JPS6011172A - 測定出力のピ−ク検出回路 - Google Patents
測定出力のピ−ク検出回路Info
- Publication number
- JPS6011172A JPS6011172A JP11990883A JP11990883A JPS6011172A JP S6011172 A JPS6011172 A JP S6011172A JP 11990883 A JP11990883 A JP 11990883A JP 11990883 A JP11990883 A JP 11990883A JP S6011172 A JPS6011172 A JP S6011172A
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- Japan
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- deltax1
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- differentials
- differential
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- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（イ）産業上の利用分野
本発明は分光的測定において得られるスペクトルとかク
ロマトグラフィにおけるクロマトグラム等でピーク位置
を検出する回路に関する。
ロマトグラフィにおけるクロマトグラム等でピーク位置
を検出する回路に関する。
（ロ）従来技術
通常、スペクトルとかクロマトグラムでピーク位置を検
出する装置の動作原理はスペクトル等の一次微分のゼロ
クロス点を検出するものである。
出する装置の動作原理はスペクトル等の一次微分のゼロ
クロス点を検出するものである。
しかしこの方法では第１図に１で示すように太きなピー
クの斜面上に小さなピークが乗っているような場合とか
、ベースラインの傾斜が大きい場合、その−次微分は第
１図に２で示すようなカーブとなシ、ピーク（ロ）儒）
のような比較的大きなピークに対してはゼロクロス点が
存在するが、（イ）（ニ）のような小さなピークの場合
ゼロクロス点は現われず、この方法では斜面上に乗って
いる小さなピークは検出できないことがある。
クの斜面上に小さなピークが乗っているような場合とか
、ベースラインの傾斜が大きい場合、その−次微分は第
１図に２で示すようなカーブとなシ、ピーク（ロ）儒）
のような比較的大きなピークに対してはゼロクロス点が
存在するが、（イ）（ニ）のような小さなピークの場合
ゼロクロス点は現われず、この方法では斜面上に乗って
いる小さなピークは検出できないことがある。
（ハ） 目 的
本発明は第１図に（イ）（ニ）で示しだような斜面上の
きわめて小さなピークで本検出できるようなピーク検出
回路を提供しようとするものである。
きわめて小さなピークで本検出できるようなピーク検出
回路を提供しようとするものである。
（ニ）構 成
微分演算は従属変数の微分ａｙを独立変数の微分ｄｘで
割算するものであるが、測定データの微分を装置的にめ
る場合の一般的方法はａＸとして独立変数でΔＸだけ距
った２点をとり、それに対する測定出力の差Δｙをｙの
微分としてΔｙ／ΔＸを算出するものである。本発明は
微分演算を行うだめの独立変数上の２点の間隔として犬
、小２種を用意し、小なる方の間隔Δｘ１を検出しよう
とするピークの幅よシ充分小さな値とし、他方の犬なる
方のΔＸ２を例えは検出しようとするピークの幅と同程
度とかそれ以上に設定し、これらの独立変数の微分を用
いて算出された測定データの一次微分関数の差において
、ゼロクロス点を検出するものである。
割算するものであるが、測定データの微分を装置的にめ
る場合の一般的方法はａＸとして独立変数でΔＸだけ距
った２点をとり、それに対する測定出力の差Δｙをｙの
微分としてΔｙ／ΔＸを算出するものである。本発明は
微分演算を行うだめの独立変数上の２点の間隔として犬
、小２種を用意し、小なる方の間隔Δｘ１を検出しよう
とするピークの幅よシ充分小さな値とし、他方の犬なる
方のΔＸ２を例えは検出しようとするピークの幅と同程
度とかそれ以上に設定し、これらの独立変数の微分を用
いて算出された測定データの一次微分関数の差において
