JPH0140058Y2 - - Google Patents
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- JPH0140058Y2 JPH0140058Y2 JP17745985U JP17745985U JPH0140058Y2 JP H0140058 Y2 JPH0140058 Y2 JP H0140058Y2 JP 17745985 U JP17745985 U JP 17745985U JP 17745985 U JP17745985 U JP 17745985U JP H0140058 Y2 JPH0140058 Y2 JP H0140058Y2
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- voltage
- wire
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- electrodes
- measuring device
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- Expired
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- 230000000694 effects Effects 0.000 claims description 8
- 230000005684 electric field Effects 0.000 claims description 5
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Landscapes
- Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本考案は、電気光学効果素子を利用して被覆上
から被覆電線の対地間電圧を測定する電線電圧測
定装置に関するものである。
から被覆電線の対地間電圧を測定する電線電圧測
定装置に関するものである。
従来この種の装置としては、例えば第５図に示
したようなものがある（太田、鎌田、井上「光応
用電圧センサを用いた被覆配電線の電圧測定」昭
和57年電気学会全国大会講演予稿集P.1684）。
したようなものがある（太田、鎌田、井上「光応
用電圧センサを用いた被覆配電線の電圧測定」昭
和57年電気学会全国大会講演予稿集P.1684）。
これは、測定対象としての被覆電線１に導体２
をかぶせて第５，６図に示すように被覆１Ａ内の
心線１Ｂと導体２との間に適当な静電容量C1を
作成し、その導体２に既知の容量C2i，C3iを有す
る容量３，４を直列接続したもので、容量４に低
電圧V3iが誘起される。このとき、C1は未知であ
るので、C2i，C3iの値を適当に切り換えてV3iを測
定し、演算を行なつて真値V1を求める。５が電
気光学効果素子からなる電圧・電界検出器であ
り、６は光送受信器およびデイジタルボルトメー
タを備えた測定回路である。被覆をとらずに電圧
測定が可能であり、またC2i，C3iを切り換えるこ
とにより正確な測定が可能で、10回程度の切り換
えによつて0.2％程度の測定精度を得ることがで
きる（ただし検出器５の精度は除く）。
をかぶせて第５，６図に示すように被覆１Ａ内の
心線１Ｂと導体２との間に適当な静電容量C1を
作成し、その導体２に既知の容量C2i，C3iを有す
る容量３，４を直列接続したもので、容量４に低
電圧V3iが誘起される。このとき、C1は未知であ
るので、C2i，C3iの値を適当に切り換えてV3iを測
定し、演算を行なつて真値V1を求める。５が電
気光学効果素子からなる電圧・電界検出器であ
り、６は光送受信器およびデイジタルボルトメー
タを備えた測定回路である。被覆をとらずに電圧
測定が可能であり、またC2i，C3iを切り換えるこ
とにより正確な測定が可能で、10回程度の切り換
えによつて0.2％程度の測定精度を得ることがで
きる（ただし検出器５の精度は除く）。
しかし、このような従来の方式はC2i，C3iの値
を切り換え、さらに演算を行なわなければ求める
電圧が得られず、作業が繁雑であるとともに構成
も複雑となる。
を切り換え、さらに演算を行なわなければ求める
電圧が得られず、作業が繁雑であるとともに構成
も複雑となる。
本考案は、電気光学効果素子の電極の一方を被
覆電線を通るフツク状測定電極に接続するととも
に他方を接地電位とし、上記両電極間容量の両端
の電圧を測定する測定器を設けたものである。
覆電線を通るフツク状測定電極に接続するととも
に他方を接地電位とし、上記両電極間容量の両端
の電圧を測定する測定器を設けたものである。
被覆電線心線と導体からなるフツク間の容量
C1に対し両電極間容量COPTがC1≫COPTであれば、
その両端の電圧VOPTは求める心線の対地電圧V1
にほぼ等しくなる。
C1に対し両電極間容量COPTがC1≫COPTであれば、
その両端の電圧VOPTは求める心線の対地電圧V1
にほぼ等しくなる。
第１図は本考案の一実施例を示す構成図であ
る。図において、１１は測定電極である。この測
定電極１１は測定対象の被覆電線１を囲繞して電
圧測定を行なうが、被覆電線１に装置しやすくな
おかつ心線と測定電極間の電気容量を大きくとる
