JPH07262101A - 光チャネル制御装置の診断方法 - Google Patents
光チャネル制御装置の診断方法Info
- Publication number
- JPH07262101A JPH07262101A JP6046682A JP4668294A JPH07262101A JP H07262101 A JPH07262101 A JP H07262101A JP 6046682 A JP6046682 A JP 6046682A JP 4668294 A JP4668294 A JP 4668294A JP H07262101 A JPH07262101 A JP H07262101A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- cluster
- optical channel
- test
- diagnosis
- optical
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】上位のＣＰＵを用いることなく、迅速かつ低コ
ストで診断を行なうことができる光チャネル制御装置の
診断方法を提供する。 【構成】光チャネルインタフェース部（ＬＣＭ）２３
ａ，２３ｂを有する磁気ディスク制御装置ＤＫＣの一方
のクラスタ２１と他方のクラスタ２２との間を光ケーブ
ルで相互に接続する。サービスプロセッサパネル２８お
よびサービスプロセッサ３１を介して一方のクラスタ２
１にテストプログラムをロードし、他方のクラスタ２２
にＤＫＣ制御用マイクロプログラムを格納する。ＳＶＰ
３１からの指示によりクラスタ２１内のテストプログラ
ムを実行させ、クラスタ２２の診断を行なう。診断結果
はサービスプロセッサパネル２８の表示部に表示され
る。
ストで診断を行なうことができる光チャネル制御装置の
診断方法を提供する。 【構成】光チャネルインタフェース部（ＬＣＭ）２３
ａ，２３ｂを有する磁気ディスク制御装置ＤＫＣの一方
のクラスタ２１と他方のクラスタ２２との間を光ケーブ
ルで相互に接続する。サービスプロセッサパネル２８お
よびサービスプロセッサ３１を介して一方のクラスタ２
１にテストプログラムをロードし、他方のクラスタ２２
にＤＫＣ制御用マイクロプログラムを格納する。ＳＶＰ
３１からの指示によりクラスタ２１内のテストプログラ
ムを実行させ、クラスタ２２の診断を行なう。診断結果
はサービスプロセッサパネル２８の表示部に表示され
る。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光チャネル制御装置に
係り、特に、その診断方法に関する。
係り、特に、その診断方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】光チャネル制御装置とは、光チャネルサ
ブシステムに接続される入出力（制御）装置、例えば、
磁気ディスク制御装置（ＤＫＣ）、半導体記憶制御装置
（ＳＳＣ）の総称である。
ブシステムに接続される入出力（制御）装置、例えば、
磁気ディスク制御装置（ＤＫＣ）、半導体記憶制御装置
（ＳＳＣ）の総称である。
【０００３】光チャネルサブシステムは、電気的インタ
フェースでは約１２０ｍまでしかできなかったプロセッ
サと入出力（制御）装置との接続距離を光ファイバケー
ブルを用いて、最大６０ｋｍまで離して接続することを
可能とするものである。従来、このような光チャネルサ
ブシステムに接続される磁気ディスク制御装置の診断
は、図１０に示すように、被テスト対象であるＤＫＣに
対して光ケーブルによりチャネルを介してＣＰＵを接続
し、このＣＰＵに端末から指示を与えることにより行な
っていた。診断結果は端末に出力される。
フェースでは約１２０ｍまでしかできなかったプロセッ
サと入出力（制御）装置との接続距離を光ファイバケー
ブルを用いて、最大６０ｋｍまで離して接続することを
可能とするものである。従来、このような光チャネルサ
ブシステムに接続される磁気ディスク制御装置の診断
は、図１０に示すように、被テスト対象であるＤＫＣに
対して光ケーブルによりチャネルを介してＣＰＵを接続
し、このＣＰＵに端末から指示を与えることにより行な
っていた。診断結果は端末に出力される。
【０００４】なお、情報処理システムの診断方法の一般
的な技術としては、例えば、特開昭６２−２１０５４９
号公報に開示のものがある。この従来技術においては、
システムの上位装置から順次、下位装置に診断を実行
し、被診断指定装置までの診断を行なっている。
的な技術としては、例えば、特開昭６２−２１０５４９
号公報に開示のものがある。この従来技術においては、
システムの上位装置から順次、下位装置に診断を実行
し、被診断指定装置までの診断を行なっている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】従来のＤＫＣ診断にお
