JPS5929107B2 - 超微粒子膜の製造方法および製造装置 - Google Patents

超微粒子膜の製造方法および製造装置

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JPS5929107B2
JPS5929107B2 JP55141219A JP14121980A JPS5929107B2 JP S5929107 B2 JPS5929107 B2 JP S5929107B2 JP 55141219 A JP55141219 A JP 55141219A JP 14121980 A JP14121980 A JP 14121980A JP S5929107 B2 JPS5929107 B2 JP S5929107B2
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    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/0021Reactive sputtering or evaporation

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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は超微粒子膜の製造方法および製造装置にかかり
、酸化物、窒化物、炭化物等の各種超微粒子からなる超
微粒子膜を基板上に再現性よく、均一に、しかも効果的
かつ効率的に設けることができる実用的価値の高い超微
粒子膜の製造方法および製造装置を提供しようとするも
のである。
先に本発明者らは、たとえば特願昭53−100620
号(特開昭55−27925号公報)において、ガスセ
ンサおよび湿度センサとして非常に有用なSnの酸化物
超微粒子からなる超微粒子膜センサの製造方法について
提案した。
その提案は、Snもしくはその酸化物を0.1〜1To
rrのO2ガス圧の雰囲気中で蒸発させ、支持基板に付
着させて、Snの酸化物の超微粒子膜を形成し感応体と
することを特徴とするセンサの製造方法を主旨とするも
のである。さらに、発明者らは、たとえば特願昭53−
60162号(特開昭54−151575号公報)にお
いて、容器内のガスを高周波電界により励起させて活性
化し、その活性化された各種ガスの存在する雰囲気中へ
超微粒子を形成するための各種蒸気を連続的に供給して
、各種超微粒子を形成するための製造装置に関して提案
した。
この場合、容器内のガスが、高周波コイルに印加された
13.56MH2の高周波電界により励起されて活性化
するので、金属蒸気と反応しやすくなり、酸化物、窒化
物、炭化物等の各種超微粒子を比較的容易に形成するこ
とができるという効果がもたらされる。したがつて上記
製造装置を用いて金属材料など融点が低く、蒸気圧の高
い材料の蒸気を蒸発させることにより、融点が高く、蒸
気圧の低い金属材料の酸化物、窒化物6炭化物などの各
種超微粒子を比較的容易に形成することができるという
特長がある。以上に述べたように前記特願昭53−60
162号において提案した製造装置は超微粒子膜の製造
装置としては有用なものであるか、実用上の2,3の問
題が残されている。
第1に、高周波コイルは密に巻かれていないので、高周
波コイルにより励起されたガスが存在する部屋内に入つ
てきた蒸気は必ずしもコイルの内側にのみ局在しないで
、コイル内外を飛散する。
その理由は部屋内のガス圧が高いために部屋内でのガス
あるいは蒸気の平均自由行程が極端に短かくなるためで
ある。部屋内でコイルによるプラズマが均一に形成され
ている場合には上に述べたことは問題とならないが、一
般には高周波コイルの寸法、形状と、部屋を規定する内
壁との間の配置にもよるが,つねに部屋内に均一なプラ
ズマを発生することはむずかしい。
このように均一なプラズマが発生されないと均一な超微
粒子が形成されにくいことになる。また、部屋内で形成
された超微粒子の一部が部屋の内壁面に付着してしまう
こともあるので実用上の工夫が必要である。第2の問題
点は装置が複雑で、高価になるということである。
これは前記部屋で形成されてイオン化している各種超微
粒子およびそれに付着している各種超微粒子を、蒸発源
と基板との間に印加された直流電界により、局部的にガ
ス圧の高い前記部屋から引き出すことができるように構
成しているために発生している問1題であり、高周波プ
