JPS60202353A - 多チヤンネル渦流探傷装置 - Google Patents

多チヤンネル渦流探傷装置

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JPS60202353A
JPS60202353A JP59059899A JP5989984A JPS60202353A JP S60202353 A JPS60202353 A JP S60202353A JP 59059899 A JP59059899 A JP 59059899A JP 5989984 A JP5989984 A JP 5989984A JP S60202353 A JPS60202353 A JP S60202353A
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Application number
JP59059899A
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English (en)
Inventor
Shoji Hayashibe
林部 昭治
Fumio Iida
文夫 飯田
Eiichiro Chikamatsu
近松 栄一郎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
HARA DENSHI SOKKI KK
Eddio Corp
Original Assignee
HARA DENSHI SOKKI KK
Eddio Corp
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Publication date
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
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    • G01N27/72Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
    • G01N27/82Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
    • G01N27/90Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents
    • G01N27/9073Recording measured data
    • G01N27/9086Calibrating of recording device

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 発明の技術分野 本発明は、スラブ、ブルームなど比較的大きな且つ検査
範囲の広い対象物体用の多チヤンネル渦流探傷装置、特
にその各チャンネルの検出特性を互いに一致整合せしめ
る装置に関する。
従来技術と問題点 近年、比較的大きな且つ所要検査範囲の広い対象物に渦
流探傷を通用する必要性が高まっている。
スラブ鋳造ラインにおける赤熱スラブ表面探傷などはそ
の一例である。これは、従来、品質管理の目的で切断ス
ラブ片を冷却してから目視疵検査。
疵手入れを行ない、再度加熱して次工程にまわしでいた
ものを、赤熱状態で渦流探傷技術により表面疵検査を行
ない、疵無しスラブ片は直接圧延機へ送り又は均熱炉へ
ホットチャージし、次工程のための再加熱エネルギーを
省く効果をねらったものである。
ところで、渦流探傷技術においては、1ケの検出端(プ
ローブ)で検査できる範囲輌は限界があり、特に、広い
範囲に散在する小さな疵を検出しようとするときは、プ
ローブの形状寸法をどの様に工夫しても所期の目的を達
する事はできない。
そこで、近来、かかる目的のために多数のプローブを被
検材の所要表面に規則的に対向配列し、該プローブ群に
それぞれ独立した検出回路を接続して行なう多チヤンネ
ル渦流探傷が実施される様になってきた。
さて、広域探傷においては、所要範囲内のどの部面も同
等のレベルないしグレード(同じ疵に対しては同じ出力
