JPS60120334A - カメラの測光装置 - Google Patents
カメラの測光装置Info
- Publication number
- JPS60120334A JPS60120334A JP58228664A JP22866483A JPS60120334A JP S60120334 A JPS60120334 A JP S60120334A JP 58228664 A JP58228664 A JP 58228664A JP 22866483 A JP22866483 A JP 22866483A JP S60120334 A JPS60120334 A JP S60120334A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- photoelectric conversion
- conversion element
- photometry
- photoelectric converting
- lens
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03B—APPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
- G03B7/00—Control of exposure by setting shutters, diaphragms or filters, separately or conjointly
- G03B7/08—Control effected solely on the basis of the response, to the intensity of the light received by the camera, of a built-in light-sensitive device
- G03B7/099—Arrangement of photoelectric elements in or on the camera
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Exposure Control For Cameras (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、−眼レフレックスカメラの測光装置に関する
ものである。
ものである。
従来、−眼レフレックスカメラの測光装置は、例えばコ
ンデンサレンズに形成した例えばマイクロビームスプリ
ッタなどの光分割部材によって測光素子へ光束を導くも
の、或いはペンタプリズムの光束出射面に設けたフレネ
ルレンズを介して集光するものなどが提案されているが
、ファインダ視野での光量分布の阻害、又は測光方式を
変更する場合には光分割部材の交換を要するなどの欠点
を有していた。
ンデンサレンズに形成した例えばマイクロビームスプリ
ッタなどの光分割部材によって測光素子へ光束を導くも
の、或いはペンタプリズムの光束出射面に設けたフレネ
ルレンズを介して集光するものなどが提案されているが
、ファインダ視野での光量分布の阻害、又は測光方式を
変更する場合には光分割部材の交換を要するなどの欠点
を有していた。
第１図、第２図は従来の測光装置の一例であり、第１図
は一眼レフレックスカメラの光学系の断面図である。こ
こで、撮影レンズｌを透過した被写体光は、レフレック
スミラー２により上方に反射され、ピント板３、光分割
部材４、測光素子５、コンデンサレンズ６、ペンタプリ
ズム７を経て接眼レンズ８に至る。この方式では、接眼
レンズ８を介して被写体を見たとき、光分割部材４を通
過する光束の一部分が遮光され、ファインダ中央部に陰
影が生ずる弊害がある。また、測光素子５に取り込む光
線の領域は光分割部材４の形状によって決定されるもの
であり、画面中央部を重点とする中央重点測光、画面全
体の平均像とし捉える平均測光等があって、それぞれの
測定領域は固定されている。従って、測光領域を変えた
い場合には光分割部材４の形成されたコンデンサレンズ
６を取り換える必要がある。
は一眼レフレックスカメラの光学系の断面図である。こ
こで、撮影レンズｌを透過した被写体光は、レフレック
スミラー２により上方に反射され、ピント板３、光分割
部材４、測光素子５、コンデンサレンズ６、ペンタプリ
ズム７を経て接眼レンズ８に至る。この方式では、接眼
レンズ８を介して被写体を見たとき、光分割部材４を通
過する光束の一部分が遮光され、ファインダ中央部に陰
影が生ずる弊害がある。また、測光素子５に取り込む光
線の領域は光分割部材４の形状によって決定されるもの
であり、画面中央部を重点とする中央重点測光、画面全
体の平均像とし捉える平均測光等があって、それぞれの
測定領域は固定されている。従って、測光領域を変えた
