JPS59662A - 周波数測定方式 - Google Patents

周波数測定方式

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Publication number
JPS59662A
JPS59662A JP11105282A JP11105282A JPS59662A JP S59662 A JPS59662 A JP S59662A JP 11105282 A JP11105282 A JP 11105282A JP 11105282 A JP11105282 A JP 11105282A JP S59662 A JPS59662 A JP S59662A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
frequency
counter
input frequency
input
circuit
Prior art date
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Pending
Application number
JP11105282A
Other languages
English (en)
Inventor
Katsuhiko Matsumoto
勝彦 松本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP11105282A priority Critical patent/JPS59662A/ja
Publication of JPS59662A publication Critical patent/JPS59662A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R23/00Arrangements for measuring frequencies; Arrangements for analysing frequency spectra
    • G01R23/02Arrangements for measuring frequency, e.g. pulse repetition rate; Arrangements for measuring period of current or voltage
    • G01R23/10Arrangements for measuring frequency, e.g. pulse repetition rate; Arrangements for measuring period of current or voltage by converting frequency into a train of pulses, which are then counted, i.e. converting the signal into a square wave

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measuring Frequencies, Analyzing Spectra (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (a)  発明の技術分野 本発明は入力周波数を測定する周波数測定方式伽)従来
技術と問題点 従来、カウンタを用いた周波数の測定において、IHz
単位でIKHzの測定を行うと測定時間に1000ff
lIl!c即ち1秒かかった。この様に周波数分解能を
IHz単位にして周波数を測定する際、測定時間内に変
化する周波数に対しては測定が不可能である0このため
短時間に変化する周波数を高い分解をもって測定できる
周波数測定方式が要望されている0 (c)  発明の目的 本発明は上記問題点を解決するために、所定の設定値内
に入力周波数fsを入力周波数よりも高い周波数の基準
周波数f1(>11)でカウントすることにより短時間
で入力周波数f+’を測定する新規な周波数測定方式を
提供することを目的とする〇 (d)  発明の構成 本発明は上記の目的を達成するために、入力周波数ft
 ’に基準周波数f2 と比較して該入力周波数flを
測定する周波数測定方式において、該入力周波数flは
第1カウンタにて所定の設定値n。
に達するまでカウントされ、一方該基準信号f!Vip
第1カウンタと同期して第2カウンタにてカウントされ
、前記第1カウンタのカウント終了信号によって該基準
信号のカウントを停止し、該設定値又は第1カウンタの
出力と該第2カウンタの出力は演算回路に入力され、前
記入力周波数f。
と基準周波154f* との比を演算し、諌止に該基準
周波数h ’ft乗算して入力周波数f、を算出するこ
とを特徴とする。
(e)  発明の実施例 以下本発明を第1図の実施例、第2図のタイムチャート
に基づいて説明する。
第1図において、第2図(1)に示す被測定用入力周波
数fI(以下入力周波数f、と記す)は波形整形回路1
にて、菓2図(2)に示すパルス波形に変換され、該パ
ルス波形(2)と第2図(3)に示す測定開始信号とは
ゲート回路2に入力し、第2図(4)に示す起動信号が
出力される。該起動信号(4)でカウンタ3は入力周波
数f+のパルス波形(2)のカウントを開始し、第2カ
ウンタ4は基準周波数発生回路5より出力される基準周
波数f2のカウントを開始する。
ここで第1カウンタ3は周期設定回路6にて設定された
設定値n、たけパルス波形(2)をカウントし、終了す
ると第26(6)に示す終了信号を出力しセ て第2カウンタ40も停止する。
一方、設定回路6のパルス計数のための設定値nlと第
2カウンタ4のカウントn、は演算回路7に入力される
。演算回路7の演算結果は表示回路8にて表示される。
演算回路7は前記n1とn、との比を演算し、諌止n+
/ntに基準周波数f、を乗算し、入力周波数f、を算
出する。すなわちf、=nl/n!×f、が計算される
いま、周期設定値n1=2としたとき、カウンタ4でカ
ウントn、=2000がカウントされ、基準周波数fl
 = IMHzのとき、ft =n+ / nt @f
t=−x IMHz =IKHzが求まる。この時の0
00 測定時間は1m5ecでIHzの1/1000ノ短時間
であり、分解能は1000 Hzに対しIHzである。
(f)  発明の効果 以上本発明によれば、基準周波数f!をft)f、のよ
うに選べば、短時間で桁数の多い低い周波数を短時間で
測定できる利点ヲ廟する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例、第2図は第1図の動作を説明
するためのタイムチャート’に示す。 図中、1は波形整形回路、2はゲート回路、3はカウン
タ、4はカウンタ、5は基準周波数発生回路、6は周期
設定回路、7は演算回路、8は表示回路を示す。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 入力周波数f、を基準周波数f!と比較して該入力周波
    数f、を測定する周波数測定方式において、該入力周波
    数f、け第1カウンタにて所定の設定値n、 [達する
    までカウントされ、一方該基準信号ftは該第1カウン
    タと同期して第2カウンタにてカウントされ、前記第1
    カウンタのカウント終了信号によって該基準信号のカウ
    ントを停止し、該設定値又は第1カウンタの出力と該第
    2カウンタの出力は演算回路に入力され、前記入力周波
    数f1 と基準周波数f、との比を演算し、該比に該基
    準周波数f2を乗算して入力周波数f。 全算出することを特徴とする周波数測定方式。
JP11105282A 1982-06-28 1982-06-28 周波数測定方式 Pending JPS59662A (ja)

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JP11105282A JPS59662A (ja) 1982-06-28 1982-06-28 周波数測定方式

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JPS59662A true JPS59662A (ja) 1984-01-05

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JP (1) JPS59662A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013145146A (ja) * 2012-01-13 2013-07-25 Hioki Ee Corp 周波数測定装置および周波数測定方法
JP2014185998A (ja) * 2013-03-25 2014-10-02 Lapis Semiconductor Co Ltd 半導体装置及び測定方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013145146A (ja) * 2012-01-13 2013-07-25 Hioki Ee Corp 周波数測定装置および周波数測定方法
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