JPS5942396B2 - 半導体メモリ装置 - Google Patents

半導体メモリ装置

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JPS5942396B2
JPS5942396B2 JP54079229A JP7922979A JPS5942396B2 JP S5942396 B2 JPS5942396 B2 JP S5942396B2 JP 54079229 A JP54079229 A JP 54079229A JP 7922979 A JP7922979 A JP 7922979A JP S5942396 B2 JPS5942396 B2 JP S5942396B2
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memory
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リオネル・エス・ホワイト・ジユニア
ジ−・ア−ル・モハン・ラオ
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    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C11/406Management or control of the refreshing or charge-regeneration cycles

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Dram (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は半導体メモリ装置、特にほとんどスタティック
メモリ装置として機能するダイナミックメモリ装置に関
するものである。
現在最も広く用いられている半導体メモリ装置は197
6年2月24日にKuoおよびKitagawaに交付
されTexasInstrumentsに譲渡された米
国特許第3、940、747号に記述されているような
単一トランジスタダイナミックメモリセルである。
これらのダイナミックメモリ装置をより高密度化したも
のは1976年5月13日付の「 Electroni
cs」 第81〜86頁およびLionelWhlte
および米国特許第4110776号、に示されている。
これらの高密度装置は単一トランジスタダイナミックメ
モリセルに用いている。単一トランジスタダイナミック
メモリセルは非常に小型でまたそれ故コストが低いとい
う利点を有するが外部リフレッシュ装置を必要とすると
いう欠点を有する。アレイのセルの各々の列は蓄積され
た電圧がメモリセルのコンデンサから漏洩するのでデー
タを再記憶するために周期的にアドレスしなければなら
ない。リフレッシュは時間およびシステムのハードウェ
アの負担を賦課する。通常リフレッシュは全ての列をリ
フレッシュするために連続的なアクセスサイクルを用い
るバーストリフレツシユモードかまたは全リフレッシュ
周期に渡つてリフレッシュサイクルを分配する分配リフ
レッシュモード(distributedrefr一e
shmode)によつてダイナミックランダムアクセス
メモリの1つの列のlビットを連続的にアクセスするこ
とにより遂行される。どちらの場合においてもメモリシ
ステムはリフレツシユアドレスのためのカウンタ(例え
ば8ビツトの長さで256列)リフレツシユを可能にす
るためのシステム割り込み機構、およびバーストモード
または分配モードのいずれかを用いる場合にいつリフレ
ツシユを行なうべきかを指示するタイマを必要とずる。
大規模なメモリシステムにおいてはリフレツシユ制御を
提供する回路全体がシステムのコストにしめる割合は小
さいので中規模から大規模メモリシステムにおいてダイ
ナミツクランダムアクセスメモリが広く用いられている
。しかしながら普通小さいミニコンピユータおよびマイ
クロプロセツサに組み合わせる型の小メモリシステムに
おいてはリフレツシユ制御回路はシステムのコストの大
きな部分をしめるのでダイナミツクランダムアクセスメ
モリの代用にスタテイツクランダムアクセスメモリがも
つともひんばんに用いられる。例えばシングルボードマ
イクロコンピユータはリフレツシユ制御のためにボード
スペースの3分の1を必要とする。代表的なスタテイツ
クランダムアクセスメモリセルは6個のトランジスタま
たは4個のトランジスタと2個のポリシリコン抵抗器を
必要とするのでセルの大きさはダイナミツクランダムア
クセスメモリに用いる1個のトランジスタと1個のコン
デンサよりずつと大きい。
全てTexaslnstru−mentsに譲渡されて
