JPS59231448A - 渦流探傷装置の校正装置 - Google Patents
渦流探傷装置の校正装置Info
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- JPS59231448A JPS59231448A JP10731683A JP10731683A JPS59231448A JP S59231448 A JPS59231448 A JP S59231448A JP 10731683 A JP10731683 A JP 10731683A JP 10731683 A JP10731683 A JP 10731683A JP S59231448 A JPS59231448 A JP S59231448A
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/72—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
- G01N27/82—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
- G01N27/90—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents
- G01N27/9073—Recording measured data
- G01N27/9086—Calibrating of recording device
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、複数チャンネル特に数１０チャンネル以上を
有する渦流探傷装置の校正装置に関する。
有する渦流探傷装置の校正装置に関する。
渦流探傷装置は周知の如く、探傷に先立って位相設定及
び感度設定が必要である。しかも、これらの設定値は複
数のチャンネルを有する場合夫々の横用グローブの電気
的諸特性、各系列の回路の定数、ケーブルの電気定数等
のバラツキのだめ同一般足では同一の疵に対する出力が
夫々変ってくる。このような被数チャンネルを有する装
置では各チャンネルで同一の出力が得られないためこの
ままで探傷すると疵の評価を正しく行うことが出来ない
。そこでどのチャンネルのグローブでも同一の疵に対し
て同一の出力が兄生するように調整されていなければな
らないが、チャンネル数が多くなればなる程同−疵に対
する出力の最大値と最小値の差は大きくなる傾向を持っ
ており、従ってこれらを是正することが多チャン坏ル化
の必須の条件となる。
び感度設定が必要である。しかも、これらの設定値は複
数のチャンネルを有する場合夫々の横用グローブの電気
的諸特性、各系列の回路の定数、ケーブルの電気定数等
のバラツキのだめ同一般足では同一の疵に対する出力が
夫々変ってくる。このような被数チャンネルを有する装
置では各チャンネルで同一の出力が得られないためこの
ままで探傷すると疵の評価を正しく行うことが出来ない
。そこでどのチャンネルのグローブでも同一の疵に対し
て同一の出力が兄生するように調整されていなければな
らないが、チャンネル数が多くなればなる程同−疵に対
する出力の最大値と最小値の差は大きくなる傾向を持っ
ており、従ってこれらを是正することが多チャン坏ル化
の必須の条件となる。
従来これらの調整は一般には校正装置又はキャリブレー
タと言われる既知の人工疵を有するものを使用し、９「
定の感度と位相を設定するもので、これをま゛ず手動で
チャンネル間のバラツキの補正を行い、そ扛が終了后、
位相及び利得の設定を行いさらにその后スレシーホール
ドの設定を行っていた。この場合例えは２００チヤンネ
ルの構成の探傷装置であれば谷ナヤ／ネルのバラツキ補
正に２分間要したとすれば合計４００分間も必−女で、
実用上大きな問題となって１〜貰う。
タと言われる既知の人工疵を有するものを使用し、９「
定の感度と位相を設定するもので、これをま゛ず手動で
チャンネル間のバラツキの補正を行い、そ扛が終了后、
位相及び利得の設定を行いさらにその后スレシーホール
ドの設定を行っていた。この場合例えは２００チヤンネ
ルの構成の探傷装置であれば谷ナヤ／ネルのバラツキ補
正に２分間要したとすれば合計４００分間も必−女で、
実用上大きな問題となって１〜貰う。