いては、一度に多数のＤＫＣを診断しようとするとＣＰ
Ｕに負荷がかかり、迅速な診断が行なえなかった。ま
た、そのために複数のＣＰＵを用意することも考えられ
るが、光チャネル用のＣＰＵを何台も用意することはコ
ストの面も省スペースの面でも問題があった。
いては、一度に多数のＤＫＣを診断しようとするとＣＰ
Ｕに負荷がかかり、迅速な診断が行なえなかった。ま
た、そのために複数のＣＰＵを用意することも考えられ
るが、光チャネル用のＣＰＵを何台も用意することはコ
ストの面も省スペースの面でも問題があった。
【０００６】本発明は、上位のＣＰＵを用いることな
く、迅速かつ低コストで診断を行なうことができる光チ
ャネル制御装置の診断方法を提供することを目的とす
る。
く、迅速かつ低コストで診断を行なうことができる光チ
ャネル制御装置の診断方法を提供することを目的とす
る。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明による光チャネル制御装置の診断方法は、光
チャネルサブシステムに接続されるリンクコントロール
プロセッサを有する光チャネルインタフェース部と、メ
インプロセッサ部と、保守用のサービスプロセッサ部を
有する第１のクラスタと、該第１のクラスタと同一の要
素を有する第２のクラスタを備える光チャネル制御装置
を診断する方法であって、前記第１および第２のクラス
タの光チャネルインタフェース部を相互に光ケーブルで
接続し、第１のクラスタに、チャネル機能、通信制御機
能およびテスト機能を実行するテストプログラムを格納
すると共に、第２のクラスタに当該光チャネル制御装置
の通常のプログラムを格納し、前記サービスプロセッサ
部からの指示により前記第１のクラスタ内で前記テスト
プログラムを実行させることにより、前記第２のクラス
タとの間でデータ転送を行なわせ、該データ転送に伴
い、前記テストプログラムのテスト機能により前記第２
のクラスタの診断を行なうようにしたものである。
に、本発明による光チャネル制御装置の診断方法は、光
チャネルサブシステムに接続されるリンクコントロール
プロセッサを有する光チャネルインタフェース部と、メ
インプロセッサ部と、保守用のサービスプロセッサ部を
有する第１のクラスタと、該第１のクラスタと同一の要
素を有する第２のクラスタを備える光チャネル制御装置
を診断する方法であって、前記第１および第２のクラス
タの光チャネルインタフェース部を相互に光ケーブルで
接続し、第１のクラスタに、チャネル機能、通信制御機
能およびテスト機能を実行するテストプログラムを格納
すると共に、第２のクラスタに当該光チャネル制御装置
の通常のプログラムを格納し、前記サービスプロセッサ
部からの指示により前記第１のクラスタ内で前記テスト
プログラムを実行させることにより、前記第２のクラス
タとの間でデータ転送を行なわせ、該データ転送に伴
い、前記テストプログラムのテスト機能により前記第２
のクラスタの診断を行なうようにしたものである。
【０００８】好ましくは、前記テストプログラムの格納
は、前記サービスプロセッサに接続した操作パネルの操
作によって行ない、前記診断の結果は前記操作パネルの
表示部に表示する。
は、前記サービスプロセッサに接続した操作パネルの操
作によって行ない、前記診断の結果は前記操作パネルの
表示部に表示する。
【０００９】前記第１および第２のクラスタの各々は複
数のリンクコントロールプロセッサ部を有する場合、前
記第１および第２のクラスタの当該複数のリンクコント
ロールプロセッサ部間を複数の光ケーブルで接続し、当
該複数のリンクコントロールプロセッサの診断を同時に
並列に実行することことも可能である。
数のリンクコントロールプロセッサ部を有する場合、前
記第１および第２のクラスタの当該複数のリンクコント
ロールプロセッサ部間を複数の光ケーブルで接続し、当
該複数のリンクコントロールプロセッサの診断を同時に
並列に実行することことも可能である。
【００１０】
【作用】本発明によれば、光チャネル制御装置の２重ク
ラスタ構成を有効に利用することにより、上位のＣＰＵ
およびチャネルの関与なしに、光チャネル制御装置単体
でその診断を行なうことができるので、コストおよび省
スペースの面で有用である。また、操作者によるテスト
プログラムの格納の指示、診断の実行操作および実行結
果の表示も、保守用のサービスプロセッサ部に対して操
作パネルを接続して、この操作パネルから指示操作する
ことができる。その結果、迅速かつ容易に診断を行なう
ことが可能になる。
ラスタ構成を有効に利用することにより、上位のＣＰＵ
およびチャネルの関与なしに、光チャネル制御装置単体
でその診断を行なうことができるので、コストおよび省
スペースの面で有用である。また、操作者によるテスト
プログラムの格納の指示、診断の実行操作および実行結
果の表示も、保守用のサービスプロセッサ部に対して操