ラズマ中で酸化物、窒化物、炭化物などの各種超微粒子
を形成するための本質的な問題ではない。第3にコイル
自体が高周波プラズマにさらされているので、条件次第
ではコイル材料から発生する不純物原子が高純度の超微
粒子膜中に含有されてしまう可能性があることである。
さらにまた、本発明者らは、たとえば特願昭53−10
0289号(特開昭55−28334号公報)において
、超微粒子を形成するための容器内を透孔を有する仕切
板で少なくとも上下二室に分割し、その透孔を開閉する
ためのシヤツタ機構を設けるとともに、下方の部屋には
蒸発源が、また上万の部屋には超微粒子を付着させるべ
き基板がそれぞれ配置された製造装置に関して提案した
この場合、仕切板の透孔をシヤツタで開閉する構造にな
つているために、シヤツタが閉の状態のときは、超微粒
子が下万の部屋から上万の部屋へ流入することがなく、
超微粒子膜の付着量を正確に制御することができ、また
、上方の部屋へは仕切板の透孔を通して超微粒子が供給
されるため、上方の部屋内における対流の対称性がよく
超微粒子の基板に対する付着量の均一が高められるとい
う特徴がある。ただし、酸化物、窒化物、炭化物等の超
微粒子膜を形成する目的の装置としては、先に述べたよ
うに励起されたガス雰囲気中で超微粒子を形成するとい
う特長を有する特願昭53−60162号の場合に比べ
て不利である。
それは各種超微粒子の組成を制御するためには、新たな
加熱処理工程が必要とされること、あるいはその加熱処
理により超微粒子の平均粒径が変化してしまうことがあ
ることなど主として実用上の理由によるものである。そ
の理由の詳細については本発明の詳細な説明の中で再度
述べる。特願昭53−100289号において提案した
製造装置の性能をさらに改良した装置として、特願昭5
5−99226号(特開昭57−26161号公報)に
おいて製造装置を提案している。
この提案の主旨とするところは、仕切板を貫通する筒を
設けることにより、対流をさらに均一にし、しかも効率
的に超微粒子を付着させることができる点にある。ただ
し、酸化物、窒化物、炭化物などの各種超微粒子膜を形
成することを目的とするものとしては、さきの特願昭5
3−100289号の場合と同様な実用上の理由による
問題点がある。従来の超微粒子膜の製造方法は、以上に
述べたようにそれぞれ特長を有しているが、形成された
超微粒子膜の特性の再現性、均一性をさらに向上させる
ことが望まれていた。本発明は以上に述べた従来の製造
方法の特長を生かしながら、さらに特性の再現性、均一
性の向上をはかり、しかも超微粒子膜の製造を効果的か
つ効率的に行うことを目的としたものであり、実用的価
値の高いものである。
以下に図面を用い本発明の実施例について説明する。
以下では、酸化物超微粒子、とくにSnの酸化物超微粒
子による超微粒子膜を製造する場合を例にとつて説明す
る。
本発明の超微粒子膜の製造装置の;実施例を第1図に示
すように、底面板1とペルシャー2とで真空容器が構成
されている。
真空容器内には、ブツシング3,3″ によつて底面板
1と電気的に絶縁され、かつ底面板1を気密に貫通する
支持部材を兼ねた導体4,4′により、蒸発源を構成す
るボート5が支持されている。電源6によりボート5に
通電すると、ボート5が発熱して、蒸発材料7が蒸発す
る。この蒸気が、上記真空容器内に転入されたガス分子
と衝突することにより粒径の非常に小さな超微粒子が形
成される。なお、図の8は02ガスを導入するための弁
、9は排気管であり、排気弁10を介して、真空ポンプ
その他で構成される真空排気系(図示せず)に接続され
ている。真空容器の内部は透孔14を有する仕切板15
により少なくとも上下二室に分割される。真空容器内の
上万には、支持部材11により支持された基板12が配
置されており、基板12と蒸発源との間には回動自在に
シヤツタ一13が設けられている。基板12と仕切板の
透孔14との間には、例えば石英製の円筒16が設置さ
れており、その外周にステンレス製の、一端が開放端で
ある高周波コイル17が巻かれている。このコイル17
はブツシング18を介して、マツチングボツクス19お
よび高周波電源20に接続される。以上のような製造装
置において、まず、構成部材などを所定の位置に配置し
てから、ガスの導入弁8を閉じ、排気弁10を開いて、
真空容器内を真空(たとえば1×10−6T0rr以上
の真空度)に排気する。次いで、排気弁10を閉じて、
ガス導入弁8を開き、真空容器内を一定の圧力に保持す
る。あるいは、真空容器内にガスを供給しつつ排気する
