で安価で素早
く準備できるなどの効果がある。
又、本発明の適用範囲は論理シミュレーションに限らず
ソフトウェア故障シミュレータより本装置を呼び出すこ
とにより、対象LSIの内部論理に詳細な仮定故障はで
きないもののプリント板ユニットの部品取り換え単位ま
でのテストパターンの作成を目的とする故障シミュレー
ションにも適用可能である。
又、本発明の適用範囲は論理シミュレーションに限らず
、実部品搭載装置に良否を判定したいLSIを搭載し、
前記テストデータを入力することにより良否判定を目的
としたLSIの選別テストにも適用可能である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例としてのコンピュータシステ
11の構成図、第2図は本発明の一実施例としての実部
品搭載装置の構成図、第3図は本発明の一実施例として
の実部品搭載サブモジュールの構成図、第4図は本発明
の一実施例としての実部品搭載アダプタの構成図、第5
図は本発明の一実施例としてのL S Iの良否テスト
の説明図、第6図は本発明の一実施例としての実部品管
理プログラl)の動作フローチャート、第7図は本発明
の一実施例としてのソフトウェア論理シミュレータの動
作フローチャート、第8図は本発明の一実施例としての
実部品搭載装置の動作フローチャートである。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、内部論理が不明なLSIを含む論理回路の論理シミ
    ュレーションを、内部論理の不明な LSIについては、実際の部品を用いその出力を得る手
    段と、他の論理回路についてはソフトウェア論理シミュ
    レーションを行う手段とを設け、ソフトウェア論理シミ
    ュレータから内部論理不明な回路である実際の部品を呼
    び出すことによつて論理シミュレーションを行う方式に
    おいて、実際の部品毎に設けた部品固有のIDにより部
    品の種類を判断し、あらかじめ用意しておいた部品検証
    用のテストデータの中から、その部品固有のテストデー
    タを選択して部品に入力し、その結果得られる出力と期
    待値との一致検証を行うことにより、実際に用いる部品
    が正常に動作することを確認した上で使用することを特
    徴とする論理回路の論理シミュレーション方式。
JP61164641A 1986-07-15 1986-07-15 論理シミユレ−シヨン方式 Pending JPS6320543A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61164641A JPS6320543A (ja) 1986-07-15 1986-07-15 論理シミユレ−シヨン方式

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61164641A JPS6320543A (ja) 1986-07-15 1986-07-15 論理シミユレ−シヨン方式

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS6320543A true JPS6320543A (ja) 1988-01-28

Family

ID=15797047

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP61164641A Pending JPS6320543A (ja) 1986-07-15 1986-07-15 論理シミユレ−シヨン方式

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6320543A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04245379A (ja) * 1991-01-30 1992-09-01 Nec Ic Microcomput Syst Ltd 半導体集積回路の検証装置
CN109637249A (zh) * 2019-01-14 2019-04-16 上海中侨职业技术学院 一种空气流量计传感器故障模拟检测接头及其使用方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04245379A (ja) * 1991-01-30 1992-09-01 Nec Ic Microcomput Syst Ltd 半導体集積回路の検証装置
CN109637249A (zh) * 2019-01-14 2019-04-16 上海中侨职业技术学院 一种空气流量计传感器故障模拟检测接头及其使用方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5515384A (en) Method and system of fault diagnosis of application specific electronic circuits
US5703788A (en) Configuration management and automated test system ASIC design software
US4590581A (en) Method and apparatus for modeling systems of complex circuits
US6332201B1 (en) Test results checking via predictive-reactive emulation
US6083269A (en) Digital integrated circuit design system and methodology with hardware
EP0170878B1 (en) Method and apparatus for testing electronic equipment
US20030217343A1 (en) Manufacturing method and apparatus to avoid prototype-hold in ASIC/SOC manufacturing
JPS60164848A (ja) モデリング動作の方法
US5974248A (en) Intermediate test file conversion and comparison
CN112084113B (zh) 基于嵌入式仿真验证软件的可配置自动化测试方法及系统
US6615379B1 (en) Method and apparatus for testing a logic device
CN117094269B (zh) 一种验证方法、装置、电子设备及可读存储介质
US20110239067A1 (en) Verification of design information for controlling manufacture of a system on a chip
JPS6320543A (ja) 論理シミユレ−シヨン方式
JP2755237B2 (ja) シミュレーション装置およびその方法
US6944837B2 (en) System and method for evaluating an integrated circuit design
CN117113907B (zh) 一种验证方法、装置、电子设备及可读存储介质
JPH0863510A (ja) 論理シミュレーション装置
JPS62188981A (ja) 実部品を用いる論理装置シミユレ−シヨン方法
JP2964746B2 (ja) プリント板回路の自動検証処理方法
JP2990813B2 (ja) 故障シミュレーション方法
CN117033113A (zh) 一种信号延迟的控制电路和方法
Rolince et al. Next generation functional test program development system
Kivenko et al. Some quality assurance aspects of automatic testing
Hilsinger et al. 1a processor: Testing and integration