JP3107015B2

JP3107015B2 - 間欠障害診断システム

Info

Publication number: JP3107015B2
Application number: JP09288410A
Authority: JP
Inventors: 斎藤春美
Original assignee: Mitsubishi Electric Corp
Current assignee: Mitsubishi Electric Corp
Priority date: 1997-10-21
Filing date: 1997-10-21
Publication date: 2000-11-06
Anticipated expiration: 2017-10-21
Also published as: JPH11120019A

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、複数の入出力装置
の協動によって不規則に発生する間欠障害の検出を行う
間欠障害診断システムに関する。

【０００２】

【従来の技術】従来の技術としては、例えば特開平２ー
１２７７３３号公報に記載されたものが知られている。
図１２に示すように、この公報に記載された従来の故障
診断装置１００は、Ｎ台の被測定装置１１０に接続され
ており、これらの被測定装置１１０の故障個所を検出す
るものである。

【０００３】故障診断装置１００は、被測定装置１１０
のクロック信号供給手段１０１に対してクロック変更指
示信号を送るクロック変更指示手段１１１と、被測定装
置１１０の電源電圧供給手段１１２に対して電圧変更信
号を送る電源電圧変更指示手段１１２とを備えている。
さらに、故障診断装置１００は、各被測定装置１１０の
それぞれに対応する診断プログラムが格納された診断プ
ログラム格納手段１０３と、診断プログラムの実行によ
って得られる診断結果を表示する診断結果表示手段１０
４と、これらの手段１０１〜１０４を制御する診断制御
手段１０５とを備えている。

【０００４】次に、故障診断装置１００の動作について
説明する。まず、各被測定装置１１０の動作中に障害が
発生した場合に、障害時の情報に基づいて障害を発生さ
せた被測定装置１１０を特定させる。そして、特定され
た被測定装置１１０を他の装置１１０から論理的に切り
離して、この被測定装置１１０に対して診断プログラム
を実行させる。診断プログラムの実行で被測定装置１１
０の異常を検出できた場合には、故障個所を指摘する結
果を診断結果表示手段１０４に表示させる。また、異常
を検出することなく診断プログラムが正常に終了した場
合には、クロック変更指示手段１１１又は電源電圧変更
指示手段１１２から被測定装置１１０に対して変更指示
信号を送り、動作条件を変更した後に診断プログラムを
再実行させる。その結果、故障個所を検出することがで
きる。

【０００５】なお、その他の従来の技術しては、特開昭
５４−２１１４６号公報、特開昭６０−１５７２７号公
報のものが知られている。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】従来の障害診断装置１
００は、各被測定装置１１０に対して単体で診断プログ
ラムを実行させて、被測定装置１１０単体で再現可能な
通常の障害を検出することを目的としている。従って、
複数の被測定装置１１０の協動によって不規則に発生す
る間欠障害を、この障害診断装置１００で検出すること
は困難であった。

【０００７】本発明は、上記のような問題点を解消する
ためになされたもので、複数の入出力装置の協動によっ
て不規則に発生する間欠障害を効率よく検出することの
できる間欠障害診断システムを提供することを目的とす
る。

【０００８】

【課題を解決するための手段】請求項１の間欠障害診断
システムは、複数の入出力装置の協動によって不規則に
発生する間欠障害の検出を行う間欠障害診断システムに
おいて、複数の入出力装置に各々対応して設けられた複
数の診断テストパッケージと、診断テストパッケージご
とに設けられた複数の環境パラメータが各々格納された
診断環境パラメータテーブルと、複数の環境パラメータ
を初期化して、初期化後の各環境パラメータに基づいて
複数の診断テストパッケージを同時に実行させると共
に、所定時間ごとに診断環境パラメータテーブルに格納
された複数の環境パラメータを各々変更して、変更後の
各環境パラメータに基づいて複数の診断テストパッケー
ジの実行を繰り返し、複数の入出力装置の動作タイミン
グを変化させる診断モニタとを備え、診断モニタは、障
害が発生した場合に、診断環境パラメータテーブルに格
納された各環境パラメータに基づいて複数の診断テスト
パッケージを実行させることにより、障害発生時の環境
を再現させることを特徴とする。

【０００９】

【００１０】請求項２において、診断テストパッケージ
は、データ転送量を環境パラメータとして、このデータ
量を転送できるか否かを判定するデータ転送量テストル
ーチンと、データパターンを環境パラメータとして、こ
のパターンのデータを転送できるか否かを判定するデー
タパターンテストルーチンとを備えることを特徴とす
る。

【００１１】請求項３において、データパターンは、デ
ータが増加するインクリメントパターンであることを特
徴とする。

【００１２】請求項４において、データパターンは、隣
接する２つのデータの差を一定にしたランダムパターン
であることを特徴とする。

【００１３】請求項５において、データパターンは、メ
モリアドレスそのものをデータとしたアドレスパターン
であることを特徴とする。

【００１４】請求項６において、診断テストパッケージ
は、遅延時間を環境パラメータとして、入出力装置をこ
の遅延時間だけ停止させた後に正常に動作できるか否か
を判定する遅延テストルーチンを備えることを特徴とす
る。

