JPS59160769A - 電気機器の物理量測定装置 - Google Patents
電気機器の物理量測定装置Info
- Publication number
- JPS59160769A JPS59160769A JP58036134A JP3613483A JPS59160769A JP S59160769 A JPS59160769 A JP S59160769A JP 58036134 A JP58036134 A JP 58036134A JP 3613483 A JP3613483 A JP 3613483A JP S59160769 A JPS59160769 A JP S59160769A
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- JP
- Japan
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- optical fiber
- optical
- high potential
- light
- sensors
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- Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明はガス絶縁電気機器等の電力用電気機−器の高
電位側の各物理量を測定する装置に関するものである。
電位側の各物理量を測定する装置に関するものである。
このような測定の場合、低電位側の信号処理装置まで電
気信号の形で信号を伝送すると、この信号伝送系を高゛
鼠位から絶縁する手段と、雑音誘導に対し遮蔽する手段
とが面倒に々るので、光信号の形で光ファイバによシ低
電位側の信号処理装置まで信号を伝送していた。従来は
１つのセンサ毎に１本（センサが光の入力をも必要とす
る形のものであれば往復各１本）の光ファイバを展張し
ていたのであるが、組立作業中に不注意で光ファイバを
切断する事故が発生したり、また、多数の光ファイバを
それぞれの場所に展張することは作業が煩雑になるとｂ
う欠点があった。
気信号の形で信号を伝送すると、この信号伝送系を高゛
鼠位から絶縁する手段と、雑音誘導に対し遮蔽する手段
とが面倒に々るので、光信号の形で光ファイバによシ低
電位側の信号処理装置まで信号を伝送していた。従来は
１つのセンサ毎に１本（センサが光の入力をも必要とす
る形のものであれば往復各１本）の光ファイバを展張し
ていたのであるが、組立作業中に不注意で光ファイバを
切断する事故が発生したり、また、多数の光ファイバを
それぞれの場所に展張することは作業が煩雑になるとｂ
う欠点があった。
この発明は従来のものの上記の欠点を除去するためにな
されたもので、高電位導体を中空にして、個々の光ファ
イバはこの高電位導体の中空部を通して配設することに
よって、光ファイバが誤って切断されるような事故の発
生を防止し、この高電位導体の１点から全部の光ファイ
バをまとめて束にして導出し、導出した光ファイバ束は
絶縁物の支柱の中に入れ又は注型して低電位側へ導くよ
うにして高電位側との絶縁を完全にした。
されたもので、高電位導体を中空にして、個々の光ファ
イバはこの高電位導体の中空部を通して配設することに
よって、光ファイバが誤って切断されるような事故の発
生を防止し、この高電位導体の１点から全部の光ファイ
バをまとめて束にして導出し、導出した光ファイバ束は
絶縁物の支柱の中に入れ又は注型して低電位側へ導くよ
うにして高電位側との絶縁を完全にした。
以下、図面についてこの発明の詳細な説明する。図面は
この発明の一実施例を示す構成図であって、（１）は中
空にした高電位部の導体、（２−１）（２−２）はそれ
ぞれ光センサ、（３−１）。
この発明の一実施例を示す構成図であって、（１）は中
空にした高電位部の導体、（２−１）（２−２）はそれ
ぞれ光センサ、（３−１）。
（３−２）はそれぞれ光ファイバ、（分・社絶縁物の支
柱、（５）は信号処理器、（６）は低電位側の筐体であ
る。
柱、（５）は信号処理器、（６）は低電位側の筐体であ
る。
光センサが光ファイバからの光の入力をも必要とするセ
ンサである場合には光の出力用の光ファイバと同時に光
の入力用の光ファイバをも必要とし、図面に１本の線を
以て表しである光ファイバもこの場合には往復各１本の
光ファーイバであると解釈さるべきである。また光ファ
イバからの光の入力を必要とする光センサを用いる場合
は、信号処理器（５）には発光源を含むものとする。
ンサである場合には光の出力用の光ファイバと同時に光
の入力用の光ファイバをも必要とし、図面に１本の線を
以て表しである光ファイバもこの場合には往復各１本の
光ファーイバであると解釈さるべきである。また光ファ
イバからの光の入力を必要とする光センサを用いる場合
は、信号処理器（５）には発光源を含むものとする。
たとえば、光センサ（２−ｔ）、（２−２）が共に半導
体結晶のエネルギーバンドギャップ（ｅｎｅｒｇｙ ｂ
ａｎｄ ｇａｐ ）によって所定波長の光に対して与え
る減良が当該半導体結晶の温度に依存して変化する現象
を利用して温度を検出するセンサであるとすれば、信号
処理器（５）では当該半導体結晶のエネルギーバンドギ
ャップに対応する波長の、光を発生し光ファイバ（ａ−
ｉ）、（３−２）の往路側の光ファイバかう光センサ（
２−１）。
体結晶のエネルギーバンドギャップ（ｅｎｅｒｇｙ ｂ
ａｎｄ ｇａｐ ）によって所定波長の光に対して与え
る減良が当該半導体結晶の温度に依存して変化する現象
を利用して温度を検出するセンサであるとすれば、信号
処理器（５）では当該半導体結晶のエネルギーバンドギ
ャップに対応する波長の、光を発生し光ファイバ（ａ−
ｉ）、（３−２）の往路側の光ファイバかう光センサ（
２−１）。
（２−，２）に送り、この光センサ（２−１）。
（２−２）の透過光を光ファイバ（３−１）。
（３−２）の復路側の光ファイバを経て信号処理器（５
）まで伝送し、此処で受光器（図示せず）によって光の
強さを検出して、光センサ内における光の減哀を測定し
、光センサの温度、すなわち光センサの周辺の温度を算
出することができる。各種の光センサについては、従来
公知のセンサだけを使用するので此処ではその説明を省
略する。
）まで伝送し、此処で受光器（図示せず）によって光の
強さを検出して、光センサ内における光の減哀を測定し
、光センサの温度、すなわち光センサの周辺の温度を算
出することができる。各種の光センサについては、従来