そこで本発明はこのよりな串’ｉＨに鑑み、問題点を棟
々検６・Ｊシた結果、被数のチャンネル１で、４ｊする
渦流探傷装置の校正装置において、チャンネル間の位相
と振幅のバラツキｒ自動的かつ短時間にＷ、１」整を行
う装置を開発したもので、その特徴は、複数チャンネル
を有する渦流探傷装置のチャンネル間の位相と利得のバ
ラツキを、＋ｌ、’、ｊ 悄する校正装置において、人
工疵上を走・〔ｔして得られた疵信号を９０度異なる位
相に弁別する位相検波器と、弁別されだ値ｋＭ己憶する
メモリと、アンプを出た前記値から位相値を耐昇するマ
イクロコンピュータと、基準位相発生器の位相値と前記
マイクロコンピュータで計算した位相値との差をもとめ
る引算器と、該引力−器で得られた値の位相で前記位相
検波器を設定する回路と、基準電圧発生器の基準値と前
記アンプの出力値との赤を割算する前記マイクロコンピ
ュータと、該マイクロコンピータで侍られた値をＡＧＣ
アンゾの値に掛合せて利得を決定する回路とからなる校
正装置１ｔを各チャンネル毎に設置ブたことにある。以
下図面の実施例に従い本発明の詳細な説明する。
々検６・Ｊシた結果、被数のチャンネル１で、４ｊする
渦流探傷装置の校正装置において、チャンネル間の位相
と振幅のバラツキｒ自動的かつ短時間にＷ、１」整を行
う装置を開発したもので、その特徴は、複数チャンネル
を有する渦流探傷装置のチャンネル間の位相と利得のバ
ラツキを、＋ｌ、’、ｊ 悄する校正装置において、人
工疵上を走・〔ｔして得られた疵信号を９０度異なる位
相に弁別する位相検波器と、弁別されだ値ｋＭ己憶する
メモリと、アンプを出た前記値から位相値を耐昇するマ
イクロコンピュータと、基準位相発生器の位相値と前記
マイクロコンピュータで計算した位相値との差をもとめ
る引算器と、該引力−器で得られた値の位相で前記位相
検波器を設定する回路と、基準電圧発生器の基準値と前
記アンプの出力値との赤を割算する前記マイクロコンピ
ュータと、該マイクロコンピータで侍られた値をＡＧＣ
アンゾの値に掛合せて利得を決定する回路とからなる校
正装置１ｔを各チャンネル毎に設置ブたことにある。以
下図面の実施例に従い本発明の詳細な説明する。
今、第２図に示す外１く、校正板１０１上に既知の人工
疵１００をつくり、その上を所定のギャップｋ ４Ｍち
つつ、いくつかのグローブをまとめて走査する。この動
作は校正板の批長さにより１回の走査で全チャンネル終
了しなけれ―、複数のブロック毎に行なってもよい。説
明を容易にするためチャンネル数が３の場合について説
明するが、チャンネルが増加しても同様な考え方で実施
出来るものである。今グローブ１０２．１０３．１０４
を同時に疵１００上全矩菅し、第３図（イ）、（ロ）、
（ハ）の如く各々異った検出信号が得られたとする。こ
の場合、本来同一材質の校正板に同一の大きさの人工疵
をプローブが走査して得られる検出信号であるから振幅
８１位相角θはそれぞ扛同−でなければならない。しか
しながら、前述のようにグローブ等の電気的緒特性等の
ちがいにより、それぞｉｔの大きさが異って来る。その
結果この状態で実疵を探傷すればグローブ毎に異った評
価結果が得られることになる。
疵１００をつくり、その上を所定のギャップｋ ４Ｍち
つつ、いくつかのグローブをまとめて走査する。この動
作は校正板の批長さにより１回の走査で全チャンネル終
了しなけれ―、複数のブロック毎に行なってもよい。説
明を容易にするためチャンネル数が３の場合について説
明するが、チャンネルが増加しても同様な考え方で実施
出来るものである。今グローブ１０２．１０３．１０４
を同時に疵１００上全矩菅し、第３図（イ）、（ロ）、
（ハ）の如く各々異った検出信号が得られたとする。こ
の場合、本来同一材質の校正板に同一の大きさの人工疵
をプローブが走査して得られる検出信号であるから振幅
８１位相角θはそれぞ扛同−でなければならない。しか
しながら、前述のようにグローブ等の電気的緒特性等の
ちがいにより、それぞｉｔの大きさが異って来る。その
結果この状態で実疵を探傷すればグローブ毎に異った評
価結果が得られることになる。
渦流探傷においては位相角θと振幅ａの大きさをもって
、その疵を評価するのが一般的であシ、同一の糺に対し
てはどのチャンネルのプローブでも同一の出力が得られ
なければならない。そこで本発明は同一の疵に対し、位