作パネルを接続して、この操作パネルから指示操作する
ことができる。その結果、迅速かつ容易に診断を行なう
ことが可能になる。
【００１１】
【実施例】以下、本発明の好適な実施例について、詳細
に説明する。
に説明する。
【００１２】まず図２に、本発明が適用される磁気ディ
スク制御装置（ＤＫＣ）の通常の使用状態を示す。
スク制御装置（ＤＫＣ）の通常の使用状態を示す。
【００１３】ＤＫＣ２０は、上位装置（ＣＰＵ）１０と
磁気ディスク装置（ＤＫＵ）３０との間に配置され、Ｃ
ＰＵ１０からの要求に基づいてＤＫＵ３０との間のデー
タ転送を制御するものである。ＤＫＣ２０は、光ケーブ
ル１５により光チャネル１１を介してＣＰＵ１０に接続
される。ＤＫＣ２０は、性能および信頼性の向上のため
同一機能を有する２つのクラスタ２１，２２からなる。
クラスタとは、磁気ディスク制御装置のデータ転送経路
の概念であり、特定の機能（拡張クロスコール機能）に
おいて２個のデータ処理、転送機構（記憶ディレクタ）
を１制御クラスタとして、ＤＫＵ３０のボリュームを制
御するものである。クラスタ毎にアドレスを持ち、チャ
ネル１１は、各クラスタに対してアクセス要求を出力す
る。各クラスタは、同時に二つのデータ転送が可能であ
り、配下の記憶ディレクタのうち、使用中でないものを
選択する機能を有する。
磁気ディスク装置（ＤＫＵ）３０との間に配置され、Ｃ
ＰＵ１０からの要求に基づいてＤＫＵ３０との間のデー
タ転送を制御するものである。ＤＫＣ２０は、光ケーブ
ル１５により光チャネル１１を介してＣＰＵ１０に接続
される。ＤＫＣ２０は、性能および信頼性の向上のため
同一機能を有する２つのクラスタ２１，２２からなる。
クラスタとは、磁気ディスク制御装置のデータ転送経路
の概念であり、特定の機能（拡張クロスコール機能）に
おいて２個のデータ処理、転送機構（記憶ディレクタ）
を１制御クラスタとして、ＤＫＵ３０のボリュームを制
御するものである。クラスタ毎にアドレスを持ち、チャ
ネル１１は、各クラスタに対してアクセス要求を出力す
る。各クラスタは、同時に二つのデータ転送が可能であ
り、配下の記憶ディレクタのうち、使用中でないものを
選択する機能を有する。
【００１４】クラスタ２１とクラスタ２２の構成は同一
なので、クラスタ２１の構成のみ説明する。クラスタ２
１は、その全体を制御するメインプロセッサ（ＭＰ）、
およびチャネル１１との間のデータ転送を制御するチャ
ネルインタフェース制御部（ＬＣＭ）２３を有する。図
示しないが、ＭＰ２４は、実際にはチャネル制御用およ
びデバイス制御用の組を各クラスタに複数組有する。Ｌ
ＣＭ２３は、チャネル１１との間で送受信する光信号を
直列／並列変換するシリアル／パラレル変換器２３１、
チャネル１１より受信したフレーム（転送データ）およ
びチャネル１１へ送信するフレームを一時刻するバッフ
ァ２３２、ＬＣＭ２３を制御するリンク制御プロセッサ
（ＬＣＰ）２３３を含む。
なので、クラスタ２１の構成のみ説明する。クラスタ２
１は、その全体を制御するメインプロセッサ（ＭＰ）、
およびチャネル１１との間のデータ転送を制御するチャ
ネルインタフェース制御部（ＬＣＭ）２３を有する。図
示しないが、ＭＰ２４は、実際にはチャネル制御用およ
びデバイス制御用の組を各クラスタに複数組有する。Ｌ
ＣＭ２３は、チャネル１１との間で送受信する光信号を
直列／並列変換するシリアル／パラレル変換器２３１、
チャネル１１より受信したフレーム（転送データ）およ
びチャネル１１へ送信するフレームを一時刻するバッフ
ァ２３２、ＬＣＭ２３を制御するリンク制御プロセッサ
（ＬＣＰ）２３３を含む。
【００１５】図３に示すように、ＤＫＣ２０の各クラス
タには２つのＬＣＭ２３ａ，２３ｂを有し、各ＬＣＭが
４個のＬＣＰ２３３を有する例を示している。すなわ
ち、本実施例では、１つのクラスタに最大８個のＬＣＰ
を実装できる場合を想定している。また、各クラスタ
は、サービスプロセッサ（ＳＶＰ）３１を有する。ＳＶ
Ｐ３１は、処理装置および周辺装置のシステム管理用サ
ブプロセッサであり、ハードウエアの保守および診断の
ために使用されるものである。両クラスタ２１，２２の
各々のＳＶＰ３１に共通に専用の操作パネルであるＳＶ
Ｐパネル２８を有している。図２では、示さなかった
が、チャネル１１は、図３の１１ａ，１１ｂに示すよう
に各クラスタに複数存在しうる。本実施例では、ＬＣＰ
２３３単位にＤＫＣ２０の診断を行なうことができ、診
断時（テスト時）には、クラスタ２１，２２間で対応す
るＬＣＰ２３３を光ケーブル３３で接続する。後に詳述
するように、本実施例は、一方のクラスタのＬＣＰにＳ
ＶＰ３１を利用して、通信制御機能、テスト機能、チャ
ネル機能を有するテストプログラムを格納し、当該一方
のクラスタに従来のＣＰＵおよびチャネルの機能を担わ
せるものである。すべてのＬＣＰにプログラムをロード
することにより、これらを同時に動作させてテストを実
