JPS5924264A - 電圧測定器 - Google Patents
電圧測定器Info
- Publication number
- JPS5924264A JPS5924264A JP57133335A JP13333582A JPS5924264A JP S5924264 A JPS5924264 A JP S5924264A JP 57133335 A JP57133335 A JP 57133335A JP 13333582 A JP13333582 A JP 13333582A JP S5924264 A JPS5924264 A JP S5924264A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- voltage
- light
- phase detection
- optical fiber
- photoelectric
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R15/00—Details of measuring arrangements of the types provided for in groups G01R17/00 - G01R29/00, G01R33/00 - G01R33/26 or G01R35/00
- G01R15/14—Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks
- G01R15/24—Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks using light-modulating devices
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は高圧架空絶縁配電線の磁圧測定、検相等を安全
に且つ精度良く行なうことができる゛電圧測定器に関す
るものである。
に且つ精度良く行なうことができる゛電圧測定器に関す
るものである。
(1)
活線作業等により、高圧架空絶縁配電線等の通常接続或
は延長接続を行なう場合は、位相間違い(二よる事故を
防止する為に事前に検相を行なうことが必要である。こ
の為、従来より高電圧が近接した場所に於いて安全に且
つ精度良く検相できる装置が要望されている。
は延長接続を行なう場合は、位相間違い(二よる事故を
防止する為に事前に検相を行なうことが必要である。こ
の為、従来より高電圧が近接した場所に於いて安全に且
つ精度良く検相できる装置が要望されている。
本発明は前述の要望を満足させるものであり、その目的
は高圧架空絶縁配電線の検相等を安全i二且つ精度良く
行なうことができるようにすること6二ある。以下実施
例について詳細(二説明する。
は高圧架空絶縁配電線の検相等を安全i二且つ精度良く
行なうことができるようにすること6二ある。以下実施
例について詳細(二説明する。
第1図は本発明の実施例の構成図で、高圧架空絶縁配電
線の検相を行なう場合についてのものである。同図に於
いて、1は対向配置した2枚の金属平板2,3と、金属
平板2,3間に配置した金属平板4と、金属平板2 、
5 Cそれぞれ接続された金属中空パイプ5,6と、金
属中空パイプ5中を通り、金属平板4C二接続された金
属ロッド7とをエポキシ樹脂等の熱硬化性樹脂8でモー
ルドして構成した分圧器、9は分圧器1を取付ける取付
台、10は伸縮自在の伸縮形絶縁操作棒、11α、11
hはそれぞれ金属中空パイプ5,6に接続されたり(2
) −ド線、12α、12hは接触電極、13c、13hは
高圧架る収容箱、16cL、16hは光電圧センサ15
に金属平板2.4間の電圧を光電圧センサ15(=印加
するリード線、17α、17hは光コネクタ、18α、
18hは光ファイバ、19α、196は光コネクタ、2
0は発光素子、21は受光素子、22は表示装置である
。尚、金属平板4は、その面積が金属平板2.3よりも
小さいものである。
線の検相を行なう場合についてのものである。同図に於
いて、1は対向配置した2枚の金属平板2,3と、金属
平板2,3間に配置した金属平板4と、金属平板2 、
5 Cそれぞれ接続された金属中空パイプ5,6と、金
属中空パイプ5中を通り、金属平板4C二接続された金
属ロッド7とをエポキシ樹脂等の熱硬化性樹脂8でモー
ルドして構成した分圧器、9は分圧器1を取付ける取付
台、10は伸縮自在の伸縮形絶縁操作棒、11α、11
hはそれぞれ金属中空パイプ5,6に接続されたり(2
) −ド線、12α、12hは接触電極、13c、13hは
高圧架る収容箱、16cL、16hは光電圧センサ15
に金属平板2.4間の電圧を光電圧センサ15(=印加
するリード線、17α、17hは光コネクタ、18α、
18hは光ファイバ、19α、196は光コネクタ、2
0は発光素子、21は受光素子、22は表示装置である
。尚、金属平板4は、その面積が金属平板2.3よりも
小さいものである。
又、第2図は光電圧センサ15の構成図であり、23は
偏光子、24はビスマスシリコンオキサイド等の電気光
学結晶、25α、25hは透明電極、26は1/4波長
位相板、27は検光子であり、他の第1図と同一符号は
同一部分を表わしている。
偏光子、24はビスマスシリコンオキサイド等の電気光
学結晶、25α、25hは透明電極、26は1/4波長
