JPS5935464B2 - 印刷物の検査機 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は印刷物の文字等のパターンの脱刷、欠け等の自
動検査に関するものである。

通常印刷物の検査は、検査員がシート伏印刷物において
は、手でめくわながら、円筒状印刷物（例えば紙筒、歯
磨粉チューブ）の場合は、印刷物を手でころかしながら
、目で見、文字等のパターンの脱刷欠け等があつた場合
には不良品として、良品の中から取シ除くという方法が
採られているが、かかる検査方法に於いては手間がかか
Ｄ能率アップが困難である。又自動検査の方法として、
印刷物の文字等のパターンをフーリエ変換等の前処理を
行つて後記憶し、コンピューターによシ被検査パターン
と標準パターンとを比較する方法も発表されているがこ
の方式では非常にコスト高となシ実用的ではない。本発
明は上述の欠点を解消すべくなされたものであわ、低コ
ストで実用に供する印刷物の自動検査機に関するもので
、印刷物の文字等のパターンの脱刷、欠け等の検査を行
なうことができる廉価な検査機を提供することを目的と
する。以下図面により本発明を詳細に説明すれば、第１
図Ａに示す如く文字Ｉ「工」を今例を簡単にする為７行
７列で２次元配列された４９のメッシュで区分し、上記
各メッシュをＡｉ、ｊ（ｉ＝１〜７、ｊ＝１〜７）で表
わし、印刷物のパターンの線により埋つたメッシュ群す
なわちメッシュＡ２、２２、メッシュＡ２、３２’等を
第１レベルとし、上記メッシュ群中のメッシュＡｉ、ｊ
■１と置き、紙等の下地と印刷物のパターンの線の両者
で埋つたメッシュ群すなわち第１図Ｂに示す如くメッシ
ュＡｌ、２３、メッシュＡｌ、３３’等を第２レベルと
し、上記メッシュ群中のメッシュＡｉ３ｊ１／２と置き
、紙等の下地によシ埋つたメッシュ群すなわちメッシュ
Ａｓ、７４、メッシュＡ４、７４’等を第３レベルとし
、上記メッシュ群中のメッシュＡｉ、ｊ０と置き、〔１
〕式より印刷物のパターンを数値化する。α一ΣＡｉ、
ｊ・・・・・・・・・〔１〕ｉ、ｊ−１上記数値αを標
準印刷物のパターンから求めた数値をαＳＴとし、被検
印刷物のパターンから求めた数値をαＸ（Ｘ１〜Ｍ）と
し、〔２拭により上記両者のパターンの差を数値化する
。

βｘ−αＳＴ−αｘ（Ｘ−１〜Ｍ）・・・・・・〔２〕
本発明に於いて、上記数値βＸの大、小により被検印刷
物のパターンが脱刷しているかあるいは欠けているかを
判定するから、数値βＸは被検印刷物の標準印刷物に対
する固有の値となる。

