JPS60140140A - 物質の濃度を光学測定する装置 - Google Patents
物質の濃度を光学測定する装置Info
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、物質の濃度を光学測定する装置に関する。
従来技術
生物学的測定物体の場合には、屡々粒子画分の濃度ケ検
出しなければならず、この検出は、生え水浴液中で行な
われる。
出しなければならず、この検出は、生え水浴液中で行な
われる。
この場合、測定すべき粒子【対するそれぞれ重要でない
粒子又は水の妨害の影響は、多ぐの場合著しく大きい。
粒子又は水の妨害の影響は、多ぐの場合著しく大きい。
光学測定の場合、屡々測定光線も妨害されるので、定量
的測定は問題とされている。
的測定は問題とされている。
ルミネッセンス−又は吸収指示器によって光学的に測定
可能な種類の粒子は、例えば西ドイツ国特許第2508
637号明細書の記載によれば、オシトープ(Opto
de) (これ6・」−1光学的指示器を有する指示器
空間である)1(よって1jll定可能であり、IR−
活性粒子又は全く指示器が存在しない粒子全光学的に測
定することは、上記の事情により困難である。
可能な種類の粒子は、例えば西ドイツ国特許第2508
637号明細書の記載によれば、オシトープ(Opto
de) (これ6・」−1光学的指示器を有する指示器
空間である)1(よって1jll定可能であり、IR−
活性粒子又は全く指示器が存在しない粒子全光学的に測
定することは、上記の事情により困難である。
発明が解決しようとする問題点
従って、本発明の課題は、オプトーデ
(0plode )によって測定できない粒子@変の光
学測定?改善することである。
学測定?改善することである。
問題点?解決するだめの手段
この課題は、測定すべき粒子Ti+nに対して選択的に
ろ退行[能で、測定光線ppに対して透明の物質からの
測定空間Mが設けられており、この測定空間が測定物体
MOとの動作結合状態にあり、この測定空間に測定光m
Ppが入射されることによって解決される。
ろ退行[能で、測定光線ppに対して透明の物質からの
測定空間Mが設けられており、この測定空間が測定物体
MOとの動作結合状態にあり、この測定空間に測定光m
Ppが入射されることによって解決される。
この装置のオリ点は、測定すべき拡散粒子に対する測定
空間の選択性によって他の測定すべきでないが妨害する
粒子全分離することを1回でi[能ならしめることにあ
る。
空間の選択性によって他の測定すべきでないが妨害する
粒子全分離することを1回でi[能ならしめることにあ
る。
もう1つの利点は、光線の吸収曲線を、測定空間全形成
する分子が測定すべき粒子に対して反作用する場合に変
位させることができ、このことはさらに吸収の変位を生
ぜしめることにある。それによって、照射器、吸収範囲
及び検出器の波長を相互に測定する付加的な方法が得ら
れるか、又は仕事範囲を測定範囲内にある妨害帯域から
変位させることができる。
する分子が測定すべき粒子に対して反作用する場合に変
位させることができ、このことはさらに吸収の変位を生
ぜしめることにある。それによって、照射器、吸収範囲
及び検出器の波長を相互に測定する付加的な方法が得ら
れるか、又は仕事範囲を測定範囲内にある妨害帯域から
変位させることができる。
更に、1つの結合を有するか又は測定すべき粒子に対し
て高い溶解度係数ケ有する物質全測定空間に使用する場
合、この物質の濃度は測定空間に比して高く、それによ
って測定光線に対する信号−雑音比は、改善することが
できる。
て高い溶解度係数ケ有する物質全測定空間に使用する場
合、この物質の濃度は測定空間に比して高く、それによ
って測定光線に対する信号−雑音比は、改善することが
できる。
測定空間として使用しつる物質は、測定光線に対して透
明でなければならない。それという(7)モ、911i
ばシリコーン%PVO%ポリスチロール、ホリプロピレ
ン等?有するかかる透過物体は、直ちにIR−測定光線
に対しても可能であるので、今や拡散可能な物質は、特
殊な指示器なしに際立ったIR−活性又はラマン活性で
光学的に測定することができる。麻酔ガスのハロタン(
Halotban )はそのための1例である。
明でなければならない。それという(7)モ、911i