)で検査したいとする場合が一般的であり、かかる要求
から多チャンネル探傷装置は各チャンネルの欠陥検出特
性が一致整合している事、又は一致整合させる事が可能
なこと、さらに該一致整合を現象的に確認できる事が望
まれる。
一方、渦流探傷装置は、プローブを構成するコイル対を
被検面に近接配置して相対的に移動させて走査し、欠陥
による該コイル対の微少インピーダンス変化の差から、
欠陥の有無や深さ等を測定するものであるから、コイル
対の製作上のバランス程度、コイル対とこれを支承する
金属構造物とのわずかな配置寸法の差違、プローブから
検出回路に至る配線の分布容量と導線抵抗のわずかなバ
ラツキ、同上配線の接続部における接触抵抗の差違など
、製作・組立・配線の施工に当りもたらされる、管理統
一不可能な微妙な要因により、各チャンネルの欠陥検出
特性にバラツキを生ずる事が判明しており、従って、同
一規格のプローブと同一規格の検出回路を並列配置して
も広域探傷上要求される欠陥検出特性の一致整合は得ら
れない。
それ故に、該装置の完全実装状態において検出特性の整
合を行なう事が必須となり、さらに、該整合を装置の供
用期間において定期的に確認・修正する事が望まれる。
これを人為的に行なうには、全てのプローブに等しく作
用する形態で人工欠陥を形成した試験片をくり返し探傷
し、検出波形観測手段(ブラウン管等)を見ながら、上
記人工欠陥による検出波形が各チャンネルにつき互に同
一パターン(検出ベクトルの位相、振幅)となるまで、
各チャンネルの検出回路に具備する補正用位相回転調整
器と補正用利得調整器を人手により操作する事となる。
かかる人為的整合方法は、実際上非雷にわずられしく、
長時間を要し、また操作者の個人差があって正確を期し
難い。特に、数十〜数百チャンネルの大規模装置におい
ては、かかる人為的整合は実際上全く不可能である。
従来、多チヤンネル渦流探傷の検出特性(検出ベクトル
の位相、振幅)を自動的に整合する合理的方法ないし装
置は無く、必要にせまられてとる次善の策として、全て
のプローブに等しく作用する形態で人工欠陥を形成した
試験片を探傷し、前記人工欠陥に対応する間欠パルス信
号のピーク値を保持し、該保持値が予め設定した振幅に
なるまで可変利得増幅器を自動的に制御する装置が実施
されている(特開昭52−155593及び特開昭57
−34449)。この従来装置は、試験片に形成した人
工欠陥及びこれと極く類似の寸法・形態を持つ自然欠陥
については、全チャンネルの欠陥対応出力の振幅を同一
とする事ができるから有効である。しかし、該人工欠陥
と異なる深さや形態を持つ一般的な自然欠陥については
、チャンネル間の整合が得られない欠点がある。これは
、従来装置においては、前記人工欠陥に対応する検出ベ
クトルの位相バラツキを無視し、該ベクトルの特定座標
軸成分につきその振幅を強制的に統一する事に起因する
例えば、第1図+alの如く、Aチャンネルの人工欠陥
対応ベクトルをA(振幅19位相60°)とし、Bチャ
ンネルの人工欠陥対応ベクトルをB(振幅19位相45
°)とし、X軸成分を疵出力として用い、これを強制的
に1とする場合、各チャンネルの修正係数KA、KBは
、Kp、=1/cos60°=2.KB=1/cos4
5@=1.4となる。
この修正係数は記憶保持されて一般の自然欠陥について
も適用される。従って、Aチャンネルに前記人工欠陥よ
りり深い欠陥が作用し、第1図(b)の如きベクトルλ
′(振幅1.39位相45°)が発生したならば、Aチ
ャンネルの疵出力は1.3×cos45°XKA=1.
84となる。他方、BチャンネルにAチャンネルと同−
深さ・形態の疵が作用すると、第1図tc>の如くベク
トル^′と振幅同一で位相が15°異なるベクトルB’
(振幅1.3゜位相30°)が発生する。これは、A、
Bチャンネル間の検出特性に15°の位相差があるため
である。そして、Bチャンネルの疵出力は、1.3×c
os30°XKB=1.58となり、Aチャンネルの疵
出力(1,84)と同一値にならない。即ち、渦流探傷
においては欠陥の深さや形態により検出ベクトルの位相
も変化するから、チャンネル間の整合に当り位相バラツ