ことにより、真空容器内を0.1〜10T0rrの範囲
内の一定圧力に保持する。なおここでガス導入口は容器
2の上部の部屋に設けてもよい。
シヤツタ13と仕切板15が密着していて気密に封止さ
れているときには真空排気およびガス導入のときにシヤ
ツタ13をあけて透孔14を介して上下の部屋を一体と
することが必要であることはいうまでもない。あるいは
上部の部屋にも別に排気装置を設けてもよい。透孔14
の形状は円形などのように対称性のよいものが望ましい
。透孔14の形状を円形とするとその径は円筒16の径
と同一かそれ以下てあることが望ましい。先に述べた特
願昭53−60162号の場合には、高周波コイルによ
り励起されたガスが存在する部屋内に蒸気が入るための
透孔の大きさには限界があつた。その寸法が小さいほど
部屋内のガスを排気するための排気ポンプおよび前記部
屋の外側の空間を排気するための排気ポンプが小さくて
もよいことになる。なぜなら前記部屋内の圧力をその部
屋の外側の空間の圧力にくらべて高くして圧力差をもた
せるためには透孔の大きさが大きくなるほど排気ポンプ
の排気速度を早くしなければならず実用的な範囲からは
ずれてしまう。高周波コイル17には、マツチングボツ
クス19を介して高周波電源20から13.56MHz
の高周波電力が印加される。
このためたとえば石英製の筒16の内部の酸素ガスが励
起されて活性化される。酸素プラズマが安定になつたの
ち、シヤツタ13により透孔14を閉じた状態のままで
、ポート5に通電して発熱させ、Snの金属材料7を蒸
発させる。
蒸発が安定状態になつたときには、透孔14を開いた状
態にして、蒸発してきたSnの蒸気が透孔14から筒1
6の酸素プラズマ雰囲気中に入るようにする。なおボー
ト5のかわりにルツボを用いてもよいことはいうまでも
ないし、加熱方法も、抵抗加熱法に限られるものでなく
、誘導加熱法でもよいことは言うまでもないことである
真空容器中の雰囲気ガスも酸化性ガス、還元性ガスまた
は、不活性ガスと酸化性ガスもしくは還元性ガスとの混
合ガスであつてもよい。
筒16内の雰囲気が、02を含むプラズマガスのときに
は酸化物超微粒子、たとえばNH3を含むプラズマガス
のときには窒化物超微粒子、たとえばCH4を含むプラ
ズマガスのときには炭化物超微粒子が形成される。
蒸発材料についても、それを複数個設けたり、あるいは
異なる蒸発材料の場合にはほぼ同じ場所あるいは異なる
場所に設置したりするようにしてもよい。
上記実施例の場合シヤツタ一を適宜開閉することにより
、基板上へ複合超微粒子膜あるいは多層の超微粒子膜を
作製することもできるし、付着量の制御を行うこともで
きる。
なお、シヤツタ13の設置場所としては例えば基板12
と筒16との間にも設けるなど各種の変形があることは
いうまでもない。第2図はセンサとして利用することを
日的として上述のようにして作られた超微粒子膜の一例
を示す。
これは基板21上にあらかじめ一対の電極22,23が
真空蒸着などの周知の方法によつて設けられており、さ
らに、その上に超微粒子膜24が形成されているもので
ある。検出対象となる雰囲気中に入れると、ガス、水蒸
気の濃度に応じて、電極22,23間の抵抗値が変化す
る。上述のようにして製造したSnの酸化物の超微粒子
膜を感応体とするセンサ特性は、その製造条件により、
かなり異なる。特性に影響を与える種種の製造パラメー
タの中でも、特にSnの蒸発源の温度および高周波電力
に大きく依存する。なおここで従来の製造方法について
説明する。第3図における2は、高周波電力を印加する
ことなしに、減圧された02ガス雰囲気中で、Snの酸
化物の超微粒子膜を形成した場合の、平均粒径Dと02
ガス圧Pとの関係を示している0ここでの平均粒径Dは
、第6図に示すような加熱処理を行う以前に測定したX
線回折曲線のスペクトラムから計算で求めた値である。
上述のようにして形成されたSnの酸化物の超微粒子膜
はSnO2超微粒子とSnO超微粒子の混合膜なので超
微粒子膜のX線回折曲線を測定すると SnO2のピー
クとSnOのピークが観測されるが、第3図の平均粒径
DはSnO2のピークから求めたものである。
平均粒径Dと02ガス圧Pとの間に一 1/2 D=KP(K:材料定数) の関係が成立しているので、02ガス圧Pを決めれば平
均粒径Dを決定することができる。
第3図の・1),3は他の材料を用いて超微粒子膜を形
成した場合の例であり、上の関係式が一般的に成立する
ことを示している。第4図の1,2は第1図における母
