JPS6011083U - 電子部品の特性試験装置 - Google Patents

電子部品の特性試験装置

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JPS6011083U
JPS6011083U JP10231283U JP10231283U JPS6011083U JP S6011083 U JPS6011083 U JP S6011083U JP 10231283 U JP10231283 U JP 10231283U JP 10231283 U JP10231283 U JP 10231283U JP S6011083 U JPS6011083 U JP S6011083U
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JP
Japan
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electronic components
characteristic testing
testing equipment
test
measured
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JP10231283U
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Inventor
中川 啓一
Original Assignee
日本電気ホームエレクトロニクス株式会社
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第1図は従来のストレス印加試験装置の原理図、第2図
は本考案装置による試験回路の一原理的である。 3・・・・・・被測定電子部品、4,4・・・・・・導
出ピン、5.5・・・・・・接触子、7・・・・・・測
定器、9,9・・・・・・リレー、10.10・・・・
・・シールド線。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 測定器側から被測定電子部品へ、放電してストレス印加
    試験を行い得る電荷量を充電させ、且つ前記ストレス試
    験後に通常の特性試験可能となるように測定器のリレ一
    端子と被測定電子部品の導出ピンに接触する接触子との
    間に各々シールド線を配設したことを特徴とする電子部
    品の特性試験装置。
JP10231283U 1983-06-30 1983-06-30 電子部品の特性試験装置 Pending JPS6011083U (ja)

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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5724869A (en) * 1980-07-22 1982-02-09 Nec Corp High voltage pulse applicator
JPS5857770B2 (ja) * 1979-06-22 1983-12-21 パナファコム株式会社 情報転送制御方式

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5857770B2 (ja) * 1979-06-22 1983-12-21 パナファコム株式会社 情報転送制御方式
JPS5724869A (en) * 1980-07-22 1982-02-09 Nec Corp High voltage pulse applicator

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