JPS60138646A - 信頼度認定試験装置 - Google Patents
信頼度認定試験装置Info
- Publication number
- JPS60138646A JPS60138646A JP24443683A JP24443683A JPS60138646A JP S60138646 A JPS60138646 A JP S60138646A JP 24443683 A JP24443683 A JP 24443683A JP 24443683 A JP24443683 A JP 24443683A JP S60138646 A JPS60138646 A JP S60138646A
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- Japan
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- Pending
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-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は、電子計算機システムを構成する周辺機器、端
末機器及び小形計算機等の信頼度及び長期安定度を試験
する信頼度認定試験装置に関するものである。
末機器及び小形計算機等の信頼度及び長期安定度を試験
する信頼度認定試験装置に関するものである。
従来から、電子計算機システムを構成する周辺機器、端
末機器及び小形計算機等に対しては、それらの信頼度及
び長期安定度を認定するために、被試験機器に限界条件
を与えて試験を行なう信頼度認定試験が実施されていた
。この信頼度認定試験は、試験用の計算機又はシュミレ
ータを用いて実施するのが一般的であった。しかし、被
試験機器に電圧、振動、温度、ノイズ等を与える動作試
験等では、電圧可変装置、可変温度装置、振動発生装置
、雑音発生装置等を人間が操作して行なわなければなら
ず、自動的に全ての信頼度認定試験に関する項目を行な
うことはできなかった。また、上記信頼度認定試験にお
ける被試験機器の試験履歴に対しても、これを人間が記
録しなければならなかった。更に、試験中の故障情報に
対しても、どの限界条件で故障が発生したかを正確に把
握するには、人間が立合っていなければならなかった。
末機器及び小形計算機等に対しては、それらの信頼度及
び長期安定度を認定するために、被試験機器に限界条件
を与えて試験を行なう信頼度認定試験が実施されていた
。この信頼度認定試験は、試験用の計算機又はシュミレ
ータを用いて実施するのが一般的であった。しかし、被
試験機器に電圧、振動、温度、ノイズ等を与える動作試
験等では、電圧可変装置、可変温度装置、振動発生装置
、雑音発生装置等を人間が操作して行なわなければなら
ず、自動的に全ての信頼度認定試験に関する項目を行な
うことはできなかった。また、上記信頼度認定試験にお
ける被試験機器の試験履歴に対しても、これを人間が記
録しなければならなかった。更に、試験中の故障情報に
対しても、どの限界条件で故障が発生したかを正確に把
握するには、人間が立合っていなければならなかった。
上記の如く、従来の信頼度認定試験においては、人間が
介在しなければそれを実施することができないため、労
力がかかると共に作業能率が悪いという欠点があり、更
に試験後の機器評価、修復能率等にも種々の問題点があ
った。峙て、認定時のデータ、試験履歴等の保存に人手
がかかることに大きな欠点があった。
介在しなければそれを実施することができないため、労
力がかかると共に作業能率が悪いという欠点があり、更
に試験後の機器評価、修復能率等にも種々の問題点があ
った。峙て、認定時のデータ、試験履歴等の保存に人手
がかかることに大きな欠点があった。
本発明の目的は、上記の欠点に艦み、信頼度認定試験を
自動的に行ない且つ被試験′ＪｌＱ器の故障情報及び試
験埋歴等の試験データの記録を自動的に行なうことがで
きる信頼度認定試験方式を提供することにある。
自動的に行ない且つ被試験′ＪｌＱ器の故障情報及び試
験埋歴等の試験データの記録を自動的に行なうことがで
きる信頼度認定試験方式を提供することにある。
本発明は、データを記録する記憶装置と、各種試験情報
を表示する表示装置と、被試験機器に各種の限界条件を