、ゼロクロス点を検出するものである。
金弟２図に示す関数の一次微分をΔｘｌ、ΔＸ２を用い
てめることを考える。Δｘ１を用いた値である。これに
対してΔＸ２を用いてめた一次微分の最大値は図に示す
接線すの勾配であり、ａの勾配に比し小さい。これに対
して第３図のような傾斜線に対してはΔｘｌ、ΔＸ２何
れを用いた一次微分も同じ値になる。そこで第４図に示
すように傾斜したベースラインＢ上に低いピークＡが乗
っている場合を考えると、ベースラインに対する微分ば
Δｘｌ、Δｘ２何れによってめた値も等しいから引算に
よシ消去される。他方ピーク成分に対する微分値はΔＸ
１によるものが犬でΔＸ２によ請求めたものば０に近く
なり、両方の微分の差はベースラインを除いたピーク成
分Ａのみに対してΔＸ１を用いてめた一次微分にきわめ
て近く、ゼロクロス点を検出することが可能となる。第
１図のカーブ１における（イ）とか（ニ）のピークはこ
の第４図の場合に相当するのである。
てめることを考える。Δｘ１を用いた値である。これに
対してΔＸ２を用いてめた一次微分の最大値は図に示す
接線すの勾配であり、ａの勾配に比し小さい。これに対
して第３図のような傾斜線に対してはΔｘｌ、ΔＸ２何
れを用いた一次微分も同じ値になる。そこで第４図に示
すように傾斜したベースラインＢ上に低いピークＡが乗
っている場合を考えると、ベースラインに対する微分ば
Δｘｌ、Δｘ２何れによってめた値も等しいから引算に
よシ消去される。他方ピーク成分に対する微分値はΔＸ
１によるものが犬でΔＸ２によ請求めたものば０に近く
なり、両方の微分の差はベースラインを除いたピーク成
分Ａのみに対してΔＸ１を用いてめた一次微分にきわめ
て近く、ゼロクロス点を検出することが可能となる。第
１図のカーブ１における（イ）とか（ニ）のピークはこ
の第４図の場合に相当するのである。
（ホ）実施例
測定出力にはノイズが含まれていることが多いから微分
演算を行う場合、ノイズを平均化する必要がある。ノイ
ズ平均化の方法は色々あるが、その一つに何重平均法が
ある。第５図でｘｌ、ｘ２・・・ｘｎ・・・は測定値の
サンプリング点であり、縦軸は測定値に与える側車を示
す。今Ｘｎ点における測定値の平均値をめるとする。ｘ
ｎ点を中心に前後２に＋１個のサンプリング点のデータ
に図に縦棒で示した比率の側車を掛けて平均をめ、それ
をｘｎの測定値とするのが何重平均法である。
演算を行う場合、ノイズを平均化する必要がある。ノイ
ズ平均化の方法は色々あるが、その一つに何重平均法が
ある。第５図でｘｌ、ｘ２・・・ｘｎ・・・は測定値の
サンプリング点であり、縦軸は測定値に与える側車を示
す。今Ｘｎ点における測定値の平均値をめるとする。ｘ
ｎ点を中心に前後２に＋１個のサンプリング点のデータ
に図に縦棒で示した比率の側車を掛けて平均をめ、それ
をｘｎの測定値とするのが何重平均法である。
この方法をＸ ｎ、Ｘ ｎ ＋１． Ｘ ｎ ＋２．・
・・の各点について行ってゆく。この考え方を微分演算
に拡張したものがザビツキー及びゴーレイ（Ｓａｖｉ−
ｔｚｋｙ、Ｇｏｌａｙ ）によって提案されている０第
６図も第５図と同様横軸にサンプリング点を示し、縦軸
に測定値に掛ける側車を示す。ｘｎ点の一次微分をめる
場合、ｘｎ点を中心に前後同数のサンプリング点を採っ
て図のように正負点対称的な側車を設定して、測定値に
掛算したものを加え合せ、（サンプリング間隔）×（サ
ンプリング点数−１）で割算する。この場合、前項で述
べだΔＸに相当するものは図にΔＸで示しだ幅である。
・・の各点について行ってゆく。この考え方を微分演算
に拡張したものがザビツキー及びゴーレイ（Ｓａｖｉ−
ｔｚｋｙ、Ｇｏｌａｙ ）によって提案されている０第
６図も第５図と同様横軸にサンプリング点を示し、縦軸
に測定値に掛ける側車を示す。ｘｎ点の一次微分をめる
場合、ｘｎ点を中心に前後同数のサンプリング点を採っ
て図のように正負点対称的な側車を設定して、測定値に
掛算したものを加え合せ、（サンプリング間隔）×（サ
ンプリング点数−１）で割算する。この場合、前項で述
べだΔＸに相当するものは図にΔＸで示しだ幅である。
こ＼に述べる実施例はこのザビツキー、ゴーレイの方法
を利用している。第７図に実施例の構成を示す。ＭＡは
測定装置、ＳＨはサンプルホールド回路で測定装置出力
サンプリングし、ＡＤばＡ／Ｄ変換器で、サンプルホー
ルド回路ＳＨによってホールドされている測定値をディ