【００１５】請求項７において、診断テストパッケージ
は、入出力装置にアクセスするためのアドレスモードを
環境パラメータとして、物理アドレスと論理アドレスと
のいずれかを用いてデータアクセスを行うことにより、
入出力装置の動作タイミングを変化させて、データアク
セスが正しく行えるか否かを判定するデータアクセステ
ストルーチンを備えることを特徴とする。

【００１６】請求項８において、診断テストパッケージ
は、入出力装置を起動させた際に中央処理装置を開放さ
せるためのモードである待避モードの有無を環境パラメ
ータとして、この待避モードの有無の環境下で入出力装
置を動作させることにより、入出力装置の動作タイミン
グを変化させて、入出力装置が正しく動作できるか否か
を判定する待避モードテストルーチンを備えることを特
徴とする。

【００１７】請求項９において、診断テストパッケージ
は、各テストルーチンの実行シーケンスを環境パラメー
タとして、各テストルーチンの実行順序を変えることに
より、入出力装置の動作タイミングを変化させて、入出
力装置が正しく動作できるか否かを判定するシーケンス
テストルーチンを備えることを特徴とする。

【００１８】

【発明の実施の形態】本発明の実施の形態について添付
図面を参照して説明する。図１は本実施の形態に係る間
欠障害診断システム１０を示すブロック図である。同図
に示すように、間欠障害診断システム１０は、コンピュ
ータシステム３０の間欠障害を診断するシステムであ
り、複数の診断テストパッケージ１１と、これらの診断
テストパッケージ１１を同時に実行させる診断モニタ１
２とを備えている。コンピュータシステム３０は、コン
ピュータ本体装置３１と複数の入出力装置３２とを備え
ており、診断テストパッケージ１１はこれらの入出力装
置３２に各々対応して設けられている。なお、間欠障害
診断システム１０は、コンピュータシステム３０の製品
出荷前に用いて障害を未然に検出することが多いが、コ
ンピュータシステム３０の稼働後に用いて障害原因を検
出してもよい。

【００１９】ここで、間欠障害とは、複数の入出力装置
３２のの協動によって不規則に発生する障害をいう。こ
のような障害は、単体の入出力装置３２で発生する障害
と異なり、複数の入出力装置が特定のタイミングで動作
したときのみに発生するので、通常行われている診断で
は検出が困難である。また、入出力装置３２には、ハー
ドディスク装置、ＣＤ−ＲＯＭ装置、プリンタ、ディス
プレイ、キーボードなどがある。

【００２０】図２に示すように診断モニタ１２は、各テ
ーブルの初期化を行う初期化処理部１３と、各処理部等
を統括するスーパーバイザ処理部１４と、各タスクの動
作を制御するタスク制御部１５と、各入出力装置３２の
起動を制御する入出力起動処理部１６とを備えている。
また、診断モニタ１２は、各診断テストパッケージ１１
の実行を制御する診断実行制御処理部１７と、バッファ
領域の管理を行うバッファ管理部１８と、各入出力装置
３２の割込みを制御する入出力割込処理部１９と、各種
サブルーチン２０とを備えている。さらに、診断モニタ
１２は、入出力以外の割込みの制御を行う各種割込処理
部２１と、オペレータによる操作を制御するオペレータ
操作制御処理部２２と、各種制御テーブル２３とを備え
ている。

【００２１】診断実行制御処理部１７は、診断環境パラ
メータ（環境パラメータ）を各診断テストパッケージ２
２に与える診断パラメータ処理部２４を備えている。ま
た、各種制御テーブル２３は、アドレスモードパラメー
タやクロックモードパラメータなどが格納された診断環
境パラメータテーブル２５を備えている。そして、診断
パラメータ処理部２４が診断環境パラメータテーブル２
５から診断環境パラメータを読み出して各診断テストパ
ッケージ１１に与えることにより、これらの診断テスト
パッケージ１１は診断環境パラメータに基づいた診断テ
ストを行うことができる。

【００２２】図３に示すように、診断環境パラメータテ
ーブル２５は、診断環境パラメータごとに設けられた複
数のレコード２６と、これらのレコード２６の総数が格
納されたレコード数領域２７と、各レコード２６を指示
するためのポインタが格納されたポインタ領域２８とを
備えている。そして、各レコード２６は、診断環境パラ
メータのカレント値が格納されたカレント値フィールド
（パラメータ保持部）２６ａと、診断環境パラメータの
初期値が格納された初期値フィールド２６ｂと、診断環
境パラメータの最大値が格納された最大値フィールド２
６ｃと、診断環境パラメータの詳細情報が格納された詳
細情報フィールド２６ｄとを備えている。この例では、
レコード数領域２７には１０が格納されている。また、
初期値フィールド２６ｂには０が格納されているが、必
ずしも０でなくてよい。

【００２３】なお、パラメータの種類には、アドレスモ
ードパラメータ、クロックモードパラメータ、電圧モー
ドパラメータ、転送カウントパラメータ（データ転送量
パラメータ）、転送データパターンパラメータ（データ
パターンパラメータ）、入出力起動後の遅延パラメータ
（遅延時間パラメータ）、実行組合せパラメータ、専用
動作モードパラメータ、待避モードパラメータ、シーケ
ンスパラメータ（実行シーケンスパラメータ）がある。
これらのパラメータの詳細は後述する。