相角θと振幅ａの大きさｔ−ｊべてのチャンネルのグロ
ーブで短時間に同一に合せて、特性を均一化しようとす
るものである。
、その疵を評価するのが一般的であシ、同一の糺に対し
てはどのチャンネルのプローブでも同一の出力が得られ
なければならない。そこで本発明は同一の疵に対し、位
相角θと振幅ａの大きさｔ−ｊべてのチャンネルのグロ
ーブで短時間に同一に合せて、特性を均一化しようとす
るものである。
第１図は渦流探傷装置に本発明の校正装置を組入れたも
のの構成ブロック図で、本発明に係る部分のＪ）−を示
している。従って、位相検波回路１０の前段には交流増
幅器ブリッジ回路又はアンバランス電圧打消し回路、間
層波電圧発生回路等があり、又、アンプ２４．３４の後
のＸ’、Ｙ’には直流増幅器、フィルタ、その他信号処
理回路等があるが省略しである。１１．１２は位相検波
回路１０からの９０位相の異なる成分の出力信号で、１
１は同相（Ｘ ［１Ｉｌｌ＋ ）成分の疵信号（Ｘ）、
１２は直交（Ｙ軸）成分の疵信号（ｙ）である。２０．
３０はＡ／Ｄ変換器、２１．３１は弁別された１ｊ号（
Ｘ）。
のの構成ブロック図で、本発明に係る部分のＪ）−を示
している。従って、位相検波回路１０の前段には交流増
幅器ブリッジ回路又はアンバランス電圧打消し回路、間
層波電圧発生回路等があり、又、アンプ２４．３４の後
のＸ’、Ｙ’には直流増幅器、フィルタ、その他信号処
理回路等があるが省略しである。１１．１２は位相検波
回路１０からの９０位相の異なる成分の出力信号で、１
１は同相（Ｘ ［１Ｉｌｌ＋ ）成分の疵信号（Ｘ）、
１２は直交（Ｙ軸）成分の疵信号（ｙ）である。２０．
３０はＡ／Ｄ変換器、２１．３１は弁別された１ｊ号（
Ｘ）。
（ｙ）を記憶するメモリ、２２．３２はＬ）／Ａ変換銚
２３．３３はＡＧＣアンプで、利得を決定する掛算器で
ある。２４．３４はアンプ、４０は（利得を訓飛する）
基準電圧発生器、５０は入出力装置（工１０）、６０は
マイクロコンピュータで位相を合せる位相角と、イ・ｌ
Ｉ伯を合せるだめの制御゛直圧を剖゛算する。７０は基
準位相発生器、８０は引算器である。
２３．３３はＡＧＣアンプで、利得を決定する掛算器で
ある。２４．３４はアンプ、４０は（利得を訓飛する）
基準電圧発生器、５０は入出力装置（工１０）、６０は
マイクロコンピュータで位相を合せる位相角と、イ・ｌ
Ｉ伯を合せるだめの制御゛直圧を剖゛算する。７０は基
準位相発生器、８０は引算器である。
この回路・構成の校正装置がどのチャンネルのグローブ
にも設けられてお４０．２００チヤンネルの場合はこの
装置が２００あるものである。しかし、入出力装置５０
とマイクロコンピー−タロ０は１台を各グローブで共用
することも出来る。
にも設けられてお４０．２００チヤンネルの場合はこの
装置が２００あるものである。しかし、入出力装置５０
とマイクロコンピー−タロ０は１台を各グローブで共用
することも出来る。
次に上記構成に基く作用について説明する。第３図の（
ｉ”ｒ−相及び利ＩＵは、塗出信号がイ々Ｉられる重［
」、囲で任意の値とする。−まず最ｉ刀に位相角を合せ
るため３箇のプローブ１０２ 、１０３ 、１０４が同
時に人工疵上を走査する。谷々の測定値は第１図におい
て、疵（人工欠陥）１，１号を沈む高周波信号が位相検
波（ロ）ｉ％ ｌ Ｏに人力され、ここで尚周波信号（
ｒよ除かれ、位相弁別されたＩｊｆ、信号の同相（Ｘ
’Ｉｄ ）成分信号（ｘ） １１と直交（ＹＩｉ！１Ｉ
Ｉ）成分信号（、ｙ） １２が出力される。１Ｆ４号１
１はＡ／Ｄ 変換器２０でディジタル化さ７′Ｌ１ メ
モリ２１でディジタル化した状態でａＵ２憶される。メ
モり２１で保持された信号はＬ）／Ａ変換器２２でＬ与
びアナログ信号と；父り、利得を決定するＡＧＣアンプ
２３に人力される。同様に信号１２もＡ／Ｄ変換器３０
でディジタル化きれメモリ３１で保持され、丹びＤ／Ａ
変換器３２でアナログ１４号となりＡＧＣアンプ３３に
入力さＪしる。
ｉ”ｒ−相及び利ＩＵは、塗出信号がイ々Ｉられる重［
」、囲で任意の値とする。−まず最ｉ刀に位相角を合せ
るため３箇のプローブ１０２ 、１０３ 、１０４が同
時に人工疵上を走査する。谷々の測定値は第１図におい
て、疵（人工欠陥）１，１号を沈む高周波信号が位相検
波（ロ）ｉ％ ｌ Ｏに人力され、ここで尚周波信号（
ｒよ除かれ、位相弁別されたＩｊｆ、信号の同相（Ｘ