材料Snのノ蒸発源の温度をそれぞれ1100℃,13
50℃とした場合の蒸発源(L=0)からの距離L(ニ
)による蒸発雰囲気の温度の変化を示す。
蒸発源から離れるにつれて急激な温度の低下を示すこと
は11,2とも同じであるが、1100℃の場合には形
成されたSnの酸化物の超微粒子膜を構成する超微粒子
の平均粒径DCA)と組成比r(へ)(SnO2とSn
Oの混合物のうちのSnO2成分の割合)が、3,4に
示すようにLに対してほとんど依存性を示さないのに対
して、1350℃の場合には、(5),(6)に示すよ
うに距離Lとともに増加し、一定値に近づく傾向を示す
。Snの酸化物の超微粒子膜を例えばガス感応性膜とし
て用いる場合には、平均粒径が小さく、膜の組成rが1
00%SnO2であることが好ましい。
第4図についてみると蒸発源温度が1350℃の場合に
は、rは大きいので(3と5の比較)好ましいが、Dも
極端に大きくなつてしまう(14と6の比較)ので好ま
しくない。さらにR,Dともに距離依存性が大きい(5
,・6)。したがつて製造条件を一定にする場合、Lの
制御を厳密に行なわねばならないので実用上不利である
。それに比べて、1100℃のときにはR,Dともに距
離依存性がほとんどない(3,4)。
しかしながらrが小さいという問題がある。さて、本発
明の高周波電力を印加する製造方法について説明する。
第5図は02ガスを高周波電力で励起した雰囲気中でS
nの酸化物の超微粒子膜を形成した場合の、平均粒径D
および組成比rと高周波電力RFとの関係を示している
。これらのR,Dの値は第6図に示すような加熱処理を
行う以前に測定したX線回折曲線のスペクトラムから計
算で求めた値である。形成されたSnの酸化物の超微粒
子膜を構成するSnO2超微粒子とSnO超微粒子の平
均粒径(それぞれDSnO2とDsnO(2と3)は印
加する高周波電力RFが大きくなるとともに増加あるい
は減少し、150W以上ではRFの値に関係なくほぼ一
定値になる。組成比r(1・)に関してもほぼ同様な関
係が成立している。さて、本発明の製造方法の一例とし
て、02ガス圧1T0rr1蒸発源の温度1100℃、
高周波電力150Wを印加した状態で形成したSnの酸
化物の超微粒子膜を、空気中で加熱処理する場合のDお
よびrの加熱処理温度による変化の様子を第6図に示す
第6図中3,4で示した実線が本発明の製造方法による
場合の例であり、1,2で示した点線が高周波電力を印
加しない従来の製造方法による場合の例である。従来の
製造方法により1100℃で作製したSnの酸化物の超
微粒子膜を、たとえば空気中で加熱処理することにより
第6図に示すようにrもほぼ15%からほぼ85%まで
大きくすることができる(1)。
しかしながらそのときDもほぼ40λからほぼ70人ま
で増加してしまう。
これに対して、従来の製造方法(1,2の場合)と同一
のガス圧(1T0rr)の酸素を13.56MHz11
50Wの高周波電力で励起した雰囲気中でSnの酸化物
の超微粒子の膜を作製した本発明の場合には、加熱処理
によつてもDはほとんど変化しない(3:52λ→56
A)。しかもrはほぼ65%からほぼ100%になる。
すなわち、非常に効果的な加熱処理を行うことができる
。第6図の結果から明らかなように150Wの高周波電
源で励起された酸素ガス中で作製することにより、粒径
Dを変化させることなしに、組成比rのみを100%と
することができる。
すなわち、本発明の製造方法によれば、非常に効率的か
つ効果的にガス感応性を有する超微粒子膜を製造するこ
とができる。なお、第6図に示したように加熱処理によ
りrが向上するためには、SnO超微粒子が酸化されて
SnO2超微粒子となることが必要である。
したがつて平均粒径もさらに大きくなる。第5図2,3
において高周波電力RFが0Wのときについて比較する
と、SnO超微粒子の平均粒径DsnOの万がDsnO
2よりほぼ10λ大きい。このSnO超微粒子が酸化さ
れてSnO2超微粒子になるので、さらに平均粒径が大
きくなるわけである。このことは第7図からも実証され
る。第6図の1,4を比較すれば明らかなように、高周
波電力を印加して作製した本発明の場合には第6図の4
から明らかなようにもともとrがほぼ65%と大きい。
したがつてSnO超微粒子の酸化による試料の重量変化
は小さい(第7図の実線1)。それに対して従来の製造
方法により作製した試料では第6図の1から明らかなよ
うにrがほぼ15%と小さい。したがつて、第7図の点
