JPS5976425A - 半導体用焼付装置 - Google Patents

半導体用焼付装置

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JPS5976425A
JPS5976425A JP57187243A JP18724382A JPS5976425A JP S5976425 A JPS5976425 A JP S5976425A JP 57187243 A JP57187243 A JP 57187243A JP 18724382 A JP18724382 A JP 18724382A JP S5976425 A JPS5976425 A JP S5976425A
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JP
Japan
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wafer
data
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mark
aligning
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JP57187243A
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Naoki Ayada
綾田 直樹
Yasumi Yamada
山田 保美
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Canon Inc
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Canon Inc
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Publication date
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Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F9/00Registration or positioning of originals, masks, frames, photographic sheets or textured or patterned surfaces, e.g. automatically
    • G03F9/70Registration or positioning of originals, masks, frames, photographic sheets or textured or patterned surfaces, e.g. automatically for microlithography
    • G03F9/7069Alignment mark illumination, e.g. darkfield, dual focus
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F9/00Registration or positioning of originals, masks, frames, photographic sheets or textured or patterned surfaces, e.g. automatically
    • G03F9/70Registration or positioning of originals, masks, frames, photographic sheets or textured or patterned surfaces, e.g. automatically for microlithography
    • G03F9/7003Alignment type or strategy, e.g. leveling, global alignment
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    • G03F9/7011Pre-exposure scan; original with original holder alignment; Prealignment, i.e. workpiece with workpiece holder

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
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  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Control Of Position Or Direction (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は複数の物体を位置合わせする為の装置に関し、
特に半導体製造工程でマスク(又はレチクル)上の半導
体集積回路パターンをウェハー上に焼付ける際にマスク
とウェハーを高精匣で自動位置合わせする装置に関する
従来、半導体焼付は装置でマスクとウエノ・−を自動的
に整合させる際にはウェハーの外形、例えば円板の一部
を切除した形状を利用して機械的に予備の位置合わせ(
これをブリ・アライメントと呼ぶ)を行い、しかる後に
マスクとウェハーにそれぞれ設けたアライメントマーク
を光電的に検知し、検知した信号によりマスク又はウェ
ハーを移動(互に直交する方向及び何転方向)するのが
普通である。
そして光電的検知の方法としては、例えばレーザー光で
マスク及びウェハー上のアライメントー−りを光走査し
、アライメントマークからの反射光をソオトセルで受光
する方法、あるいはテレビジョン(以下、テレビと称す
)カメラでアライメントマークを撮像し、そのビデオ信
号を電気的に処理してアライメントマークの相対位置を
知る方法等が知られている。