位相板、27は検光子であり、他の第1図と同一符号は
同一部分を表わしている。
第1図に示した装置により、検相測定を行なう場合は、
先ず光ファイバ18α、18bを光コネクタ17α、1
7A、19α、19hに接続し、次に伸縮形絶縁操作棒
10を図示の如く高圧架空絶縁配電線13α、13hの
位置まで延伸し、接触電極12α、12hをそれぞれ(
3) 高圧架空絶縁配線16α、13hに装着する。これ(二
より、分圧器1の金属平板2.3間には高圧架空絶縁配
電線13α、13h間の電圧に対応した電圧V1が発生
する。
先ず光ファイバ18α、18bを光コネクタ17α、1
7A、19α、19hに接続し、次に伸縮形絶縁操作棒
10を図示の如く高圧架空絶縁配電線13α、13hの
位置まで延伸し、接触電極12α、12hをそれぞれ(
3) 高圧架空絶縁配線16α、13hに装着する。これ(二
より、分圧器1の金属平板2.3間には高圧架空絶縁配
電線13α、13h間の電圧に対応した電圧V1が発生
する。
ところで、光電圧センf15の電気光学結晶24を含め
た分圧器1の等何回路は第6図1=示すように表わすこ
とができるものであるから、電気光学結晶24の両端に
印加される電圧V2は次式(1)に示すものとなる。
た分圧器1の等何回路は第6図1=示すように表わすこ
とができるものであるから、電気光学結晶24の両端に
印加される電圧V2は次式(1)に示すものとなる。
但し、第3図及び式(1)に於いて、CIは金属平板2
.3間の静電容量、C2は金属平板3.4間の静電容量
、C3は金属平板2.4間の静電容量、Csは電気光学
結晶24の静電容量である。
.3間の静電容量、C2は金属平板3.4間の静電容量
、C3は金属平板2.4間の静電容量、Csは電気光学
結晶24の静電容量である。
即ち、光電圧センサ15の電気光学結晶24に印加され
る電圧は式(1)から判るように、高圧架空絶縁配電線
13α、13h間の電圧に対応したものとなり、光電圧
センサ15を透過する光の量は印加される電圧に比例し
て変調されるものであるから、発光(4) 素子20から光コネクタ19α、光ファイバ18α、光
コネクタ17α、光電圧センサ15、光コネクタ17h
、光ファイバ18b、光コネクタ19bを介して受光素
子21に加えられる光の光量は、高圧架空絶縁配電線1
3α、13h間の電圧に対応したものとなる。従って、
受光素子21の出力電圧も、高圧架空絶縁配電線13α
、13h間の電圧に対応したものとなるので、受光素子
21の出力電圧を表示する表示装置22に表示される値
を読取ることにより、検相を行なうことができる。即ち
、高圧架空絶縁配電線13α、15hが同相であれば、
表示装置22に表示される電圧値はOVとなるものであ
るから容易:二検相な行なうことができるものである。
る電圧は式(1)から判るように、高圧架空絶縁配電線
13α、13h間の電圧に対応したものとなり、光電圧
センサ15を透過する光の量は印加される電圧に比例し
て変調されるものであるから、発光(4) 素子20から光コネクタ19α、光ファイバ18α、光
コネクタ17α、光電圧センサ15、光コネクタ17h
、光ファイバ18b、光コネクタ19bを介して受光素
子21に加えられる光の光量は、高圧架空絶縁配電線1
3α、13h間の電圧に対応したものとなる。従って、
受光素子21の出力電圧も、高圧架空絶縁配電線13α
、13h間の電圧に対応したものとなるので、受光素子
21の出力電圧を表示する表示装置22に表示される値
を読取ることにより、検相を行なうことができる。即ち
、高圧架空絶縁配電線13α、15hが同相であれば、
表示装置22に表示される電圧値はOVとなるものであ
るから容易:二検相な行なうことができるものである。
上述したように、本実施例は光電圧センサ15に於いて
電圧レベルを光強度に変換し、受光素子21に於いて光
ファイバ18Aを介して送られて来る光信号を電気信号
(=変換しているものであるから、高電圧が近接した所
でも安全に検相を行なうことができ、又、伝送路として
無誘導の光ファイバを使用しているものであるから精度
の良い測定を行(5) なうことができる。又、実施例は、本発明装置を用いて
高圧架空絶縁配電線の検相を行なう場合について説明し
たが、本発明装置を用いて高圧架空絶縁配電線の電圧、
或は相間電圧等を測定することも勿論可能である。
電圧レベルを光強度に変換し、受光素子21に於いて光
ファイバ18Aを介して送られて来る光信号を電気信号
(=変換しているものであるから、高電圧が近接した所
でも安全に検相を行なうことができ、又、伝送路として
無誘導の光ファイバを使用しているものであるから精度
の良い測定を行(5) なうことができる。又、実施例は、本発明装置を用いて
高圧架空絶縁配電線の検相を行なう場合について説明し
たが、本発明装置を用いて高圧架空絶縁配電線の電圧、
或は相間電圧等を測定することも勿論可能である。
以上説明したように、本発明は、対向配置した第1.第
2の金属平板(実施例に於いては金属平板2.3)と、
第1.第2の金属平板間に配置された第3の金属平板(
実施例に於いては金属平板4)兵、第1.第2の金属平
板に測定電圧を印加する/ 為の金属中空バイブ5,6等から成る第1.第2の導体
と、$3の金属平板に接続された金属ロンドア等から成
る第3の導体とをモールドして構成した分圧器、及び前
記第1.第3の金属平板間或は第2.第3の金属平板間