付与する試験条件設定装置と、この試験条件設定装置を
駆動して指定された限界条件を指定の順序で被試験機器
に付与すると同時に、指定された動作を被試験機器に行
なわせて所定の試験を実行し、その結果書られる試験デ
ータを前記記憶装置に格納し、異常があった場合はその
時の限界条件を付与して異常情報を前記表示装置に表示
すると共に、前記試験の実行を中止する制御を行なう制
御装置とを具備して成る信頼度認定試験装置を用いるこ
とによシ、上記目的を達成するものである。
を表示する表示装置と、被試験機器に各種の限界条件を
付与する試験条件設定装置と、この試験条件設定装置を
駆動して指定された限界条件を指定の順序で被試験機器
に付与すると同時に、指定された動作を被試験機器に行
なわせて所定の試験を実行し、その結果書られる試験デ
ータを前記記憶装置に格納し、異常があった場合はその
時の限界条件を付与して異常情報を前記表示装置に表示
すると共に、前記試験の実行を中止する制御を行なう制
御装置とを具備して成る信頼度認定試験装置を用いるこ
とによシ、上記目的を達成するものである。
以下本発明の一実施例を図面に従って説明する。
第１図は本発明の信頼度認定試験装置の一実施例を示し
だブロック図でちる。中央処理装置（以下ＣＰＵと−称
す）１はプロセス入出力装置（Ｐ Ｉｌｏ ）２を通し
て試験条件設定装置４に接続さＪしている。
だブロック図でちる。中央処理装置（以下ＣＰＵと−称
す）１はプロセス入出力装置（Ｐ Ｉｌｏ ）２を通し
て試験条件設定装置４に接続さＪしている。
なお、符号３は信号線の分岐装置である。プロセス入出
力装置２には操作卓５が接続され、操作卓５、プロセス
入出力装置２全通して試験者からの入力情報がＣＰＵ、
１に入力される。まだ、ＣＰＵ１は被試験機器の試験デ
ータ（試験履歴）及び故障情報を記録する記憶装置（フ
ロッピーディスク等）６、同試験データ及び故障情報を
表示するタイプライタ７を接続し、更に、ＣＰＵ１は入
出力制御信号テーブル８で被試験機器９と接続され、こ
の入出力制御信号ケーブル８を介して被試ＦＩ！機器９
を動作させる。
力装置２には操作卓５が接続され、操作卓５、プロセス
入出力装置２全通して試験者からの入力情報がＣＰＵ、
１に入力される。まだ、ＣＰＵ１は被試験機器の試験デ
ータ（試験履歴）及び故障情報を記録する記憶装置（フ
ロッピーディスク等）６、同試験データ及び故障情報を
表示するタイプライタ７を接続し、更に、ＣＰＵ１は入
出力制御信号テーブル８で被試験機器９と接続され、こ
の入出力制御信号ケーブル８を介して被試ＦＩ！機器９
を動作させる。
ＣＰＵ１は試験システム全体を制御するものである。プ
ロセス入出力装置２はＣＰＵ１、試験条件設定装置４、
操作車５間の情報の送受を行なう。
ロセス入出力装置２はＣＰＵ１、試験条件設定装置４、
操作車５間の情報の送受を行なう。
試験条件設定装置４は、可変温度袋ｆｆｆｉ４１とこれ
を駆動する温度駆動回路４２、電圧可変装置４３とこれ
を駆動する電圧駆動回路必、雑音発生装置４５とこれを
駆動する雑音駆動回路４６、振動発生装置４７とこれを
駆動うる振動発生駆動回路４８を有し、これら装置によ
って被試験機器９に各種の限界条件を設定する。なお、
各駆動回路４２．４４．４６．４８−は信号線を介して
プロセス入出力装置２内のデジタル出力装置（後述）に
接続されている。なお、試験条件設定装置４には他の種
類（３２種類程）の限界条件を加える装置及び駆動回路
が通常は設置されているが、ここでは便宜的に４種類と
しである。
を駆動する温度駆動回路４２、電圧可変装置４３とこれ
を駆動する電圧駆動回路必、雑音発生装置４５とこれを
駆動する雑音駆動回路４６、振動発生装置４７とこれを
駆動うる振動発生駆動回路４８を有し、これら装置によ
って被試験機器９に各種の限界条件を設定する。なお、
各駆動回路４２．４４．４６．４８−は信号線を介して
プロセス入出力装置２内のデジタル出力装置（後述）に
接続されている。なお、試験条件設定装置４には他の種
類（３２種類程）の限界条件を加える装置及び駆動回路
が通常は設置されているが、ここでは便宜的に４種類と
しである。
第２図は上記試験条件設定装置の詳細例全示したブロッ
ク図である。温度駆動回路４２は高温駆動面−路４２Ｈ
１低温駆動回路４２Ｌで構成され、また電圧駆動回路４
４は、高電圧駆動回路必■（と低電圧駆動回路４４Ｌと