行することができる。テスト機能のプログラムすなわち
テストルーチンは、入出力動作を記述したチャネルコマ
ンドワード（ＣＣＷ）列とその結果の期待値とにより構
成される。
タには２つのＬＣＭ２３ａ，２３ｂを有し、各ＬＣＭが
４個のＬＣＰ２３３を有する例を示している。すなわ
ち、本実施例では、１つのクラスタに最大８個のＬＣＰ
を実装できる場合を想定している。また、各クラスタ
は、サービスプロセッサ（ＳＶＰ）３１を有する。ＳＶ
Ｐ３１は、処理装置および周辺装置のシステム管理用サ
ブプロセッサであり、ハードウエアの保守および診断の
ために使用されるものである。両クラスタ２１，２２の
各々のＳＶＰ３１に共通に専用の操作パネルであるＳＶ
Ｐパネル２８を有している。図２では、示さなかった
が、チャネル１１は、図３の１１ａ，１１ｂに示すよう
に各クラスタに複数存在しうる。本実施例では、ＬＣＰ
２３３単位にＤＫＣ２０の診断を行なうことができ、診
断時（テスト時）には、クラスタ２１，２２間で対応す
るＬＣＰ２３３を光ケーブル３３で接続する。後に詳述
するように、本実施例は、一方のクラスタのＬＣＰにＳ
ＶＰ３１を利用して、通信制御機能、テスト機能、チャ
ネル機能を有するテストプログラムを格納し、当該一方
のクラスタに従来のＣＰＵおよびチャネルの機能を担わ
せるものである。すべてのＬＣＰにプログラムをロード
することにより、これらを同時に動作させてテストを実
行することができる。テスト機能のプログラムすなわち
テストルーチンは、入出力動作を記述したチャネルコマ
ンドワード（ＣＣＷ）列とその結果の期待値とにより構
成される。
【００１６】図４に、ＳＶＰ３１およびＳＶＰパネル２
８の構成例を示す。ＳＶＰ３１は両クラスタとも同一の
構成を有するのでその一方についてのみ説明する。
８の構成例を示す。ＳＶＰ３１は両クラスタとも同一の
構成を有するのでその一方についてのみ説明する。
【００１７】ＳＶＰ３１は、プロセッサ４０、Ｄ−ＲＡ
Ｍ４６、ＥＰ−ＲＯＭ４７、時計４１、フレキシブルデ
ィスクコントローラ（ＦＤＣ）４２、ＳＣＳＩ（Small
Computer System Interface)コントローラ４３、４４、
遠隔保守部４５、サービスユニット（ＳＶＵ）４８から
なる。ＳＶＵ４８は当該クラスタのＭＰに対して接続さ
れ、ＭＰとの間のインタフェースを制御する。ＦＤＣ４
２には５インチフレキシブルディスク装置５０が接続さ
れる。ＳＣＳＩコントローラ４３には５インチハードデ
ィスク装置５１が接続される。ＳＣＳＩコントローラ４
４にはＳＶＰパネル２８が接続される。遠隔保守部４５
には、ＲＳ２３２ＣおよびＲＳ４２２をサポートした通
信アダプタ５２を介して外部の計算機または周辺装置が
接続される。
Ｍ４６、ＥＰ−ＲＯＭ４７、時計４１、フレキシブルデ
ィスクコントローラ（ＦＤＣ）４２、ＳＣＳＩ（Small
Computer System Interface)コントローラ４３、４４、
遠隔保守部４５、サービスユニット（ＳＶＵ）４８から
なる。ＳＶＵ４８は当該クラスタのＭＰに対して接続さ
れ、ＭＰとの間のインタフェースを制御する。ＦＤＣ４
２には５インチフレキシブルディスク装置５０が接続さ
れる。ＳＣＳＩコントローラ４３には５インチハードデ
ィスク装置５１が接続される。ＳＣＳＩコントローラ４
４にはＳＶＰパネル２８が接続される。遠隔保守部４５
には、ＲＳ２３２ＣおよびＲＳ４２２をサポートした通
信アダプタ５２を介して外部の計算機または周辺装置が
接続される。
【００１８】ＳＶＰパネル２８は、１６行×４０列の液
晶表示部２８１と、キーボード２８２からなる。図示し
ないが、ＳＶＰパネル２８制御部およびＳＶＰ３１との
インタフェース制御部も含む。
晶表示部２８１と、キーボード２８２からなる。図示し
ないが、ＳＶＰパネル２８制御部およびＳＶＰ３１との
インタフェース制御部も含む。
【００１９】図１により、診断時に各ＬＣＭ２３ａ，２
３ｂにロードするプログラムについて説明する。今、ク
ラスタ２１をテスト側、クラスタ２２を被テスト側とす
る。テスト側のクラスタ２１のＬＣＭにはＳＶＰ３１を
介してフレキシブルディスク装置２６からテストプログ
ラムを格納する。一方、被テスト側のクラスタ２２のＬ
ＣＭにはＳＶＰ３１を介してハードディスク装置２７か
らＤＫＣ制御用マイクロプログラムを格納する。このプ
ログラムロードの指示は、ＳＶＰパネル２８から行な
う。
３ｂにロードするプログラムについて説明する。今、ク
ラスタ２１をテスト側、クラスタ２２を被テスト側とす
る。テスト側のクラスタ２１のＬＣＭにはＳＶＰ３１を
介してフレキシブルディスク装置２６からテストプログ
ラムを格納する。一方、被テスト側のクラスタ２２のＬ
ＣＭにはＳＶＰ３１を介してハードディスク装置２７か
らＤＫＣ制御用マイクロプログラムを格納する。このプ
ログラムロードの指示は、ＳＶＰパネル２８から行な
う。
【００２０】図５は、診断時の接続状態を示す。テスト
