JPS598715A - 半導体封止用エポキシ樹脂組成物 - Google Patents

半導体封止用エポキシ樹脂組成物

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JPS598715A
JPS598715A JP11937882A JP11937882A JPS598715A JP S598715 A JPS598715 A JP S598715A JP 11937882 A JP11937882 A JP 11937882A JP 11937882 A JP11937882 A JP 11937882A JP S598715 A JPS598715 A JP S598715A
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JP
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epoxy resin
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resin composition
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silane coupling
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JP11937882A
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Takamitsu Fujimoto
隆光 藤本
Yuzo Kanegae
鐘ケ江 裕三
Torahiko Ando
虎彦 安藤
Norimoto Moriwaki
森脇 紀元
Shohei Eto
江藤 昌平
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Mitsubishi Electric Corp
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Mitsubishi Electric Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は半導体素子を防止するための耐湿性にすぐれた
エポキシ樹脂組成物に関する。
さらに詳しくは、エポキシ樹脂組成物を構成する無機光
てん剤の表面を疎水基を有するシラン化合物で処理し撥
水性を発現させ水分の内部浸透を制御するとともに、エ
ポキシ樹脂と強固に結合させるため樹脂と反応する基を
有するシランカップリング剤で充てん側表面を処理する
ことにより、耐湿性、化学結合性にすぐれたエポキシ樹
脂組成物に関する。
従来、半導体素子は、外部環境や機械的衝撃から保護す
るため、気密封止や樹脂封止によりパッケージを施して
用いられている。現在では一部の特殊用途を除き、技術
と価格の両面からエポキシ樹脂による樹脂封止が主流と
なっている。
しかしながら樹脂封止は気密封止に比べて耐湿性に劣る
という欠点を有しており、半導体素子のアルミ配線やパ
ッドの腐食を惹き起す。この原因としては封止材料に含
まれている不純物イオン、とくに塩素基が水と反応し、
これらが内部に浸透し、半導体素子にいたり腐食を起す
ためである。
したがって樹脂封止の耐湿性を向上させるためには、こ
れら不純物イオンと水との反応生成物の内部浸透を阻止
することが重要であるが、不純物イオンの完全な除去は
樹脂製造上困難であり、実質的に不可能である。したが
って樹脂封止における耐湿性向上には不純物イオンと水
との反応生成物の内部浸透を防止することが大きなポイ
ントとなる。
本発明者らは樹脂封止に用いられるエポキシ樹脂組成物
中の無機光てん剤表面に撥水性を具備させることにより
、不純物イオンと水との反応生成物の内部浸透を防止す
ることができ、しがもこれら撥水性を具備した無機光て
ん剤とエポキシ樹脂組成物中のエポキシ樹脂との結合を
強固に維持せしめる方法を見出し、本発明を完成するに
いたった。
すなわち本発明はエポキシ樹脂、硬化剤、無機光てん剤