から構成されている。符号４９は被試験機器９に対する
温度検出装置で、検出結果は第１図に示したプロセス入
出力装置２内に設けられているデジタル入力装置２１に
人力される。壕だ、高温駆動回路４２Ｈ１低温駆動回路
４２Ｌ１高電圧駆動回路４４Ｈ１低゛砿圧駆動回路４４
．Ｌ、雑音発生駆動回路４６、振動発生駆動回路４７に
は第１図に示したプロセス入出力装置２に設けられてい
るデジタル出力装置２２から駆動信号が入力される。
ク図である。温度駆動回路４２は高温駆動面−路４２Ｈ
１低温駆動回路４２Ｌで構成され、また電圧駆動回路４
４は、高電圧駆動回路必■（と低電圧駆動回路４４Ｌと
から構成されている。符号４９は被試験機器９に対する
温度検出装置で、検出結果は第１図に示したプロセス入
出力装置２内に設けられているデジタル入力装置２１に
人力される。壕だ、高温駆動回路４２Ｈ１低温駆動回路
４２Ｌ１高電圧駆動回路４４Ｈ１低゛砿圧駆動回路４４
．Ｌ、雑音発生駆動回路４６、振動発生駆動回路４７に
は第１図に示したプロセス入出力装置２に設けられてい
るデジタル出力装置２２から駆動信号が入力される。
次に本実施例の動作について説明する。ＣＰＵ１はモニ
タ（管理ソフトウェア）が管理する各種限界条件プログ
ラム、各種の被試験様器試験プログラム及び試験履歴プ
ログラム等を有している。
タ（管理ソフトウェア）が管理する各種限界条件プログ
ラム、各種の被試験様器試験プログラム及び試験履歴プ
ログラム等を有している。
このため、ＣＰＵ１は限界条件駆動プログラムによシ試
験者の所望する限界条件を試験条件設定装置４を介して
被試験イ戎器９に加え、同時に被試験機器試験プログラ
ム通りて被試験機器９を動作させ、その結果を試験履歴
プログラムによって記憶装置６に記録し、要求があれば
タイプライタ７に表示する。これらのテストシステムは
各々独立したマルチプログラミング方式を採っており、
種々多様な絹合せ試験を可能としている。
験者の所望する限界条件を試験条件設定装置４を介して
被試験イ戎器９に加え、同時に被試験機器試験プログラ
ム通りて被試験機器９を動作させ、その結果を試験履歴
プログラムによって記憶装置６に記録し、要求があれば
タイプライタ７に表示する。これらのテストシステムは
各々独立したマルチプログラミング方式を採っており、
種々多様な絹合せ試験を可能としている。
次に、第３図に示したＣＰＵ１の動作タイミングチャー
）・ヲ参１ｉ（１ｔ、つつ信頼度認定試験装置の動作に
ついて更に具体的に説明する。試験者が操作卓５から実
行要求を出すと、プロセス入出力装置２に内蔵されてい
る割込モジュールに割込信号が送信され、更にこの捌込
みがＣＰＵ１に報知される。ＣＰＵＩは割込みのあった
操作卓５の限界条件選択、試験項目選択、機種選択の各
スイッチ操作状況をプロセス入出力装置２に内蔵されて
いるデジタル入力装置２２ヲ通して読込み、指定された
被試験機器９の限界条件表を作成（第３図ｂ）する。次
に、指定された試験プログラム全実行（第３図ｆ）し、
例えば電圧駆動ｃＳ雑音駆駆動１振動駆動ｅ等を第３図
に示したタイミングで順次行なう。その後、履歴プログ
ラムの実行（第３図ｇ）を行なって試験結果を記憶装置
６に格納する。なお、第３図ておいて、ａは試験実行要
求、ｂは限界条件作表、Ｃは電圧駆動、ｄは雑音駆動、
ｅは振動駆動、ｆは試験プログラム起動、ｇは履歴プロ
グラム起動タイミングを示している。
）・ヲ参１ｉ（１ｔ、つつ信頼度認定試験装置の動作に
ついて更に具体的に説明する。試験者が操作卓５から実
行要求を出すと、プロセス入出力装置２に内蔵されてい
る割込モジュールに割込信号が送信され、更にこの捌込
みがＣＰＵ１に報知される。ＣＰＵＩは割込みのあった
操作卓５の限界条件選択、試験項目選択、機種選択の各
スイッチ操作状況をプロセス入出力装置２に内蔵されて
いるデジタル入力装置２２ヲ通して読込み、指定された
被試験機器９の限界条件表を作成（第３図ｂ）する。次
に、指定された試験プログラム全実行（第３図ｆ）し、
例えば電圧駆動ｃＳ雑音駆駆動１振動駆動ｅ等を第３図
に示したタイミングで順次行なう。その後、履歴プログ
ラムの実行（第３図ｇ）を行なって試験結果を記憶装置
６に格納する。なお、第３図ておいて、ａは試験実行要
求、ｂは限界条件作表、Ｃは電圧駆動、ｄは雑音駆動、
ｅは振動駆動、ｆは試験プログラム起動、ｇは履歴プロ