ために、一部が開放されたＵ字状を呈している。
１２は電気光学素子からなる電圧・電界検出器で
ある。電気光学結晶として水晶を用い、その電極
の一方を測定電極１１に接続するとともに他方を
接地している。
る。図において、１１は測定電極である。この測
定電極１１は測定対象の被覆電線１を囲繞して電
圧測定を行なうが、被覆電線１に装置しやすくな
おかつ心線と測定電極間の電気容量を大きくとる
ために、一部が開放されたＵ字状を呈している。
１２は電気光学素子からなる電圧・電界検出器で
ある。電気光学結晶として水晶を用い、その電極
の一方を測定電極１１に接続するとともに他方を
接地している。
水晶は、従来一般に用いられているBSOや
BGOなどに比較して誘電率がきわめて小さく、
そのためにこの検出器１２自体の容量、つまり水
晶を挾んで設けた電極間の容量を小さくすること
ができる。したがつて、第２図にその等価回路を
示すが、心線と測定電極１１間の容量C1に対し
上記容量COPTがC1≫COPTの関係を満足させること
ができ、上記電極両端の電圧VOPTV1としてV1
を直接に測定できる。例えば、C1を50pF以上と
した場合、検出器１２の入力インピーダンスを
1pF以下として検出器１２自体への分圧を98％以
上とすることにより、 VOPT＞C1／C1＋COPTV1＝50／50＋１V1＝0.98V1 (1) となり、２％以下の誤差でV1を直接測定する
ことができる。
BGOなどに比較して誘電率がきわめて小さく、
そのためにこの検出器１２自体の容量、つまり水
晶を挾んで設けた電極間の容量を小さくすること
ができる。したがつて、第２図にその等価回路を
示すが、心線と測定電極１１間の容量C1に対し
上記容量COPTがC1≫COPTの関係を満足させること
ができ、上記電極両端の電圧VOPTV1としてV1
を直接に測定できる。例えば、C1を50pF以上と
した場合、検出器１２の入力インピーダンスを
1pF以下として検出器１２自体への分圧を98％以
上とすることにより、 VOPT＞C1／C1＋COPTV1＝50／50＋１V1＝0.98V1 (1) となり、２％以下の誤差でV1を直接測定する
ことができる。
ここで、検出器１２は、安全上所望以上に耐圧
を上げるために第３図に示すような構造のものを
用いた。すなわち、従来電気光学結晶の表面に直
接電極を形成していたため沿面放電が生じ、高電
圧の測定ができなかつたのに対し、絶縁性のセラ
ミツクケース２１に凹部２１１を設け、ここに結
晶２２を埋め込んでいる。このため直接高電圧が
印加されても安全係数がとれる。結晶２２はＺカ
ツトの水晶で、Ｚ軸方向に1/4波長板２３、偏光
子２４および検光子２５がエポキシ樹脂により一
体に接着されるとともに、Ｘ軸方向側面はシリコ
ンゴムにより凹部２１１の内側面に接着されてい
る。凹部２１１の内部にはフレオンガスを充填し
ガラス板２６をシリコンゴムによりケース２１に
接着して封止してある。
を上げるために第３図に示すような構造のものを
用いた。すなわち、従来電気光学結晶の表面に直
接電極を形成していたため沿面放電が生じ、高電
圧の測定ができなかつたのに対し、絶縁性のセラ
ミツクケース２１に凹部２１１を設け、ここに結
晶２２を埋め込んでいる。このため直接高電圧が
印加されても安全係数がとれる。結晶２２はＺカ
ツトの水晶で、Ｚ軸方向に1/4波長板２３、偏光
子２４および検光子２５がエポキシ樹脂により一
体に接着されるとともに、Ｘ軸方向側面はシリコ
ンゴムにより凹部２１１の内側面に接着されてい
る。凹部２１１の内部にはフレオンガスを充填し
ガラス板２６をシリコンゴムによりケース２１に
接着して封止してある。
一方、ケース２１のＸ軸方向外側面に凹部２１
２を設け、電極２７，２７Ａ，２７Ｂを埋め込ん
でシリコンゴムを充填してある。電極２７には被
覆リード線２８を接続し、先端にワニグチクリツ
プ２９を取り付けてある。
２を設け、電極２７，２７Ａ，２７Ｂを埋め込ん
でシリコンゴムを充填してある。電極２７には被
覆リード線２８を接続し、先端にワニグチクリツ
プ２９を取り付けてある。
ケース１の下面側には凹部２１１に連通する貫
通孔２１３がＹ軸方向に形成してあり、偏光子２
４および検光子２５の下面にセルフオツクレンズ
３０を介して光フアイバ３１がそれぞれ接続して
あある。光フアイバ３１は、測定器６の光送受信
器に接続している。
通孔２１３がＹ軸方向に形成してあり、偏光子２
４および検光子２５の下面にセルフオツクレンズ
３０を介して光フアイバ３１がそれぞれ接続して
あある。光フアイバ３１は、測定器６の光送受信
器に接続している。
このような構造をとることにより、10KV以上
の耐圧が得られ、万一測定電圧が直接印印加され
ても破壊を防止することができる。また、水晶は
BSO等に比較して電気光学効果が小さく、出力
特性の直線性の良い部分を利用できるという点で
も高電圧測定用に好適である。さらに、測定電極
１１の先端が被覆１Ａを破つて心線１Ｂに直接接
触するようなことがあつたとしても、高電圧に対
して安全である。
の耐圧が得られ、万一測定電圧が直接印印加され
ても破壊を防止することができる。また、水晶は
BSO等に比較して電気光学効果が小さく、出力
特性の直線性の良い部分を利用できるという点で
も高電圧測定用に好適である。さらに、測定電極