い場合には光分割部材４の形成されたコンデンサレンズ
６を取り換える必要がある。
第２図の従来例においては、図示しない撮影レンズを透
過した被写体光は、レフレックスミラー２で反射されフ
ォーカシングスクリーン９を経てペンタプリズム７で屈
折し接眼レンズ８に至っている。一方、ペンタプリズム
７の出射面に設置されたフレネルレンズ１０により、そ
の出射位置に対応して設けられた測光素子５に集光する
方式である。この場合は第１図と異なってファインダ中
央部に陰影が生ずることはないが、前述の多様な測光方
式に対応し得るものではなく、測光方式の切換えを行う
ことは容易ではない。
過した被写体光は、レフレックスミラー２で反射されフ
ォーカシングスクリーン９を経てペンタプリズム７で屈
折し接眼レンズ８に至っている。一方、ペンタプリズム
７の出射面に設置されたフレネルレンズ１０により、そ
の出射位置に対応して設けられた測光素子５に集光する
方式である。この場合は第１図と異なってファインダ中
央部に陰影が生ずることはないが、前述の多様な測光方
式に対応し得るものではなく、測光方式の切換えを行う
ことは容易ではない。
本発明の目的は、ファインダ視野に影響を与えることの
ない光電変換素子を使用し、被写体全体の情報を適確に
測光し得るカメラの測光装置を提供することにあり、そ
の要旨は、−眼レフレックスカメラの測光装置において
、微細な幅で形成した光電変換素子をファインダ光路中
の焦点面から僅かに偏位させて配置したことを特徴とす
るものである。
ない光電変換素子を使用し、被写体全体の情報を適確に
測光し得るカメラの測光装置を提供することにあり、そ
の要旨は、−眼レフレックスカメラの測光装置において
、微細な幅で形成した光電変換素子をファインダ光路中
の焦点面から僅かに偏位させて配置したことを特徴とす
るものである。
次に、本発明を第３図以下に図示の実施例に基づいて詳
細に説明する。
細に説明する。
第３図は光学系の断面図であり、第４図は光電変換素子
群の配置例の平面図、第５図は光電変換素子体の斜視図
である。第３図において、図示しない撮影レンズを透過
した被写体光は、レフレックスミラー２１で反射され、
焦点面より僅かにずれた位置に設けられた光電変換素子
群２２と、これに接して配置されたコンデンサレンズ２
３を経てペンタプリズム２４を介して接眼レンズ２５に
入射するようになっている。光電変換素子群２２は第４
図に示すように櫛歯形の光電変換素子体２６の配列によ
り構成されている。そしてこの光電変換素子体２６の構
造は、第５図に示すようにガラス板２７上に下部電極２
８が配置され、その上に光電変換素子２９及び上部電極
３０がそれぞれ同形の櫛歯状に積層配置されており、櫛
歯部及び背部に相当する構成材の幅ｄは数ｇｍ以下の微
細線に形成されている。電極２８．３０の端部にはリー
ド線３１．３２が接続されており、下部電極２８、光電
変換素子２９、上部電極３０及びリード線３１．３２は
一体化されている。光電変換素子２９は櫛歯の組合わせ
により、幾つかのブロックに分割され多様の測光方式に
対応可能に配置されており、それぞれの電極２８．３０
の端部に接続されたリード線３１．３２を結ぶ回路によ
り、単独に或いは合成の切換えが可能となっている。
群の配置例の平面図、第５図は光電変換素子体の斜視図
である。第３図において、図示しない撮影レンズを透過
した被写体光は、レフレックスミラー２１で反射され、
焦点面より僅かにずれた位置に設けられた光電変換素子
群２２と、これに接して配置されたコンデンサレンズ２
３を経てペンタプリズム２４を介して接眼レンズ２５に
入射するようになっている。光電変換素子群２２は第４
図に示すように櫛歯形の光電変換素子体２６の配列によ
り構成されている。そしてこの光電変換素子体２６の構
造は、第５図に示すようにガラス板２７上に下部電極２
８が配置され、その上に光電変換素子２９及び上部電極
３０がそれぞれ同形の櫛歯状に積層配置されており、櫛
歯部及び背部に相当する構成材の幅ｄは数ｇｍ以下の微
細線に形成されている。電極２８．３０の端部にはリー
ド線３１．３２が接続されており、下部電極２８、光電
変換素子２９、上部電極３０及びリード線３１．３２は
一体化されている。光電変換素子２９は櫛歯の組合わせ
により、幾つかのブロックに分割され多様の測光方式に
対応可能に配置されており、それぞれの電極２８．３０
の端部に接続されたリード線３１．３２を結ぶ回路によ
り、単独に或いは合成の切換えが可能となっている。
光電変換素子２９にＣｄＳ又はアモルファスＳｉを単に
使用すると、これらは可視光に対する透過率が少ないた
め、ファインダの視界が妨げられることになる。しかし
、本発明に係る光電変換素子群２６の歯部の幅ｄは数ｐ
ｍ以下であるため、肉眼では識別することが不可能であ