グラム起動タイミングを示している。
ここで、試験条件設定装置４の動作Ｌ（ついて第２図を
参照しつつ説明する。指定された限界条件プログラムが
実行されると、プロセス入出力装置２に内蔵されている
デジタル出力装置２２全通してＣＰＵＩから各駆動回路
にこれを駆動する指令が人力される。例えば雑音駆動回
路４６にこれを動作させる指令が入力されると、雑音駆
動回路４６は雑音発生装置４５をＣＰＵＩＫ、ｌ：、！
２与えられた条件だ基づいて作動させ、所定の限界条件
を被試験機器９に自動的に与えることができる。他の駆
動回路についても同様である。こうして第３図に示した
タイミングで、試験プログラムを実行（１）する。
参照しつつ説明する。指定された限界条件プログラムが
実行されると、プロセス入出力装置２に内蔵されている
デジタル出力装置２２全通してＣＰＵＩから各駆動回路
にこれを駆動する指令が人力される。例えば雑音駆動回
路４６にこれを動作させる指令が入力されると、雑音駆
動回路４６は雑音発生装置４５をＣＰＵＩＫ、ｌ：、！
２与えられた条件だ基づいて作動させ、所定の限界条件
を被試験機器９に自動的に与えることができる。他の駆
動回路についても同様である。こうして第３図に示した
タイミングで、試験プログラムを実行（１）する。
この試験プログラムの実行はＣＰＵ１よシ被試験嶺器９
に対し入出力制御信号ケーブル８を介して行なわれる。
に対し入出力制御信号ケーブル８を介して行なわれる。
試験中は、ＣＰＵ１は常に機器のステータス信号を調べ
、異常ステータスがあると試験プログラムの実行を中止
し、異常情報を限界条件を付加してタイプライタ７に表
示し、とｆＬを試験者に知らせる。また、ＣＰＵ１は試
験結果の全てを記憶装置６に格納する。なお、本装置で
は試験プログラム、限界条件プログラム駆動時刻？、任
意の時間間隔で設定することができ、スケジュール通シ
に信頼度認定試験を行なうことができる。
、異常ステータスがあると試験プログラムの実行を中止
し、異常情報を限界条件を付加してタイプライタ７に表
示し、とｆＬを試験者に知らせる。また、ＣＰＵ１は試
験結果の全てを記憶装置６に格納する。なお、本装置で
は試験プログラム、限界条件プログラム駆動時刻？、任
意の時間間隔で設定することができ、スケジュール通シ
に信頼度認定試験を行なうことができる。
これは図示さｉ′Ｌない計時装置の割込処理によシ行な
うことができる。
うことができる。
本実施例によれば、試験者は操作卓５よシ試験実行要求
、試験項目、限界条件作表等を行なうだけで、１麦は、
ＣＰＵ１が内蔵の各４１１！プログラムに従って、自動
的に試験４’、Ｓ′１．器９に所定の限界条件を加える
と共に、被試験機器９を所定辿シに動作させ、Ｃの間の
試験結果を記憶袋Ｗ６に格納して記録し、ｆｌつ異常が
生じた場合はこれをタイプライタ７に表示することがで
きるため、信頼度認定試験を自動的に行なうことができ
、労力を省いて試験効率を著しく向上さぜることかでき
る。特に、試験結果が自動的に記憶装置６１ｃ記録され
るため、長時間のデータ保存及びその再現を迅速且つ適
格に行なうことができる。また、試験条件設定装置４全
自動的に動作させ、その結果をタイプライタ７に表示す
るため、−機器評価を容易且つ正確に行なうことができ
る。更に、どの限界条件で被試験機器９に異常が発生し
たかをタイプライタ７に表示して試験者に知らせること
ができるため、被試験機器９の異常時の診断を能率良く
行なうことができる。
、試験項目、限界条件作表等を行なうだけで、１麦は、
ＣＰＵ１が内蔵の各４１１！プログラムに従って、自動
的に試験４’、Ｓ′１．器９に所定の限界条件を加える
と共に、被試験機器９を所定辿シに動作させ、Ｃの間の
試験結果を記憶袋Ｗ６に格納して記録し、ｆｌつ異常が
生じた場合はこれをタイプライタ７に表示することがで
きるため、信頼度認定試験を自動的に行なうことができ
、労力を省いて試験効率を著しく向上さぜることかでき
る。特に、試験結果が自動的に記憶装置６１ｃ記録され
るため、長時間のデータ保存及びその再現を迅速且つ適
格に行なうことができる。また、試験条件設定装置４全
自動的に動作させ、その結果をタイプライタ７に表示す
るため、−機器評価を容易且つ正確に行なうことができ
る。更に、どの限界条件で被試験機器９に異常が発生し
たかをタイプライタ７に表示して試験者に知らせること