’Ｉｄ ）成分信号（ｘ） １１と直交（ＹＩｉ！１Ｉ
Ｉ）成分信号（、ｙ） １２が出力される。１Ｆ４号１
１はＡ／Ｄ 変換器２０でディジタル化さ７′Ｌ１ メ
モリ２１でディジタル化した状態でａＵ２憶される。メ
モり２１で保持された信号はＬ）／Ａ変換器２２でＬ与
びアナログ信号と；父り、利得を決定するＡＧＣアンプ
２３に人力される。同様に信号１２もＡ／Ｄ変換器３０
でディジタル化きれメモリ３１で保持され、丹びＤ／Ａ
変換器３２でアナログ１４号となりＡＧＣアンプ３３に
入力さＪしる。
もちろんメモＩＪ ２１ 、３１でｔよアナログの状態
で保持してもよいが、精度を高く保持するためにはディ
ジタルの方が都合よい。
で保持してもよいが、精度を高く保持するためにはディ
ジタルの方が都合よい。
Ａ、 Ｇ Ｃアンプ２３．３３を出た信号はアンプ２４
．３４で増幅され、入出力装置（Ｉｌｏ）５０を辿っテ
マイクロコンビーータ６０に入力され、ここで次の演算
をする。１．ＩＩぢアンプ２４の出力（Ｘ）とアンプ３
４の出力（ｙ）との値よりθ−ｔａｎ−を’Ｆｊｉ”！
’？する。この値（θ）は第３図（イ）、（ロ）、（ハ
）でのθ１．θ２．θ３の各値に相当する。この演算さ
れた値θは再びｌ１０５０を通って引算器８０へ入力さ
れる。引算器８０では基準位相発生器７００基準位相の
値θ′と前記マイクロコンピュータ６０によって・ｆけ
らルた値θとの差即ちθ−θ′−〇の値を演算する。位
相をＸ軸上に合せるにはθ′ｔｏ に、Ｙ軸上に合せる
にはθ′を９０ に合せるものである。
．３４で増幅され、入出力装置（Ｉｌｏ）５０を辿っテ
マイクロコンビーータ６０に入力され、ここで次の演算
をする。１．ＩＩぢアンプ２４の出力（Ｘ）とアンプ３
４の出力（ｙ）との値よりθ−ｔａｎ−を’Ｆｊｉ”！
’？する。この値（θ）は第３図（イ）、（ロ）、（ハ
）でのθ１．θ２．θ３の各値に相当する。この演算さ
れた値θは再びｌ１０５０を通って引算器８０へ入力さ
れる。引算器８０では基準位相発生器７００基準位相の
値θ′と前記マイクロコンピュータ６０によって・ｆけ
らルた値θとの差即ちθ−θ′−〇の値を演算する。位
相をＸ軸上に合せるにはθ′ｔｏ に、Ｙ軸上に合せる
にはθ′を９０ に合せるものである。
この得られた値の位相で位相検波器１０を設定し、動作
させるものである。第２図の３チヤンネルを有する渦流
探傷装置は、この動作葡すべてのプローブで同時に行う
ことによりすべてのチャンネル間の位相は第３図に点だ
〆で示すようにＸ軸に対してＯとなるよう同一に校正さ
れたことになる。次の動作は、位相条件が前記動作によ
り校正されたため利イ（Ｊをｈ周七姿すればよいことに
なる。
させるものである。第２図の３チヤンネルを有する渦流
探傷装置は、この動作葡すべてのプローブで同時に行う
ことによりすべてのチャンネル間の位相は第３図に点だ
〆で示すようにＸ軸に対してＯとなるよう同一に校正さ
れたことになる。次の動作は、位相条件が前記動作によ
り校正されたため利イ（Ｊをｈ周七姿すればよいことに
なる。
利得の１１Ｍ整は次の順序により行う。壕ず各プローブ
が再度人工疵上を定食すると前回と同様に疵信号が第３
図（イ）、（ロ）、（ハ）の点縄で示す如くＸ軸上に発
生する。前回の動作によシ既に位相かすべてＸ軸に対し
０度に位置が台っているためアンプ２４の出力値ｖＸ基
準屯電圧生器４０の出力電圧Ｖ′と比較してこの基準４
ｊ圧と同じになるようにマイクロコンピーータにて計算
する。即ち基準、に圧尤生器４０の出力′電圧Ｖとアン
プ２４の出力Ｖとの差Ｖ ＝ ｖ’ −ｖをマイクロコ
ンピー−タロ０にてｄｆ算し、得られた値をＩｌｏ ５
０を辿ってＡＧＣアンプ２３．３３に入力し、ＡＧＣア
ングの１１′ｉｆとＪＴＦ合され利得が調整される。こ
の動作が、３チヤンネルの各グローブで同１侍に、行な
われた結果、利得はすべて同一に校正されたことになる
。
が再度人工疵上を定食すると前回と同様に疵信号が第３
図（イ）、（ロ）、（ハ）の点縄で示す如くＸ軸上に発
生する。前回の動作によシ既に位相かすべてＸ軸に対し
０度に位置が台っているためアンプ２４の出力値ｖＸ基
準屯電圧生器４０の出力電圧Ｖ′と比較してこの基準４
ｊ圧と同じになるようにマイクロコンピーータにて計算
する。即ち基準、に圧尤生器４０の出力′電圧Ｖとアン
プ２４の出力Ｖとの差Ｖ ＝ ｖ’ −ｖをマイクロコ