ばシリコーン%PVO%ポリスチロール、ホリプロピレ
ン等?有するかかる透過物体は、直ちにIR−測定光線
に対しても可能であるので、今や拡散可能な物質は、特
殊な指示器なしに際立ったIR−活性又はラマン活性で
光学的に測定することができる。麻酔ガスのハロタン(
Halotban )はそのための1例である。
しかし、本発明による装置は、簡単な照射に好適なだけ
でなく、光導波路又は光導波路の部分として使用するこ
ともできる。
でなく、光導波路又は光導波路の部分として使用するこ
ともできる。
利点は、例えば光導波路が測定光線の搬送のために設け
られ、その測面が測定空間で被覆されている場合に生じ
る。
られ、その測面が測定空間で被覆されている場合に生じ
る。
すなわち、光の伝搬全光導波路中で行なうことができる
ようにするために、搬送される光は、光導波路の側面で
全反射の臨界角内で進行しなければならない。更に、光
は、境界面によって反射されるが、物理的理由から理想
的に反射されずに、例えば1波長の程度の大きさの短い
区間全弁して列部空間内に侵入する。そこで本発明によ
る測定空間を配置すれば、測定光線は、この測定空間を
伝搬する。この場合、測定空間の有効な厚さは、測定光
線及びその入射角によって、すなわち物理的に測定され
る。
ようにするために、搬送される光は、光導波路の側面で
全反射の臨界角内で進行しなければならない。更に、光
は、境界面によって反射されるが、物理的理由から理想
的に反射されずに、例えば1波長の程度の大きさの短い
区間全弁して列部空間内に侵入する。そこで本発明によ
る測定空間を配置すれば、測定光線は、この測定空間を
伝搬する。この場合、測定空間の有効な厚さは、測定光
線及びその入射角によって、すなわち物理的に測定され
る。
測定光線は、物理的理由から深く測定空間内に浸入する
ことができないので、測定物体の測定光線を光学的に減
結合する手段ももはや不必要である。そのために、測定
空間は多数の波長に対する厚さ?有する。
ことができないので、測定物体の測定光線を光学的に減
結合する手段ももはや不必要である。そのために、測定
空間は多数の波長に対する厚さ?有する。
測定空間の溶解度又は測定すべき種類の粒子の結合度が
物質(この物質から測定空間はなる)の相当する選択に
よって測定物質に比して増大されている場合には、測定
空間内で高められた濃度は、この粒子に対して調節され
、それによって測定の信号/雑音比は改善される。
物質(この物質から測定空間はなる)の相当する選択に
よって測定物質に比して増大されている場合には、測定
空間内で高められた濃度は、この粒子に対して調節され
、それによって測定の信号/雑音比は改善される。
多数のパラメーター又は多数の種類の粒子を測定しなけ
ればならない場合には、測定空間の1つの領域が設けら
れ、この場合指示器領域は、粒子選択性に形成されてい
る。
ればならない場合には、測定空間の1つの領域が設けら
れ、この場合指示器領域は、粒子選択性に形成されてい
る。
膜が疎水性に形成されている場合には、例えば指示器空
間内に拡散されている測定すべき粒子は、水と分離され
る。それによって、例えば血液又は他の水浴液中でのC
O2−濃度又は麻酔ガス(ハロタン(Halothan
))の濃度?測定することができる。さもないと、こ
のことは、水が所謂“水帯域”を介する著しく高いI)
L−吸収を有するので不ロJ能となり、透過光中でのI
R−測定又は反射は行なわれない。
間内に拡散されている測定すべき粒子は、水と分離され
る。それによって、例えば血液又は他の水浴液中でのC
O2−濃度又は麻酔ガス(ハロタン(Halothan
))の濃度?測定することができる。さもないと、こ
のことは、水が所謂“水帯域”を介する著しく高いI)
L−吸収を有するので不ロJ能となり、透過光中でのI
R−測定又は反射は行なわれない。
測定空間に相互配置されたかかる先導波路の材料として
は、例えば臭化沃化タリウム(K RS5 ) 、 Z
n5e、 ZnS、 Si 、 Gei使用することが
できるか又はこの場合工業的に予想されるnaF又はK
l(r又はNa0j3 のような結晶性異極性塩を使用
することができる。
は、例えば臭化沃化タリウム(K RS5 ) 、 Z
n5e、 ZnS、 Si 、 Gei使用することが