いる米国特許第4110776号、1977年5月31
日出願の米国特許出願第601699号において領域が
縮小されたスタテイツクセルが示されている。全てTe
xasInstーrumeutsに譲渡されている19
78年6月22日にJosephH.Raymond.
Jrに交付された米国特許第3955181号、Dav
idJ.McEl−royに交付された米国特許第40
92735号、Rao等に交付された米国特許第407
0653号、およびRao.RogersおよびMcE
1royに交付された米国特許第4070653号にお
いて様々な型の「自已リフレツシング」セルが示されて
いる。これらの自己リフレ゛ンシユセノレはセノレをア
ドレスすることなくリフレツシユを遂行することにおい
て明らかにスタテイツク動作を提供する。それでもなお
セルの大きさと1ビツトあたりのコストはダイナミツク
ランダムアクセスメモリのそれには達していない。本発
明の主な目的は半導体集積回路から成るより良いメモリ
システムおよび装置を提供することである。
もう1つの目的はより良い「スタテイツ夕」型MOSメ
モリ装置、特にセルの大きさが小冫さくまた精巧なリフ
レツシユ入力を必要としないメモリ装置を提供すること
である。さらに他の目的は半導体集積回路における小領
域擬似スタテイツクメモリ素子、特にほとんど全てのリ
フレツシユオーバーヘツドが同じチツプ上に組み込まれ
たダイナミツクセルアレイを使用するメモリ装置を提供
することである。本発明の1つの実施例によれぱ、標準
型のダイナミツクランダムアクセスメモリチツプ上のア
ドレスマルチプレクス回路およびリフレツシユアドレス
カウンタを含むメモリ装置が提供される。
必要な唯一の外部信号はオンチツプリフレツシユがカウ
ンタにより定められる列をアクセスしまた計数器をイン
クリメントするようにさせるリフレツシユコマンドであ
る。システム制御回路は大部分除去されるのでダイナミ
ツクランダムアクセスメモリは小さなメチリシステムに
対して採算の合うものになる。本発明を適用することの
できるメモリ装置を第1図に示す。
本発明の概念は例えば約0.3Crlt(約1/20平
方インチ)のlつのシリコンチツプ上に65536個ま
たは261824個のセルを含む非常に高密度のメモリ
装置において特に有効である。この型の装置は共にTe
xasInstrumeーntsに譲渡されている、C
−K Kuoによる1976年1月12日出願の米国特
許出願第648594号または1976年9月13日出
願の米国特許出願第722841号において記述されて
いるNチヤンネルシリコンゲートセルフアラインドMO
Sプロセスによつて作ることができる。この実施例にお
いて装置は一般に256列および256行に分割される
65536個のメモリセルのアレイ10から成り、各々
のセルは前記米国特許出願第648594号、または米
国特許出願第722841号において示されている型の
いわゆる単一トランジスタセルである。列デコーダ11
は8ビツト列アドレスラツチ12に含まれる列アドレス
すなわちXアドレスにより定められる250列のうちの
1列を選択し、また行デコーダ13は8ビツトコラムア
ドレスラツチ14に含まれる行アドレスすなわちYアド
レスにより定められる256行のうちの1行を選択する
。正規の動作では、これらのアドレスは8{固のアドレ
スライン15によつてタイムシュアベースでそのチツプ
へ加えられ、一方リフレツシユでは列アドレスは内部で
生成される。繁即ち列アドレスストローブ入力16(第
2図Aに見られる)がロジツク「0」即ちゼロボルトで
ある時、列アドレスバツフア12はΦ2において正規な
動作の場合ライン15からAO乃至A7の列アドレスを
受けとることができる。リフレツシユ動作の間に列アド
レスラツチは後に説明するリフレツシユアドレスを受け
る。CAS即ち行アドレスストローブ入力17(第2図
Bに見られる)はロジツク[0」即ちゼロボルトである
時行アドレスバツフア14はライン15から行アドレス
(ビツトA8乃至Al5)を受けとることができる。列
および行アドレスは第2図Cに示されている時間中ピン
15上で有効でなければならない。65536個のセル
の1つのビツトを一義的に定めるためには16個のアド
レスビツトが必要である。
(216=65536)入力/出力制御回路18は行デ
コーダ13を経てアレイ10に接続することができまた
様々な内部で生成される刻時および論理電圧の制御のも
とにあると同様に読み取り/書き出しR八入力21の制
御のもとでデータ入力ピン19からデータを行ラインに
送つたり行ライン上のデータを検出してそれをデータ出
力ピン20に送つたりするように機能する。あるいは分
