JPS5912360A - 密閉機器の導体電圧測定装置 - Google Patents
密閉機器の導体電圧測定装置Info
- Publication number
- JPS5912360A JPS5912360A JP57121063A JP12106382A JPS5912360A JP S5912360 A JPS5912360 A JP S5912360A JP 57121063 A JP57121063 A JP 57121063A JP 12106382 A JP12106382 A JP 12106382A JP S5912360 A JPS5912360 A JP S5912360A
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- JP
- Japan
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- conductor
- voltage
- metal
- flat plate
- light
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R15/00—Details of measuring arrangements of the types provided for in groups G01R17/00 - G01R29/00, G01R33/00 - G01R33/26 or G01R35/00
- G01R15/14—Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks
- G01R15/16—Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks using capacitive devices
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、ガス絶縁開閉装置等のような密閉機器の導体
電圧を安全、且つ容易に測定できる密閉機器の導体電圧
測定装置に関するものである。
電圧を安全、且つ容易に測定できる密閉機器の導体電圧
測定装置に関するものである。
ガス絶縁開閉装置、密閉母線等のような密閉機器の導体
電圧の測定は、導体が゛密閉ケースに収められている為
、困難で6D、又、導体電圧が高く、測定に危険が伴な
うものであるから、従来より、安全且つ容易な測定装置
が要望されている。
電圧の測定は、導体が゛密閉ケースに収められている為
、困難で6D、又、導体電圧が高く、測定に危険が伴な
うものであるから、従来より、安全且つ容易な測定装置
が要望されている。
本発明は前述の如き要望を満足させたものでおシ、その
目的は、密閉機器の導体電圧の測定を、容易に且つ安全
に行なうことができるようにすることにある。以下実施
例について詳細に説明する。
目的は、密閉機器の導体電圧の測定を、容易に且つ安全
に行なうことができるようにすることにある。以下実施
例について詳細に説明する。
第1図は本発明の実施例の構成を示す断面図であり、母
線ケース内の母線の電圧を測定する場合についてのもの
である。同図に於いて、1は母線導体、2は絶縁層、3
は母線ケース、4は対向配置された金属平板5,6と、
金属平板5,6間に配置された金属平板7と、金属平板
5.乙に接続された金属パイプ8,9と、金属パイプ9
中を通シ、金属平板7に接続された金属ロッド1oとを
エポキシ樹脂等の絶縁性の良い熱硬化性樹脂でモールド
して構成した分圧器、11は金属パイプ8に接続された
金属平板、12は金属パイプ9を接地するリード線、1
3〜15はフランジ、16は0リング、17ハ平形バツ
キング、18は19盤玉バツキング、19αはボルト、
19bはナツト、2oはシールドパイプ、21は光電界
センサ、22α、22bは光コネクタ、25a、25b
は光7フイバ、24a、24bは光コネクタ、25は発
光素子、26は受光素子、27は表示装置、28c、2
8bはリード線である。
線ケース内の母線の電圧を測定する場合についてのもの
である。同図に於いて、1は母線導体、2は絶縁層、3
は母線ケース、4は対向配置された金属平板5,6と、
金属平板5,6間に配置された金属平板7と、金属平板
5.乙に接続された金属パイプ8,9と、金属パイプ9
中を通シ、金属平板7に接続された金属ロッド1oとを
エポキシ樹脂等の絶縁性の良い熱硬化性樹脂でモールド
して構成した分圧器、11は金属パイプ8に接続された
金属平板、12は金属パイプ9を接地するリード線、1
3〜15はフランジ、16は0リング、17ハ平形バツ
キング、18は19盤玉バツキング、19αはボルト、
19bはナツト、2oはシールドパイプ、21は光電界
センサ、22α、22bは光コネクタ、25a、25b
は光7フイバ、24a、24bは光コネクタ、25は発
光素子、26は受光素子、27は表示装置、28c、2
8bはリード線である。
又、第2図は光電界センサ21の構成図であシ、29は
偏光子、3oはビスマスシリコンオキザイド等の電気光
学結晶、31α、31bは透明を極、62は1/4波長
板、63は検光子であυ、他の第1図と同一符号は同一
部分を表わしている。
偏光子、3oはビスマスシリコンオキザイド等の電気光
学結晶、31α、31bは透明を極、62は1/4波長
板、63は検光子であυ、他の第1図と同一符号は同一
部分を表わしている。
分圧器4は、ボルト19α、ナラl−19bにょシ締付
けられる7ランジ16〜15、及び算盤玉バッキング1