一例として第１図Ａの文字１［工」を標準印刷物とし、
第１図Ｂ，Ｃ，Ｄをそれぞれ第１、第２、第３被検印刷
物として説明すると、標準印刷物の文字１「工」のαＳ
Ｔ−１３とな）、第１被検印刷物の文字１′［工」のα
１−１３、第１図Ｃの第２被検印刷物の文字５「コ」の
α２−９となジ、第１図Ｄの第３被検印刷物の文字５′
「コ」のα３−９となる。そして第１〜３被検印刷物の
βＸの値はそれぞれβ１−０，β２−４，β３−４とな
ジ、あらかじめβＸ〉１の場合の被検印刷物は不良であ
ると設定しておけば第１被検印刷物は良品、第２、第３
被検印刷物は不良と判定することができる。又、上述の
例において、第１図Ｂの文字１２［工］は文字１［工」
が印刷ずれ、あるいは給排紙機構の精度等が原因となつ
て起こる走査ずれにより、パターンがずれた場合である
が、この場合においては本発明によればパターンが完全
であるため不良と判定されない。このことは通常、印刷
物は同一の印刷物であつても、同一の場所にある精度以
上では印刷されないから受光素子等で走査した場合必ず
受光位置がずれてくるし、又給排紙機構の精度によりさ
らにずれが発生するおそれがあるが、この時の印刷物を
不良と判断する様な検査器では実用機として使用できな
いが、本発明においては上述の点が考慮されていること
を示している。さて、次に第１図Ａの文字１［工」が第
１図Ｃの文字５「コ」の如くなつた場合、すなわち文字
欠けを起こした場合は、β２−４となり、第１図Ｃの文
字５「コ」は不良品と判定されるのは当然であるが、第
１図Ｄの文字５″「コ」の如く第１図Ｃの文字５がずれ
ている場合においてもβ３−４となり第１図Ｄの文字５
／「コ」は不良品と判定されるのである、なお、土述の
場合は例を簡単とする為１個のパターンを７Ｘ７の２次
元配列のメツシユで区分したが、メツシユの数は検査す
るパターンの種類と、パターンの欠けの検出限界の大き
さにより実験的に選定されるべきで、メツシユの数がさ
らに大きくても本発明に適応できることは言うまでもな
い。又、上述の如く本発明は印刷のずれ、給排紙等の機
械的精度に原因のある走査のずれに強い方式となつてい
るが、ずれが主走査方向、及び副走査方向に同時に起こ
つた場合はαの値がずれの起こつていないパターンのα
の値に比較し、＋１だけ大きくなるが検査する文字等の
パターンを区分するメツシユの大きさをパターンの欠け
の検出限界以下にしで置けば位置ずれによる誤判定を起
こすことはない。本発明は以上の如くの原理であり、こ
れを実施する装置の１例を第２図により詳細に説明すれ
ば、チユーブ等の円筒状印刷物７を回転機構８により回
転させ、安定化電源６によシ点灯した光源１０で上記円
筒状印刷物７を照射し、ＣＣＤ等を利用した自己走査型
受光装置９にて反射光をとらえ、円筒状印刷物７の文字
パターンを電気信号に変換する。この時、自己走査型受
光装置９は、円筒状印刷物７の検査すべき範囲と円筒状
印刷物７の回転力向と直角力向のずれの大きさの和の走
査範囲を持つ必要があるが、これは円筒状印刷物７か同
一ロツトにおいても回転方向と直角の方向に、底の部分
から測定して、個々の印刷位置が同一パターンにおいて
もずれる為で、ある製品においては±ｌ♂？度のバラツ
キを持つているものがある。従つて第１図Ａでは上下左
右１メツシユ分だけ余裕のある場合をかかげたが、上記
の製品の検査の場合には、１メツシユの大きさを０．１
へ角とすれば、回転方向と直角の方向に２０メツシユ分
の余裕を必要とする。上述のことは、回転方向のずれに
関しても同様で円筒状印刷物７の下部に印刷されたスタ
ートマーク１１と印刷パターンの相対位置関係は、同一
ロツトにおいても個々の印刷物によジ異なジ、ある製品
においては±０．５？度のバラツキを持つているものが
ある。

従つて１メツシユの大きさを、０．１クとすれば、上記
の製品の検査においては、回転方向に１０メツシユ程度
の余裕を必要とする。ところで、円筒状印刷物７の下部
に印刷されたスタートマーク１１は、マークセンサー１
２で読みとられ第１クロツク発生回路１５のトリカーと
して利用される。上記トリカーによ板第１クロッ発生回
路１５からんφ変換回路１３にクロツク信号が送られ、
自己走査型受光装置９による回転力向と直角の力向すな
わち、副走査方向のメツシユによる区分と並んで、主走
査方向のメツシユによる区分が行なわれることとな）、
ｋ乍変換回路１３からは、円筒状印刷物７の２次元パタ
ーンがデイジタル信号化して出力されるか、上述の如く
本発明においては２値化されたデイジタル信号ではなく
３値化されたデイジタル信号を取り出している。上記Ｋ
弔変換回路１３の閾値の設定すなわち、第１レベルと第
２レベルの閾値及び第２レベルと第３レベルの閾値のそ
れぞれの設定値は、検査の対象とする印刷物の紙等の下
地の濃度及び濃度のバラツキの大きさ、印刷物のパター
ン部の濃度及び濃度のバラツキの大きさ、印刷方式等に
より異なるから、上述の閾値は実験的に求める必要があ
る。