できるか又はこの場合工業的に予想されるnaF又はK
l(r又はNa0j3 のような結晶性異極性塩を使用
することができる。
水蒸気に対する遮断層としては、例えばテトラフルオル
エチレン又はマイラー(Mylar ) ノような他の
層全測定空間の上に塗布することができるか又は例えば
ジオクチルフタレートのような水不溶性溶剤からの層が
設けられる、このような薬剤は、自己付着性であること
ができるか又は多孔質網状構造体、例えばテフロンフリ
ース(ミリポルフィルター(Milliporf −r
I terl )等により不動化することができる、
1だ、例えばキャリヤーがドープされていてもよい活性
化された重合体シートヲ使用することも可能である。そ
れによって、測定すべき粒子に対して良好な選択性が得
られる。
エチレン又はマイラー(Mylar ) ノような他の
層全測定空間の上に塗布することができるか又は例えば
ジオクチルフタレートのような水不溶性溶剤からの層が
設けられる、このような薬剤は、自己付着性であること
ができるか又は多孔質網状構造体、例えばテフロンフリ
ース(ミリポルフィルター(Milliporf −r
I terl )等により不動化することができる、
1だ、例えばキャリヤーがドープされていてもよい活性
化された重合体シートヲ使用することも可能である。そ
れによって、測定すべき粒子に対して良好な選択性が得
られる。
実施例
次に、本発明會図面につき詳説する。
第1図によれば、測定光線■)pは、測定空間M?通過
し、この測定空間は、測定物体MOとの動作結合状態に
ある。粒子画分子i+nは、測定空間M中に拡散し、測
定空間M中での粒子Timの溶解度aが測定物体MO中
での場合よりも高い場合にけ、第1a図によれば、高め
られた濃度○(’lrim)で測定空間M中に存在する
。他面で、例えば親油性測定空間全使用する際の水のよ
うに測定空間M中で拡散することができない粒子Tis
は、測定空間M及び同時に測定から排除される。
し、この測定空間は、測定物体MOとの動作結合状態に
ある。粒子画分子i+nは、測定空間M中に拡散し、測
定空間M中での粒子Timの溶解度aが測定物体MO中
での場合よりも高い場合にけ、第1a図によれば、高め
られた濃度○(’lrim)で測定空間M中に存在する
。他面で、例えば親油性測定空間全使用する際の水のよ
うに測定空間M中で拡散することができない粒子Tis
は、測定空間M及び同時に測定から排除される。
測定空間M中での濃度の増大は、結合位置又は溶解度に
応じて3倍までの程度の大きさであることができる。
応じて3倍までの程度の大きさであることができる。
透過光での測定(透明な測定物体MO)が前提でない場
合には、第2図による反射で測定することもできる。そ
のためには、例えば測定空間Mは、測定物体MOに向っ
て部分的反射層SRで閉鎖することができる。
合には、第2図による反射で測定することもできる。そ
のためには、例えば測定空間Mは、測定物体MOに向っ
て部分的反射層SRで閉鎖することができる。
著しく薄い層で測定しなければならない場合には、第3
図により、測定空間Mは、光導波路りの側面SFi形成
することができる。光導波路り中での測定光線ppは、
全反射の臨界角よりも小さい角で進行するので、反射の
際に測定空間M内の短い通路がカバーされ、この通路上
でこの光線の粒子は作用しうる。光検出器Fはこの光線
を受信する。
図により、測定空間Mは、光導波路りの側面SFi形成
することができる。光導波路り中での測定光線ppは、
全反射の臨界角よりも小さい角で進行するので、反射の
際に測定空間M内の短い通路がカバーされ、この通路上
でこの光線の粒子は作用しうる。光検出器Fはこの光線
を受信する。
第4図の場合、測定光線の光iPpは、屈折率Ncf有
する光導波路りから相境界G(5介してNcに比して小
さい屈折率Noi有する測定空間Mに達する。Ppは、
相境界GでP+n 1よりも理想的な方法で反射されず
、区間Piが外部媒体M中に侵入する。この場合、この
振幅は、次の関係式:%式% にエリわかる。光線ppの波面からその後に光束Pm2
が生じる。
する光導波路りから相境界G(5介してNcに比して小
さい屈折率Noi有する測定空間Mに達する。Ppは、
相境界GでP+n 1よりも理想的な方法で反射されず