ところでブリ・アライメントの位置設定精度は、この方
法が機械的精涯に依存するためせいぜい±100μm程
度であるので、光電検知を行う場合の検知視野を数10
0μm以上にして精度の悪さを補う必要がある。しかし
ながら、検知視野を広くすると、信号検知に要する時間
が長くなシ(現実に1−1複数回の走査を行うため一′
)、あるいは視野が広いと光学系の性能との関係で検知
精朋が制約を受ける等の難点がある。壕だ初期状態でウ
ェハーとマスクの位置ずれが太きければ、オートアライ
メントに要する時間は著しく長くなる。他方、半導体焼
付装置、特にマスク上の回路パターンを投影光学系によ
りウェハー上に投影する形式の装置では投影光学系を通
してアライメントマークを検知するTTL方式と、撮影
光学系の投影野(投影像の形成される領域)の外側位置
でウェハーの精密外位置臼わせを行い、その後、投影野
内に高精度で移動させて予め正確に設定したマスクとの
アライメントを達成するオフアクシス方法が代表的であ
る。しかしながら、前者は前述した広い検知視野に伴う
問題があシ、後者は高精度の移動を実現するために極め
て高価な測長器と精密移送機構が必要となる。
本発明の目的は高速、高精度の位置合わせを実現するこ
とにオシ、更に精密な位置合わせ装置の検知視野を縮小
し、他方機械的な負担が増大するのを防止している。
即ち後述する実施例を要路すると、投影光学系の投影野
の外側位置で機械的ブリ・アライメントを行った後、比
較的広視野のテレビカメラ等の2次元撮像手段によりウ
ェハー上の2次元のアライメントマークを撮像し、この
ビデオ信号によりウェハーの基準位置からの誤差を検出
(テレビ、プリアライメントと呼ぶ)シ、その後、検出
誤差を考慮してウェハーを投影野内に移送し、今度は先
程より狭い視野内を走査するレーザー光で別のアライメ
ントマークを走査してアライメント信号を得、マスクと
ウェハーを精密に整合させる(ファイン・アライメント
)ものである。
以下、図面に従って本発明の詳細な説明する。まず外観
を描いた第1図で全体の構成を概説1゛る。
1は集積回路パターンを具えたマスクで、他のマスクセ
ッテングマークやファイン・アライメントマークを具え
るものとする。2シよマースフ・チャックで、マスク1
を保持してマスク1を平面内並びに回転方向に移MJさ
せる。3は縮小投影レンズ、4は感光層を具えるウェハ
ーで、ファイン・アライメントマークどプリ・アライメ
ントマークを具えるものとする。5はウェハー・ステー
ジである。ウェハー・ステージ5はウェハー4を保持し
てそれを平面内並びに回転方向に移動させるものであり
、またウェハー焼付位置(投影野内)とテレビ・プリア
ライメント位置間を移動する。6は、テレビ・プリアラ
イメント用検知装置の対物レンズ、7は撮像管又は固体
撮像素子、8は映像観察用のテレビ受像器である。9は
双眼ユニットで、投影レンズ3を介してウェハー4の表
面を観察するために役立つ。10は、光源10aを発し
たマスク照明光を収束させるだめの照明光学系並びにフ
ァイン・アライメント用の検知装置を収容する上部ユニ
ットである。
ウェハー・ステージ5は、図示しないウェハー搬送手段
により搬送されたウェハーを所定の位置で保持し、まず
、テレビプリアライメント用対物レンズ6の視野内にウ
ェハー上のアライメントマークが入る位置まで移動する
。この時の位置;(3度は機械的なプリアライメント精
度によるものであシ、対物レンズ6の視野はおよそ直径
1 +nrn〜2箇程度である。この視野内のアライメ
ント・マークは撮像管7で検知され、テレビプリアライ
メント用の光学系内に設けられたテレビプリアライメン
ト用基準マーク(後述)を基準として、そこからのアラ
イメント・マークの座標位置が検出される。一方、投影
光学系のオートアライメント用検知位置と前述のテレビ
プリアライメント用基準マークの位置はあらかじめ設定
されているのでこの2点の位置と、テレビ・プリアライ
メントマークの座標位置からオートアライメント位置へ
のウェハー・ステージ5の送り込み量が決められる。
テレビプリアライメントの位置検出精度は±5μ以下で
あり、テレビ・グリアライメント敞置からファイン・ア
ライメント位置までの一ウェハーステージの移動で発生
する誤差を考慮に入れても、±10μ程度である。従っ
てファインアライメントは約±10μの範囲で行えばよ
く、これは従来のファインアライメントの視野範囲の”
 1.00以下の範囲であり、ファインアライメントが
従来より高速で行えることになる。
第2図はテレビ・プリアライメント用検知装置の実施例
を示しており、図中の縮小投影レンズ3.ウェハー4.
対物レンズ6、撮像管7は第1図と同一である。
他方、11は照明用光源で、例えばハロゲンランプを使
用する。12はコンデンサーレンズ。13Aと13Bは
交換的に着脱される明視野績シと暗視野絞りで、図では
明視野絞り1.3Aを光路中に装着している。コンデン
サーレンズ12は光源11を明視野絞り上に結像する。
14は照明用リレーレンズ。15は接合プリズムで、接
合プリズム15は照明系の光軸と受光系の光軸を共軸に
する機能を持ち、内側反射面15aと半透過反射面15
bを具える。ここで光源11、コンデンサーレンズ1λ
明又は暗視野絞り13Aと13B1照明リレーレンズ1
4、接合プリズム15、対物レンズ6は照明系を構成し
、対物レンズ6を射出しだ光束はウニ鏡。18はテレビ
・プリアライメント用基準マークを有するガラス板で、
基準マークはいわば座標の原点を与える機能を持つ、従
ってブリ・アライメントマークはX座標の値とY座標の
値として検出されることになる。19は撮像レンズで、
上に述べた接合レンズ15、リレーレンズ16、鏡17
、ガラス板18、撮像レンズ19そして撮像管7と共に
受光系を構成し、対物レンズ6を通る光路は接合プリズ
ムの内側反射面15aで反射して半透過面151)で反
射し、再度内側反射面15aで反射シてリレーレンズ1
6へ向う。ウエノ1−4上のブリ・アライメントマーク
像は基準マークを有するガラス板18上に形成された後
、基準マーク像と共に撮像管7の撮像面に結像する。