線2に示すように大きな重量変化を示す。このことは第
7図の下側の図に示すように酸化による発熱反応が大き
いことからも明らかである。最後に筒を用いることによ
る超微粒子膜厚の再現性、均一性の向上の結果の一例を
第8図に示す。
第8図の点線で囲んだ棒グラフ(ハツチング部)は筒を
用いない従来の製造方法による場合の結果を示し、実線
で囲んだ棒グラフ(ドツト部)は筒を用いた本発明の製
造方法による場合の結果の一例を示す。筒の効果は第8
図から明らかであろう。再度、本発明の製造方法の特徴
について述べる。第1は0.1〜10T0rrの範囲内
の圧力に減圧された雰囲気ガスを高周波コイルにより励
起すること、第2は超微粒子を形成するために蒸発源か
ら蒸発される母材料の蒸気を励起された雰囲気ガス中に
均一に導入すること、すなわち筒と透孔とシヤツタを有
する仕切板により雰囲気ガスの対流の対称性をよくして
いることである。以上の2つの特徴を組み合せることに
よつてはじめて、従来の製造方法の特長はそのまま生か
しながら、超微粒子膜をより再現性よく、より均一に、
しかも効果的かつ効率的に製造することができる実用的
価値の高い超微粒子膜センサの製造方法および製造装置
を提供することができた。
なお第1図に示したのは筒16が仕切板15の上部の部
屋にある場合であるが、筒16が透孔14を貫通しても
よいし、仕切板の下部の部屋に設置してもよい。また金
属材料7を筒16の内部に設置してもよい。金属材料の
かわりに酸化物、窒化物、炭化物を用いることをさまた
げるものではない。基板12を筒16の内部に設置して
もよい。
すなわち、本発明の主旨を損わない範囲で各種の変形が
あるのはいうまでもない。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の製造装置の一実施例を示す図、第2図
は本発明の製造方法により製造した超微粒子膜の一例を
示す図、第3図、第4図、第5図、第6図、第7図はそ
れぞれ本発明の作用を説明するための図、第8図は本発
明の製造方法による超微粒子膜の特性の改善例を示す図
である。 1・・・・・・底面板、2・・・・・・ペルシャー、5
・・・・・・ポート、7・・・・・・金属材料、8・・
・・・・ガスを導入するための弁、9・・・・・・排気
導管、11・・・・・・支持部材、12・・・・・・基
板、13・・・・・・シヤツタ、14・・・・・・透孔
、15・・・・・・仕切板、16・・・・・・円筒、1
7・・・・・・高周波コイ、19・・・・・・マツチン
グボツクス、20・・・・・・高周こ電源、22,23
・・・・・・電極、24・・・・・・超微粒子膜。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 0.1〜10Torrの減圧ガス雰囲気系内に、蒸
    発源と高周波コイルを巻回した筒体とを設け、前記高周
    波コイルへの通電により前記筒体内において形成される
    励起ガス雰囲気を対流させて前記蒸発物質を移動させる
    ことにより、前記蒸発物質に前記励起ガスを作用させて
    形成した超微粒子を基板上に堆積することを特徴とする
    超微粒子膜の製造方法。 2 ガス導入口と排気口とを有する真空容器内に、超微
    粒子原料の蒸発部と、超微粒子膜を形成しようとする基
    板の保持部とを高周波コイルを巻回した筒体を介して互
    いに対向させるとともに、前記真空容器内に設けられた
    前記蒸発部と前記保持部とを透孔を有する仕切板により
    分離することにより、前記真空容器内に導入されたガス
    の対流を前記筒体の軸方向におこさせることにより前記
    筒体を通過した超微粒子のみを前記基板上に堆積させる
    ことを特徴とする超微粒子膜の製造装置。 3 筒体が円筒体であることを特徴とする特許請求の範
    囲第2項に記載の超微粒子膜の製造装置。 4 筒体が石英からなることを特徴とする特許請求の範
    囲第2項あるいは第3項に記載の超微粒子膜の製造装置
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH01148107A (ja) * 1987-12-04 1989-06-09 Kubota Ltd トラクタの油圧制御装置
JPH0142970Y2 (ja) * 1982-09-09 1989-12-14

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