側クラスタ２１と被テスト側クラスタ２２のＬＣＭ２３
の間で対応するすべてのポート間を複数の光ファイバケ
ーブル３３で接続する。テスト時には、入出力動作のア
クセスの対象として、ＤＫＣ３０は用いず、ＤＫＣ２０
に内蔵のキャッシュメモリ５５を用いるようにしてもよ
い。これにより、テストの迅速化が図れる。
側クラスタ２１と被テスト側クラスタ２２のＬＣＭ２３
の間で対応するすべてのポート間を複数の光ファイバケ
ーブル３３で接続する。テスト時には、入出力動作のア
クセスの対象として、ＤＫＣ３０は用いず、ＤＫＣ２０
に内蔵のキャッシュメモリ５５を用いるようにしてもよ
い。これにより、テストの迅速化が図れる。
【００２１】図６に、診断処理のフローチャートを示
す。まず、ハードディスク装置２７（図１）より被テス
ト側クラスタ２２にＤＫＣ制御用マイクロプログラムを
ロードする（Ｓ６１）。続いて、ＳＶＰパネル２８から
初期プログラムロード（ＩＰＬ）指示を出し、テストプ
ログラムをテスト側クラスタ２１にロードする（Ｓ６
２）。ＳＶＰパネル２８からテスト側クラスタ２１に対
してテストプログラム実行指示を発行し、テストプログ
ラムの実行をする（Ｓ６３）。最後に、この実行結果が
ＳＶＰパネル２８の表示部上に表示される（Ｓ６４）。
す。まず、ハードディスク装置２７（図１）より被テス
ト側クラスタ２２にＤＫＣ制御用マイクロプログラムを
ロードする（Ｓ６１）。続いて、ＳＶＰパネル２８から
初期プログラムロード（ＩＰＬ）指示を出し、テストプ
ログラムをテスト側クラスタ２１にロードする（Ｓ６
２）。ＳＶＰパネル２８からテスト側クラスタ２１に対
してテストプログラム実行指示を発行し、テストプログ
ラムの実行をする（Ｓ６３）。最後に、この実行結果が
ＳＶＰパネル２８の表示部上に表示される（Ｓ６４）。
【００２２】図７に、ＳＶＰパネル２８に表示されるテ
スト項目設定および実行のための操作画面例を示す。こ
の例では、まず、テストに利用するＬＣＰを選択する。
被テスト側の８個のＬＣＰ（ＬＣＰ１Ａ〜ＬＣＰ１Ｈ）
の任意のものを選択する。このとき、すべてのＬＣＰを
選択することができるが、ここではＬＣＰ１Ａ，ＬＣＰ
１Ｃを選択したとする。次に、接続するＭＰを選択す
る。この例では、ＭＰ１Ａ，１ＢまたはＭＰ１Ｃ，１Ｄ
のいずれか一方の組を選択する。次に、複数存在するテ
ストルーチンのルーチン番号を入力する。そこで、ＳＶ
Ｐパネル２８のキーボード部の特定のキーの押下によ
り、当該テストルーチンの実行が開始される。
スト項目設定および実行のための操作画面例を示す。こ
の例では、まず、テストに利用するＬＣＰを選択する。
被テスト側の８個のＬＣＰ（ＬＣＰ１Ａ〜ＬＣＰ１Ｈ）
の任意のものを選択する。このとき、すべてのＬＣＰを
選択することができるが、ここではＬＣＰ１Ａ，ＬＣＰ
１Ｃを選択したとする。次に、接続するＭＰを選択す
る。この例では、ＭＰ１Ａ，１ＢまたはＭＰ１Ｃ，１Ｄ
のいずれか一方の組を選択する。次に、複数存在するテ
ストルーチンのルーチン番号を入力する。そこで、ＳＶ
Ｐパネル２８のキーボード部の特定のキーの押下によ
り、当該テストルーチンの実行が開始される。
【００２３】図８に、このテストルーチンの終了報告の
画面例を示す。図示のように、各テスト対象ＬＣＰ毎に
そのテスト結果が示される。テスト結果としては、正常
終了（ＮＲＭＬ ＥＮＤ）と異常終了（ＥＲＲＯＲ Ｓ
ＴＯＰ）とがあり、この例では、ＬＣＰ１Ａは正常終
了、ＬＣＰ１Ｃは異常終了という結果になっている。こ
の結果の詳細は、操作者の指示により、各ＬＣＰ毎にエ
ラーコード表として別画面で表示される。その例は特に
図示しないが、エラーコード表としては、エラーの分類
を示すエラーコードの他、テストルーチンの番号、チャ
ネル側サブルーチン番号（エラーが検出されたとき、走
行していたチャネル側マイクロプログラムのサブルーチ
ン番号）等を含む。
画面例を示す。図示のように、各テスト対象ＬＣＰ毎に
そのテスト結果が示される。テスト結果としては、正常
終了（ＮＲＭＬ ＥＮＤ）と異常終了（ＥＲＲＯＲ Ｓ
ＴＯＰ）とがあり、この例では、ＬＣＰ１Ａは正常終
了、ＬＣＰ１Ｃは異常終了という結果になっている。こ
の結果の詳細は、操作者の指示により、各ＬＣＰ毎にエ
ラーコード表として別画面で表示される。その例は特に
図示しないが、エラーコード表としては、エラーの分類
を示すエラーコードの他、テストルーチンの番号、チャ
ネル側サブルーチン番号（エラーが検出されたとき、走
行していたチャネル側マイクロプログラムのサブルーチ
ン番号）等を含む。
【００２４】エラーコードとしては、チャネル側ハード
ウエアのエラー、被テスト装置側ハードウエアのエラ
ー、ＮＥＸＴ ＣＣＷアドレスエラー、データ比較エラ
ー（データの内容がテストプログラムの期待値と異な
る）、正常終了、等のコードがある。ハードウエアのエ
ラー（障害）の検出については、テスト側クラスタと、