他方、第3図(5)に例示したテレビ・グリ−アライメ
ントマークあるいは後述するファイン・アライメントマ
ークはウェハーのスクライブライン中に設けるのが望ま
しいが、ウェハー上の特定のチノグパターンの位置に設
けても良b0図示のマークな一1スクライブライン内に
設けた十字形状のマークで、十字パターンの方向が撮像
管の走査方向とほぼ平行及び垂直に外る様に配列する。
才だもし、十字パターンを例えば走査方向に45°の傾
きを持つ微小なバー状突起の集合でイ14成(〜、この
突起に直角な方向から照明光が当る様に暗視野照明すれ
ば極めて明瞭なパターン形状を]】゛1夕像できる。
徒だ基準マークは、例えばクロムマスクをエツチングし
て作られた十字線パターンでよい。
十字線の線巾位置は任意でよいが、テレビの視野の隅の
方に位置し、テレビの走査線方向と平行及び直交したも
のであることが望ましい。
この基準マークは前述した様にクロム薄膜から出来てお
シ光を透過させないので明視野状態で観察することによ
り暗視野状態より、より高いS/N比で検出する事がで
きる。つまり、まず明視野状態で、基準マーク位置を読
み取り、次に暗視野状態でブリ・アライメントマークを
読み取るものである。
第2図へ戻ってブリ・アライメントマークの検知作用を
述べるが、検知したビデオ信号の電気処理については後
述する。照明用光源11からの光束はコンデンサーレン
ズ12で収斂されて明視野績シ13A又は暗視野絞シ1
3Bの開口を照明し、更に照明リレーレンズ14を通過
シフ、接合プリズムの半透過面15bを透過して反射面
15aで反射し、対物レンズ6を通ってウェハー4を照
明する。
ウェハー4の表面で反射した光束は対物レンズ6で結像
作用を受け、接合プリズム15へ入射して反射面15a
で反射し、次いで半透過面15b1反射面15aで反射
してこれを射出し、リレーレンズ16でリレーされて鏡
17で反射し、ガラス板18上に結像した後、撮像レン
ズ19により撮像管撮像してその像で座標の原点を決め
、続いて暗視野状態に切換えてブリ・アライメントマー
ク像が明瞭に見得る様にし、これを撮像してブリ・アラ
イメントマーク像の位置を検出する。後述する電気的処
理により検出された、ブリ・アライメントマークの位置
に応じてウエノヘー・ステージ5はウエノ・−4が投影
レンズ3の投影府中の規定位置4′を占める様に移動し
て停止する6月 なお、ウェハー4を一月標準位置にアラインドし、その
後投影府中へ移動させる様に変形しても良い。
次にマスク1をウェハー4に対してアライメンアライメ
ントに使用するアライメントマークの例を示している。
ここでWl、 W2 、 W3 、 W4 、/はウェ
ハーに書込まれた棒状のエレメントで、走査線LAに対
して45°を成す平行なニレメン)Wl。
W2と逆傾斜の平行なニレメン) W3 、 W<であ
る。
また油とM2はマスクに書込まれた棒状のエレメントで
、走査線に対して45°を成し且つ逆傾斜である。
なお、走査線と平行なX方向、それと垂直なY方向そし
て回転方向の3自由度を押えるだめにマスク及びウェハ
ーのアライメントマークは夫々2個1組として書込む。
第4図はファインアライメントのだめのマーク検知装置
で、その構成はほぼ特開昭54−540!56号等で知
られている。符番20はレーザー光源、21−は集光レ
ンズ、22は回転多面鏡である。また23はそれぞれリ
レーレンズ、24は顕微鏡対物レンズ、25は顕微鏡対
物レンズ24の1方の焦点面に配された絞シである。2
6はそれぞれビームスプリッタ−127は観察照明部で
、観察照明部27ズ24を通してマスク1を垂直落射照
明する。
一方、28ハ集光レンズ、29は、マスク1およびウェ
ハー4で正反射した光束を遮断するフィルター、30は
7オトセルである。
以上の構成で、レーザー光源2oがらのレーザー光は集
光レンズ21で収束し、発散して回転多面鏡22の1鏡
面へ入射し、走査作用を受ける、続いてレーザー光はリ
レーレンズ23%ピースプリンター26、顕微鏡対物レ
ンズ24を経て、マスク1上に集光し、また投影レンズ
3に関してマスク1と共役なウェハー4上に集光して、
その上を走査する。第3図Bの走査線LAの様にレーザ
ー光でアライメントマークを走査すると、アライメント
マークの端縁で散乱された光は顕微鏡対物レンズ24%
リレーレンズ23.2番目のビームスプリッタ−26を
経て、集光レンズ28へ入射し、フィルター29で正反
射成金が遮断された後フォトセル30へ入射し、パルス
列として出力される。第3図Bにおいて、マスク1とウ
ェハー4のX方向のずれはWlとMlの間隔とW3とM
2の間隔の等量の偏差、Y方向のずれはWlとMlの間
隔とM2とW4の間隔の等量の偏差として現われるから
、各間隔に対応するパルス間隔からX方向及びY方向の
値が算出される。
そして第4図ではマスク1とウェハー4の片側のアライ
メントマークを検知しているが、実際には両側を同時に
測定する構成になっているので、両方のX方向、Y方向
の値からマスク1とウェハー4のX方向、Y方向、回転
方向の誤差を算出できる。
従って、本装置ではマスク1を保持するマスク・ホルダ
ー2を算出された値だけX方向、Y方向、回転方向に移
動させて、マスク1とウェハー4を精密にアライメント
し得る。このアライメントが終了ずれば光源10aから
σ照明光で−マスク1を照明し、投影レンズ3で縮小投
影された回路パターン像でウェハー4を露光する。
なお、如上のファインアライメント検知装置の視野を縮
小した場合にはマスク1も所定精度でセツティングして
おくことになるが、これはファインアライメント検知装
置を使用してアライメントマークの外側に配したセツテ
ィングマーク1aを検知する従来のプリアライメント方
法実施例 第5図はテレビ・プリアライメント及びファインアライ
メントの電気処理系の概略を示す。
Aはテレビカメラヘッド部で、撮像管あるいはCOD等
の固体撮影素子、Bはテレビカメラ部を制御するテレビ
カメラコントロール部、cはテレビ・プリアライメント
検知回路である。またDはフォト・トランジスタ及びア