離した入力および出力ポート19および20の代わりに
単一の2方向1/Oポートを用いることもできる。本装
置はピン22への供給電圧を必要とし、これらは普通接
地またはVssと同様に+5V0Vdd供給電圧を含む
。もちろんある回路は1つよりむしろ2つまたは3つの
供給電圧で機能するように設計されている。デコーダ1
1は通常の設計であつて、1組の256個のセンス増幅
器の左の128列のライン23の1つまたは前記増幅器
の右の128列のライン24の1つを選択するように機
能する。選択された列ラインは第2図EにおいてΦ2に
続いて「高」になつて論理「1」となり残りの255列
は「低」にととまる。A7すなわち列アドレスのMSB
は右側または左側を選択しまた選択されlこメモリセル
からライン29または30を経てセンス増幅器の反対側
の1列のダミーセル26または27の活性化を決定する
。各々の行ラインの中心に位置するセンス増幅器25は
普通上述の米国特許第3940747号、第40500
61号、第4081701号に詳細に記されているよう
な双安定回路である。本発明によれば列デコーダ11は
その入力31において入力端子15からの正規アドレス
かまたはリフレツシユアドレスを受ける。
この選択は8個のマルチプレクスゲート32によつてな
される。これらのゲート32の各々はゲートがリフレツ
シユアドレスビツトQをデコーダ11に加えるようにさ
せるリフレツシユタロツクΦRf2に応答する。クロツ
クΦRf2が存在しない時入力15からの正規アドレス
は8個のマルチプレクスゲートを通過してデコーダ11
へ向かう。256個の可能な列アドレスを通して連続す
る8ビツトのアドレスを1回に1つずつライン34上に
発生する順序形カウンタ33により、リフレツシユアド
レスが発生される。
順序形カウンタ内のアドレスはRF信号がチツプ入力ピ
ン35上に現れるたびに変化する。制御回路36はリフ
レツシユ信号RFおよびピン16からの可能化(エネー
ブル)信号正?を受信して他の制御と同様にΦRf2ク
ロツクを作成するO各々の列がメモリ装置の数ミリセコ
ンドの最大リフレツシユ時間内にアドレスされるように
列は1つずつある順序でアドレスされねばならない。
行アドレスは必要ない。もしあつても余分である。各々
の入カクロツクについて計数を1つ進める様様な形のカ
ウントを用いることができる。アドレスシーケンスはア
ドレスを繰り返さない限り順序だてて進める必要はない
。従つて米国特許第4074355号に見られるような
擬似ランダムシフトカウンタを用いることができる。規
則的に数の順序で進むカウンタQ月例が第3図に示され
ている。このカウンタは一連の8個の二進加算器または
カウンタ段40において生成されたリフレツシユアドレ
スをホールドする8個のラツチ38(刻時されたD型フ
リツプフロツプ)を含んでいる。各々の加算器段はクロ
ツクΦ,F2がクロツタ入力42に存在する時二進の入
力43および44に応答して出力41に1または0を発
生する。各各の入力43は各対応のラツチ36の出力3
4に接続し、また各々の入力44は前述のカウンタ段4
0からのけた上げ出力45を受けるために接続さわてい
る。第1のカウンタ段40はその入力44は論理「l」
に接続しているので常にけた上げ人力を有する。ラツチ
38はクロツクCが存在する時のみ変化することができ
る。このクロツクは制御回路38内で生成さイ゛jまた
lサイタルの終わりにリフレツシユ信号RFが生じまた
通常のチツプクロツクΦが「l]になつた時に生ずる。
それからラツチ38はライン41上のアドレスを受けも
う1つのリフレツシユ信号の後までこの状態にとどまる
。Φ,F2が「高」になるとカウンタ段40はCが生ず
る前に次の計数へ移動(リプル)する。リフレツシユ信
号RFが生ずる時ライン34およびマルチプレタサ32
を経てデコーダ11に送られたアドレスはそれに先立つ
リフレツシユ信号においてカウンタ段40内に生成され
たものでありΦが「高」になつた後ラツチ38に記憶さ
れる。第4図を参照すると制御回路38が詳細に示され
ている。
センス増幅器25およびメモリ装置の他の点において用
いられているΦ1およびΦ2クロツクはわずかな遅延を
導入するインバータ46およびさらに遅延を導入する論
理ゲート47によつてライン16のRAS信号から生成
される。Φ2信号は第2図Eに見られる。ライン35に
RF信号が存在する時、インバータ49によつて抑止信
号Φ,F,がライン48上に生成される。これは復旧信
号ΦRf2がライン50上に遅延回路51の出力におい
て生ずるまで論理ゲート47がΦ2を作成するのを抑止
する。従つてΦ2はΦ,F2がライン31からの}jフ
レツシユアドレスにおいてマルチプレクサをゲートさせ