、区間Piが外部媒体M中に侵入する。この場合、この
振幅は、次の関係式:%式% にエリわかる。光線ppの波面からその後に光束Pm2
が生じる。
第5図による測定装置の場合、測定光線Ppfi、光導
波路りの長手区間を介して進行する。この場合、測定空
間M内での境界面吸収の効果は、全ての反射R1,R,
2,・・・・・・の際に数回繰り返されるので、測定光
線Ppの濃度によって制限される変化は増大される。
波路りの長手区間を介して進行する。この場合、測定空
間M内での境界面吸収の効果は、全ての反射R1,R,
2,・・・・・・の際に数回繰り返されるので、測定光
線Ppの濃度によって制限される変化は増大される。
測定空間Mが結合位置を有するか又は一定の種類のTl
mに対して高い溶解度係数ai有する釘料からなる場合
には、測定空間M中のTlmの濃度は、測定物体MOに
比して上昇する。
mに対して高い溶解度係数ai有する釘料からなる場合
には、測定空間M中のTlmの濃度は、測定物体MOに
比して上昇する。
それによって、測定空間M内での濃度は、数倍の程度の
大きさだけ増大することができる。
大きさだけ増大することができる。
測定空間Mを疎水性に形成すると、測定物体としての水
溶液の場合に水不含の測定空間Mの外部空間と、測定物
体MOとの分離が生じる。
溶液の場合に水不含の測定空間Mの外部空間と、測定物
体MOとの分離が生じる。
他面で、拡散可能な物質は、それが測定物体と一緒に拡
散平衡で存在する限り測定空間M内に拡散される。拡散
され、同時に妨害物質が分離された物質は、今や内部か
ら、すなわち光導波路から光学的に分析することができ
る。
散平衡で存在する限り測定空間M内に拡散される。拡散
され、同時に妨害物質が分離された物質は、今や内部か
ら、すなわち光導波路から光学的に分析することができ
る。
水の滞留により、試料は1強い工几−吸収が水帯域によ
って問題にならなくなるので、今や例えばI几−光線を
用いても分析することができる。
って問題にならなくなるので、今や例えばI几−光線を
用いても分析することができる。
他面で、侵入深さは、大きい波長により十分に大きく、
したがって多数の測定問題に対して十分な光学的波長が
測定空間内で生じる。
したがって多数の測定問題に対して十分な光学的波長が
測定空間内で生じる。
このことは、今や全部のI几−分析法が測定空間に使用
され、電だラマン活性な物質を試験することができるの
で、1つの特別の利点である。
され、電だラマン活性な物質を試験することができるの
で、1つの特別の利点である。
水gブの残分は、第6図による測定空間が例えばテトラ
フルオルエチレン又はマイラー(Mylar )からの
もう1つの層Sでンールされている場合、この測定空間
から遮断させることができる。このような層は、すなわ
ち水魚シ(Tis)に対して殆んど透過性ではないが、
測定すべき粒子1’im、例えば酸素、麻酔ガス(ハロ
タン(Halotl+an ) )又はC02に対して
は、良好に透過性であり、したがってこの種の粒子は、
M中で特に良好に濃縮され、それ故に良好に測定するこ
とができる。層は、付着仲介剤Hにより光導波路りと結
合することができる。
フルオルエチレン又はマイラー(Mylar )からの
もう1つの層Sでンールされている場合、この測定空間
から遮断させることができる。このような層は、すなわ
ち水魚シ(Tis)に対して殆んど透過性ではないが、
測定すべき粒子1’im、例えば酸素、麻酔ガス(ハロ
タン(Halotl+an ) )又はC02に対して
は、良好に透過性であり、したがってこの種の粒子は、
M中で特に良好に濃縮され、それ故に良好に測定するこ
とができる。層は、付着仲介剤Hにより光導波路りと結
合することができる。
測定装置の温度調節は、殊にI几−範囲内での測定の際
に好ましい。それというのも、それによってこの装置の
固有光線は一定に保持することができるからである。
に好ましい。それというのも、それによってこの装置の
固有光線は一定に保持することができるからである。
光導波路は、第7図によれば、浸漬棒として形成させる
ことができる。
ことができる。
流れる液体全測定するために、第8図によれば、測定空
間M内での全反射は、光導波路りの長手区間で行なうこ
とができるので、長手方向に拡がった。薄い光導波路L