【００２４】次に、間欠障害診断システム１０の動作に
ついて、図４のフローチャートを用いて説明する。な
お、間欠障害診断システム１０の動作にあたり、診断モ
ニタ１２及び各診断テストパッケージ１１はコンピュー
タ本体装置３１の主記憶装置にロードされているものと
する。

【００２５】コンピュータ本体装置３１を操作員が操作
して、診断の開始が指定されることにより、診断モニタ
１２が稼動する。診断モニタ１２の稼動によって、診断
モニタ１２の初期化処理部１３が実行され、診断環境パ
ラメータテーブル２５の初期化が行われる（ステップ４
０）。次に、診断パラメータ処理部２４が実行され、診
断環境パラメータテーブル２５の各カレント値フィール
ド２６ａに診断環境パラメータが設定される（ステップ
４１）。そして、各カレント値フィールド２６ａに設定
された診断環境パラメータは診断テストパッケージ１１
に提供される。

【００２６】さらに、診断実行制御処理部１７が実行さ
れ、診断テストパッケージ１１を起動させるための準備
処理が行われる（ステップ４２）。この準備処理によっ
て、各カレント値フィールド２６ａの診断環境パラメー
タが診断テストパッケージ１１に設定される。その後、
全診断テストパッケージ１１がタスク処理によって同時
に実行され（ステップ４３）、各入出力装置３２を並列
に動作させる。この処理によって、各診断テストパッケ
ージ１１による入出力装置３２の診断が行われる。そし
て、いずれかの入出力装置３２で障害が発生した場合
に、この入出力装置３２に対応した診断テストパッケー
ジ１１でこの障害が検出される。特に、各入出力装置３
２が同時に動作している状態で診断が行われるので、各
入出力装置３２の協動で不規則に発生する間欠障害を効
率よく検出することができる。

【００２７】診断テストパッケージ１１のいずれか一つ
の動作が完了すると、次のステップに処理が移り、１パ
ス診断の実行が終了したかどうか調べられる（ステップ
４４）。この１パス診断とは診断の基本実行単位であ
り、この１パス診断の実行時間は診断テストパッケージ
１１が持つテストを全て終了させる時間である。例え
ば、この時間は３分〜１０分と定義され、診断モニタ１
２がタイマーで測定されて、その時間だけ実行される。
従って、１パス診断が完了していなければステップ４３
に処理が戻り、同様の診断が繰り返される。ステップ４
４で１パス診断が完了すると次のステップに処理が移
り、パスカウントが１増加される（ステップ４５）。

【００２８】次に、指定された時間だけ診断が行われた
か否かが調べられ（ステップ４６）、まだ終了していな
ければステップ４１に処理を戻す。なお、指定された時
間とは、間欠障害診断システム１０の総実行時間であ
り、操作員によって予め入力された時間である。具体的
には、５時間、１０時間、２４時間等が指定される。

【００２９】ステップ４１では次の診断環境パラメータ
が設定され、今度は異なった環境下で次の１パス診断が
行われる（ステップ４１〜ステップ４６）。このよう
に、各パスごとに診断環境パラメータを変えることによ
って、複数の入出力装置３２の動作タイミングを微妙に
変化させることができる。その結果、複数の入出力装置
３２が特定のタイミングで動作したときのみ発生する間
欠障害を確実に検出することができる。そして、ステッ
プ４６において指定された診断の時間が終了すると、全
ての入出力装置３２の診断を完了させる。

【００３０】ステップ４１の診断環境パラメータの設定
処理は、図５のフローチャートに示す手順で行われる。
まず、ポインタ領域２８のポインタを初期化する（ステ
ップ５０）。次に、このポインタをインデックスとして
レコードにアクセスし、カレント値フィールド２６ａか
ら診断環境パラメータのカレント値を読み出す（ステッ
プ５１）。そして、読み出したカレント値に１を加算し
て、カレント値フィールド２６ａに書き込む（ステップ
５２）。さらに、最大値フィールド２６ｃから診断環境
パラメータの最大値を読み出して、カレント値と最大値
とを比較する（ステップ５３）。比較の結果、カレント
値が最大値より小さい場合には、ポインタ領域２８のポ
インタに１を加算する（ステップ５４）。

【００３１】また、ステップ５３の比較で、カレント値
と最大値とが等しい場合には、最小値フィールド２６ｂ
から読み出した診断環境パラメータの最小値をカレント
値フィールドに書き込んで（ステップ５５）、ポインタ
領域２８のポインタに１を加算する（ステップ５４）。
ステップ５４の処理終了後、レコード数領域２７からレ
コード数を読み出して、このレコード数とポインタとを
比較する（ステップ５６）。比較の結果、ポインタがこ
のレコード数より小さい場合には、ステップ５１に処理
を戻して、ステップ５１からステップ５５までの処理を
繰り返す。また、ステップ５６の比較で、ポインタとレ
コード数とが等しい場合には処理を終了する。

【００３２】以上のステップ５０からステップ５６まで
の処理によって、診断環境パラメータテーブル２５の全
てのカレント値フィールド２６ａに格納されたカレント
値に１が加算される。また、カレント値が最大値の場合
には、カレント値は初期値になる。例えば、初期値が０
で最大値が３の場合には、ステップ５０からステップ５
６までの処理を繰り返すことによって、診断環境パラメ
ータのカレント値は、０→１→２→３→０→１→２…と
変化していく。