ンピー−タロ０にてｄｆ算し、得られた値をＩｌｏ ５
０を辿ってＡＧＣアンプ２３．３３に入力し、ＡＧＣア
ングの１１′ｉｆとＪＴＦ合され利得が調整される。こ
の動作が、３チヤンネルの各グローブで同１侍に、行な
われた結果、利得はすべて同一に校正されたことになる
。
このようにして位相及び利得が少なくとも２回の人工疵
上の走査による校正動作により谷チャンネル同一に調整
されるものである。チャンネル数が多い場合、上記動作
は複数のブロックに分けてブロック毎に校正動作を行う
ものである。
上の走査による校正動作により谷チャンネル同一に調整
されるものである。チャンネル数が多い場合、上記動作
は複数のブロックに分けてブロック毎に校正動作を行う
ものである。
本装置を２（）０チヤンネルある探傷装置において、２
５チヤンネルを１ブロツクとして８ブロツクにわけ、ブ
ロック毎に同一の人工疵をつけた校正板を用意して、校
正の操作を実施した結果、プローブの走１ｔによる位相
、利得のチャンネル間のバラツキの補正は約２０秒で全
テヤンイ・ルが調整出来た。従来の手動によるｌｊ肋″
ｔＯのび１歪に比べ大１ｆＶｊＧな時間短縮が用油とな
った。
５チヤンネルを１ブロツクとして８ブロツクにわけ、ブ
ロック毎に同一の人工疵をつけた校正板を用意して、校
正の操作を実施した結果、プローブの走１ｔによる位相
、利得のチャンネル間のバラツキの補正は約２０秒で全
テヤンイ・ルが調整出来た。従来の手動によるｌｊ肋″
ｔＯのび１歪に比べ大１ｆＶｊＧな時間短縮が用油とな
った。
以上述べ／４如く、従来方式の手動に比べ本発明は自動
的かつ短時間でチャンネル間のバラツキの補王が可・ｉ
目となシ、渦流探傷装置のオペレータの熟練度の要求Ｃ
よ少なくなり、バラツキ調整の負担もＩｉイくなるなど
効果大なるものがある。
的かつ短時間でチャンネル間のバラツキの補王が可・ｉ
目となシ、渦流探傷装置のオペレータの熟練度の要求Ｃ
よ少なくなり、バラツキ調整の負担もＩｉイくなるなど
効果大なるものがある。
第１図は本蛇明の実施例を示すブロック図、第２図は渦
流探傷装置打の校正要領を説明する図、第３図は検出信
号の説明図である。 図面で１０は位相検波器、２１．３１はメモ１八６０は
マイクロコンビーータ、８０は引算器、２３．３３ζｄ
：ＡＧｃアンン゛である。 出願人 新日本製鐵株式会社
流探傷装置打の校正要領を説明する図、第３図は検出信
号の説明図である。 図面で１０は位相検波器、２１．３１はメモ１八６０は
マイクロコンビーータ、８０は引算器、２３．３３ζｄ
：ＡＧｃアンン゛である。 出願人 新日本製鐵株式会社
Claims (1)
- 複数チャンネルを有する渦流探傷装置のチャンネル間の
位相と利得のバラツキを調整する校正装置において、人
工疵上を走査して得られた疵信号會９０度異なる位相に
弁別する位相検波器と、弁別された値を記憶するメモリ
と、アンプを出た前記値から位相値を計算するマイクロ
コンピータと、基準位相発生器の位相値と前記マイクロ
コンピュータで計算した位相値との差をもとめる引算器
と、該引算器で倚られた値の位相で前記位相検波器を設
定する回路と、基準電圧発生器の基準値と前ｍｌアンプ
の出力値とのＭ ’Ｃｔｌ’ 算する前記マイクロコン
ピュータと、該マイクロコンピータで得られた値をＡＧ
Ｃアンプの値に掛合せて利得を決定する回路とからなる
校正装置を谷チャンネル毎に設けたことを特徴とする渦
流探傷装置の校正装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10731683A JPS59231448A (ja) | 1983-06-15 | 1983-06-15 | 渦流探傷装置の校正装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10731683A JPS59231448A (ja) | 1983-06-15 | 1983-06-15 | 渦流探傷装置の校正装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59231448A true JPS59231448A (ja) | 1984-12-26 |
| JPH0340827B2 JPH0340827B2 (ja) | 1991-06-20 |
Family
ID=14455977