るようにトリガした直後まで生じない。信号ΦRf2も
またリフレツシユタロツクCを作成するためにΦと共に
ゲート52へ送られる。上述の実施例において非同期式
リプルスルー加算器をカウンタ段40を用いて記述した
代わりに同期加算器またはキヤリールツクアヘツドのあ
る加算器を用いることもできる。しかしながら同期式加
算器は刻時信号を提供するためのオンチツプマルチパイ
プレータを必要とするかまたは次のリフレツシユアドレ
スが生成される以前に多重メモリサイクルが生じること
を必要とする。キヤリールツクアヘツドによる方法はか
なりの付加的な回路および接続ラインを必要とする。本
発明は特定の実施例について記述してきたがこの記述は
限定的な意味に解釈されることを望むものではない。
本発明の他の実施例と同様に、開示された実施例の様々
な変更が可能であることは本発明の記述を参照すれば当
業者には明らかとなろう。それ故添付の特許請求の範囲
は本発明の真の範囲内に属するいかなる変更および実施
例をも包含するものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明のオンチツプリフレツシユを含むメモリ
装置のプロツク線図、第2図は第1図のシステムにおい
て現れる電気信号波形即ち信号の電圧対時間のグラフ表
示、第3図は第1図のシステムのリフレツシユアドレス
カウンタの詳細なプロツタ線図、第4図は第1図のシス
テムの制御回路の詳細なプロツク線図である。 参照番号の説明、10・・・・・・セルのアレイ、15
・・・・・・アドレスライン、16・・・・・・列アド
レスストローブ人力、19・・・・・・入力ピン、20
・・・・・・出力ピン、21・・・・・・読み取り/書
き出し入力、22・・・・・・ピン、23,24・・・
・・・選択された列、38・・・・・・ラツチ、40・
・・・・・カウンタ段、42・・・・・・刻時入力、4
3,44:2つの入力、45・・・・・・けた上げ出力
、46・・・・・・インバータ、47・・・・・・論理
ゲート、49・・・・・・インバータ、51・・・・・
・遅延回路、52・・・・・・ゲート。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 単一の半導体基板にメモリセルの配列が集積され、
    前記半導体基板の外部から印加される外部アドレス情報
    に基づき前記メモリセルにアクセスし、書込みあるいは
    読出し可能な半導体メモリ装置において、前記半導体基
    板に、書込みあるいは読出しと無関係に内部アドレス情
    報を出力可能なリフレッシュ・アドレス・カウンタと、
    該リフレッシュ・アドレス・カウンタの内部アドレス情
    報を増加させる手段と、外部アドレスあるいは内部アド
    レス情報を選択的に受け、前記メモリセルをアクセス可
    能にするアドレス手段とをさらに集積したことを特徴と
    する半導体メモリ装置。 2 前記リフレッシュ・アドレス・カウンタは、前記半
    導体基板外に設けられた手段からリフレッシュ命令信号
    が印加されると内部アドレス情報を増加し、前記半導体
    基板外の手段は、前記アドレス手段に内部アドレス情報
    を受けさせるようにしたことを特徴とする特許請求の範
    囲第1項記載の半導体メモリ装置。
JP54079229A 1978-06-26 1979-06-25 半導体メモリ装置 Expired JPS5942396B2 (ja)

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US05/918,891 US4207618A (en) 1978-06-26 1978-06-26 On-chip refresh for dynamic memory
US000000918891 1978-06-26

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JPS554797A JPS554797A (en) 1980-01-14
JPS5942396B2 true JPS5942396B2 (ja) 1984-10-15

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ID=25441128

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JP54079229A Expired JPS5942396B2 (ja) 1978-06-26 1979-06-25 半導体メモリ装置

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