り、ファインダの視界に影響を与えることはない。更に
、ＣｄＳ又はアモルファスＳｉは例えば電極２８．３０
などの母材に蒸着が可能であり、容易に光電変換素子体
２６を形成でき、それぞれの櫛歯状の領域のパターンが
自由に構成可能なので、中央重点測光、平均測光等の測
定方式の選釈が組合わせにより容易に実現できる。なお
、光電変換素子２９はＣｄＳ又はアモルファスＳｉに代
って他の材質を用いてもよい。
使用すると、これらは可視光に対する透過率が少ないた
め、ファインダの視界が妨げられることになる。しかし
、本発明に係る光電変換素子群２６の歯部の幅ｄは数ｐ
ｍ以下であるため、肉眼では識別することが不可能であ
り、ファインダの視界に影響を与えることはない。更に
、ＣｄＳ又はアモルファスＳｉは例えば電極２８．３０
などの母材に蒸着が可能であり、容易に光電変換素子体
２６を形成でき、それぞれの櫛歯状の領域のパターンが
自由に構成可能なので、中央重点測光、平均測光等の測
定方式の選釈が組合わせにより容易に実現できる。なお
、光電変換素子２９はＣｄＳ又はアモルファスＳｉに代
って他の材質を用いてもよい。
第３図に示す光学系において、光電変換素子群２２は焦
点面より僅かにずれた位置、例えばピント板の上方に配
置されており、空間周波数が高周波の被写体の影響を減
少することが可能となる。
点面より僅かにずれた位置、例えばピント板の上方に配
置されており、空間周波数が高周波の被写体の影響を減
少することが可能となる。
光電変換素体２２が焦点面に配置されると、高周波の被
写体に対して測光精度が低下するが、焦点面より僅かに
ずらすことによって被写体をぼけさせ、即ち周波数を低
くして測光することになる。
写体に対して測光精度が低下するが、焦点面より僅かに
ずらすことによって被写体をぼけさせ、即ち周波数を低
くして測光することになる。
また、ずらし量を大きくすれば被写体全体の情報を測光
し得ることになる。
し得ることになる。
第６図〜第８図は他の実施例を示すものであり、第６図
は光電変換素子２９を同心円状に配設した光電変換素子
群２２である。第７図の光学系は光束の入射側から順に
レフレックスミラー２１からフォーカシングスクリーン
３３、コンデンサレンズ２３、光電変換素子群２２、ペ
ンタプリズム２４、接眼レンズ２５の配設となっており
、ぺンタプリズム２４の入射面に設けられた光電変換素
子群２２とフォーカシングスクリーン３３上の焦点面と
のずれ量は比較的大きくなっている。第８図の光学系で
はレフレックスミラー２１、光電変換素子群２２、フォ
ーカシングスクリーン３３、コンデンサレンズ２３、ペ
ンタプリズム２４、接眼レンズ２５の順に配置されてお
り、フォーカシングスクリーン３３の前段に設けられた
光電変換素子群２２と焦点面とのずれ量は、第８図に比
較して小さなずれ量の設定となっている。
は光電変換素子２９を同心円状に配設した光電変換素子
群２２である。第７図の光学系は光束の入射側から順に
レフレックスミラー２１からフォーカシングスクリーン
３３、コンデンサレンズ２３、光電変換素子群２２、ペ
ンタプリズム２４、接眼レンズ２５の配設となっており
、ぺンタプリズム２４の入射面に設けられた光電変換素
子群２２とフォーカシングスクリーン３３上の焦点面と
のずれ量は比較的大きくなっている。第８図の光学系で
はレフレックスミラー２１、光電変換素子群２２、フォ
ーカシングスクリーン３３、コンデンサレンズ２３、ペ
ンタプリズム２４、接眼レンズ２５の順に配置されてお
り、フォーカシングスクリーン３３の前段に設けられた
光電変換素子群２２と焦点面とのずれ量は、第８図に比
較して小さなずれ量の設定となっている。
以上説明したように本発明に係るカメラの測光装置は次
のような効果が得られる。
のような効果が得られる。
（１）微細幅の光電変換素子で構成された光電変換素子
群を用いることにより、ファインダの視界に影響を生じ
ない。
群を用いることにより、ファインダの視界に影響を生じ
ない。
（２）光電変換素子群を焦点面より若干ずらして配置す
ることにより、被写体の周波数差による影響を及ぼさな
い測光が可能となる。
ることにより、被写体の周波数差による影響を及ぼさな
い測光が可能となる。
（３）光電変換素子体を複数個のブロックに分割し、そ
の組合わせにより多用の測光方式がスイッチの切換えに
より容易に選択可能である。
の組合わせにより多用の測光方式がスイッチの切換えに
より容易に選択可能である。
（４）光電変換素子体が蒸着により形成されるため、安
価に製作し得る。
価に製作し得る。
（５）焦点面近傍での測光のため、測光のＦナンバの比
例性がよく開放ナンバの補正も不要となる。
例性がよく開放ナンバの補正も不要となる。
（６）カメラの測光光学系が簡単となり、レンズ構造の