キを無視する事は合理的でなく、上記従来装置によって
は各種寸法形態の自然欠陥についての検出感度の同一化
は不可能である。
発明の目的 本発明は、多チヤンネル渦流探傷において極力省力する
形で且つ操作者の個人差を排除する形で短時間に行なう
事ができると共に、各掻痒さ、各種形態の欠陥について
もチャンネル間の疵出力偏差を無くす事ができる合理的
欠陥検出特性整合装置を提供する事を目的とする。
発明の構成 本発明は、対象物体の表面に沿って並ぶように配設され
た複数の検出端と、該検出端の各々に接続され互いに独
立な信号検出処理用探傷チャンネルを備える多チヤンネ
ル渦流探傷装置において、各チャンネルの特性整合用試
験片を探傷したときの8の字型検出信号の頂点ベクトル
のX軸成分及びY軸成分をサンプルホールド回路に取込
んで得た静止ベクトルを回転させ、その位相角を所定値
にする位相回転回路を備える自動位相回転器と、該回転
された静止ベクトルのX又はY軸成分の大きさを予め設
定した値に調節する自動利得調節器からなる検出特性整
合装置を各チャンネルに設け、前記試験片での探傷で前
記位相回転器及び利得調節器を自動調整して、該試験片
に対する各チャンネルの検出出力が位相及び振幅におい
て均一となるようにしてなることを特徴とするが、次に
実施例を参照しながらこれを説明する。
発明の実施例 第2図はスラブの上表面全域につき多チヤンネル渦流探
傷する場合のプローブの配列形態の例を示し、同図(a
lの10は該スラブ、12はその搬送ロールである。1
4(添字a−cは相互を区別するもの、他も同様)はプ
ローブユニットで、各々は同図(blに示す様にコイル
対より成る複数の検出器(プローブ)Pl、P2.・・
・・・・Pnをその支承体兼耐雰囲気機能を持つ筐体E
内に規則的に配列し、このプローブユニットを第2図(
a)に示す如くスラブlOの所要被検面に対向配列し、
上下及び左右倣い機構(図示せず)により常にスラブ面
とプローブユニット底面が一定間隔になる様制御する。
第3図は角ビレットに対する多チヤンネル渦流探傷のプ
ローブ配列の例を示し、20は該ビレット、22はプロ
ーブユニットである。これらのプローブユニットの内部
には同様に複数のプローブが規則的に配列されている(
図示せず、)。前記いずれの場合も各プローブは例えば
8KHzの交流電源により励振され、プローブを構成す
るコイル対のインピーダンス変化の差を検出する様に構
成される検出回路に接続される。
これらのスラブ又はビレットに本発明を実施するときは
、被検スラブ又は被検角ビレットと寸法、物性において
略等価な試験片を用意し、これに全てのプローブに等し
く作用する形態で人口疵を形成し、該試験片を被検スラ
ブ又は被検角ビレットの探傷に先立って一同探傷する。
前記試験片を被検材が流れるラインLl(オンライン)
上に乗せる事が出来ない場合には、第4図の様に前記オ
ンラインと並行して該試験片を探傷する事が出来る様な
機構及びラインL2(オフライン)を特設し、プローブ
ユニットは前記上下及び左右倣い機構と一緒にオンライ
ン位置かららオフライン位置へ移動させ、該特設機構上
にフィツトさせて探傷する。
第5図は、本発明が適用される多チヤンネル渦流探傷装
置のブロック線図である。図において発振器26は例え
ば8KHzの交流を発生して第1〜第n探傷チヤンネル
CHI〜CHnに供給し、又、0−90°位相シフタ2
8により該8KHz交流の位相をシフトして互に90”
位相の異なる基準信号31.32を作成して前記探傷チ
ャンネJl/CHI〜CHnに供給する。探傷チャンネ
ルCH1〜CHnは電気回路的に見て全く同一の構成で
あり、各チャンネルに含まれるプローブ30が、前記配
列形態の如(それぞれ被検面の各部に対向配置される。
各チャンネルの電気回路につき説明すると、ブリッヂ3
2はプローブ30を構成するコイル対のインピーダンス
変化の差に対応する微少な8KHz電圧を出力し、これ
を増幅器34により増幅して2個の位相検波器36.3
8に入力させる。各位相検波器は前記互に90”位相の
異なる基準信号31.S2を受け、前記微少8KH−2
電圧に含まれる互に90°位相の異なる成分に比例した
直流電圧を出力する。即ち2個の位相検波器出力S3.