(:発生する電圧を、電気光学結晶に印加し、該電気光
学結晶を透過する光の光強度を制御する光電圧センナを
備え、光電圧センナの出射光(二基づいて電圧の測定を
行なうものであるから、高電圧が近接した所に於いても
、安全且つ正確に、高圧架空絶縁配電線の検相等を(6
) 行なうことができる利点がある。
2の金属平板(実施例に於いては金属平板2.3)と、
第1.第2の金属平板間に配置された第3の金属平板(
実施例に於いては金属平板4)兵、第1.第2の金属平
板に測定電圧を印加する/ 為の金属中空バイブ5,6等から成る第1.第2の導体
と、$3の金属平板に接続された金属ロンドア等から成
る第3の導体とをモールドして構成した分圧器、及び前
記第1.第3の金属平板間或は第2.第3の金属平板間
(:発生する電圧を、電気光学結晶に印加し、該電気光
学結晶を透過する光の光強度を制御する光電圧センナを
備え、光電圧センナの出射光(二基づいて電圧の測定を
行なうものであるから、高電圧が近接した所に於いても
、安全且つ正確に、高圧架空絶縁配電線の検相等を(6
) 行なうことができる利点がある。
第1図は本発明の実施例の構成図、第2図は光電圧セン
サの構成図、第6図は分圧器の等価回路である。 1は分圧器、2〜4は金属平板、5,6は金属パイプ、
7は金属ロッド、8は熱硬化性樹脂、9は取付台、10
は伸縮形絶縁操作棒、11α、11h、16α、 16
A ハ9−)’Ml、12α、 12A 雌接触電極、
13α。 1)hは高圧架空絶縁配電線、14は収容箱、15は光
電圧センサ、17α、 17h、 19α、19hは光
コネクタ、18α、18hは光ファイバ、20は発光素
子、21は受光素子、22は表示装置、23は偏光子、
24は電気光学結晶、25α、25hは透明電極、26
は1/4波長位相板、27は検光子である。 特許出願人 住友電気工業株式会社 代理人 弁理士 玉蟲久五部 (7) 第1図
サの構成図、第6図は分圧器の等価回路である。 1は分圧器、2〜4は金属平板、5,6は金属パイプ、
7は金属ロッド、8は熱硬化性樹脂、9は取付台、10
は伸縮形絶縁操作棒、11α、11h、16α、 16
A ハ9−)’Ml、12α、 12A 雌接触電極、
13α。 1)hは高圧架空絶縁配電線、14は収容箱、15は光
電圧センサ、17α、 17h、 19α、19hは光
コネクタ、18α、18hは光ファイバ、20は発光素
子、21は受光素子、22は表示装置、23は偏光子、
24は電気光学結晶、25α、25hは透明電極、26
は1/4波長位相板、27は検光子である。 特許出願人 住友電気工業株式会社 代理人 弁理士 玉蟲久五部 (7) 第1図
Claims (1)
- 対向配置された第1.第2の金属平板と、該第1、第2
の金属平板間に配置された第3の金属平板と、前記第1
.第2の金属平板に被測定電圧を印加する為の第1.第
2の導体と、前記第1.第6の金属平板間或は前記第2
.第3の金属平板間に発生する分圧電圧を取出す為に前
記第3の金属平板に接続された第3の導体とをモールド
して構成した分圧器、及び入射光を前記分圧電圧が印加
される電気光学結晶を通すことにより、該入射光の光強
度を制御して出射する光電界センナを備え、該光電界セ
ンナからの出射光を検出して電圧の測定を行なうことを
特徴とする電圧測定器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57133335A JPS5924264A (ja) | 1982-07-30 | 1982-07-30 | 電圧測定器 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57133335A JPS5924264A (ja) | 1982-07-30 | 1982-07-30 | 電圧測定器 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5924264A true JPS5924264A (ja) | 1984-02-07 |
Family
ID=15102308
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57133335A Pending JPS5924264A (ja) | 1982-07-30 | 1982-07-30 | 電圧測定器 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5924264A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6332139A (ja) * | 1986-07-23 | 1988-02-10 | Toyota Motor Corp | 内燃機関の燃料噴射量制御装置 |
-
1982
- 1982-07-30 JP JP57133335A patent/JPS5924264A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6332139A (ja) * | 1986-07-23 | 1988-02-10 | Toyota Motor Corp | 内燃機関の燃料噴射量制御装置 |
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