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10731683A Granted JPS59231448A (ja) | 1983-06-15 | 1983-06-15 | 渦流探傷装置の校正装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59231448A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60202353A (ja) * | 1984-03-28 | 1985-10-12 | Hara Denshi Sokki Kk | 多チヤンネル渦流探傷装置 |
| JPS63234153A (ja) * | 1987-03-23 | 1988-09-29 | Chubu Electric Power Co Inc | 架空電線用探傷装置 |
| FR2666655A1 (fr) * | 1990-09-06 | 1992-03-13 | Aerospatiale | Dispositif pour l'examen non destructif d'une pluralite de troncons de jonctions. |
| JP2006317194A (ja) * | 2005-05-10 | 2006-11-24 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | マルチセンサ信号異常検知装置および方法 |
| JP2013205382A (ja) * | 2012-03-29 | 2013-10-07 | Hitachi-Ge Nuclear Energy Ltd | 渦電流探傷装置の校正確認方法及び渦電流探傷装置 |
Citations (1)
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| JPS5611353A (en) * | 1979-07-09 | 1981-02-04 | Nippon Steel Corp | Eddy current check unit |
-
1983
- 1983-06-15 JP JP10731683A patent/JPS59231448A/ja active Granted
Patent Citations (1)
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| JPS5611353A (en) * | 1979-07-09 | 1981-02-04 | Nippon Steel Corp | Eddy current check unit |
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|---|---|---|---|---|
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| JPS63234153A (ja) * | 1987-03-23 | 1988-09-29 | Chubu Electric Power Co Inc | 架空電線用探傷装置 |
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| JP2006317194A (ja) * | 2005-05-10 | 2006-11-24 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | マルチセンサ信号異常検知装置および方法 |
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| JP2013205382A (ja) * | 2012-03-29 | 2013-10-07 | Hitachi-Ge Nuclear Energy Ltd | 渦電流探傷装置の校正確認方法及び渦電流探傷装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0340827B2 (ja) | 1991-06-20 |
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