JPS5936305B2

JPS5936305B2 - マイクロコンピュ−タのテスト入力回路

Info

Publication number: JPS5936305B2
Application number: JP53088180A
Authority: JP
Inventors: 敏明鈴木; 良明大松; 隆坂尾; 和昭真弓; 清人太田
Original assignee: Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Current assignee: Panasonic Holdings Corp
Priority date: 1978-07-18
Filing date: 1978-07-18
Publication date: 1984-09-03
Also published as: JPS5515559A

Description

【発明の詳細な説明】本発明はマイクロコンピュータのテスト入力回路の改良
に関するものである。

一般にマイクロコンピュータ（以下マイコン）のチップ
テストを行なう場合、入力条件や順序や処理プログラム
内容によつて出力条件がそれぞれ違つてくる。

これらの組み合わせを全て実時間でテストすれば、長い
時間が必要になる。従つて、通常、テストプログラムを
実行してマイコン各部の動作テストを行なう。テストプ
ログラムを実行させる方法としては外部よりテストプロ
グラムを挿入する方法、あるいはマイコン内部のＲＯＭ
にテストプログラムを入れておいて処理プログラムと切
り換えて実行させる方法がある。これら、マイコンチッ
プテストはＬＳＩウェハー状の時に行なうものと、パッ
ケージング後に行なうものがある。パッケージング後に
テストを行なう場合、一般にテスト端子を設ける。この
テスト端子はマイコンのテストを行なう時だけ必要なの
で、ユーザーがマイコンを通常使用する時はテスト端子
はロウ、又はハイレベルにしておくか、開放状態にして
おく。マイコンチップテストを行なう時には、テスト端
子からチップテスト情報を入力する。このときマイコン
はチップテストプログラムに従つて、各種の動作テスト
を行なう。従つて、外部からＬＳＩテスターなどを用い
て高速に自動テストを行なうことが出来る。この様にし
てマイコンチップの工場出荷時テストが行なわれるが、
この場合、ユーザーにとつて直接必要でないテスト専用
端子が増えることであるので、コストアップになる（Ｌ
ＳＩの価格はパッケージで決まる要素も大きい）。また
、１チップマイコンも１００ピン端子を持つものから１
６ピン、またはそれ以下のものも使用され始めてきた。
そこでテスト専用端子が一本とは言つても無視出米なく
なつてきた。

１チツプマイコンにおいては、実行プログラムが内部に
ある場合がほとんどなので、マイコンのｉ／″ｏ端子も
あらかじめ用途が割り当てられる。

例えば表示器の駆動を行なう場合、ダイナミツク形なら
ば桁信号用出力端子とセグメント信号出力端子とに分け
られ割り当てられる。また、マイコン外部との同期をと
るためにマイコン側に同期パルス出力端子が設けられて
いる。これらの端子は、ユーザーが通常使用する時には
出力専用端子として周辺回路を設計する。本発明はユー
ザーが出力専用端子として割り当てて使用する端子を利
用し、工場出荷時のマイコンチツプテスト入力端子を共
用させることにより、チツプテスト専用端子をなくする
ことを目的とする。以下、本発明の詳細について実施例
とともに説明する。

第１図は１チツプマイコン１のテスト入力部とＬＳテス
ター６のプロツク図である。はじめにマイコン１側のテ
スト入力部の構成を述べる。１チツプマイコン１の同期
信号出力端子２はユーザーが通常使用する時は出力専用
端子として使う。