8により母線ケース3に取付けられておシ、又、母線ケ
ース3の気密性は01)ング16、平形バッキング17
、及び算盤玉バッキング18により保たれているもので
ある。又、分圧器4の金属平板5は金属平板11に接続
され、又、金属平板6は接地されているものであるから
、金属平板5,6間には母線導体1の電圧に対応した電
圧V、が発生することになる。
けられる7ランジ16〜15、及び算盤玉バッキング1
8により母線ケース3に取付けられておシ、又、母線ケ
ース3の気密性は01)ング16、平形バッキング17
、及び算盤玉バッキング18により保たれているもので
ある。又、分圧器4の金属平板5は金属平板11に接続
され、又、金属平板6は接地されているものであるから
、金属平板5,6間には母線導体1の電圧に対応した電
圧V、が発生することになる。
ところで、光電界センサ21の電気光学結晶60を含め
た分圧器4の等価回路は、第6図に示すものとなるから
、電気光学結晶30の両端に印加される電圧V、は次式
fl)に示すものとなる。
た分圧器4の等価回路は、第6図に示すものとなるから
、電気光学結晶30の両端に印加される電圧V、は次式
fl)に示すものとなる。
但し、第6図、式(1)に於いて、C1は金属平板5゜
6間の静電容量、C1は金属平板5,7間の静電容量、
Csは金属平板6,7間の静電容量、C4は電気光学結
晶30の静電容量でおる。
6間の静電容量、C1は金属平板5,7間の静電容量、
Csは金属平板6,7間の静電容量、C4は電気光学結
晶30の静電容量でおる。
式(1)から判るように、電気光学結晶60に印加され
る電圧V、は電圧V、と一対一に対応し、又、電圧V、
は母線導体1の1圧対応するものであるから、電気光学
結晶30に印加される電圧Vv Fi母線導体1の電圧
゛に対応したものとなる。又、電気光学結晶50は印加
される電圧によシ、その屈折率が変化するものであるか
ら、発光素子25から光コネクタ24α、光ファイバ2
3cL、光コネクタ22G、偏光子29、透明電極61
α、51b 、電気光学結晶60.1/4波長板32、
検光子33、光コネクタ22b、光ファイバ26b、光
コネクタ24bを介して受光素子26に加えられる光の
強度は、母線導体1の軍1圧に対応したものとなる。従
って、受光素子26の出力電圧も母線導体1の電圧に対
応したものとなるので、表示装置27に母線導体1の電
圧が表示されることになる。
る電圧V、は電圧V、と一対一に対応し、又、電圧V、
は母線導体1の1圧対応するものであるから、電気光学
結晶30に印加される電圧Vv Fi母線導体1の電圧
゛に対応したものとなる。又、電気光学結晶50は印加
される電圧によシ、その屈折率が変化するものであるか
ら、発光素子25から光コネクタ24α、光ファイバ2
3cL、光コネクタ22G、偏光子29、透明電極61
α、51b 、電気光学結晶60.1/4波長板32、
検光子33、光コネクタ22b、光ファイバ26b、光
コネクタ24bを介して受光素子26に加えられる光の
強度は、母線導体1の軍1圧に対応したものとなる。従
って、受光素子26の出力電圧も母線導体1の電圧に対
応したものとなるので、表示装置27に母線導体1の電
圧が表示されることになる。
同、非測定時は、光電界センサ21と発光素子25、受
光素子26とを接続せずにおき、測定時のみ、光コネク
タ22α、 22b 、 24α、24b 、光ファイ
バ23α、26bを用いて接続するようにしても良いこ
とは勿論である。
光素子26とを接続せずにおき、測定時のみ、光コネク
タ22α、 22b 、 24α、24b 、光ファイ
バ23α、26bを用いて接続するようにしても良いこ
とは勿論である。
以上説明したように、本発明は、母線ケース等のような
密閉ケースに取付けられた第1〜第6の金属平板(実施
例に於いては金属平板5〜7)と、第1〜第3の導体(
実施例に於いては金属パイプ8.9、金属ロッド10)
とをモールドして構成した分圧器、分圧器からの分圧電
圧に応じて入射光の光強度を制御して出射する光電界セ
ンサ、及び光電界センサの出射光に基づいて密閉ケース
内の導体の電圧を検出する受光素子26、表示装置27
の検出手段を備えているものでアシ、電圧を光に変換し
、導体電圧を測定するものであるから、安全且つ容易に
密閉機器の導体電圧を測定できる利点がちる。
密閉ケースに取付けられた第1〜第6の金属平板(実施
例に於いては金属平板5〜7)と、第1〜第3の導体(
実施例に於いては金属パイプ8.9、金属ロッド10)
とをモールドして構成した分圧器、分圧器からの分圧電
圧に応じて入射光の光強度を制御して出射する光電界セ
ンサ、及び光電界センサの出射光に基づいて密閉ケース
内の導体の電圧を検出する受光素子26、表示装置27
の検出手段を備えているものでアシ、電圧を光に変換し
、導体電圧を測定するものであるから、安全且つ容易に
密閉機器の導体電圧を測定できる利点がちる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例の構成図、第2図は光電、界セ
ンサの構成図、第6図は分圧器4の等価回路である。 1は母線導体、2は絶縁層、6は母線ケース、4は分圧
器、5〜7,11は金属平板、8.9は金属パイプ、1
0は金属ロッド、12,28α、28bはリード線、1
3〜15は7ランジ、16はOリング、17は平形バッ
キング、18は算盤玉バッキング、19αはボルト、1
9bはナツト、2oはシールドパイプ、21は光重、界
センサ、22a、 22b、 24α、 24bは光コ