ＤＫＣとして動作する相手クラスタの両方のマイクロプ
ログラムにエラー検出および報告の論理を組み込んでい
るため、テスト側のハード不良も検出可能である。
ウエアのエラー、被テスト装置側ハードウエアのエラ
ー、ＮＥＸＴ ＣＣＷアドレスエラー、データ比較エラ
ー（データの内容がテストプログラムの期待値と異な
る）、正常終了、等のコードがある。ハードウエアのエ
ラー（障害）の検出については、テスト側クラスタと、
ＤＫＣとして動作する相手クラスタの両方のマイクロプ
ログラムにエラー検出および報告の論理を組み込んでい
るため、テスト側のハード不良も検出可能である。
【００２５】テストルーチンとしては、Ｅｒａｓｅ Ｃ
ｏｍｍａｎｄ Ｔｓｅｔ、ＲｅａｄＭＣＫＤ Ｃｏｍｍ
ａｎｄ Ｔｅｓｔ、Ｗｒｉｔｅ Ｄａｔａ Ｃｏｍｍａ
ｎｄ Ｔｅｓｔ、キャッシュメモリに関するテスト、等
種々のものがある。チャネル側サブルーチンとしては、
チャネルエミュレータメイン処理、ＷＲＩＴＥ系コマン
ド処理、ＳＥＴ ＳＥＣＴＯＲコマンド処理、ＲＥＡＤ
系コマンド処理、等種々のものがある。
ｏｍｍａｎｄ Ｔｓｅｔ、ＲｅａｄＭＣＫＤ Ｃｏｍｍ
ａｎｄ Ｔｅｓｔ、Ｗｒｉｔｅ Ｄａｔａ Ｃｏｍｍａ
ｎｄ Ｔｅｓｔ、キャッシュメモリに関するテスト、等
種々のものがある。チャネル側サブルーチンとしては、
チャネルエミュレータメイン処理、ＷＲＩＴＥ系コマン
ド処理、ＳＥＴ ＳＥＣＴＯＲコマンド処理、ＲＥＡＤ
系コマンド処理、等種々のものがある。
【００２６】上述したテストは、クラスタ２１をテスト
側、クラスタ２２を被テスト側として説明したが、その
診断後、テストする側とされる側とを入れ替えて診断を
行なってもよい。
側、クラスタ２２を被テスト側として説明したが、その
診断後、テストする側とされる側とを入れ替えて診断を
行なってもよい。
【００２７】図９に、本発明の応用例の構成を示す。こ
れは、ＤＫＣ２０と半導体記憶制御装置（ＳＳＣ）１０
０とを光ケーブル３３で接続したものである。半導体記
憶制御装置（ＳＳＣ）は、処理装置のチャネルと半導体
記憶装置との間に位置し、チャネルプログラムの指示に
基づいて半導体記憶装置を制御する装置である。この応
用例では、ＤＫＣ２０およびＳＳＣ１００のいずれか一
方を被テスト装置とし、他方をテスト装置とする。ＤＫ
Ｃ２０はその一方のクラスタのみを用いる。この構成に
より、先に説明した実施例と同様にしてＳＳＣ１００の
診断処理が行なえる。
れは、ＤＫＣ２０と半導体記憶制御装置（ＳＳＣ）１０
０とを光ケーブル３３で接続したものである。半導体記
憶制御装置（ＳＳＣ）は、処理装置のチャネルと半導体
記憶装置との間に位置し、チャネルプログラムの指示に
基づいて半導体記憶装置を制御する装置である。この応
用例では、ＤＫＣ２０およびＳＳＣ１００のいずれか一
方を被テスト装置とし、他方をテスト装置とする。ＤＫ
Ｃ２０はその一方のクラスタのみを用いる。この構成に
より、先に説明した実施例と同様にしてＳＳＣ１００の
診断処理が行なえる。
【００２８】
【発明の効果】本発明によれば、光チャネル制御装置単
体でその診断が迅速に行なえるので、コストおよび省ス
ペースの面で有用である。
体でその診断が迅速に行なえるので、コストおよび省ス
ペースの面で有用である。
【図１】本発明の実施例におけるＤＫＣへのプログラム
のロードを説明するための説明図。
のロードを説明するための説明図。
【図２】本発明が適用されるＤＫＣの通常の使用状態を
示すブロック図。
示すブロック図。
【図３】図１のＤＫＣのＬＣＭの多重構成を示す説明
図。
図。
【図４】図３に示したＳＶＰおよびＳＶＰパネルの構成
を示すブロック図。
を示すブロック図。
【図５】本実施例における診断時の状態を示す説明図。
【図６】本実施例の診断処理のフローチャート。
【図７】本実施例におけるテスト項目設定および実行の
表示画面例の説明図。
表示画面例の説明図。
【図８】本実施例におけるテスト終了報告の表示画面例
の説明図。
の説明図。
【図９】本実施例の応用例の説明図。
【図１０】従来のＤＫＣの診断方法の説明図。
１０…ＣＰＵ、１１…光チャネル、２０…磁気ディスク
制御装置（ＤＫＣ）、２１，２２…クラスタ、２３，２
３ｂ…光チャネルインタフェース部（ＬＣＭ）、２４…
メインプロセッサ（ＭＰ）、２６…ＦＤＤ、２７…Ｈ
Ｄ、２８…ＳＶＰパネル、３０…磁気ディスク装置（Ｄ
ＫＵ）、３１…サービスプロセッサ（ＳＶＰ）。
制御装置（ＤＫＣ）、２１，２２…クラスタ、２３，２
３ｂ…光チャネルインタフェース部（ＬＣＭ）、２４…
メインプロセッサ（ＭＰ）、２６…ＦＤＤ、２７…Ｈ
Ｄ、２８…ＳＶＰパネル、３０…磁気ディスク装置（Ｄ
ＫＵ）、３１…サービスプロセッサ（ＳＶＰ）。
Claims (3)
- 【請求項１】光チャネルサブシステムに接続されるリン
クコントロールプロセッサを有する光チャネルインタフ
ェース部と、メインプロセッサ部と、保守用のサービス