および界面処理剤を配合してなる半導体封止用エポキシ
樹脂組成物において、界面処理剤が一般式(I)、(I
I)および011) ;Rst(oR工)3(I) RR’S i (ORよ)2(I[) RR’R”51(oR)    佃) (式中、R,R’およびR1/は炭素数1〜6個のアル
キル基またはフェニル基を表わし、R工は炭素数1〜5
個のアルキル基を表わす)で示される分子中に疎水基を
有するシラン化合物(A)のうちの少なくとも1種と、
一般式(財): yst(oR)     W)  3 (式中、Yはオキシラン環を有する1価の有機基、R工
は前記と同じ)で示されるシランカップリング剤(B)
とが(A) / (B) = 0.3〜1oの重量割合
で混合されてなるものであり、かっこの混合物が無機光
てん剤に対し0.15〜2重量%の範囲で配合され、エ
ポキシ樹脂−無機光てん剤界面を制御することを特徴と
する半導体封止用エポキシ樹脂組成物に関するものであ
る。
疎水基を有するシラン化合物(A)と樹脂と反応する基
を有するシランカップリング剤(B)を前記所定の混合
比および配合量で混合添加することにより、無機光てん
剤表面に撥水性を発現させ、水分の内部浸透を防止し、
なおかつ樹脂と強固に化学結合せしめて高い機械的強度
を有する半導体封止用エポキシ樹脂組成物かえられる。
前記無機光てん剤に対する配合量が0.15重量%未満
では水分の内部浸透を充分に防止することができず、腐
食性抑制効果が低下する。また無機光てん剤に対する配
合量が2.0重量%より多いばあいには過剰のシラン化
合物およびシランカップリング剤が腐食を促進させ、い
ずれも好ましくない。
一方、シラン化合物(A)とシランカップリング剤(B
)との混合割合が(A) / (B) = 1oより大
であるとエポキシ樹脂との結合が起りにくくなり、機械
的強度が著しく低下し、腐食抑制効果が低下する。また
混合割合が(A) / (B) = 0.3未満である
と無機光てん剤表面の撥水性に劣り、腐食抑制効果が低
く、いずれも好ましくない。
したがって、本発明はシラン化合物(A)とシランカッ
プリング剤(B)を(A) / (B) −0,3〜1
0の重量割合で混合し、かつこの混合物が無機光てん剤
に対し0.15〜2重量%の範囲で配合されるばあいに
のみ達成される。
本発明に用いられる分子中に疎水基を有する一般式(1
)、(II)およびaII)で示されるシラン化合物(
A)としては、たとえばメチルトリメトキシシラン、メ
チルトリエトキシシラン、ジメチルジメトキシシラン、
ジメチルジェトキシシラン、トリメチルメトキシシラン
、ブチルトリメトキシシラン、ヘキシルトリメトキシシ
ラン、フェニルトリメトキシシラン、フェニルトリエト
キシシラン、フェニルジメチルエトキシシラン、トリフ
ェニルメトキシシランおよびフェニルトリペントキシシ
ランなどがあげられる。
また、本発明に用いられる一般式(財)で示されるシラ
ンカップリング剤(E)としては、たとえばr−・グリ
シドキシプロピルトリメトキシシラン、β−(3,4−
エポキシシクロヘキシル)エチルトリメトキシシラン、
γ−グリシドキシプロビルトリベントキシシランなどが
あげられる。
本発明における無機光てん剤としては、たとえば結晶性
シリカ粉、溶融シリカ粉、ガラス繊維およびアルミナな
どがあげられ、エポキシ樹脂100重量部に対し100
〜600重社部程度の使用が好ましい。
本発明において用いられるエポキシ樹脂としては、たと
えばビスフェノールA型エポキシ樹脂、フェノールノボ
ラック型エポキシ樹脂、クレゾールノボラック型エポキ
シ樹脂あるいは脂環式エポキシ樹脂など分子中にエポキ
シ基を2個以上有するものが好ましく、これらのうち1
柿もしくは数柚を併用して用いることができる。
硬化剤としてはたとえばメチルヘキサハイドロ無水フタ
ル酸およびメチルテトラハイドロ無水フタル酸など室温
において液状の硬化剤がもつとも好適に用いられる。し
かしながらこれら液状の硬化剤に限定されるものではな
く、無水7タル酸、テトラハイドロフタル酸、ヘキサハ
イドロ無水フタル酸などの固形酸無水物、フェノールノ
ボラックなどのフェノール系硬化剤あるいはアミン系硬
化剤なども用いることができる。