S4は前記インピーダンス変化の差に対応するベクトル
量の各成分電圧となる。該2個の成分電圧は遮断特性の
等しい。2個のフィルタ40.42により該成分電圧に
含まれるノイズ電圧(プローブの振動その他の要因でコ
イル対のインピーダンス差が変化する事により発生)が
抑圧される。次いで該2個の成分電圧は2個の同特性利
得調整器44.46により次段の信号処理上都合の良い
レベルに調節され、続いて位相回転器48に入力される
。この位相回転器は、実際の自然疵探傷に当り、前記フ
ィルタによっても抑圧しきれないノイズ信号を、その位
相分離性(疵信号とノイズ信号に位相差を持つ事)を利
用して消去するために用いるもので、本発明のチャンネ
ル間特性整合の目的に用いる自動位相回転器(後述)と
はちがった機能を果すものである。尚、前記利得調整器
44も本発明の構成要素である自動利得調節器(後述)
とはちがった機能を果すものであり、これらの利得調整
器及び位相回転器は、原則的には全チャンネル一括して
調節可能な構成とさ′れ、実際の自然疵探傷の際、代表
チャンネルの出力情報を見ながら最適値に人為的に設定
される。
利得設定器50及び位相設定器52は上記の一括調整を
行なう装置である。
さて、位相回転器18の出力は、本発明の検出特性整合
装置に入力され、その自動位相回転器56、自動利得調
整器58で位相補正、利得補正を受けた後、疵信号Sd
として取り出され、複数の電圧比較器62.64により
疵の大きさに対応した疵イベント(小班、大疵、etc
)Di、D2となる。記録計66は必要に応じて疵信号
Sdを記録する。
第6図は検出特性整合装置の詳細を示すブロック図であ
る。自動位相回転器は位相回転回路56aを備え、該回
路56aは位相回転器48からのx、y成分出力1x、
Iyを探傷特には直接、整合時にはサンプルホールド回
路SHI、SH2を介して受ける。SW+、SW2はこ
の切換えを行なうスイッチで、同切換スイッチSW3と
共に連動する。サンプルホールド回路SH+、SH2の
サンプルホールドタイミングは、入力Ix、Iyのピー
ク検出をする(ホールド機能も持つ)検出器DTI、D
T2の論理積をとるアンドゲートGlが出力する。位相
回転回路56Hの制御入力はデジタルアナログ変換器5
6b、56c、読取り専用メモリ56d、566、アッ
プダウンカウンタ56f1アンドゲートG2.G3、オ
アゲートG4、クロック発生器CG1ウィンドコンパレ
ータ56gなどを含む回路により発生する。
この自動位相回転器の動作を説明すると、試験片を用い
て整合を行なう時は予め切換スイッチを整合側aに倒し
ておく。人工欠陥に対応するベクトル量は互いに90°
位相の異なる2ケの成分電圧lx、Iyとして発生する
。これらの人力■x。
ryは単なる静止ベクトルではなく、プローブが人工欠
陥を通過する時間に従って、一般にXY位相面において
第7図(a)に示すように8の字を画く変動ベクトルで
ある。検出特性としては該8の字の頂点Pのベクトルを
以って代表するのが実際的である。該80字の頂点Pに
対応する静止ベクトルを作るために、前記入力lx、入
力■yがそれぞれピークとなるタイミングを検出しかつ
それを保持し、該2個のタイミングのAND条件が成立
する時点で前記入力■x、tyの電圧をそれぞれ同時に
回路SHI、SH2ヘサンプルホールドする。第7図(
b)はこれを説明する図である。DTI。
’DT2.Glは第6図のそれの出力を示す。これらの
サンプルホールドされた電圧は、前記静止ベクトルの互
いに90°位相の異なる2ケの成分電圧である。
か−る静止ベクトルを予め特定する位相に一致せしめる
ために、位相回転回路56aに前記ホールドされた成分
電圧を入力する。位相回転回路56aは第8図の如く構
成される。この図でM1〜M4は乗算器、INVはイン
バータ、A1.A2は加算器である。乗算器M1〜M4
は入力lx。