【００３３】また、いずれかの入出力装置３２で障害が
発生した場合、診断パラメータ処理部１７は、入出力装
置３２の動作を終了させると共に、全てのカレント値フ
ィールド２６ａに格納された診断環境パラメータのカレ
ント値を保存する。この診断環境パラメータのカレント
値は、障害が発生した場合の異常環境条件そのものであ
る。従って、その後に診断を再開させる場合には、この
条件のみを取り出して各診断テストパッケージ１１を実
行させることにより、障害の原因を容易に解明すること
ができる。

【００３４】図６に示すように、全ての診断環境パラメ
ータのカレント値は、各診断テストパッケージ１１に提
供される。各診断テストパッケージ１１は、各診断環境
パラメータにそれぞれ対応した複数のテストルーチンを
有している。そして、各テストルーチンにはそれぞれ異
なる診断環境パラメータが与えられ、これらのテストル
ーチンは順番に実行される。

【００３５】具体的には、各診断テストパッケージ１１
は、データアクセステストルーチン１１ａ、データ転送
量テストルーチン１１ｂ、データパターンテストルーチ
ン１１ｃ、遅延テストルーチン１１ｄ、待避モードテス
トルーチン１１ｅ、シーケンステストルーチン１１ｆな
どを備えている。そして、データアクセステストルーチ
ン１１ａにはアドレスモードパラメータが、データ転送
量テストルーチン１１ｂには転送カウントパラメータ
が、データパターンテストルーチン１１ｃには転送デー
タパターンパラメータがそれぞれ与えられる。また、遅
延テストルーチン１１ｄには入出力起動後の遅延パラメ
ータが、待避モードテストルーチン１１ｅには待避モー
ドパラメータが、シーケンステストルーチン１１ｆには
シーケンスパラメータがそれぞれ与えられる。

【００３６】各テストルーチンに診断環境パラメータを
提供する具体的な方法は、診断環境パラメータの種類に
よって３つのパターンに分けられる。第１は診断テスト
パッケージ１１のメイン処理において、診断環境パラメ
ータテーブル２５から診断環境パラメータを取得する方
法、第２は診断テストパッケージ１１の指示の下で、診
断モニタ１２が診断環境パラメータを取得する方法、第
３は診断テストパッケージ１１の制御に関係なく、診断
モニタ１２が診断環境パラメータを取得する方法であ
る。なお、各テストルーチンのシーケンス内容はあらか
じめ決められた固定情報である。

【００３７】次に、診断テストパッケージ１１の各テス
トルーチンについて、図７を用いて説明する。まず、デ
ータアクセステストルーチン１１ａは、図８に示すよう
に、コンピュータ本体装置３１が有する主記憶装置３１
ａに対して、実アドレスまたは論理アドレスを指定して
診断を行うテストルーチンである。論理アドレスモード
でコンピュータシステム３０を実行させるとアドレス変
換機構が働き、実アドレスモードでの実行に対してハー
ドウェア環境を変化させることができる。このハードウ
ェア環境の変化によって、入出力装置３２の動作を微妙
に変化させることができ、入出力装置３２の協動によっ
て不規則に発生する間欠障害を効率よく検出することが
できる。パラメータ数は３個であり、パラメータ“０”
は実アドレスを指定して診断を行うためのパラメータで
ある。また、パラメータ“１”及びパラメータ“２”は
共に論理アドレスを指定して診断を行うためのパラメー
タであるが、パラメータ“１”では実アドレスと論理ア
ドレスとが等しい。これに対して、パラメータ“２”で
は実アドレスと論理アドレスとが異なる。

【００３８】クロックモードテストルーチンは、クロッ
ク信号の周波数を通常値で、或いは増減を行って診断す
るテストルーチンである。クロックを可変とすることに
より、ハードウェア環境を変化させることができる。こ
のハードウェア環境の変化によって、入出力装置３２の
動作を微妙に変化させることができ、入出力装置３２の
協動によって不規則に発生する間欠障害を効率よく検出
することができる。パラメータ数は６個であり、パラメ
ータ“０”は通常クロックでコンピュータシステム３０
を実行させるためのパラメータである。

【００３９】また、パラメータ“１”は通常クロックの
＋５％でコンピュータシステム３０を実行させるための
パラメータであり、パラメータ“２”は通常クロックの
＋１０％でコンピュータシステム３０を実行させるため
のパラメータである。さらに、パラメータ“３”は通常
クロックの−５％でコンピュータシステム３０を実行さ
せるためのパラメータであり、パラメータ“４”は通常
クロックの−１０％でコンピュータシステム３０を実行
させるためのパラメータである。さらにまた、パラメー
タ“５”はパラメータ“１”からパラメータ“４”まで
のクロック値をランダムに選択して、このクロック値で
コンピュータシステム３０を実行させるためのパラメー
タである。