このほか本発明の半導体封止用エポキシ樹脂組成物には
、さらに硬化促進剤、離型剤、着色剤、難燃剤などを必
要に応じて適宜添加配合することが可能である。硬化促
進剤としてはたとえばイミダゾール化合物および第3級
アミンなどがあげられ、離型剤としては天然ワックス類
、合成ワックス類、直鎖脂肪酸の金属塩、エステル類、
酸アミド類があげられる。さらに難燃剤としては臭素化
エポキシ樹脂と三酸化アンチモンの組み合せが好適に用
いられ、着色剤としてはカーボンブラックなどがあげら
れる。
つぎに本発明の実施例および比較例をあげて説明する。
実施例および比較例 エポキシ樹脂、難燃剤、硬化剤、離型剤、無機光てん剤
、難燃剤、着色剤および硬化促進剤を、第1表に示す組
成で配合した。えられた樹脂組成物ニ、シラン化合物(
A)およびシランカップリンク剤(B)を第2表のa〜
hおよび比較のためにv−hで示す量で第3表に示す組
合せにしたがって配合し、本発明および比較用の半導体
封止用エポキシ樹脂組成物をそれぞれ72例および45
例調製した。
これらを170°O%3分間の成形条件で耐湿性評価用
シリコン素子をモールドしたのち、18oocで8時間
加熱、硬化させ耐湿試験用試料をえた。
耐湿試験は121°os2気圧の条件でPOT(Pre
ssure 0ooker Te5t)を行ない、不良
発生時間を調べた。
なお、第2表における重置%は無機光てん剤に対するシ
ラン化合物(A)およびシランカップリング剤(B)の
重置%である。
第6表かられかるように、本発明の半導体封止用エホ゛
キシ樹脂組成物は耐湿性が非常にすぐれており、半導体
素子の封止用エポキシ樹脂組成物としてきわめて有用で
あった。
代理人葛野信−(ほか1名) 千続袖止、書く自発) 昭和5711巳111]1211 2 イと明の名称 半導体封止用エポキシ樹脂組成物 ;3.  袖1丁をする者 事件との関係   特許l“I冑〔L”<住 所   
  東5;(都「−代1)1区ノLシJ)内゛、j斗1
2番:3シ;名  称 (601)    −1菱rM
(幾株式会月代表R片 111  箇 八 部 4、代理人 5、補正の対象 (1)明細書の「発明の詳細な説明」の欄6、補正の内
容 (1)明細書2頁6行の「防止」を「封止」と補正する
〇 (2)同6頁5行の「とくに塩素基が水と反応し」を「
あるいは加水分解性塩素の溶出が耐湿試験で起り」と補
正する。
(3)同3頁8行、3頁12〜16行および6頁17〜
18行においてそれぞれ[と水との反応相h%−を酒イ
αいずれも削除する。
(4) PJ 8頁2行の「テトラハイドロフタル酸」
を「テトラハイドロ無水フタル酸」と補正する。
(5)同9頁1行の「難燃剤、」を削除する。
以  上

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)エポキシ樹脂、硬化剤、無機光てん剤および界面
    処理剤を配合してなる半導体封止用エポキシ樹脂組成物
    において、界面処理剤が一般式(IL (It)および
    ll) : R81(ORよ)3(I) RR’5i(ORよ)、(I[) 部’R’5i(ORよ)     (III)(式中、
    R,R’およびR//は炭素数1〜6個のアルキル基ま
    たはフェニル基を表わし、R工は炭素数1〜5個のアル
    キル基を表わす)で示される分子中に疎水基を有するシ
    ラン化合物(A)のうちの少なくとも1拙と、一般式(
    財): YSi(ORよ)3QV) (式中、Yはオキシラン環を有する1価の有機基、Rよ
    は前記と同じ)で示されるシランカップリング剤(B)
    とが(A) / (B) −o、6〜1oの重置割合で
    混合されてなるものであり、かつこの混合物が無機光て
    ん剤に対し0.15〜2重社%の範囲で配合されてなる
    ことを特徴とする半導体封止用エポキシ樹脂組成物0
JP11937882A 1982-07-07 1982-07-07 半導体封止用エポキシ樹脂組成物 Granted JPS598715A (ja)

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