１１の先端が被覆１Ａを破つて心線１Ｂに直接接
触するようなことがあつたとしても、高電圧に対
して安全である。
(1)式から明らかなように、C1が大きいほど誤
差は小さくなる。したがつて測定電極１１は確実
に電線１が入るようにセツトし、またできるだけ
電線１の全周をカバーすることが望ましい。この
ため、測定電極を第４図に示すような構造として
もよい。同図におい、測定電極４１はＵ字状の本
体４２ガイド部４３および蓋部４４からなる。ガ
イド部４３と蓋部４４とは動作上一体であり、支
点４５において本体４２に取り付けられている。
同図ａに示すように電線１を入れると電線１がガ
イド部４３を押し、同図ｂに示すように蓋部４４
が閉じられる。
差は小さくなる。したがつて測定電極１１は確実
に電線１が入るようにセツトし、またできるだけ
電線１の全周をカバーすることが望ましい。この
ため、測定電極を第４図に示すような構造として
もよい。同図におい、測定電極４１はＵ字状の本
体４２ガイド部４３および蓋部４４からなる。ガ
イド部４３と蓋部４４とは動作上一体であり、支
点４５において本体４２に取り付けられている。
同図ａに示すように電線１を入れると電線１がガ
イド部４３を押し、同図ｂに示すように蓋部４４
が閉じられる。
以上説明したように、本考案によれば、電気光
学効果素子に設けられた電極の一方をフツク状測
定電極に接続するとともに他方を接地し、上記両
電極間容量による分担電圧を測定する測定器を設
けたことにより、測定用のンデンサを特別に付加
する必要がなくなり、演算も不要となつて直接に
絶縁被覆された電線の電圧を測定できる。また構
造を単純化できるとともに測定作業も容易で、か
つ安全となる。
学効果素子に設けられた電極の一方をフツク状測
定電極に接続するとともに他方を接地し、上記両
電極間容量による分担電圧を測定する測定器を設
けたことにより、測定用のンデンサを特別に付加
する必要がなくなり、演算も不要となつて直接に
絶縁被覆された電線の電圧を測定できる。また構
造を単純化できるとともに測定作業も容易で、か
つ安全となる。
第１図は本考案の一実施例を示す構成図、第２
図はその等価回路図、第３図ａは電圧・電界検出
器の構成例を示す平面図、同図ｂは正面図、第４
図は測定電極の他の構成例を示す図、第５図は従
来例を示す構成図、第６図はその等価回路図であ
る。 １……被覆電線、６……測定器、１１，４１…
…フツク状測定電極、１２……電圧・電界検出
器、２２……電気光学結晶、２７Ａ，２７Ｂ……
電極。
図はその等価回路図、第３図ａは電圧・電界検出
器の構成例を示す平面図、同図ｂは正面図、第４
図は測定電極の他の構成例を示す図、第５図は従
来例を示す構成図、第６図はその等価回路図であ
る。 １……被覆電線、６……測定器、１１，４１…
…フツク状測定電極、１２……電圧・電界検出
器、２２……電気光学結晶、２７Ａ，２７Ｂ……
電極。
Claims (1)
- 電気光学効果素子からなる電圧・電界検出器を
備えた電線電圧測定装置において、電気光学効果
素子に設けられた電極の一方を測定対象の被覆電
線を囲繞するフツク状測定電極に接続するととも
に他方を接地電位とし、かつ上記両電極間の電圧
を光学的に測定する測定器を備えたことを特徴と
する電線電圧測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17745985U JPH0140058Y2 (ja) | 1985-11-20 | 1985-11-20 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17745985U JPH0140058Y2 (ja) | 1985-11-20 | 1985-11-20 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6286560U JPS6286560U (ja) | 1987-06-02 |
| JPH0140058Y2 true JPH0140058Y2 (ja) | 1989-12-01 |
Family
ID=31118677
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17745985U Expired JPH0140058Y2 (ja) | 1985-11-20 | 1985-11-20 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0140058Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010127725A (ja) * | 2008-11-27 | 2010-06-10 | Hioki Ee Corp | 非接触電圧測定装置および非接触電圧測定方法 |
-
1985
- 1985-11-20 JP JP17745985U patent/JPH0140058Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6286560U (ja) | 1987-06-02 |
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