プロセッサ部を有する第１のクラスタと、該第１のクラ
スタと同一の要素を有する第２のクラスタを備える光チ
ャネル制御装置を診断する方法であって、 前記第１および第２のクラスタの光チャネルインタフェ
ース部を相互に光ケーブルで接続し、 第１のクラスタに、チャネル機能、通信制御機能および
テスト機能を実行するテストプログラムを格納すると共
に、第２のクラスタに当該光チャネル制御装置の通常の
プログラムを格納し、 前記サービスプロセッサ部からの指示により前記第１の
クラスタ内で前記テストプログラムを実行させることに
より、前記第２のクラスタとの間でデータ転送を行なわ
せ、 該データ転送に伴い、前記テストプログラムのテスト機
能により前記第２のクラスタの診断を行なうことを特徴
とする光チャネル制御装置の診断方法。 - 【請求項２】前記テストプログラムの格納は、前記サー
ビスプロセッサに接続した操作パネルの操作によって行
ない、前記診断の結果は前記操作パネルの表示部に表示
することを特徴とする請求項１記載の光チャネル制御装
置の診断方法。 - 【請求項３】前記第１および第２のクラスタの各々は複
数のリンクコントロールプロセッサ部を有し、前記第１
および第２のクラスタの当該複数のリンクコントロール
プロセッサ部間を複数の光ケーブルで接続し、当該複数
のリンクコントロールプロセッサの診断を同時に並列に
実行することを特徴とする請求項１または２記載の光チ
ャネル制御装置の診断方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6046682A JPH07262101A (ja) | 1994-03-17 | 1994-03-17 | 光チャネル制御装置の診断方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6046682A JPH07262101A (ja) | 1994-03-17 | 1994-03-17 | 光チャネル制御装置の診断方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07262101A true JPH07262101A (ja) | 1995-10-13 |
Family
ID=12754157
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6046682A Pending JPH07262101A (ja) | 1994-03-17 | 1994-03-17 | 光チャネル制御装置の診断方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07262101A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004227098A (ja) * | 2003-01-20 | 2004-08-12 | Hitachi Ltd | 記憶デバイス制御装置の制御方法、及び記憶デバイス制御装置 |
| JP2004526233A (ja) * | 2001-01-26 | 2004-08-26 | デルタ サーチ ラブズ インコーポレイテッド | オペレーティングシステムなしでｃｐｕおよびデバイスを管理するモジュラーマイクロコントローラ |
| JP2006146839A (ja) * | 2004-11-25 | 2006-06-08 | Hitachi Ltd | 装置を管理するシステム及び方法 |
| JP2006235665A (ja) * | 2005-02-22 | 2006-09-07 | Fujitsu Ltd | コマンドテスタ |
| US9026858B2 (en) | 2011-12-21 | 2015-05-05 | Fujitsu Limited | Testing server, information processing system, and testing method |
-
1994
- 1994-03-17 JP JP6046682A patent/JPH07262101A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004526233A (ja) * | 2001-01-26 | 2004-08-26 | デルタ サーチ ラブズ インコーポレイテッド | オペレーティングシステムなしでｃｐｕおよびデバイスを管理するモジュラーマイクロコントローラ |
| JP2004227098A (ja) * | 2003-01-20 | 2004-08-12 | Hitachi Ltd | 記憶デバイス制御装置の制御方法、及び記憶デバイス制御装置 |
| JP2006146839A (ja) * | 2004-11-25 | 2006-06-08 | Hitachi Ltd | 装置を管理するシステム及び方法 |