公知のセンサだけを使用するので此処ではその説明を省
略する。
図に示すような構成では光ファ・イバは隔電位導体（１
１の中空部の中にあるが、或は光ファイバ束としてまと
められて絶縁物の支柱（４）の中にあるので、組立作業
中に誤って光ファイバを切断するようなことはない。ま
た、ガス絶縁電気機器においては高電位側のガス封入量
から低電位側の大気圏へ光ファイバを貫通して取出す必
要がめるが、支柱（４）に光ファイバを注型することで
容易に気缶を保つことができる。
１の中空部の中にあるが、或は光ファイバ束としてまと
められて絶縁物の支柱（４）の中にあるので、組立作業
中に誤って光ファイバを切断するようなことはない。ま
た、ガス絶縁電気機器においては高電位側のガス封入量
から低電位側の大気圏へ光ファイバを貫通して取出す必
要がめるが、支柱（４）に光ファイバを注型することで
容易に気缶を保つことができる。
以上の説明においては光センサ（２−１）’。
（２−２）が温度検出に用いられる例について説明した
が、他のどのような光センサを使用する場合も同様であ
る。
が、他のどのような光センサを使用する場合も同様であ
る。
以上のようにこの発明によれば、光ファイバが露出する
ことがなく、また固定ができるので、振動等の外乱によ
って影響されることなく、安定に測定することができ、
組立作業も容易になる。さらに、ガス？縁電気機器にお
いては、光ファイバの貫通部の気密封じが容易になる。
ことがなく、また固定ができるので、振動等の外乱によ
って影響されることなく、安定に測定することができ、
組立作業も容易になる。さらに、ガス？縁電気機器にお
いては、光ファイバの貫通部の気密封じが容易になる。
図面はこの発明の一実施例を示す構成図である。
（１）・・・高電位部の導体、（２−１）、（２−２）
・・・光センサ、（，３−１）−、（３−２）・・・光
ファイバ、（４）・・・絶縁物の支柱、（５）・・・信
号処理器。 代理人 葛 野 信 −
・・・光センサ、（，３−１）−、（３−２）・・・光
ファイバ、（４）・・・絶縁物の支柱、（５）・・・信
号処理器。 代理人 葛 野 信 −
Claims (1)
- 電気機器の高電位導体を中空にしてその中空の中に設け
られる１個以上の光センサと、この１個以上の光センサ
からの光を入力し又は光センサへ光゛を入力するために
上記高電位導体の上記中空中に設けられる１本以上の光
ファイバと、この１本以上の光ファイバを上記高電位導
体の所定の個所にまとめて上記中空の中から外部へ導出
する手段と、この外部へ導出した光ファイバ束を絶縁物
の支柱の中に入れ又は注型して低電位側へ導出する手段
とを備えた電気機器の物理量測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58036134A JPH0670655B2 (ja) | 1983-03-03 | 1983-03-03 | 電気機器の物理量測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58036134A JPH0670655B2 (ja) | 1983-03-03 | 1983-03-03 | 電気機器の物理量測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59160769A true JPS59160769A (ja) | 1984-09-11 |
| JPH0670655B2 JPH0670655B2 (ja) | 1994-09-07 |
Family
ID=12461310
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58036134A Expired - Lifetime JPH0670655B2 (ja) | 1983-03-03 | 1983-03-03 | 電気機器の物理量測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0670655B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101931519B1 (ko) | 2012-08-15 | 2018-12-21 | 로안 킴티팜 | 척추 질환의 예방을 위한 좌석 장치 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5551753A (en) * | 1978-10-03 | 1980-04-15 | Kobayashi Bolt Kogyo | Plasterer gypsum material |
| JPS5557153A (en) * | 1978-10-19 | 1980-04-26 | Siemens Ag | Electrooptical device for measuring voltage |
| JPS55138662A (en) * | 1979-04-17 | 1980-10-29 | Mitsubishi Electric Corp | Voltage measuring method in hermetic vessel |
-
1983
- 1983-03-03 JP JP58036134A patent/JPH0670655B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5551753A (en) * | 1978-10-03 | 1980-04-15 | Kobayashi Bolt Kogyo | Plasterer gypsum material |
| JPS5557153A (en) * | 1978-10-19 | 1980-04-26 | Siemens Ag | Electrooptical device for measuring voltage |
| JPS55138662A (en) * | 1979-04-17 | 1980-10-29 | Mitsubishi Electric Corp | Voltage measuring method in hermetic vessel |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0670655B2 (ja) | 1994-09-07 |
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