さてん乍変換回路１３によつて、第１レベル、第２レベ
ル、第３レベルという具合に３値化されたデイジタル信
号が信号処理回路１４に入力され、第１レベルは１に、
第２レベルは１／２に、第３レベルは０にそれぞれ換算
されると共に第１クロツク発生回路１５からのクロツク
パルス及び自己走査型受光装置９に使用するクロツクパ
ルスを発生する為の第２クロツク発生回路１６からのク
ロツクパルスが信号処理回路１４に入力され、次に述べ
る如くの動作により、土述したαの値を求める。すなわ
ち、まず円筒状印刷物７を副走査方向において、検査す
る内容に応じて、つまＤ脱刷を検査するのか、あるいは
パターンの欠けを検査するのか、又上記の２つの場合に
おける検出限界はどの程度なのか、等の条件によＶ）．
１区域のメツシユの数を決定する。すなわち、円筒状印
刷物７を副走査方向において、いくつの区域にわけて検
査するのかを決定するのであるが、例えば６ポイントの
活字の大きさは２．１へであるが、この大きさの活字の
脱刷を検査する場合１メツシユの大きさを０．１％とす
れば、１区域を副走査方向において２１メツシユで区分
することになる。（円筒状印刷物７の高さを１００へと
すれば副走査方向を約５０の区域に分割することになる
。）今、説明の簡単の為に副走査方向の１区域分の説明
をする。さて、回転方向すなわち主走査方向も上述のこ
とから１区域を２１メツシユで区分するのであるか、そ
の方法としては、第１クロツクパルス発生回路１５から
のクロツクパルスを利用する。円筒状印刷物７の回転数
とメツシユの大きさ及び自己走査型受光装置９へ送シ込
むクロツクパルスの３つの条件から第１クロツクパルス
発生回路１５からのクロツクパルスの巾か決定されるが
上記クロツクパルスの１ケの巾は自己走査型受光装置９
が円筒伏印刷物７の回転方向の１メツシユを走査する時
間とすれば、上記の１クロツクパルスが１メツシユに相
当し、上記クロツクパルスが２１入力する間の、すなわ
ち自己走査型受光装置９の２１走査線分４４１メツシユ
のαの値すなわちΣＡｉ，ｊを計算し、メモリー１７に
あらか１，ｊ−１じめ測淀し、計算されて入力している
αＳＴの値と比較し、すなわち上述した式〔２〕にした
がつてβＸを信号処理回路１４内のレジスタで計算し、
あらかじめ信号処理回路１４内のメモリーに許容値入力
装置１８によ勺入力してあつた許容値をこえているかを
信号処理回路１４内のレジスタで計算する。

なおメモリー１７からの信号の書き出しは信号処理回路
１４から書き出し信号を送つて行なうのであるが、上記
信号は第１クロツク発生回路１５のクロツクパルスを信
号処理回路１４内に取り込んで昨られる。又、上記許容
値は印刷物の種類、検査すべき内容等によシ異なる為、
許容値入力装置１８によジ適時信号処理回路１４内のメ
モリーに入力できるようになつている。信号処理回路゛
１４で上述の如く演算した結果、検査した円筒状印刷物
７が不良品と判定された場合には異状表示回路１９によ
板ランプ、ブザー等による異常表示がなされかつ、不良
品と良品を選別する機構へ送る信号を発生する。上述し
７た如くにして円筒状印刷物７の検査が行なわれるが、
本発明は円筒状印刷物７以外の印刷物すなわち、ソート
状印刷物巻取勺印刷物等に利用できることは自明である
。

本発明は以上の如き構成であるから印刷物の文字等のパ
ターンの脱刷、欠け等の検査を低コストで確実に行なう
ことができる。

【図面の簡単な説明】

図面は本発明の一実施例を示すもので、第１図は文字と
２次元配列されたメツシユとの関係を示す説明図であり
、Ａ図は文字が正常に配置されている場合、Ｂ図は文字
が移動した場合、Ｃ図は文字が欠けた場合、Ｄ図は文字
が欠け、なおかつ移動した場合の説明図であジ、第２図
は本発明の電気回路のプロツクダイヤグラムである。 １，「，５，５′・・・・・・文字、２，２′，３，３
″，４，１・・・・・・メツシユ、７・・・・・・円筒
状印刷物、９・・・・・・自己走査型受光装置、１３・
・・・・・Ａ／Ｄ変換回路、１４・・・・・・信号処理
回路。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １ 回転機構により回転する円筒上に設けられている円
   筒状印刷物の画像データを、光源及び自己走査型受光装
   置とにより、電気信号変換を行なう信号変換手段と該電
   気信号を、クロック発生回路からのパルスに基づいて、
   Ａｉ、ｊのメッシュ分割を行ない、その分割データに対
   し、印刷物パターンである場合を第１ラベル、印刷物パ
   ターンと下地パターンの混合を第２レベル、下地パター
   ンを第３レベルとするメッシュ判定手段と電気信号処理
   回路により予じめ許容値入力装置より入力した、設定デ
   ータと、該第１、第２、第３レベルの合計を算出した合
   計データとの比較を行なう比較手段とを設けて、文字の
   脱刷、印刷不良の判定を行なう印刷物の検査機。