ンプ等から知回路、Fはマイクロコンピュータやメモリ
ー等から成る制御回路である。
テレビ・プリアライメント検知回路Cはテレビカメラヘ
ッドAを駆動するテレビ同期信号を発生し、テレビカメ
ラコントロール部Bに伝達する。一方、テレビカメラヘ
ッド部Aで走査された画像信号はテレビカメラコントロ
ール部Bを介して、ビデオ信号として、テレビ・プリア
ライメント検知回路Cへ送られる。テレビ・プリアライ
メント検知回路Cでは、これらのビデオ信号をデジタル
処理し、それらのデータから制御回路F中のマイクロコ
ンビーータが例えば第3図Aに示しだテレビ・プリアラ
イメントマークの位置を検知し、この位置情報をもとに
ウエノ・−ステージを焼付は光学系のオートアライメン
トの位置まで移動する。
オートアライメントにおいては、例えば第3図Bのパタ
ーンによる反射光をフォトセンサDが検知し、その信号
はオートアライメント検知回路Eにてデジタル化されパ
ターン間隔が計測される。この計測されたパターン間隔
データは再び制御回路F中のマイクロコンビーータによ
って処理されウェハーとマスクのアライメントが行われ
る。
第6図は、テレビ・プリアライメント検知回路の一実施
例を示すブロック図である。
第3図Aに示したテレビ・プリアライメントマークを検
知する方法は色々あるが、第6図に示した実施例はテレ
ビの画像を画素に分解し、この画素の濃ntをX方向(
水平方向)及びY方向(垂直方向)に夫々、加算するも
のである。
加算することによる利点は、■加算によ゛リランダム・
ノイズが−V−均化されS/N比がよくなる。■X方向
とY方向の位置検知が独立に行うことができ検知が簡単
になる。0画像データを格納するメ゛モリの容量が少な
くなる等があげられる。
第6図のブロック図において破線で囲まれたブロックX
は、X方向の画素の濃度を加算するブロック、ブロック
YはY方向の画素の濃度を加算するブロックである。
第6図において、31はビデオ・アンプ、32はアナロ
グデジタル変換器、33はラッチ、であり、テレビカメ
ラコントロール部(第5図B)から送られるビデオ信号
はビデオアンプ31で増巾され、アナログデジタル変換
器32でデジタル化された後ラッチ33に格納される。
ラッチ33の出力データはX方向の加算ブロックXとY
方向の加算ブロックYへ出力される。ブロックYにおい
て34はY方向にデータを加算する加算器、35は加算
器34の出力データをラッチする加算出力ラッチ、36
は加算出力ラッチ35のデータを格納するY方向積算メ
モリ、37はメモリ36の出力データをラッチする加算
入力ラッチである。
ブロックXにおいて、38はX方向にデータを加算する
加算器、39は加算器38の出力をラッチするラッチ、
40は2ツチ39の出力データを格納するX方向積算メ
モリである。
これらの回路におけるデジタル・データのビット数特に
限定はないが、例えはアナログ・デジタル袈換器32が
8ビツト、加算器33.38及びメモリ36.40が1
6ビツト構成である。
一方、41はテレビ・プリアライメント検知回路のタイ
ミングやシー冬ンスを制御し、またメモリ36のリード
・う・イト及びチップセレクトをコントロールするシー
ケンス及びメモリコントロール回路、42はブロックX
中のメモリ40を制御するメモリコントロール回路であ
る。43はシーケンス及びメモリコントロール回路41
をマイクロプロセッサ(不図示)が制御するだめのコン
トロールレジスタで、レジスタの入力はマイクロプロセ
ッサのデータバス44に接続されて−いる。
壕だ、マイクロ・プロセッサは、このデータバス44を
介して、メモリ36.37にアクセスする事が可能であ
る。45.46.47.48はそのためのバッファでア
リ、バッファ45.47はマイクロプロセッサがメモリ
にデータをライトする時、又バッファ46.48はデー
タをリードする時動作する。
49はクロック回路、50.51はX方向積算メモリ3
6のライト・アドレス及びリード・アドレスを発生する
、メモリ・ライト・アドレス回路及びメモリ・リード・
アドレス回路である。52はメモリのリードアドレスと
ライトアドレスを切換えるアドレスセレクタ、53はマ
イクロプロセッサがメモリ36をアクセスする時のアド
レスバッファ以外は、アドレスセレクタ52の出力が選
択されておシ、バッファ53の出力は禁止されている。
54はX方向積算メモリ40のアドレスを発生するメモ
リーアドレス回路、55はメモリアドレス回路54のア
ドレスとマイクロ・コンピュータがメモリ40をアクセ
スする時発生するアドレスの切換をするアドレスセレク
タである。56はクロック回路49のクロックを基準に
TVの水平同期信号、垂直同期信号、ブランキング信号
等を発生するTV同期信号発生回路である。57.58
はマイクロコンピュータのデータバス44に接続された
夫々、X位置表示レジスフ、Y位置表示レジスタ、59
はマーカー表示回路であり、テレビ・プリアライメント
において検出したアライメントマークの位置をマイクロ
プロセッサがX位置表示レジスタ67及びY位置表示レ
ジスタ58に出力することによシ、マーカ表示回路59
によりミックス信号として、TVカメラコントロール部
のビデオ入力端子へ送られる。
続いて第6図のテレビ・プリアライメント検知回路の機
能及び動作について説明する。
テレビ・プリアライメント検知回路の機能は、■X方向
のデータの積算、■Y方向のデータの積算、■プリアラ
イメントマーク検知位置のTVモニタ上への表示である
このうち、X方向のデータの積算及びY方向のデータの
積算は、テレビ・プリアライメント検知回路の7・−ド
ウエアが加算を実行し、その加算データをメモリに格納
する。データの加算はテレビ信号の1フレ一ム単位で行
われ、後述する様に必要に応じて、1フレームの加算で
終了してもよいし、或は複数のフレームの加算を行って
もよい。いずれの場合でも、加算中は、メモリ36.4
0のデータ・バス及びアドレス・バスは、マイクロプロ
セッサのデータ・ノくス44及びアドレス・バスから電
気的に切り離されておシ、メモリ36のアドレスはアド
レスセレクタ52、メモリ40のアドレスはアドレス回