【００４０】電圧モードテストルーチンは、コンピュー
タシステム３０に供給される電圧を通常値で、或いは増
減を行って診断するテストルーチンである。電圧を可変
とすることにより、ハードウェア環境を変化させること
ができる。このハードウェア環境の変化によって、入出
力装置３２の動作を微妙に変化させることができ、入出
力装置３２の協動によって不規則に発生する間欠障害を
効率よく検出することができる。パラメータ数は６個で
あり、パラメータ“０”は通常電圧でコンピュータシス
テム３０を実行させるためのパラメータである。また、
パラメータ“１”は通常電圧の＋５％でコンピュータシ
ステム３０を実行させるためのパラメータであり、パラ
メータ“２”は通常電圧の＋１０％でコンピュータシス
テム３０を実行させるためのパラメータである。

【００４１】さらに、パラメータ“３”は通常電圧の−
５％でコンピュータシステム３０を実行させるためのパ
ラメータであり、パラメータ“４”は通常電圧−１０％
でコンピュータシステム３０を実行させるためのパラメ
ータである。さらにまた、パラメータ“５”はパラメー
タ“１”からパラメータ“４”までの電圧値をランダム
に選択して、この電圧値でコンピュータシステム３０を
実行させるためのパラメータである。

【００４２】データ転送量テストルーチン１１ｂは、各
入出力装置３２で用いられる転送カウントを指定して診
断を行うテストルーチンである。転送カウントを可変と
することによって、ハードウェア環境を変化させること
ができる。このハードウェア環境の変化によって、入出
力装置３２の動作を微妙に変化させることができ、入出
力装置３２の協動によって不規則に発生する間欠障害を
効率よく検出することができる。パラメータ数は４個で
あり、パラメータ“０”は標準転送カウントを指定して
診断を行うためのパラメータである。また、パラメータ
“１”は最小転送カウントを指定して診断を行うための
パラメータであり、パラメータ“２”は最大転送カウン
トを指定して診断を行うためのパラメータである。さら
に、パラメータ“３”はランダム転送カウントを指定し
て診断を行うためのパラメータである。

【００４３】データパターンテストルーチン１１ｃは、
コンピュータ本体装置３１が有する主記憶装置３１ａに
記憶されたデータパターンの入出力装置３２への書き込
みテストおよび入出力装置３２に書き込まれたデータパ
ターンの主記憶装置３１ａへの読み出しテストを行うテ
ストルーチンである。データパターンを可変とすること
によって、ハードウェア環境を変化させることができ
る。パラメータ数は７個であり、パラメータ“０”はデ
ータパターン０（例えば、オール０のパターン)を指定
して診断を行うためのパラメータである。

【００４４】また、パラメータ“１”はデータパターン
1（例えば、オール１のパターン)を指定して診断を行う
ためのパラメータであり、パラメータ“２”はデータパ
ターン２（例えば、0,1交互のパターン)を指定して診断
を行うためのパラメータである。さらに、パラメータ
“３”はデータパターン３（例えば、1,0交互のパター
ン)を指定して診断を行うためのパラメータであり、パ
ラメータ“４”はデータパターン４（例えば、インクレ
メントパターン)を指定して診断を行うためのパラメー
タである。さらにまた、パラメータ“５”はデータパタ
ーン５（例えば、ランダムパターン)を指定して診断を
行うためのパラメータであり、パラメータ“６”はパラ
メータ“１”からパラメータ“５”までのデータパター
ンをランダムに選択して、このデータパターンで診断を
行うためのパラメータである。

【００４５】各データパターンの例を以下に挙げる。（１）オール０のパターン［アドレス］［データ］＋０００００００００００＋００４００００００００＋００８００００００００＋００Ｃ００００００００・・・・・・・・・・・・＋ＮＮＮ００００００００

【００４６】（２）オール１のパターン［アドレス］［データ］＋０００ＦＦＦＦＦＦＦＦ＋００４ＦＦＦＦＦＦＦＦ＋００８ＦＦＦＦＦＦＦＦ＋００ＣＦＦＦＦＦＦＦＦ・・・・・・・・・・・・＋ＮＮＮＦＦＦＦＦＦＦＦ

【００４７】（３）０，１交互パターン［アドレス］［データ］＋０００５５５５５５５５＋００４５５５５５５５５＋００８５５５５５５５５＋００Ｃ５５５５５５５５・・・・・・・・・・・・＋ＮＮＮ５５５５５５５５

【００４８】（４）１，０交互パターン［アドレス］［データ］＋０００ＡＡＡＡＡＡＡＡ＋００４ＡＡＡＡＡＡＡＡ＋００８ＡＡＡＡＡＡＡＡ＋００ＣＡＡＡＡＡＡＡＡ・・・・・・・・・・・・＋ＮＮＮＡＡＡＡＡＡＡＡ

【００４９】（５）インクリメントパターン１８ビットのビット幅を最大として、以下のデータパター
ンを使用する。［アドレス］［データ］＋００００００１０２０３＝＝＞00,01,02,03,…,FE,FF,00,01, … ＋００４０４０５０６０７＋００８０８０９０Ａ０Ｂ＋００Ｃ０Ｃ０Ｄ０Ｅ０Ｆ・・・・・・・・・・・・＋ＮＮＮＸＸＸＸＸＸＸＸ

【００５０】（６）インクリメントパターン２１６ビットのビット幅を最大として、以下のデータパタ
ーンを使用する。［アドレス］［データ］＋００００００００００１＝＝＞0000,0001,…,FFFF,0000,… ＋００４０００２０００３＋００８０００４０００５＋００Ｃ０００６０００７・・・・・・・・・・・・＋ＮＮＮＸＸＸＸＸＸＸＸ