i使用することができ、この光導波路は、その上流れS
Tを殆んど損なわない。
間M内での全反射は、光導波路りの長手区間で行なうこ
とができるので、長手方向に拡がった。薄い光導波路L
i使用することができ、この光導波路は、その上流れS
Tを殆んど損なわない。
同時に多数の種類の粒子T1m、T2m、T3m・・・
・・・全試験光線束Ppl 1 、 rp21・・・・
・・に工って測定する場合には、測定空間Ml+811
.M2(S2)・・・・・・は、第9図によれば、領域
會有し、種々の粒子選択性物質(81,82・・・・・
)から形成させることができるか又はこの粒子選択性物
質で被覆することができる。粒子選択性物質の場合、一
定の種類の粒子のみは、拡散によって測定空間Mi(S
i)内に侵入することができる。
・・・全試験光線束Ppl 1 、 rp21・・・・
・・に工って測定する場合には、測定空間Ml+811
.M2(S2)・・・・・・は、第9図によれば、領域
會有し、種々の粒子選択性物質(81,82・・・・・
)から形成させることができるか又はこの粒子選択性物
質で被覆することができる。粒子選択性物質の場合、一
定の種類の粒子のみは、拡散によって測定空間Mi(S
i)内に侵入することができる。
この粒子は、共属する光線PpH,Pp21・・・・・
・がrp12.rp22・・・・・・に変わること全測
定することKよって測定することができる。
・がrp12.rp22・・・・・・に変わること全測
定することKよって測定することができる。
試験光線束の1つの光線P 1 iが測定過程と無関係
である場合には、この光線は、他に測定される強度がこ
の光の強度に対するものになることにより、参照光線と
して使用することができる。それによって%句属的に惹
起される強度の変動は、研究上公知の方法で消去するこ
とができる。
である場合には、この光線は、他に測定される強度がこ
の光の強度に対するものになることにより、参照光線と
して使用することができる。それによって%句属的に惹
起される強度の変動は、研究上公知の方法で消去するこ
とができる。
更に、測定装置M’Kが極〈僅かな空間盆山める場合に
は、この測定装置は、第10図によれば、円筒形又は球
形に構成し、測定空間で被覆することができる。試験光
a rpに1.そのつど接線方向に光導波路Lpによっ
て測定窒間MK中に導入され、測定光線Pmは、接線方
向にLmによって放出される。この場合、第10図aに
よる装置は、ラマン活性な物質を測定するのに好適であ
り、第10図bVc、l:る装置は、吸収性物質を測定
するのに好適である。
は、この測定装置は、第10図によれば、円筒形又は球
形に構成し、測定空間で被覆することができる。試験光
a rpに1.そのつど接線方向に光導波路Lpによっ
て測定窒間MK中に導入され、測定光線Pmは、接線方
向にLmによって放出される。この場合、第10図aに
よる装置は、ラマン活性な物質を測定するのに好適であ
り、第10図bVc、l:る装置は、吸収性物質を測定
するのに好適である。
粒子の測定の際に極〈僅かな粒子量を使用する場合には
、測定結果上だめにする測定すべき粒子の不足全誘発さ
せないために、測定空間の溶解度ak小さく保持しかつ
感度の上昇全断念するのが好ましい。
、測定結果上だめにする測定すべき粒子の不足全誘発さ
せないために、測定空間の溶解度ak小さく保持しかつ
感度の上昇全断念するのが好ましい。
第1図は、本発明による第1の測定装置を示す断面図、
第1a図は1粒子画分の濃度が測定空間内で高められた
状態であることt示す略図。 第2図は1本発明による第2の測定装置を示す断面図、
第3図は、本発明による第3の測定装置會示す断面図、
第4図は、本発明による装置の一部を示す断面図、第5
図は、光導波路の1実施例を示す断面図、第6図は、本
発明による多層型装置ケ示す断面図、第7図は、浸漬棒
として使用可能、な光導波路會示す断面図、第8図は、
拡がった光導波路を有する形成?示す略図、第9図は、
領域を有する装置を示す略図、第10図aは、ラマン活
性な物質を測定するのに好適な円筒形測定空間葡示す略
図、かつ第10図すは、吸収性物質を測定するのに好適
な円筒形測定空間奮示す略図である。 M 、Ml(81)、M2(82)、M3(83)、M