路54のアドレスに接続され、シーケンス及びメモリコ
ントロール回路41、及びメモリコントロール回路42
からハード的に発生するリードライト信号及びチップセ
レクト信号の制御のもとに加算が実行される。
所定のフレーム数の加算が終了すると、シーケンス及び
メモリコントロール回路41からインタラブド信号線I
NT上に加算終了信号が発生する。この加算終了信号の
発生後、マイクロプロセッサは、メモリ36及びメモリ
40にアクセスを行い、加算データからテレビ・プリア
ライメントマーク位置を検知する。マイクロプロセッサ
がメモリ36.40をアクセスする時は、当然ながらメ
モリのアドレス、リードライト信号、チップセレクト信
号等はマイクロコンピュータの制御信号によって行われ
る。址だメモリ36のデータはバッファ46、メモリ4
0のデータはバッファ48を経由してデータバス44に
送られ、マイクロプロセッサに読み取られる。
ところで、第6図中プロツクXにおけるX方向の加算、
ブロックYにおけるY方向の加算を説明する前に第7図
を参照して画素の分割方法について述べる。第7図はテ
レビ画面をX方向にN分割、X方向にM分割した画素を
表わしている。画素Pliは、行l@目、列i番目の画
素を示す。X方向の分割数Mは通常、水平走査ライン数
と一致しておシ、従って画素に分割するためには、−水
平同期信号区間内に、アナログデジタル変換器(第6図
32)にてN回すンプリングを行えばよい。
従ってX方向の加算は Sx+ = f)ATA(Po) 十DATA、(PI
2)+・・・・・・+I)ATA(P I N )、5
xt=DATA(P2+) +DATA(Pu) + 
−= −1−1)ATA(P2N)、Sx y = D
A’I’A(Ph1l ) + DATA(PM2 )
 +−−−−=十DATA(PMN )、Y方向の加算
は Sy+ =D、A’TA(P++) +DATA(Pt
+)+ ・・・・・・+DATA(PMI)、S y 
t = DATA(P 12) +DATA(P22)
+ ・・・・・・十DATA (P M 2 )、5Y
N=DATA(PIN)十DATA(P2N)十 ・・
・・・・ +DATA(PMN)であられされる。
加算が終了した時点で、X方向積算メモリ40内にはS
x1 、 Sx2・・・・・・Sxt’sのデータが、
Y方向積算メモリ36内にはSYI + Syz・・・
・・・SYNのデータが格納される。テレビの走査は、
インターレース方式ではなく、線j@次方式であるとす
ると、アナログ・デジタル変換器32から出力されるデ
ータの順序はDATA(pH) 、 DATA(PI3
)、・・・・・・DATA(PIN)、DATA(P2
t )、・・・・・・DATA(PM 、 N )であ
る。
従ってX方向の加算は一走査ライン加算し続け、その結
果をメモリに格納すればよいのに対して、Y方向の加算
は、−画素毎にメモリからデータを読み出し、加算し、
その結果を今、読み出しだアドレスに格納しなければな
らない。
水平方向の分割画素数Nは要求されるアライメント精度
によって決定されるが、通常は500画素程度であシ、
従って一画素のサンプリングレートは100ナノ秒以下
になる。そこでY方向の加算においては100ナノ秒以
内に、アナログデジタル変換、メモリのり一ド/ライト
、加算の動作を行わ々ければならない。これは、/飄−
ドウェアに莫大な負担がかかり、簡単には実現できない
この間(題を解決するだめに、第6図の加算回路はY方
向の加算において、アナログ・デジタル変換器32の出
力と加算器34人力の間、加、算器へ 34の出力とメモリ36の入力の間及びメモリ3Gの出
力と加算器340入力に、夫々ラッチ33.35.37
を設け、高速の演算を比較的簡単に実現している。この
回路では、アナログ・デジタル変換、メモリのり一ド/
ライト加算の動作の各々を100ナノ秒以下で行えばよ
いので、見かけ」二、動作スピードが従来の例に比べて
3倍遅くてよく、ハードウェアの設計が非常に楽に々る
続いて加算回路の時系列的な動作を、第1表と第2表を
用いて詳しく説明する。
これら2表は横方向の動作サイクルを取り、各デバイス
のデータの流れを示しだ図で、第1表はY方向の加算(
第6図ブロックY)、第2表はX方向の加算(第6図ブ
ロックX)の動作を示しだものである。
/ まず、第1表について説明すると加算の動作は基本的に
は3つのサイクルから成り立っておナノ 々のサイクルTl、T2.T3は夫々50牛ギ秒に2分
割されておシ、それらはtlI+ t12+ t21+
t22 + ’31 + t32  で表わされる。
今、l走査ライン目(0≦l≦M)の1#目(0≦i≦
N)の画素”’r % (第7図参照)の濃度のデータ
をD A T A (P t、 i )  とする。ク
ロックサイクルTlにおいてアナログ・デジタル変換器
32でデジタル化されたデータDATA (PL、i)
は、次のクロックサイクルT2において、ラッチ33に
格納され(第8図■)、加算の一方の入力データとなる
一方、サイクルtI2 において、1番目のメモリの内
容5t−1,i  がリードされ、サイクルT2に、デ
ータSt −1,i  (第8図■)が加算入力ラッチ
37に格納される。このデータSt−+、i  は行i
番目のデータを1列から(/?−1)列まで加算」ッだ
データで次式の様に書ける。
S t−1,i = I)ATA (’P 1.i )
 十DATA (P 2. i )十 ・・・−+l)
A、TA(Pz−+ i) 即ち、テーク5t−1,ii1%−走査ライン前までの
1番目の列のデータの加算値で、これが加算器34の他
方の入力データとなる。加算器34は、サイクルT2に
おいて、これらの2″:2の入力データDAi’A (
Pt、 i )と5t−1,i  の加算を行う(第8
図O)。加算結果のデータは、サイクル’21の終了時
には、確定したデータとして加算器34から出力され、
サイクルt22において、加算出力ラッチ35にラッチ
される(第8図0)。
このデータは、St、■で表わすことができ、81、 
I ”’ J)ATA(Pt、 s ) + 814.