ジタルデータに変換する。Ｍはメモリで上記ディジタル
データを記憶せしめられる。ＣＰＵは装置全体を制御し
、上述した微分演算、引算等の演算を行う演算制御回路
、Ｄは記録計、プリンタ等の表示装置である。
を利用している。第７図に実施例の構成を示す。ＭＡは
測定装置、ＳＨはサンプルホールド回路で測定装置出力
サンプリングし、ＡＤばＡ／Ｄ変換器で、サンプルホー
ルド回路ＳＨによってホールドされている測定値をディ
ジタルデータに変換する。Ｍはメモリで上記ディジタル
データを記憶せしめられる。ＣＰＵは装置全体を制御し
、上述した微分演算、引算等の演算を行う演算制御回路
、Ｄは記録計、プリンタ等の表示装置である。
演算制御回路ＣＰＵは測定装置を、駆動し、サンプルホ
ールド回路ＳＨ，Ａ／Ｄ変換器ＡＤをイ′「動させて、
測定出力を一定間隔でサンプ１）ングしメモリＭに記憶
させる。同時にメモリＭに記憶させた測定データを読出
して上述した微分演算を犬／」・２種のΔＸを用いて行
い、同一測定点に対応する二つの微分値の差を算出する
演算を実行し、その結果をメモＩＪ Ｍに格納して行く
。成る点の微分をめるのに、その前後幾つかのサンプリ
ンク点のデータが必要なので、上述した演算は測定動作
の進行より若干後れて進行する。ＣＰＵは上述演算の進
行に従い、引算結果からゼロクロス点を検索し、その点
に対応する波長値とか時間でデータを表示装置に出力し
、表示装置によって測定出力及び各ピークに関するデー
タを表示する。
ールド回路ＳＨ，Ａ／Ｄ変換器ＡＤをイ′「動させて、
測定出力を一定間隔でサンプ１）ングしメモリＭに記憶
させる。同時にメモリＭに記憶させた測定データを読出
して上述した微分演算を犬／」・２種のΔＸを用いて行
い、同一測定点に対応する二つの微分値の差を算出する
演算を実行し、その結果をメモＩＪ Ｍに格納して行く
。成る点の微分をめるのに、その前後幾つかのサンプリ
ンク点のデータが必要なので、上述した演算は測定動作
の進行より若干後れて進行する。ＣＰＵは上述演算の進
行に従い、引算結果からゼロクロス点を検索し、その点
に対応する波長値とか時間でデータを表示装置に出力し
、表示装置によって測定出力及び各ピークに関するデー
タを表示する。
本発明において微分演算方式は任意である。また上の実
施例では測定と演算とは略同時進行の実時間方式を採っ
ているが、測定データを一旦全部メモリに入れ、後で読
出して上述演算を行うようにしてもよい。
施例では測定と演算とは略同時進行の実時間方式を採っ
ているが、測定データを一旦全部メモリに入れ、後で読
出して上述演算を行うようにしてもよい。
（へ）効 果
本発明によるときは、傾斜したベースラインとか大きな
ピークの斜面に乗っている小さなピークを鋭敏に検出す
ることが可能となる。
ピークの斜面に乗っている小さなピークを鋭敏に検出す
ることが可能となる。
第１図は本発明の詳細な説明するグラフ、第２図は微分
感度の違いを説明するグラフ、第３図は一定傾斜に対し
ては微分感度に関係なく同じ微分値が得られることを説
明するグラフ、第４図は斜し 面上のピークを示すグラフ、第４図は何重平均法におけ
る側型のかけ方を示すグラフ、第６図は微分演算のだめ
の側型を示すグラフ、第７図は本発明の一実施例装置の
ブロック図である。 ＭＡ・・・測定装置、ＳＨ・・・サンプルホールド回路
、Ｍ・・・メモリ、Ｄ・・・表示装置。 代理人 弁理士 紡 浩 介 □ 介４図 穴右既 穴７０
感度の違いを説明するグラフ、第３図は一定傾斜に対し
ては微分感度に関係なく同じ微分値が得られることを説
明するグラフ、第４図は斜し 面上のピークを示すグラフ、第４図は何重平均法におけ
る側型のかけ方を示すグラフ、第６図は微分演算のだめ
の側型を示すグラフ、第７図は本発明の一実施例装置の
ブロック図である。 ＭＡ・・・測定装置、ＳＨ・・・サンプルホールド回路
、Ｍ・・・メモリ、Ｄ・・・表示装置。 代理人 弁理士 紡 浩 介 □ 介４図 穴右既 穴７０
Claims (1)
- 測定回路出力をサンプリングして二種類の微分演算を行
い、この二種の微分演算の差をめ、その差におけるゼロ
クロス点の検出を行う演算制御回路よりなり、上記二種
類の微分演算は微分演算に用いる独立変数の微分の値が
大小異るものであることを特徴とする測定出力のピーク
