JPS5941212B2 - 模擬信号発生装置 - Google Patents

模擬信号発生装置

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JPS5941212B2
JPS5941212B2 JP54055431A JP5543179A JPS5941212B2 JP S5941212 B2 JPS5941212 B2 JP S5941212B2 JP 54055431 A JP54055431 A JP 54055431A JP 5543179 A JP5543179 A JP 5543179A JP S5941212 B2 JPS5941212 B2 JP S5941212B2
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JP
Japan
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simulated signal
simulated
signal generator
signals
time
Prior art date
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JP54055431A
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English (en)
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JPS55147742A (en
Inventor
豊太郎 津下
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
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Description

【発明の詳細な説明】 この発明は例えば工業用計算機システムなどのような、
各種信号又はデータを受けてそれらを処理し、その処理
結果に対応した機能を実施する装置に模擬信号を与えて
試験を行う装置に関するものである。
従来、プラントの各点から多くの信号を受けてそれぞれ
の信号に対応して所定の処理を行う工業用計算機システ
ムにおいて、システムの機能の試験を行う場合、プラン
トの各点に設けられた検出装置からの実際の信号を、そ
れぞれ所定の順番に所定の間隔で上記システムに加えて
試験を行うことが行われていたため、試験に長時間を要
し、特に多くの場合を想定した試験を行うためには多大
な時間と煩雑な操作が必要とされる欠点があつた。
この発明は、工業用計算機システム等の試験を短時間の
うちに多くの場合を想定して行うことができる模擬信号
発生装置及び模擬信号発生の監視装置を得ることを目的
とするものである。図面はこの発明の一実施例を示すブ
ロック図であつて、図において１は被試験装置４に入力
される複数個の実信号５のそれぞれに対応する模擬信号
の発生時刻およびそれらの模擬信号の種類を記憶してい
る記憶装置、２は記憶装置１の記憶内容にしたがつて各
模擬信号３を被試験装置４に対して出力する模擬信号発
生装置、６は模擬信号発生装置２が発生した模擬信号を
記録する印字装置、Ｔは模擬信号発生装置２が発生した
模擬信号を表示するディスプレイ装置である。
８は模擬信号発生の開始を指示する信号である。
次に動作を説明する。
指示信号８が加えられることによつて模擬信号発生装置
２に模擬信号発生の開始が指示されると、模擬信号発生
装置２は記憶装置１に記憶されている模擬信号発生の時
刻を参照し、当該時刻になると、今度は記憶装置１中の
模擬信号の種類を参照して、記憶内容の指示する種類の
模擬信号を被試験装置４に対して発生する。このように
して模擬信号発生装置２は記憶装置１を参照しながら、
順次該当する模擬信号を自動的に発生してゆく。これら
の模擬信号の発生に応じて被試験装置４は順次該当する
機能を実施してゆき、付属されている記録装置（図示せ
ず）によつてその実施結果を記録する。被試験装置４に
加えられた模擬信号の時刻および種類は順次印字装置６
によつて印字記録され、さらに各時刻において加えられ
る模擬信号の種類はディスプレイ装置Ｔに順次必要な時
間間隔だけ表示されてゆくので、被試験装置４における
処理結果と印字装置６による模擬信号の記録とを検査す
ることにより、あるいは模擬信号の間隔力付ヒ較的長い
場合には各模擬信号の発生ごとにディスプレイ装置Ｔの
表示を見ながら、被試験装置４の試験を行うことができ
る。この発明の装置はこのような動作をするから、種々
の場合を想定した模擬信号を発生させるためのデータを
記憶装置１に記憶しておけば、短時間のうちに多くの場
合について試験を行うことができ、しかも試験のための
操作が容易であり、試験の結果不良が発見され、その不
良を修復した後に再試験を行う場合などのように、繰り
返して試験を行う必要がある場合には特に有用である。
なお上記実施例では印字装置６とデイスプレイ装置７の
両方を備えた場合を説明したが、これらのいずれか一方
のみを備えたものによつても同様の効果を得ることがで
きる。以上説明したように、この発明によれば工業用計
算機システムなどの試験を短時間に多くの場合を想定し
て行うことができる。
【図面の簡単な説明】
図面はこの発明の一実施例を示すプロツク図である。 図において１は記憶装置、２は模擬信号発生装置、４は
被試１験装置、６は印字装置、７はデイスプレイ装置で
ある。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. １ 模擬信号の発生時刻および種類を記憶する記憶装置
    、この記憶装置の記憶内容にしたがつて模擬信号を発生
    する模擬信号発生装置、この模擬信号発生装置が発生す
    る模擬信号の記録および表示の少なくともいずれかを行
    う装置を備えたことを特徴とする模擬信号発生装置。
JP54055431A 1979-05-07 1979-05-07 模擬信号発生装置 Expired JPS5941212B2 (ja)

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JPS55147742A JPS55147742A (en) 1980-11-17
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JP2611892B2 (ja) * 1991-10-30 1997-05-21 三浦工業株式会社 シーケンス制御機器の故障検査法
US6889199B2 (en) * 2000-11-30 2005-05-03 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Method and apparatus for encoding and generating transaction-based stimulus for simulation of VLSI circuits

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