ryとsinφ、cosφを受けてこれらの積を出力し
、加算器A1はMlの出力とM2の出力の反転を受けて x’=Ixcosφ−Iysinφ =Acosθ−cosφ−Asinθ゛Sinφ=Ac
os(θ+φ) なる出力を生じる。こ−でA及びθは”+Y酸成分Ix
、Iyであるベクトル(前記静止ベクトル)の振幅及び
位相角である。加算器A2はM3とM4の出力を受けて y’=Ixsinφ+Iycosφ =Acosθsinφ+As1nθcosφ=Asin
(θ+φ) なる出力を生じる。従って加算器A1.A2の出力x’
、y′は、前記静止ベクトルを角度φだけ回転させたベ
クトルのX、Y成分であることが分る。第9図はこれを
示す図で、第9図(alは該静止ベクトルを、同図1b
)はこれをφだけ回転させたベクトルを示す。
第8図では乗算及び加算をアナログ回路で行なうが、こ
れはコンピュータを利用してデジタル的に行なってもよ
い。
上記のsinφ、cosφは第6図の実施例では読取り
専用メモリ56d、56eに記憶させておき、その読取
り出力をデジタル/アナログ変換器56b、56cでア
ナログに変換して得る。
整合時の位相回転回路56aの出力ベクトルは所定の位
相、本例ではy′成分がゼロ、X′成分が正となる位相
に選定する。この目的で位相回転回路56aの出力X′
は極性判定回路PJを通し゛てアンドゲートG5に入力
し、また出力y′はウィンドコンパレータ56gに入力
する。ウィンドコンパレータ56gは抵抗R1,R2に
より、中点をゼロとし、それより僅かに正及び負の電圧
を入力され、出力y′がこの微小正、負の闇値電圧の範
囲内にあるとき出力S7を生じ、そしてy′が負の闇値
を越えて更に負のとき出力S5を、y′が正の闇値を越
えて更に正のとき出力S6を生じる。これらの出力Ss
、SsはアンドゲートG2゜G3に入ってこれらのゲー
トを開き、クロック発生器CGからのクロックパルスが
該ゲートを通ってカウンタ56fに入るようにする。ゲ
ートG2を通ったクロックはカウンタ56fをアップカ
ウントし、ゲートG3を通ったクロックはカウンタ15
6fをダウンカウントし、か\るアップ、ダウ゛ンカウ
ンドをしたカウンタ56fの計数値はROM56d、5
6eのアクセスアドレスとなってsinφ、cosφを
読み出す(該計数値がφを決定する)。これらのsin
φ、cosφは変換器56b。
56CでD/A変換され、位相回転回路で静止ベクトル
をφだCノ回転させる。この結果出力y′は前記正、負
闇値内に収れんする。
出力X′が正で出力y′が正、負闇値内に収れんしたと
きは所望出力状態で位相回転処理は完了であるが、出力
y′が最初から正、負闇値内にありしかも出力X′が負
である場合はウィンドコンパレータ56gは出力Ss、
Ssを生ぜず、カウンタ56fの計数は行なわれない。
極性判定回路PJ、アンドゲートG5、オアゲートG4
の回路はこれに対処するものである。即ち出力y′が正
負闇値内にあるときコンパレータ56gは出力S7を生
じ、アントゲ−)G5.G6を開く。極性判定回路1)
Jは出力X′が負のときH(ハイ)レベルの出力を生じ
、従ってX′が負ならゲー1−G5゜G4が出力を生じ
てゲートG3を開き、カウンタ56fをダウンカウント
させる。ダウンカウントで出力y′が闇値から外れると
今度は出力S6が発生し、該ダウンカウントを続行させ
る。この結果出力X′は正になりかつ出力y′が闇値内
に入るように自動調整される。出力X′が正になると゛
極性反転回路PJの出力はLレベルとなり、ゲートG3
〜G5は出力を生ぜず、出力y′が闇値内のときアンド
ゲートG6が出力S8を生じて位相調整完了を示す。第
10図は位相回転回路56aにおける上述のベクトル回
転要領を示し、Vl。
v2はサンプルホールドされたベクトル、δは前記正、
負の闇値の範囲内を示す。また■3は前記の出力y′が
最初から闇値内にありかつ出力X′は負であるベクトル