検出回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11990883A JPS6011172A (ja) | 1983-06-30 | 1983-06-30 | 測定出力のピ−ク検出回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11990883A JPS6011172A (ja) | 1983-06-30 | 1983-06-30 | 測定出力のピ−ク検出回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6011172A true JPS6011172A (ja) | 1985-01-21 |
| JPH0475467B2 JPH0475467B2 (ja) | 1992-11-30 |
Family
ID=14773174
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11990883A Granted JPS6011172A (ja) | 1983-06-30 | 1983-06-30 | 測定出力のピ−ク検出回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6011172A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62231165A (ja) * | 1986-03-31 | 1987-10-09 | Shimadzu Corp | 測定出力のピ−ク頂点位置検出装置 |
| JPH06160188A (ja) * | 1992-11-21 | 1994-06-07 | Horiba Ltd | 分光スペクトルのピーク位置を求める方法 |
| US5745369A (en) * | 1995-05-30 | 1998-04-28 | Horiba Ltd. | Method and apparatus for determining a peak position of a spectrum |
| CN101849184A (zh) * | 2007-12-05 | 2010-09-29 | 全技术联合公司 | 用于分析样本和收集样本流份的方法和装置 |
-
1983
- 1983-06-30 JP JP11990883A patent/JPS6011172A/ja active Granted
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62231165A (ja) * | 1986-03-31 | 1987-10-09 | Shimadzu Corp | 測定出力のピ−ク頂点位置検出装置 |
| JPH06160188A (ja) * | 1992-11-21 | 1994-06-07 | Horiba Ltd | 分光スペクトルのピーク位置を求める方法 |
| US5745369A (en) * | 1995-05-30 | 1998-04-28 | Horiba Ltd. | Method and apparatus for determining a peak position of a spectrum |
| CN101849184A (zh) * | 2007-12-05 | 2010-09-29 | 全技术联合公司 | 用于分析样本和收集样本流份的方法和装置 |
| JP2010540965A (ja) * | 2007-12-05 | 2010-12-24 | オールテック・アソシエイツ・インコーポレーテッド | サンプルの画分を収集しサンプルを分析するための方法および装置 |
| JP2013011616A (ja) * | 2007-12-05 | 2013-01-17 | Alltech Associates Inc | サンプルの画分を収集しサンプルを分析するための方法および装置 |
| JP2013011615A (ja) * | 2007-12-05 | 2013-01-17 | Alltech Associates Inc | サンプルの画分を収集しサンプルを分析するための方法および装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0475467B2 (ja) | 1992-11-30 |
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