【００５１】（７）ランダムパターン１初期データを９Ｃとして１ずつ増加させる。［アドレス］［データ］＋０００９Ｃ９Ｄ９Ｅ９Ｆ＋００４Ａ０Ａ１Ａ２Ａ３＋００８Ａ４Ａ５Ａ６Ａ７＋００ＣＡ８Ａ９ＡＡＡＢ・・・・・・・・・・・・＋ＮＮＮＸＸＸＸＸＸＸＸ

【００５２】（８）ランダムパターン２初期データを８１として１，２，３，…ずつ増加させ
る。［アドレス］［データ］＋０００８１８２８４８７＋００４８Ｂ９０・・・・＋００８・・・・・・・・＋００Ｃ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・＋ＮＮＮＸＸＸＸＸＸＸＸ

【００５３】（９）ランダムパターン３隣のデータとの差（１Ｂ）をいつも一定にする。［アドレス］［データ］＋０００２６４１５Ｃ７７＋００４９２ＡＤＢ８・・＋００８・・・・・・・・＋００Ｃ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・＋ＮＮＮＸＸＸＸＸＸＸＸ

【００５４】（１０）アドレスパターンメモリのアドレスそのものをデータパターンとする。［アドレス］［データ］１２３０５０００１２３０５０１２３０５４００１２３０５４１２３０５８００１２３０５８１２３０５Ｃ００１２３０５Ｃ・・・・・・・・・・・・＋ＮＮＮＸＸＸＸＸＸＸＸ

【００５５】（１１）ワーストパターンハードウェアに最も負荷のかかるワーストパターン（Ｅ
Ｂ６ＤＢ６ＤＢ）を使用。［アドレス］［データ］＋０００ＥＢ６ＤＢ６ＤＢ＋００４ＥＢ６ＤＢ６ＤＢ＋００８ＥＢ６ＤＢ６ＤＢ＋００ＣＥＢ６ＤＢ６ＤＢ・・・・・・・・・・・・＋ＮＮＮＥＢ６ＤＢ６ＤＢ

【００５６】次に、遅延テストルーチン１１ｄは、各入
出力装置３２を起動後、遅延時間の有無の指定及び有の
場合はその時間を指定して診断を行うテストルーチンで
ある。各入出力装置３２の起動後の遅延を可変として各
入出力装置３２の動作順序を入れ替えることにより、ハ
ードウェア環境を変化させることができる。このハード
ウェア環境の変化によって、入出力装置３２の動作を微
妙に変化させることができ、入出力装置３２の協動によ
って不規則に発生する間欠障害を効率よく検出すること
ができる。

【００５７】パラメータ数は１０個であり、パラメータ
“０，２，４，６，８”は遅延時間なしで診断を行うた
めのパラメータである。また、パラメータ“１”は遅延
時間を１００マイクロ秒に指定して診断を行うためのパ
ラメータであり、パラメータ“３”は遅延時間を１ｍ秒
に指定して診断を行うためのパラメータである。さら
に、パラメータ“５”は遅延時間を５ｍ秒に指定して診
断を行い、パラメータ“７”は遅延時間を１０ｍ秒に指
定して診断を行うためのパラメータである。さらにま
た、パラメータ“９”は遅延時間をランダム（100マイ
クロ秒〜10m秒の間）に指定して診断を行うためのパラ
メータである。

【００５８】待避モードテストルーチン１１ｅは、コン
ピュータ本体装置３１のＣＰＵ（図示せず）に対して、
待避モードの有無を設定して診断を行うテストルーチン
である。通常、各診断テストパッケージ１１は、図９
（ａ）に示す３つのモードを推移する。実行モードは、
診断テストパッケージ１１がＣＰＵを占有している状態
である。また待避モードは、診断テストパッケージ１１
が入出力装置３２に対して起動をかけた場合に、その入
出力装置３２の動作が終了するのを待っている状態であ
る。さらにレディモードは、診断テストパッケージ１１
がいつでも実行可能な状態である。

【００５９】従って、待避モードが有効な場合には、い
ずれかの診断テストパッケージ１１が入出力装置３２に
アクセス中であっても、この診断テストパッケージ１１
が待機状態となるので、入出力動作を伴わない他の診断
テストパッケージ１１がＣＰＵを使用することができる
（図９（ｂ）参照）。また、待避モードを無効にした場
合には、いずれかの診断テストパッケージ１１が入出力
装置３２にアクセスしている間はＣＰＵを占有すること
となり、他の診断テストパッケージ１１は動作できない
（図９（ｃ）参照）。

【００６０】このように、待避モードを可変とすること
により各診断テストパッケージ１１の動作順序が変わ
り、ハードウェア環境を変化させることができる。この
ハードウェア環境の変化によって、入出力装置３２の動
作を微妙に変化させることができ、入出力装置３２の協
動によって不規則に発生する間欠障害を効率よく検出す
ることができる。待避モードテストルーチン１１ｅのパ
ラメータ数は２個であり、パラメータ“０”は待避モー
ドなしで診断するためのパラメータである。また、パラ
メータ“１”は待避モードありで診断するためのパラメ
ータである。