 i   でhる。
次にサイクル′■゛3の前半、tl、においてデータS
t、 iを1番目のメモリに再び格納する(第8図[F
])。この格納されたデータS4iは次の走査ライン/
+1の1番目の画素まで保持され、再び画素P t+1
. i  のデータと加算される。この様にしてMライ
ンの走査が終了するとi番目のメモリには 8Yi=DATA(P甲) 十DATA (P2.1)
十・・・・・・+Pyi(PM、i) の加算データが得られる。
この様に、アナログ・デジタル変換、加算、カッ の場合は、l処理が1サイクル、100輪秒で行われる
のと等しくなる。
尚、第8図(a)に関してつけ加えると、メモリに対す
る動作に注目すると、(1)番目のメモリ・リード→(
I−1)番目のメモリ・ライト→(l+1)番目のメモ
リ・リード→i番目のメモリ・ライト・・・・・・と言
う動作になる。従って、第6図に示した様にメモリ・ラ
イトアドレス回路50とメモリ・ライトアドレス回路5
102つのアドレス発生回路を設け、リード・ライト信
号ニ従Z’てアドレス・セレクタ52を切換え、アドレ
スを発生させるものでめる。
次に第2表を用いてY方向の加算を説明すると、サイク
ル゛r1で、アナログ・デジタル変換器32で変換され
た画素P4iのデータDATA(P4i)は、サイクル
T2でラッチ33に格納される(これは第8図(a)と
同じ動作であり、■で示す)。
一方、ラッチ39には、l走査ラインの、1番目からi
−1番目までの画素の加算データ;8t、i ) = 
DATA (P41 ) + DATA (Pt、 2
 )十・・・・+ DATA (Pt、 i −+ )
が格納をれており、サイクルT2でこのデータSL、i
−+とデータDATA(P4 i)が加算器38で加算
される(第8図■)。この加算結果はSt、iでメジ、
次のクロックサイクルT3でラッチ39にラッチされる
(第8図■)と同時に、クロックサイクルT3における
加算の一方の入力となる。
この様にX方向の加算においては、入力データは一走査
う・fン内で、次々と加算され、走査ライン終了時に 8X、 t=DATA(Pz、1)+DATA(Pt、
 2)十・・・・・・+DATA(P4N) の加算データを得る。従って一走査ラインが終了し、次
のライン走査が開始される水平走査帰線時間内に、この
データSX、t をY方向の積算メモリ40内の1番目
のメモリに格納すればよい。
この様にフレームの開始から終了まで以上述べた動作を
くり返すことによ、すX方向、Y方向のデータの積算が
得られたことになる。
第8図は、本発明の他の実施例で、第6図におけるX方
向の加算(ブロックX)、Y方向の加昇(ブロックY)
を一つの7・−ドウエアのブロックで行うものである。
図において、31〜37及び45.46は第6図と全く
同じであり、加算出力ラッチ35の出力及び加算人力ラ
ッチ37の出力を選択し、加算器34の一方の入力に伝
えるデータ・セレクタ60が設けられる。このデータ・
セレクタは第6図41のシーケンス及びメモリコントロ
−ル回路の制御下にいずれかの人力が選択される。即ち
、X方向の加算時には、加算出力ラッチ35の出力が、
Y方向の加初一時には、加算入力ラッチ37の出力が夫
々選択される。第8図には第6図中に示される他の回路
、たとえば、ブロック図1?649、TV同期信号発生
回路56等は省略されているが第6図のブロックX及び
その周辺の回路、例えば38,39,40,42゜4.
7,4.8,54.55は本実施3アリでは不用である
第9図の動作の機能は第6図の動作機能と、はぼ同様で
あるが、動作のフローは具っており、X方向、Y方向の
積算が同時ではなく、直列的。
時系列的に行われる。まず、第1に加算出力ラッチ35
の出力がデータセレクタ60に選択され、X方向の積算
が実行され、次に加算人力ラッチ37の出力が選択され
Y方向の積算が実行される(なお、j11@序は逆でも
よい)。この時もしメモリがX方向及びY方向に対して
兼用であれば一旦X方回の位置をマイクロコンピュータ
が計測した後、Y方向の積算を開始するか、又はメモリ
36の内容を他のメモリにデータバスを介して転送しデ
ータを退避した後、Y方向の積算を開始すればよい。
第8図の回路を用いると測定に要する時間は第6図の回
路よりも、長くなるが、ハードウェアが簡単になり、制
御が軽減される効果がある。
ところで、前に述べた様に、本実施例においては積算は
フレーム単位で行われ、複数のフレーム数の積算を行っ
てもよく、しかも、積算フレーム数を任意に選択できる
手段を有している。
第9図はフレームの積算回数を選択的に行うだめの回路
の一実施例を示すブロック図である。
この第10図のフレーム積算回数選択回路は、第6図4
1で表わされるシーケンス及びメモリ・コントロール回
路内に設けられている。
第9図中、71は積算回数、積算スタート。
積算ストップ等を制御する積算コントロール回路、72
はテレビの垂直同期信号をカウントするテレビ・フレー
ムカウンタ回路、73はフレーム回数指示レジスタ、7
4はテレビ・フレームカウンタ回路72とフレーム回数
指示レジスタ73の出力を比較するデジタル・コンパレ
ータ回路である。
第9図の動作を説明すると、図示されてないマイクロ・
プロセッサ等からMW開始信号が積算コントロール回路
71に与えられると、−積算コントロール回路71は]
゛v同期信号発生回路(第6図56)から伺与されるテ
レビ垂直同期信号と同期をとシ、テレビフレームカウン
タ回1i572へカウントスタート信号を与える。テレ
ビフレームカウンタ回路72はこのカウントスタート信
号により垂直同期信号の数をカランI・し、フレームに
りを計数する。