| JP2006235665A (ja) * | 2005-02-22 | 2006-09-07 | Fujitsu Ltd | コマンドテスタ |
| US9026858B2 (en) | 2011-12-21 | 2015-05-05 | Fujitsu Limited | Testing server, information processing system, and testing method |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6336185B1 (en) | Use of other processors during BIOS boot sequence to minimize boot time | |
| US4003033A (en) | Architecture for a microprogrammed device controller | |
| JP2548480B2 (ja) | アレイディスク装置のディスク装置診断方法 | |
| US5245615A (en) | Diagnostic system and interface for a personal computer | |
| US4028668A (en) | Apparatus for selectively addressing sections and locations in a device controller's memory | |
| JP3151008B2 (ja) | ディスクセクタ解析方法 | |
| US5033049A (en) | On-board diagnostic sub-system for SCSI interface | |
| US4933941A (en) | Apparatus and method for testing the operation of a central processing unit of a data processing system | |
| US20040049710A1 (en) | Maintaining data access during failure of a controller | |
| US6725396B2 (en) | Identifying field replaceable units responsible for faults detected with processor timeouts utilizing IPL boot progress indicator status | |
| JPH0325814B2 (ja) | ||
| JPH04332033A (ja) | コンピュータプロセッサ動作用ユーザインターフェイス | |
| US6625728B1 (en) | Method and apparatus for locating and displaying a defective component in a data processing system during a system startup using location and progress codes associated with the component | |
| JPH07262101A (ja) | 光チャネル制御装置の診断方法 | |
| EP0372411B1 (en) | Floating console control system | |
| US6141635A (en) | Method of diagnosing faults in an emulated computer system via a heterogeneous diagnostic program | |
| JP2002207573A (ja) | ディスク・アレイ・コントローラに対してドライブに基づく更新を実行する方法および装置 | |
| US7401261B1 (en) | Automatic analysis of memory operations using panel dump file | |
| JP3107015B2 (ja) | 間欠障害診断システム | |
| JP2002132534A (ja) | 入出力試験システム | |
| JPH11306644A (ja) | ディスクアレイ装置 | |
| US7793229B1 (en) | Recording relevant information in a GUI window of a panel dump browser tool | |
| JPH01134651A (ja) | バスユニット直接制御機構 | |
| JPH05165737A (ja) | メモリ試験方式 | |
| JPS6238947A (ja) | プロセツサユニツトの診断方法 |