【００６１】シーケンステストルーチン１１ｆは、各診
断テストパッケージ１１が備える複数のテストルーチン
の実行順序を変えて診断を行うテストルーチンである。
各テストルーチンの実行順序を可変にすることにより、
ハードウェア環境を変化させることができる。このハー
ドウェア環境の変化によって、入出力装置３２の動作を
微妙に変化させることができ、入出力装置３２の協動に
よって不規則に発生する間欠障害を効率よく検出するこ
とができる。

【００６２】パラメータ数は３個であり、パラメータ
“０”は最初のテストルーチンから順番にテストルーチ
ンを実行させて診断するためパラメータである。また、
パラメータ“１”は最後のテストルーチンから逆順にテ
ストルーチンを実行させて診断するためパラメータであ
る。さらに、パラメータ“２”は順番をランダムに変え
たテストルーチンを実行させて診断するためのパラメー
タである。

【００６３】実行組合せテストルーチンは、各診断テス
トパッケージの実行の有無を指定して診断するテストル
ーチンである。各診断テストパッケージの実行の組合せ
を可変とすることによって、ハードウェア環境を変化さ
せることができる。このハードウェア環境の変化によっ
て、入出力装置３２の動作を微妙に変化させることがで
き、入出力装置３２の協動によって不規則に発生する間
欠障害を効率よく検出することができる。パラメータ数
は３個であり、パラメータ“０，２”は全診断テストパ
ッケージを実行させるためのパラメータである。また、
パラメータ“１”は指定された診断テストパッケージを
実行させないためのパラメータである。

【００６４】専用動作モードテストルーチンは、各入出
力装置３２の特性に合わせた動作モードで診断するテス
トルーチンである。例えば、ハードディスク装置に対し
ては、ＷＲＩＴＥオンリー、ＲＥＡＤオンリー、ＷＲ／
ＲＤの別を指定したテストを行うことによって、ハード
ウェア環境を変化させることができる。このハードウェ
ア環境の変化によって、入出力装置３２の動作を微妙に
変化させることができ、入出力装置３２の協動によって
不規則に発生する間欠障害を効率よく検出することがで
きる。パラメータ数は４個であり、これらのパラメータ
は各診断テストパッケージ１１ごとに動作モードを変え
てある。

【００６５】図１０は、間欠障害診断システム１０によ
る診断処理の過程を示した図である。同図に示すよう
に、１回の診断パスが終了する毎にパスカウントが１つ
増加し、それと同時に各診断テストパッケージに与える
診断環境パラメータが変化している。診断環境パラメー
タの種類はいくつあっても良いが、試験時間がある程度
限られることもあり、最適な診断環境パラメータの設定
が必要である。

【００６６】図１１は、診断環境パラメータの具体的内
容を示した図である。本実施の形態では、アドレスモー
ドパラメータからシーケンスパラメータまで１０種類の
診断環境パラメータが用意されている。ここで、これら
の診断環境パラメータは、１０種類の全てを使用する必
要はないが、最低、転送カウントパラメータと転送デー
タパターンパラメータとの組合せを使用して診断するこ
とが好ましい。これらの組合せを用いて診断することに
よって、単体の診断環境パラメータでは再現の難しい間
欠障害を確実に検出することができる。

【００６７】図１１に示すように、診断モニタ１２は、
診断パスが経過する毎に診断環境パラメータを微妙に変
化させている。このため、各入出力装置３２を様々なタ
イミングで動作させて、全ての動作モードを網羅しなが
ら診断を行うことができる。その結果、間欠障害を漏れ
なく検出することができる。

【００６８】なお、本発明は上記実施の形態に限定され
ることなく、本発明の趣旨から逸脱しない範囲内におい
て各種の変形が可能である。

【００６９】

【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明の間
欠障害診断システムによれば、各種の環境パラメータを
診断テストパッケージに与えると共に、この環境パラメ
ータを診断テストパッケージの実行ごとに変えることに
よって、複数の入出力装置の動作タイミングを微妙に変
化させることができる。その結果、各入出力装置の実稼
動において発生しうる間欠障害を未然に検出し、製品品
質を向上させることができる。また、最適な環境パラメ
ータを各入出力装置に与えることにより、短時間に効率
良く障害を検出することをことができる。特に、データ
転送量とデータパターンとのパラメータの組合せを各入
出力装置に与えることにより、単体の環境パラメータを
用いた診断では再現の難しい間欠障害を確実に検出する
ことができる。

【００７０】さらに、間欠障害のネックとなる再現試験
も、障害検出時の環境パラメータをパラメータ保持部が
保持しているので容易に行うことができ、障害修復の早
期解決を図ることができる。また、インクリメントパタ
ーン、ランダムパターン、アドレスパターンといった様
々なデータパターンを環境パラメータとして診断テスト
パッケージを実行させることによって、短時間に効率良
く障害を検出することをことができる。

【００７１】さらにまた、診断モニタによって各種の環
境パラメータが診断テストパッケージに与えられてい
る。その結果、各診断テストパッケージにはパラメータ
処理制御機能が不要となり、各診断テストパッケージの
作りを単純にできる。その結果、プログラムの開発費用
を削減することができ、且つプログラムの開発工期を短
縮することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施形態である間欠障害診断システ
ムを示すのブロック図である。