ができるため、被試験機器９の異常時の診断を能率良く
行なうことができる。
なお、本発明は、電子計算機及び電子計算機関連イ幾器
のみだけでなく一般の電気機器に対しても適用でき同様
の効果を得ることができる。
のみだけでなく一般の電気機器に対しても適用でき同様
の効果を得ることができる。
以上記述した如く本発明の信頼度認定試験装置によれば
、中央処理装置が被試験機器を指定通シに動作ざぜつつ
指定の限界条件全付与し、且つその結果を記録する構成
を採ることによシ、信頼度認定試験の自動化を図シ且つ
試験データの記録を自動化する効果がある。
、中央処理装置が被試験機器を指定通シに動作ざぜつつ
指定の限界条件全付与し、且つその結果を記録する構成
を採ることによシ、信頼度認定試験の自動化を図シ且つ
試験データの記録を自動化する効果がある。
第１図は本発明の信頼度認定試験装置の一実施例を示し
たブロック図、第２図は第１図で示した試験条件設定装
置の詳細例を示したブロック図、第３図は第１図で示し
た中央処理装置の動作タイミングチャート図である。 １・・中央処理装置 ２・・プロセス入出力装置 ４ ・試験条件設定装置Ｎ ５・・・操作卓 ６ ・記憶装置 ７・・・タイプライタ ９・・被ｉ・０倹機器 代理人弁理士 則 近 憲 佑 （ほか１名） 第１図 第２図
たブロック図、第２図は第１図で示した試験条件設定装
置の詳細例を示したブロック図、第３図は第１図で示し
た中央処理装置の動作タイミングチャート図である。 １・・中央処理装置 ２・・プロセス入出力装置 ４ ・試験条件設定装置Ｎ ５・・・操作卓 ６ ・記憶装置 ７・・・タイプライタ ９・・被ｉ・０倹機器 代理人弁理士 則 近 憲 佑 （ほか１名） 第１図 第２図
Claims (1)
- データを記録する記憶装置と、各種試験情報を表示する
表示装置と、被試験機器に各種の限界条件を付与する試
験条件設定装置と、この試験条件設定装置を駆動して指
定された限界条件を指定の順序で被試験機器に付与する
と同時に、指定された動作を被試験機器に行なわせて所
定の試験を実行し、その結果得られる試験データを前記
記憶装置に格納し、異常があった場合はその時の限界条
件を付与して異常情報を前記表示装置に表示すると共に
、前記試験の実行を中止する制御を行なう制御装置とを
具備して成ることを特徴とする信頼度認定試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24443683A JPS60138646A (ja) | 1983-12-27 | 1983-12-27 | 信頼度認定試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24443683A JPS60138646A (ja) | 1983-12-27 | 1983-12-27 | 信頼度認定試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60138646A true JPS60138646A (ja) | 1985-07-23 |
Family
ID=17118621
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24443683A Pending JPS60138646A (ja) | 1983-12-27 | 1983-12-27 | 信頼度認定試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60138646A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62157952A (ja) * | 1985-12-30 | 1987-07-13 | Nec Corp | 電子装置のマ−ジン試験方式 |
-
1983
- 1983-12-27 JP JP24443683A patent/JPS60138646A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62157952A (ja) * | 1985-12-30 | 1987-07-13 | Nec Corp | 電子装置のマ−ジン試験方式 |
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