一方、漬個−フレーム回数はマイクロプロセッサによっ
て直接或はオペレータがキーボード等の1旨7バによっ
てマイクロプロセッサを介シて、積層、コントロール回
路7】を経由してフレーム回数指示レジスタ73に与え
られる。デジタルコンパレーク74はこの指示された積
算回数だけテレビフレームカウンタ回路72が計数した
ら終了信号を積算コントロール回路71へ付与し、積n
は終了する。
積算回数を選択的に行える利点は ■ 画面の0度や8N比に応じて、@’34回数を可変
にできるため、アライメントマークの検出確度が高くな
る。
■ テレビプリアライメントの要求精度、及び要求スピ
ードに応じた積算回数を選ぶことにより、要求精度の位
置検出を篩スピードで実行できる。
等にある。
尚、積算回数を壇やずことにより、加算結果にキャリイ
が発生ずる場合が考えられるので、入力のビデオ信号d
、ビデオアンプ31でゲインがコントロールできる様に
なっていると共に加算器34.38にはキャリイ発生を
検91 Lシーケンス及びメモリ・コントロール回路4
1にキャリイ発生を知らせる手段が設けられる(不図示
)。
ところで、積算データからアライメントマークの位16
.を検出する方法は、本発明においては特に限定されな
いが、例えばパターンのピークを検知する方法、或はパ
ターンの立上り、立下りのエツジを検出する方法等があ
り、これらは前述した様に、積算終了後マイクロ・コン
ビコーータによってソフトウェア的に検知が行わ、れる
この時アライメントマークの位置の座標は第2図18で
示したガラス板上のテレビプリアラフイメント基準マー
クから計測される。
既に述べた通りこの実施例では、まず明視野状態で基準
マーク位置を読み取り、次に暗視野状態でアライメント
マークラ読みとるものである。明視野状態での基準マー
クの読取りは暗視野状態でのアライメントマークの読み
取りと全く同じ動作であり、異る点は積算データの)直
〆り・グランドより大きな値を示し、基準マークし↓バ
ック・グランドより小さな値を示す点である。しかし、
この値はソフトウェア或はノ・−ドウエアで、例えば基
準マークをノ(ツク・グランドより大きな値にすること
は簡単にできるので本質的ではない。
上に述べた様に、マークによって観察視野を切換える利
点は、基準マークとアライメントマークを夫々バック・
グランドの影、響の少ない視野状態で観察L、=sZN
比のビデオ信号を得る点にある。
第2図中、13A及び13Bで示した絞りは、夫々、明
視野用絞り及び暗視野用絞りで図示しない切換手段、例
えばプランジャー等により、電気的に切換可能なもので
ある。この基準マークの位置から計測されたアライメン
トマークの位置はテレビ・プリアライメント検昶回路の
機能の第3番目で述べた様にモニタテレビ9(第1図)
の画面上に表示される。
この動作を第6図にて詳しく説明すると、=rイクロコ
ンピュータ(不図示)によ)検知位置の座標がデータ・
バスを介してX位置表示レジスタ57、Y位置表示レジ
スタ58に与えられる。このレジスタ57.58の出力
はマーカ表示回路59に位置データを与える。マーカ表
示回路59はこの位置表示レジスタとテレビ走査位置の
比較を行い一致した場合ミツ−ジス1計号として’II
’ Vカメラコントロール部(第5図22)へ送られる
。テレビ走査位置は、第7図で示される画素番号で表わ
すことができ、X方向には1番からN番、Y方向は1番
からM番目の数で必り、これらの位置のカウントはメモ
リ36゜40アドレスとして発生している。従って、X
方向r、1: X方向の積算メモリ36のアドレスとX
位置表示レジスタ57の比較、Y方間はX方向の積算メ
モリ40のアドレスとY位置表示レジスフ58の比較を
行い、一致した時にミックス信号を出せばよい。
このミックス信号は、TV左カメラコントロール22で
、テレビヘッド21から得られたビデオ信号とミックス
されたモニタテレビ9上に表示される。
表示するマークは特に限定はなく、十字線でも或は微少
の正方形のパターンでもよく、更に1りに注意をひくた
めこのマークが点滅 してもよい。
検知位置をテレビカメラが撮像している視野画面上に表
示する効果は、オペレータがテレビプリアライメントの
可否をモニタテレビ上で確認できる点にある。
ところで、今まで述べた様にブリ・アライメント・マー
クのX座標、Y座標は高精度で検出できるが、マークの
XY平面での傾き、即ちθ位置が必要な場合もある。
この場合、■1つのマークでθ位置を検出する方法及び
■視野内の2つのマークがらθ位置を検出する方法が考
えられるが、1つのマークによる検出はマークの積算デ
ータのピーク値、ピーク巾や傾きから算出されるが、被
検知物の反射率や散乱状態に微妙な影響を受けると共に
、θ位置を算出する方法が非常に難しく、精度のよい検
知ができない。また視野内の2つのマ−りによる検出も
、視野内に常に2つめマークを捕捉しなければならない
ので視野を広くする必要があり、θ位置をはじめ、X位
置、X位置の検出精IWが低下する問題がある。
本発明は以上の問題を解決し、高精度のθ位置を検知す
ることも可能である。
本実施例においては、被検知物上に所定の間隔(例えば
X方向に所定量能れているものとする)離れた2つのマ
ーク位置を設け、寸ず第1の計測において、前述のマー
クの一方(第1のマーク)をテレビ視野内に納め、これ
壕で述べてきた方法で第1のマークのX位置及びX位置
を検知する。次にウエノ・−ステージ(第1図5)を、
所定量XTだけX方向に移動し、他方のマーク(第2の
マーク)をテレビ視野内にとらえ、同様に第2のマーク
のX位置及びX位置を検知する。
このとき、第1のマーク位置をX、 、 Y、第2のマ
