JPS593646A - 集積回路の電源電圧検知リセツト方式 - Google Patents

集積回路の電源電圧検知リセツト方式

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JPS593646A
JPS593646A JP57113308A JP11330882A JPS593646A JP S593646 A JPS593646 A JP S593646A JP 57113308 A JP57113308 A JP 57113308A JP 11330882 A JP11330882 A JP 11330882A JP S593646 A JPS593646 A JP S593646A
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JP
Japan
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integrated circuit
power supply
supply voltage
test mode
source voltage
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JP57113308A
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JPH0411893B2 (ja
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Koichi Fujita
藤田 鋼一
Moritoshi Shirato
白土 守利
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Priority to EP83303140A priority patent/EP0096531B1/en
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Priority to IE1358/83A priority patent/IE54444B1/en
Priority to US06/502,591 priority patent/US4551841A/en
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    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/07Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
    • G06F11/0703Error or fault processing not based on redundancy, i.e. by taking additional measures to deal with the error or fault not making use of redundancy in operation, in hardware, or in data representation
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (1)発明の技術分野 本発明は集積回路の電源電圧検知リセット方式。
特に例えばマイクロ・コンピュータ等の集積回路におけ
る電源電圧異常時にシステム・リセット信号を出力する
回路において、試験時には上記システム・リセット信号
の出力を抑止する手段を設け。
完全な動作保証の試験を可能とした集積回路の電源電圧
検知リセット方式に関するものである。
(2)技術の背景 例えば、マイクロ・コンピュータ等の集積回路において
は、電源雪圧が5Vと定められていれば。
そのプラス・マイナス5チ〜10チの範囲内で。
すべてのファンクションが正しく動作することが保証さ
れるようKされている。もし、!、源電電圧上記範囲を
逸脱して、ある一定のレベル以下に低下すると、論理的
な誤動作を引き起すことになる。
誤動作が生じるとシステムが暴走するおそれがあるので
、誤動作が生じる前にシステムを停止させるため姉、集
積回路中に電源電圧検知回路を設けて、電圧低下を検知
したならば、自動的にシステム・リセット信号を出力し
て、システムの誤動作を防ぐようにした方式が最近用い
られ始めてbる。
(3)従来技術と問題点 上記電源電圧異常時のリセット回路が紹み込まれたマイ
クロ・コンピュータ等の集積回路は、製品出荷前に電圧
の動作保証範囲内で正常に動作するかどうか、また電圧
の異常時に正しくシステム・リセットがかかるかどうか
のチェックがなされる。しかし、従来、動作保証範囲と
検知レベルとの間に、動作保証のできないギャップが必
ず生じてし壕うという問題があった。
第1図は従来方式の問題点説明図を示す。例えば、集積
回路に要求される電源電圧VCCが5Vであるとする。
また、この集積回路の動作保証範囲は、第1図に斜線で
示した4、5■から5.5■であるとする。もし、電源
電圧Vccが動作保証範囲から外れた場合には、誤動作
が生じる前にシステムにリセットがかかることが必要と
なる。このときの電圧低下の検知レベルVT を、動作
保証範囲の下限である465Vに常に一致させることが
できれば望ましい。しかし1個々の製品については、必
ず製造上の特性のバラツキが生じるので、検知レベルV
Tは、どうしても動作保証範囲よりも下側に選ぶ必要が
ある。第1図図示の例では、この検知レベルvTを4.
2■にとっている。製品の試験を行う場合には、電源電
圧Vccを種々の値に変化させてテストを行い、第1図
(イ)図示の如く電源電圧Vccが4.5vと5.5v
との間にあるときに、この集積回路が正常に動作するか
どうかの確認がかされる。寸た。第1図eつ図示の如く
、電源電圧Vccが検知レベルVT以下になったときに
、正しくリセットがかかるかどうかの確認もかされる。
しかし、第1図(ロ)図示の場合のように、電源電圧V
ccが動作保証範囲外になって、しかも検知レベルvT
まで達しないような場合については、確認はできず、そ
の間においてリセットがかからないため、システムが誤