簡易化を図ることができる。
簡易化を図ることができる。
第１図及び第２図は従来のカメラ光学系の断面図、第３
図以下は本発明に係るカメラの測光装置の実施例であり
、第３図はカメラ光学系の断面図、第４図は光電変換素
子群の平面図、第５図は光電変換素子体の斜視図、第６
図は他の実施例の光電変換素子群の平面図、第７図、第
８図は他の実施例のカメラ光学系の断面図である。 符号２１はレフレックスミラー、２２は光電変換素子群
、２３はコンデンサレンズ、２４はペンタプリズム、２
５は接眼レンズ、２６は光電変換素子体、２８は下部電
極、２９は光電変換素子、３０は上部電極、３１．３２
はリード線、３３はフォーカシングスクリーンである。 特許出願人 キャノン株式会社 第１図 第２図 第３図 第５図 ノく＾区 特開昭ＧＯ−１２０３３４（４） 第６図 ９ ８３１ ０
図以下は本発明に係るカメラの測光装置の実施例であり
、第３図はカメラ光学系の断面図、第４図は光電変換素
子群の平面図、第５図は光電変換素子体の斜視図、第６
図は他の実施例の光電変換素子群の平面図、第７図、第
８図は他の実施例のカメラ光学系の断面図である。 符号２１はレフレックスミラー、２２は光電変換素子群
、２３はコンデンサレンズ、２４はペンタプリズム、２
５は接眼レンズ、２６は光電変換素子体、２８は下部電
極、２９は光電変換素子、３０は上部電極、３１．３２
はリード線、３３はフォーカシングスクリーンである。 特許出願人 キャノン株式会社 第１図 第２図 第３図 第５図 ノく＾区 特開昭ＧＯ−１２０３３４（４） 第６図 ９ ８３１ ０
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、−眼レフレックスカメラの測光装置において、微細
な幅で形成した光電変換素子をファインダ、光路中の焦
点面から僅かに偏位させて配置したことを特徴とするカ
メラの測光装置。 ２、前記光電変換素子を複数個のブロックに分割した特
許請求の範囲第１項に記載のカメラの測光装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58228664A JPS60120334A (ja) | 1983-12-03 | 1983-12-03 | カメラの測光装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58228664A JPS60120334A (ja) | 1983-12-03 | 1983-12-03 | カメラの測光装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60120334A true JPS60120334A (ja) | 1985-06-27 |
Family
ID=16879875
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58228664A Pending JPS60120334A (ja) | 1983-12-03 | 1983-12-03 | カメラの測光装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60120334A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4779116A (en) * | 1985-01-21 | 1988-10-18 | Philippe Vogt | Exposure-measuring element and device |
| US7761003B2 (en) | 2007-05-24 | 2010-07-20 | Nikon Corporation | Optical apparatus and manufacturing method of optical apparatus |
-
1983
- 1983-12-03 JP JP58228664A patent/JPS60120334A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4779116A (en) * | 1985-01-21 | 1988-10-18 | Philippe Vogt | Exposure-measuring element and device |
| US7761003B2 (en) | 2007-05-24 | 2010-07-20 | Nikon Corporation | Optical apparatus and manufacturing method of optical apparatus |
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