ーク位置をX2.Y2ステージの移動量をX丁とすると
、傾きθは で与えられる。
ここで移動量XTを十分大きくとると、θは高精度で求
めることができる。
即ち、上に述べた方法は、ステージの移動という簡便な
方法で高精度に傾きθを検知できるものである。
ところで、要求される位置検出精度によっては傾きθの
検出が不用な場合がめる。この様な場合には前述した第
1のマークの検出のみを行い、マーク位置X、 Yを検
出しTTLオートアライメントマーク検出の動作に移行
する。
第1及び第2のマークから傾きθ!検知を行うか或は第
1のマークの検知のみ行うかの選択は検知精度等からマ
イクロ・コンピュータが判断してもよいし、また、オペ
ンータがキー等によ如指示を与えてもよい。つまり、や
や時間を要するが高精度の位置検出のできる2点測定を
行うか、精度は若干劣るが検出のスピードアップが計れ
る1点検出を行うかの選択を設けることにより、効率の
よい位置検知装置を提供することができる。
以上説明した本発明によれば、ブリ・アライメントによ
ってファインアライメントに適した状態を作り出すこと
ができるので、総合的にみて短い時間の内に高精度のア
ライメントを一1実現できる効果がちシ、ファインアラ
イメントのため検知系の視野の広さを減少させられるか
ら検知系の設計が著しく容易に成ると共に性能の向上が
計れる効果がある。
ろるいはファインアライメントに比して精度を低くする
ことの許されるブリアライメントに2次元走査の検知系
を採用したので、プリアライメントマークも比較的単純
な形態で隣み、また走査を撮像管あるいは固体撮像素子
で実現できるから、光学系等装置、′/′i、簡略化さ
れ、また安価になる利点がある。
【図面の簡単な説明】
141図は本発明に係る焼付装置の外観を示す斜視図。 第2図はテレビ・グリアライメント検知系の光学斜視図
。第3図△はテレビ・プリアライメントマークの平面図
で、巳はファイン・アライメントマークの平面図。第4
図はファインアライメント検知系の光学断面図。第5図
は信号処理系の概略を示す電気ブロック図。第6図はテ
レビ・プリアライメント検知回路例を示す電気ブロック
図。第7図はテレビ画面の画素分割法を説明するだめの
説明図。第8図はテレビ・プリアライメント検知回路の
別の例を示す電気ブロック図。第9図はテレビフレーム
積算回数選択回路の電気ブロック図。 図中、■はマスク、2はマスク・チャック、3は縮小投
影レンズ、4はウエノ・−15はウェハー・ステージ、
6は対物レンズ、7は撮像管、11は照明光源、13A
は明視野絞り、13Bは暗視野絞り、PMはテレビ・プ
リアライメントマーク、W1〜W4とMl−M2はファ
イン・アライメントマーク、20はレーザー光源、22
は回転多面鏡、24は顕微鏡対物レンズ、30はフォト
・セル、Aはテレビカメラヘット部、13はテレビカメ
ラコントロール部、Cはテレビ・プリアライメント検知
回路、Dは光センサ部、Eはファイン・アライメント検
知回路、Fは制御回路、31はビデオアンプ、32はア
ナログ・デジタルコンバータ、33はラッチ、34・3
8は加箕器、35・39は加算出力ラッチ、36・40
はメモリ、37は加算入力ラッチ、41はシーケンス&
メモリ・コントロール回路、42はメモリコントロール
回路、43はコントロールレジスタ、44はデータバス
、45〜48はバッファ、49はクロック回路、50は
メモリ・ライトアドレス回路、51はメモリ・リードア
ドレス回路、52はアドレスセレクタ、53はバッファ
、54はメモリ・アドレス回路、55はアドレスセレク
タ、56はテレビ同期信号発生回路、57はX位置表示
レジスタ、58はY位置表示レジスタ、59はマーカ表
示回路である。 第3ノA PM 第3 f2B 手続補正書(自発) 昭和59年1り?4日 特許庁長官 若杉和夫  殿 ■ 事件の表示 昭和57年 特許願  第 187243   号2 
発明の名称 半導体用焼付装置 3 補正をする者 事件との関係       特許出願人件 所 東京都
大田区下丸子3−30−2名称 (+00)キャノン株
式会社 代表者賀来龍三部 4代理人 居 所 閏146東京都大田区下丸子3−30−25、
補正の対象 明細書 6、補正の内容 (1)明細書第28頁の第14行目及び第18行目に夫
々「第8図」とあるのを「第1表」と訂正する0 表jと訂正する0 (6)明細書第60頁第16行目に「第8図(a)」と
あるのを「第1表」と訂正する。 (4)明細書箱・63頁第1行目に「Y方向」とあるの
を「X方向」と訂正する。 (5)明細書第33頁第5行目に「第8図(a)」とあ
るのを「第1表」と訂正する。 する。 (7)明細書第64頁第5行目に「Y方向」とあるのを
「X方向」と訂正する。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)  マスクのパターンをウエノ・−上に投影光学
    系で投影して続刊ける装置に於いて、前記投影光学系を
    介することなくウエノ・−の位置を検知する2次元光走
    歪の第1位置検知手段と前記投影光学系を介してマスク
    とウエノ・−の位置を検知する第2位置検知手段を備え
    る半導体用焼付装置。
  2. (2)前記第1位置検知手段はウエノ・−上の2次元の
    マークを照明するだめの照明系と2次元の基準マークを
    具える受光光学系とウエノ・−上のマークと基準マーク
    を撮像するテレビジョン撮像手段を具える特許請求の範
    囲第1項記載の半導体用焼付装置。
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