動作する可能性が存在することとなる。かりに動作保証
範囲よりも広く正常性の確認を行うようにしても、従来
方式によれば、検知レベルVTよりも大きな電圧で確認
することが必要となるので、試験電圧と検知レベルTT
との間に必ず正常に動作するかどうか不明瞭で、しかも
リセプトされない領域が生じてしまうことになる。
(4)発明の目的 本発明は上記問題点の解決を図シ、少なくとも検知レベ
ルVTまでは完全に集積回路が正常に動作することを確
認できるようにし、システムの信頼性を向上させること
を目的としている。
(5)発明の構成 上記目的達成のため1本発明はテスト・モード時に電源
電圧検知回路が作動し々いようにし、検知レベルVT 
よりも低い電源電圧においても、リセットがかからずに
、正常に動作するかどうかの試験ができるようにしたも
のである。すなわち。
本発明の集積回路の電源雪圧検知リセット方式は。
集積回路中に電源電圧検知回路をそなえ、当該集積回路
に供給される電源電圧を検出して異常電圧を検知したと
きに自動的にシステムにリセットをかける回路において
、当該集積回路の端子への外部からの設定信号により、
または内部に設けられたフラグのオン/オフによって、
上記電源電圧検知回路によるリセット信号の出力を抑止
する手段を設け、当該システムの試験時における異常電
圧検知時のシステム・リセットを抑止するようにしたこ
とを特徴としている。以下1図面を参照しつつ実施例に
もとづいて説明する。
(6)発明の実施例 第2図は本発明の一実施例構成を示す。図中。
1は集積回路、2け動作機能部、3は制御部、4はレジ
スタ部、5はROM(リード・オンリ・メモlJ)、6
はRAM(ランダム・アクセス・メモリ)、7はアンド
論理部、8は電源電圧検知回路。
9はテスト・モード信号端子を表わす。
集積回路1は9例えば1チツプ(chip )マイクロ
・コンピュータであって、動作機能部2の制御部3は、
ROM5tたはRAM6に格納された命令を7エツチし
て実行するものである。データの処理には、レジスタ部
4の各種レジスタが用いられる。
この動作機能部2は例えば5vの電源電圧Vccのもと
で動作する。電源電圧Vccは例えば5チ〜10チの範
囲内で変動することが許され、その範囲内では集積回路
1は正常に動作することが保証される。
電源電圧検知回路8は、集積回路1に供給される電源電
圧V。Cが動作保証範囲外になったときに。
システムの誤動作を防止するために、動作機能部2に対
しリセット信号を出力するものである。このリセット信
号を出力する場合の電源電圧vccの検知レベルvTは
2例えば4.2vに設定される。少なくとも電源電圧検
知回路8がリセット信号を出力する検知レベルvTまで
は、動作機能部2は正常に動作することが保証されなけ
ればならない。そのためには1例えば検知レベルVTよ
シも低い電源電圧VCaでも正常に動作することが確認
されればよい。しかし、従来の場合には、検知レベルV
Tよりも低い電源電圧Vccでは、システムにリセット
がかかつてしまうので、正常に動作可能であるかどうか
のチェックはできなかった。本発明においては9次のよ
うにして解決さ−れる。
第2図図示の如く、集積回路IK外部からのテスト・モ
ード信号を入力するテスト・モード信号端子9が設けら
れる。そして、このテスト・モード信号端子9には、当
該集積回路1の試験検査時にはLレベルの信号が、また
通常の動作時には。
Hレベルの信号が供給されるようKされる。このテスト
・モード信号端子9にLレベルの信号が供給されている
ときには、集積回路1はテスト・モード状態妬あシ、電
源電圧Vccがどのように変動しても、動作機能部2に
対し、リセット信号が出力されることは寿い。すたわち
、アンド論理部7によって、テスト・モード信号がLレ
ベルにある   ′ときには、電源電圧検知部8の出力
は抑止される〇一方1通常の動作状態およびリセットの
試験状態においては、テスト・モード信号としてHレベ
ルの信号が供給されるので、アンド論理部7を経由して
、電源電圧検知回路部8の出力は、動作機能部2に供給
されることとなる。
従って、テスト・モード時には1例えば電源電圧Vcc
を4.0■として検知レベルVTの4,2vよシも低い
値にして、集積回路1が正常に動作するかどうかの確認
を行うことが可能になシ1通常の使用時には、4.2V
以下の電源電圧Vccでリセットがかかるようにするこ
とができるので、1oos正常性の確認を行うことがで
きる。
第3図は本発明の他の一実施例構成を示す。図中、符号
工ないし8は第2図に対応し、10はテスト用スリップ
・フロップを表わす。
第3図図示の例においては、テスト・モード設定のだめ
の手段として1通常1チップ・マイクロ・コンピュータ
等では、内部に必ず存在するフリップ・フロップ10が
用いられる。集積回路1をテストする場合には、フリッ
プ・フロップ10をリセットして0”を出力するように
する。この場合には、テスト・モードの状態となり、第
2図を用いて説明した場合と同様に、電源電圧検知回路
8からのリセット信号は、アンド論理部7によって抑止
されることとなる。フリップ・フロップ10が1”Kセ
ットされれば、テスト・モードは解除され、電源電圧検
知回路8の出力は、そのまま動作機能部2に供給される
。この第3図図示の例では、端子信号を使用し寿いので
、端子の有効利用ができ、また端子ノイズ等による電源
電圧検知回路8の誤動作の心配も解消される。
(7)発明の詳細 な説明した如く本発明によれば、簡易な手段によって動
作保証ができない不明瞭な領域を完全になくすことがで
き、システムの信頼性を向上させることができる。特に
、1チツプ・マイクロ・コンピュータ等では1本来備え
ている機能・信号等を流用することができ、ハードウェ
ア(回路)の増加はほとんどないといってよい。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来方式の問題点説明図、第2図は本発明の一
実施例構成、第3図は本発明の他の一実施例構成を示す
。 図中、1は集積回路、2は動作機能部、7はアンド論理
部、8は電源電圧検知回路、9はテスト・モード信号端
子、10はテスト用フリップ・フロップを表わす。 特許出願人 富士通株式会社