K・測定空間、Ml、M2.M3・・・測定領域。 Tim、i’1m、T2m、’I’3m−測定すべき粒
子、Pp、Pm・・測定光線%PpH,Pp21.Pp
31・・・棹々の波長の測定光線、MO・・・測定物体
、L 、 Lp、Lm・・光導波路、S)L・ ミラー
、l−1・・・付着仲介剤、S・・・遮断層。 第4図 MO M5リリテ1空間 第1頁の続き 0発 明 者 ディートリッヒ・ヴエ ドー・リュッパ
ース o発 明 者 ベルンハルトーシュラ ドーグー ラ イツ連邦共和国ドルトムント・ラインラントダム 20
1イツ連邦共和国エッセントウニフェルジテーツシュト
ーセ 2
第1a図は1粒子画分の濃度が測定空間内で高められた
状態であることt示す略図。 第2図は1本発明による第2の測定装置を示す断面図、
第3図は、本発明による第3の測定装置會示す断面図、
第4図は、本発明による装置の一部を示す断面図、第5
図は、光導波路の1実施例を示す断面図、第6図は、本
発明による多層型装置ケ示す断面図、第7図は、浸漬棒
として使用可能、な光導波路會示す断面図、第8図は、
拡がった光導波路を有する形成?示す略図、第9図は、
領域を有する装置を示す略図、第10図aは、ラマン活
性な物質を測定するのに好適な円筒形測定空間葡示す略
図、かつ第10図すは、吸収性物質を測定するのに好適
な円筒形測定空間奮示す略図である。 M 、Ml(81)、M2(82)、M3(83)、M
K・測定空間、Ml、M2.M3・・・測定領域。 Tim、i’1m、T2m、’I’3m−測定すべき粒
子、Pp、Pm・・測定光線%PpH,Pp21.Pp
31・・・棹々の波長の測定光線、MO・・・測定物体
、L 、 Lp、Lm・・光導波路、S)L・ ミラー
、l−1・・・付着仲介剤、S・・・遮断層。 第4図 MO M5リリテ1空間 第1頁の続き 0発 明 者 ディートリッヒ・ヴエ ドー・リュッパ
ース o発 明 者 ベルンハルトーシュラ ドーグー ラ イツ連邦共和国ドルトムント・ラインラントダム 20
1イツ連邦共和国エッセントウニフェルジテーツシュト
ーセ 2
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 物質の濃度を光学測定する装4において。 測定すべき粒子(Tim)に対して選択的に透過可能で
1粒子(Tim)に反作用する。測定光線(Pp)に対
して透明の物質からの測定空間(財)が設けられており
、この測定空間が測定物体(MO)との動作結合状態に
あり、この測定空間に測定光線(Pp)が照射されるこ
と全特徴とする。物質の濃度を光学測定する装置。 2 測定空間(財)の材料が測定すべき粒子(’、1’
]、Ill 。 T2+n・・・・・・)に対して高い溶解度係数a孕イ
■する。特許請求の範囲第1項記載の装置。 3 測定空間(財)の材料が測定すべき粒子げ1111
゜’J’2rn・・・・・)に対して結台位置全有する
1%特許請求範囲第1項記載の装置。 4 測定空間(財)が有機又は無機重会体1例えばシリ
コーン、PVO,ポリスチロール又はポリプロピレンか
らなる、特許請求の範囲第2項記載の装置。 5 測定空間((ロ)の領域(Ml(81)、M2(8
2)・・−・・・)が設けられており、測定領域(Ml
。 M2.・・・・・・)が測定すべき粒子(Tlm、T0
n 。 ・・・・・・)に対して選択的に形成されている、特許
請求の範囲第1項から第4項までの力ずれか1項に記載
の装置。 6 測定光線が種々の波長(Ppll、Pp21.Pp
31)全有する、特許請求の範囲第5項記載の装置。 7 波長の1つ(Pi i )が参照波長である、特許
請求の範囲第5項記載の装置。 8 測定空間(関が疎水性に形成されている、特許請求
の範囲第1項から第7項までのいずれか1項に記載の装
置。 9 試験光線(Pp)がIR−光線である、特許請求の
範囲第1項記載の装置。 10 粒子(Timjが002−分子である、特許請求
の範囲第1項から第9項までのいずれが1項に記載の装
置。 11 粒子(’Tim)がハロタン−分子である、特許
請求の範囲第1項から第98j1でのいずれか1項に記
載の装置。 12 粒子(Tim)がラマン活性である、特許請求の
範囲第1項から第9項捷でのいずれか1項に記載の装置
。 13 測定空間(へ勾が測定物質(MO)からの反作用
を遮断するために他のisj層孕有する、特許請求の範