例えばクロツク発振部を内蔵するマイコンの場合は発振
調整確認用に使う。また入、出力に同期した制御を行な
う時の同期パルスとしても使う。同期信号ハはマイコン
１の命令実行と同期したパルスであり、ドライバー３を
駆動する。ドライバー３はＮチャンネルＭＯＳトランジ
スタであり、前記同期信号ハがハイレベルになつた時に
オンになる。このドライバー３のソース側は接地されド
レイン側は、前記端子２に接続される。プルアツプ抵抗
４は前記端子２に接続され、前記ドライバー３がオフの
時にＶｃｃにプルアツプする。Ｄフリツプフロツプ５は
前記端子２から入力されたマイコンチツプテスト情報を
検知するためのラツチである。Ｄ入力を前記端子２に接
続し、クロツクによりラツチしフリツプフロツプ５のＱ
端子から能動ハイレベルのチツプテストのモード信号イ
を出力する。このＤフリツプフロツプ５のクロツク入力
には、前記ドライバー３がオフになつた時に発生するラ
ツチ信号口を接続しチツプテスト情報をラツチする。モ
ード信号イ、ラツチ信号口、同期信号ハはマイコンチツ
プ本体に接続される。次にＬＳＩテスター６側の構成を
述べる。モノマルチ７は、前記同期信号出力へが立ち下
がる時を検出してトリカーがかり動作する。そして前記
ラツチ信号口を含む長さのテストモード要求タイミング
ホをつくる。テストモード要求信号二と前記タイミング
ホとのアンドゲート８が開いた時に、ドライバー９がオ
ンになる。このドライバーは前記端子２とＧＮＤ間に接
続され、ドライバー９がオンになつた時に端子２をロウ
レベルにする。ここでユーザーが通常使用する時の動作
を述べる。この時は、ＬＳＩテスター６は接続されない
。そのかわり、人力ゲートなどが接続される。同期信号
ハがハイレベルになると、ドライバー３がオンになり、
端子２はロウレベルを出力する。同期信号ハがロウレベ
ルになると、ドライバー３がオフになり、端子２はプル
アツプ抵抗でプルアツプされてハイレベルになる。この
時、ラツチ信号口が出てＤフリツプフロツプにはハイレ
ベルがラツチされ、Ｑ出力からロウレベルが出るのでモ
ード信号イはロウになり非能動を示す。つまり、この時
は同期信号出力端子として能動ロウレベルの同期信号を
出力するだけの端子機能を持つている。第２図のＮの部
分がこの時の各部波形である。次に工場出荷などの時に
、ＬＩＳテスター６を接続した時、テストモードにおけ
る動作を述べる。前述の様にして同期信号が端子２から
出力される。同期信号の立ち下がりでモノマルチ７がト
リカーされ、要求タイミングホがつくられる。テストモ
ード要求信号二と前記タイミングホがアンドゲート８で
アンドされ、ドライバー９をオンにする。ドライバー９
の出力によつて端子２はロウレベルになる。同期信号ハ
がロウレベルになり、ドライバー３がオフになつてもさ
らに端子２はロウレベルを保持する。するとラツチ信号
口により、ロウレベルがＤフリツプフロツプ５でラツチ
され、テストモード信号イをハイレベルにし能動にする
。この様にして、同期信号出力端子２からテスト情報を
入力することが出来る。例えばこのモード信号イを用い
てマイコン１の命令ＲＯＭを切換えて、マイコンテスト
命令を実行させれば良いわけである。あるいは、特定の
ｉ／６ポートを利用してテスト命令を挿入し実行するモ
ードに切り換えれば良いわけである。次に第２の実施例
について述べる。

第］の実施例においてはマイコンチツプテスト情報は１
ビツトであつたが、第２の実施例は２ビツト設ける（こ
のビツト数は必要に応じて増やすもので制限はない）。
この２ビツトのテス、トモード情報の組み合わせによつ
て、マイコンの動作を制御しようとするものである。構
成および動作は第１の実施例（第１図および第２図）の
延長になるので重複する部分の説明は省く。また第」図
および第２図については共通の番号を付ける。マイコン
１においては、テストモード情報を入力するためのＤフ
リツプフロツプ１０を追加する。Ｄ入力は実施例１と同
様に同期信号出力端子２に接続する。クロツク入力には
、ラツチ信号口よりも少し遅れたタイミングで発生する
ラツチ信号ヌを加える。そして、Ｑ端子からモード信号
リを得る。ＬＳＩテスター６においてはテストモード要
求タイミングホの立ち下がりでトリカーされるモノマル
チ１１を追加し、要求タイミングトを得る。また、テス
トモード要求信号チも追加し、これに伴ないアンドゲー
ト１２、ドライバー１３も追加する。このとき、モノマ
ルチ７が完全に同期信号ハだけでトリカーされる様にオ
アゲート１４を設ける。オアゲート１４では、端子２の
信号え、要求タイミングトがともにオフになつた時に、
再トリカーを受け付ける様にオア信号をつくつている。
次に動作を述べる。