ネクタ、26α、26bは光ファイバ、25は発光素子
、26は受光素子、27は表示装置、29は偏光子、
6゜は電気光学結晶、61α、61bは透明電極、62
は1/4波長板、66は検光子である。 特許出願人 住友電気工業株式会社 代理人弁理士玉蟲久五部
ンサの構成図、第6図は分圧器4の等価回路である。 1は母線導体、2は絶縁層、6は母線ケース、4は分圧
器、5〜7,11は金属平板、8.9は金属パイプ、1
0は金属ロッド、12,28α、28bはリード線、1
3〜15は7ランジ、16はOリング、17は平形バッ
キング、18は算盤玉バッキング、19αはボルト、1
9bはナツト、2oはシールドパイプ、21は光重、界
センサ、22a、 22b、 24α、 24bは光コ
ネクタ、26α、26bは光ファイバ、25は発光素子
、26は受光素子、27は表示装置、29は偏光子、
6゜は電気光学結晶、61α、61bは透明電極、62
は1/4波長板、66は検光子である。 特許出願人 住友電気工業株式会社 代理人弁理士玉蟲久五部
Claims (1)
- 密閉ケース内に収容されている導体の電圧を測定する密
閉機器の導体電圧測定装置に於いて、前記密閉ケースに
気密に取付けられ対向配置した第1、第2の金属平板と
、該第1.第2の金属平板間に配置した第6の金属平板
と、前記第1.第2の金属平板間に前記導体電圧に対応
した都、圧を発生させる為に前記第1.第2の金属平板
に接続した第1.第2の導体と、前記第1.第2の金属
平板間、或は前記第2.第5の金属平板間に発生する分
圧電圧を取出す為に前記第6の金属平板に接続した第6
の導体とをモールドして構成した分圧器、前記分圧電圧
が印加される電気光学結晶により、入射光の光強度を制
御して出射する光電界センサ、及び該光電界センサから
の出射光に基づいて前記密閉ケース内の導体の電圧を検
出する検出手段を備えたことを特徴とする密閉機器の導
体電圧測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57121063A JPS5912360A (ja) | 1982-07-12 | 1982-07-12 | 密閉機器の導体電圧測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57121063A JPS5912360A (ja) | 1982-07-12 | 1982-07-12 | 密閉機器の導体電圧測定装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5912360A true JPS5912360A (ja) | 1984-01-23 |
Family
ID=14801917
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57121063A Pending JPS5912360A (ja) | 1982-07-12 | 1982-07-12 | 密閉機器の導体電圧測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5912360A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5961782A (ja) * | 1982-10-01 | 1984-04-09 | Toshiba Corp | 電圧測定装置 |
JPH01136074A (ja) * | 1987-11-20 | 1989-05-29 | Fuji Electric Co Ltd | ガス絶縁密閉電器の電圧および部分放電検出装置 |
FR2698696A1 (fr) * | 1992-11-27 | 1994-06-03 | Simplex Appareils | Ensemble de mesure de tension pour réseau de distribution électrique. |
EP2138853A4 (en) * | 2007-04-18 | 2017-07-26 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Optical vt device |
-
1982
- 1982-07-12 JP JP57121063A patent/JPS5912360A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5961782A (ja) * | 1982-10-01 | 1984-04-09 | Toshiba Corp | 電圧測定装置 |
JPH01136074A (ja) * | 1987-11-20 | 1989-05-29 | Fuji Electric Co Ltd | ガス絶縁密閉電器の電圧および部分放電検出装置 |
FR2698696A1 (fr) * | 1992-11-27 | 1994-06-03 | Simplex Appareils | Ensemble de mesure de tension pour réseau de distribution électrique. |
EP2138853A4 (en) * | 2007-04-18 | 2017-07-26 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Optical vt device |
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