囲第1項から第12項丑てのいずれか1項に記載の装置
。 14 層+Stがテトラフルオルエチレン又ハマイラ−
(ls4ylar)からなる、特許請求の範囲第13項
記載の装置。 15、 @(S)が例えばジオクチルフタレートのよう
な水不溶性溶剤からなる、特許請求の範囲第13項記載
の装置。 16 光導波路+L)が設けられ、この光導波路がその
側面で測定空間(閾で被覆されている、特許請求の範囲
第1項記載の装置。 17 光導波路(r、)がミラー(Sl′L)で閉鎖さ
れた浸漬棒として形成されている、特許請求の範囲第1
項記載の装置。 18 長手方向に拡がった、薄い光導波路(L)が使用
されている、特許請求の範囲第1項記載の装置。 19 測定空間(A41(SL)、M2(S2)、−=
−)が粒子選択性物質で被覆されている、特許請求の範
囲第5項記載の装置。 20 測定空間(1114K )が円筒形に形成され、
接線方向に結合した光導波路(Lp、Lm) f測定光
線(Pp 、 Pm)のために有する、特許請求の範囲
第1項記載の装置。 21 測定空間+ MK)が球形に形成され、接線方向
に結合した先導波路(Lp、Lm) f測定光線(”’
p+Pm)のために有する、特許請求の範囲第1項記載
の装置。 22 層(S 、 M lが伺着仲介剤(トυによって
光導波路(L+と結合している。特許請求の範囲第5項
又は第18項に記載の装置。 23 測定空間((ロ)のし料が測定すべき粒子(Ti
+n)を吸収する波長會変位する。特許請求の範囲第1
項から第22項までのいずれか1項に記載の装置。 24 測定空間が温度調節されている、特許請求の範囲
第1項から第23項までのいずれか1項に記載の装置。 25 測定空間+11141 =形成する物質が多孔質
の網状構造を形成する物質中に配置されている、特許請
求の範囲第1項記載の装置。 26 測定空間((ロ)が測定すべき粒子に対して選択
的なキャリヤー欠有する、特許請求の範囲第1項記載の
装置。 27 光導波路が臭化沃化タリウム又は弗化カルシウム
からなる、特許請求の範囲第10項記載の装置− 28測定空間の屈折率が使用される反射角で定められて
いる、特許請求の範囲第10項記載の装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE3344019.0 | 1983-12-06 | ||
DE3344019A DE3344019C2 (de) | 1983-12-06 | 1983-12-06 | Vorrichtung zur optischen Messung der Konzentration einer in einer Probe enthaltenen Komponente |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60140140A true JPS60140140A (ja) | 1985-07-25 |
JPH0621867B2 JPH0621867B2 (ja) | 1994-03-23 |
Family
ID=6216144
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59255877A Expired - Lifetime JPH0621867B2 (ja) | 1983-12-06 | 1984-12-05 | 物質の濃度を光学測定する装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5059396A (ja) |
EP (1) | EP0144713B1 (ja) |
JP (1) | JPH0621867B2 (ja) |
AT (1) | ATE65605T1 (ja) |
DE (1) | DE3344019C2 (ja) |
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JPH0192640A (ja) * | 1987-10-02 | 1989-04-11 | Mitsubishi Cable Ind Ltd | 液体検出センサ |
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