同期信号ハの出力、モード信号イの受信は実施例１と同
じなので省略する。モード信号りはラツチ信号口の立ち
下がりよりも少し遅れたタイミングのラツチ信号ヌをＤ
フリツプフロツプ１０のクロツク端子に加え、Ｑ端子か
らモード信号リが出力される。ＬＳＩテスター６側も、
テストモード要求信号二の送信については説明を省く。
テストモードチは要求タイミングホの立ち下がりによつ
てトリガされるフリツプフロツプ出力である要求タイミ
ングトによつてアンドゲート１２が開き、ドライバー１
３をオンにする。

ドライバー９と同様に端子２をロウレベルにしてテスト
モードチをチツプに人力する。このタイミングを第４図
の１、２、３の区間で示す。

この時、区間２では端子２の信号へは同期信号ハが１回
来る間に２回ハイレベルを持つ。すると、前記モノマル
チ７が同期信号ハのタイミング以外で誤つてトリカーさ
れるようになる。これを防ぐため、要求タイミングホの
間はモノマルチ７の入力がロウレベルになる様にオアゲ
ート１４が動作し誤動作を禁止する。以上の様にして、
モード信号イ、モード信号リの２ビツトのチツプテスト
情報がマイコン１に入力される。

この２ビツトの組み合わせによつていく種類かのチツプ
テストを行なう。例えば、１チツプマイコンにプログラ
ムされた命令内容のテストとか、内蔵ＲＡＭ、スタツク
、各種フラグ、レジスタのテストとか、あるいは外部か
ら命令を挿入、実行させるモードなどを割り当てて、効
率的なチツプテストを行なおうとするものである。

なお、上記実施例として、テストモードの入力回路とし
てＤフリツプフロツプを用いたものを述べたが、シフト
レジスタ、ＪＫフリツプフロツブ、カウンターなどを用
いても同様に実現出米る。

以上のように本発明においては、１テスト専用端子をな
くすることが出来るためピン数に余裕が出来、実質的に
１ピン増える。２ユーザーの直接必要でないピンがなく
なるので、メーカー、ユーザーともにコスト安となるな
どの効果が得られる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例のマイクロコンピユータのテ
スト人力回路のプロツク構成図、第２図は第１図の動作
説明図、第３図は本発明の異なる実施例のマイクロコン
ピユータのテスト入力回路のプロツク構成図、第４図は
第３図の動作説明図である。１・・・・・・１チツプマイコン、２・・・・・・同期
信号出力端子、３・・・・・・ドライバー、４・・・・
・・プルアツプ抵抗、５・・・・・ヲリツプフロツプ、
６・・・・・・ＬＳＩテスター７・・・・・・モノマル
チ、８・・・・・・アンドゲート、９・・・・・・ドラ
イバー１０・・・・・・フリツプフロツプ。

Claims

【特許請求の範囲】

１マイクロコンピュータ集積回路の内部と外部とを接
続する１つの端子と、前記端子に接続され、前記マイク
ロコンピュータ集積回路の内部状態をある一定の時間間
隔で繰り返し出力する第１のドライバーと、前記端子の
値を前記第１のドライバーが非能動である時のみ、１あ
るいは複数の相異るタイミングでサンプリングし、その
値を保持するためのサンプル数に等しいフリップフロッ
プとを有するテスト入力部を備え、前記第１のドライバ
ーが非能動または能動になつたことを検出する手段と、
前記第１のドライバーが非能動時に前記端子にテスト指
示情報を出力する第２のドライバーとを有するＬＳＩテ
スターにより同期制御が行なわれてテスト指示が行なわ
れるマイクロコンピュータのテスト入力回路。