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 集積回路中に電源電圧検知回路をそなえ、当該圧を検知
    したときに自動的にシステムにリセットをかける回路に
    おいて、当該集積回路の端子への外部からの設定信号に
    より、上記電源電圧検知回路によるリセット信号の出力
    を抑止する手段を設け、当該システムの試験時における
    異常電圧検知時のシステム・リセットを抑止するように
    したととを特徴とする集積回路の電源電圧検知リセット
JP57113308A 1982-06-09 1982-06-30 集積回路の電源電圧検知リセツト方式 Granted JPS593646A (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP57113308A JPS593646A (ja) 1982-06-30 1982-06-30 集積回路の電源電圧検知リセツト方式
EP83303140A EP0096531B1 (en) 1982-06-09 1983-06-01 One-chip semiconductor device incorporating a power-supply-potential detecting circuit with reset function
DE8383303140T DE3373759D1 (en) 1982-06-09 1983-06-01 One-chip semiconductor device incorporating a power-supply-potential detecting circuit with reset function
IE1358/83A IE54444B1 (en) 1982-06-09 1983-06-09 One-chip semicunductor device incorporating a power-seuuply-potential detecting circuit with reset function
US06/502,591 US4551841A (en) 1982-06-09 1983-06-09 One-chip semiconductor device incorporating a power-supply-potential detecting circuit with reset function

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP57113308A JPS593646A (ja) 1982-06-30 1982-06-30 集積回路の電源電圧検知リセツト方式

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JPS593646A true JPS593646A (ja) 1984-01-10
JPH0411893B2 JPH0411893B2 (ja) 1992-03-02

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ID=14608937

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JP57113308A Granted JPS593646A (ja) 1982-06-09 1982-06-30 集積回路の電源電圧検知リセツト方式

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61112427U (ja) * 1984-12-20 1986-07-16

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4932555A (ja) * 1972-07-22 1974-03-25

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4932555A (ja) * 1972-07-22 1974-03-25

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS61112427U (ja) * 1984-12-20 1986-07-16

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JPH0411893B2 (ja) 1992-03-02

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