【図２】診断環境パラメータテーブルと診断テストパッ
ケージとの関係を示すブロック図である。

【図３】診断環境パラメータテーブルの構造を示す図で
ある。

【図４】間欠障害診断システムの動作を示すフローチャ
ートである。

【図５】診断環境パラメータの設定処理を示すフローチ
ャートである。

【図６】診断環境パラメータテーブルを各診断テストパ
ッケージに供給する際のデータの流れを示す図である。

【図７】テストルーチンと診断環境パラメータとの関係
を示す図である。

【図８】データアクセステストルーチンにおけるデータ
アクセスを示す図である。

【図９】（ａ）は、各診断テストパッケージの状態遷移
を示す図である。（ｂ）は、待機モードがある場合のＣ
ＰＵの状態を示す図である。（ｃ）は、待機モードがな
い場合のＣＰＵの状態を示す図である。

【図１０】間欠障害診断システムによる診断処理の過程
を示した図である。

【図１１】各診断環境パラメータの具体的内容を示した
図である。

【図１２】従来の故障診断装置を示すブロック図であ
る。

【符号の説明】

１０…間欠障害診断システム、１１…診断テストパッケ
ージ、１１ａ…データアクセステストルーチン、１１ｂ
…データ転送量テストルーチン、１１ｃ…データパター
ンテストルーチン、１１ｄ…遅延テストルーチン、１１
ｅ…待避モードテストルーチン、１１ｆ…シーケンステ
ストルーチン、１２…診断モニタ、２５…診断環境パラ
メータテーブル、２６ａ…カレント値フィールド（パラ
メータ保持部）、３２…入出力装置。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) G06F 11/22 - 11/26

Claims

(57)【特許請求の範囲】

【請求項１】複数の入出力装置の協動によって不規則
に発生する間欠障害の検出を行う間欠障害診断システム
において、前記複数の入出力装置に各々対応して設けられた複数の
診断テストパッケージと、前記診断テストパッケージごとに設けられた複数の環境
パラメータが各々格納された診断環境パラメータテーブ
ルと、前記複数の環境パラメータを初期化して、初期化後の各
環境パラメータに基づいて前記複数の診断テストパッケ
ージを同時に実行させると共に、所定時間ごとに前記診
断環境パラメータテーブルに格納された前記複数の環境
パラメータを各々変更して、変更後の各環境パラメータ
に基づいて前記複数の診断テストパッケージの実行を繰
り返し、前記複数の入出力装置の動作タイミングを変化
させる診断モニタとを備え、前記診断モニタは、障害が発生した場合に、前記診断環
境パラメータテーブルに格納された各環境パラメータに
基づいて前記複数の診断テストパッケージを実行させる
ことにより、障害発生時の環境を再現させることを特徴
とする間欠障害診断システム。
【請求項２】前記診断テストパッケージは、データ転
送量を環境パラメータとして、このデータ量を転送でき
るか否かを判定するデータ転送量テストルーチンと、デ
ータパターンを環境パラメータとして、このパターンの
データを転送できるか否かを判定するデータパターンテ
ストルーチンとを備えることを特徴とする請求項１記載
の間欠障害診断システム。
【請求項３】前記データパターンは、データが増加す
るインクリメントパターンであることを特徴とする請求
項２記載の間欠障害診断システム。
【請求項４】前記データパターンは、隣接する２つの
データの差を一定にしたランダムパターンであることを
特徴とする請求項２記載の間欠障害診断システム。
【請求項５】前記データパターンは、メモリアドレス
そのものをデータとしたアドレスパターンであることを
特徴とする請求項２記載の間欠障害診断システム。
【請求項６】前記診断テストパッケージは、遅延時間
を環境パラメータとして、前記入出力装置をこの遅延時
間だけ停止させた後に正常に動作できるか否かを判定す
る遅延テストルーチンを備えることを特徴とする請求項
２から請求項５のいずれか一項に記載の間欠障害診断シ
ステム。
【請求項７】前記診断テストパッケージは、前記入出
力装置にアクセスするためのアドレスモードを環境パラ
メータとして、物理アドレスと論理アドレスとのいずれ
かを用いてデータアクセスを行うことにより、前記入出
力装置の動作タイミングを変化させて、データアクセス
が正しく行えるか否かを判定するデータアクセステスト
ルーチンを備えることを特徴とする請求項２から請求項
６のいずれか一項に記載の間欠障害診断システム。
【請求項８】前記診断テストパッケージは、前記入出
力装置を起動させた際に中央処理装置を開放させるため
のモードである待避モードの有無を環境パラメータとし
て、この待避モードの有無の環境下で前記入出力装置を
動作させることにより、前記入出力装置の動作タイミン
グを変化させて、前記入出力装置が正しく動作できるか
否かを判定する待避モードテストルーチンを備えること
を特徴とする請求項２から請求項７のいずれか一項に記
載の間欠障害診断システム。
【請求項９】前記診断テストパッケージは、各テスト
ルーチンの実行シーケンスを環境パラメータとして、各
テストルーチンの実行順序を変えることにより、前記入
出力装置の動作タイミングを変化させて、前記入出力装
置が正しく動作できるか否かを判定するシーケンステス
トルーチンを備えることを特徴とする請求項２から請求
項８のいずれか一項に記載の間欠障害診断システム。