を示す。矢印F+はダウンカウントによるまた矢印F2
はアンプカウントによるベクトルv1〜V3の回転を示
す。
自動利得調節器58は第6図に示すようにデジタル減衰
器58a1アツプダウンカウンタ58b1アンドゲート
G7.G8、及びウィンドーコンパレータ58cからな
る。検出特性整合のためには、前記人工欠陥に対応する
ベクトルの位相を整合するだけでなく、その振幅も整合
する必要があるが、探傷信号(疵信号)としては最終的
に疵ベクトルの1成分信号のみを取り出して用いるから
、振幅整合については該疵信号として取り出される成分
信号につき利得整合が行なえれば良い。本例においては
、位相回転回路56aのX′出力を疵信号として用いる
ので、該X′出力軸に発生する前記人工欠陥対応電圧が
予め特定するレベルに一致ないし近似するように自動利
得補正を行なう。即ち、出力X′が入力されるデジタル
減衰器58aの出力が、前記特定レベルを指定するウィ
ンドーコンパレータ58cに入力され、該ウィンドーコ
ンパレータの比較出力により制御されるアップダウンカ
ウンタ58bの出力がデジタル減衰器58Hの減衰量を
指定する。該減衰器の出力が特定レベルに一致ないし近
似すれば、アップダウンカウンタの計数積算は停止し、
且つ利得調節完了信号S9が発生する。カウンタ58b
がその上限又は下限にアンプカウントまたはダウンカウ
ントされたときは、出力X′を所定レベルに設定するこ
とができないから、この場合は該カウンタ58bは警報
ALMを出す。
位相回転終了信号S8及び利得調節完了信号S9が共に
発生した時点で、第6図の切換スイッチSWを探傷側す
にすれば、以後当該チャンネルの位相回転補正量及び利
得補正量は固定され、実際の自然疵探傷に該補正が通用
される事となる。
第11図は整合要領を説明する図で、(11〜(6)は
第1〜第6チヤンネルの人工疵検出出力で、振幅及び位
相がそれぞれ異なる。これらのベクトルを自動位相回転
器56aで回転して全てX軸の正方向を向くように調整
すると第11図(11)〜(16)の如くなり、位相は
揃うが振幅はまだ異なる。これを自動利得調節器58で
調節し、第11図(21)〜(26)に示すように各ベ
クトルの振幅が揃うようにする。
発明の詳細 な説明したように本発明では人工疵に対する各チャンネ
ルの検出出力の位相および振幅を所定値に自動設定する
ので、各チャンネルの特性整合操作を極めて容易に行な
うことができ、かつ自然疵に対する各チャンネルの検出
特性を均一化することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は各チャンネルの疵検出ベクトルの説明図、第2
図〜第4図は探傷要領の説明図、第5図は本発明の実施
例を示すブロック図、第6図はその一部の詳細を示すブ
ロック図、第7図は探傷出力とそのピークホールドの説
明図、第8図は自動位相回転器の説明図、第9図〜第1
1図は位相及び振幅調整の態様を説明する図である。 図面でP1〜Pn、30は検出端、CHI−CHnはチ
ャンネル、56aは位相回転回路、56は自動位相回転
器、58は自動利得調節器、SH+SH2はサンプルホ
ールド回路、56fはアップダウンカウンタ、56b〜
56eはsinφ、cosφ出力手段、PJ、WC,0
2〜G5.CGはカウンタをアップ、ダウンカウントさ
せる回路、58aはデジタル減衰器、58bはアップダ
ウンカウンタ、WC,G7.G8.CGはカウンタをア
ップ、ダウンカウントさせる回路である。 出願人原電子測器株式会社 代理人弁理士青柳稔 第1図 第2図 第6図 wI7閃 第it図 手続補正書(自発) 1、事件の表示 昭和59年特許願第59899号 2、発明の名称 多チャンネル渦流探傷装置 3、補正をする者 事件との関係特許出願人 住所東京都板僑区桜川1丁目5番7号 名称原屈予測器株式会社 代表者白井逸部 4、代理人〒101 5、補正命令の日付なし 8、補正の内容 (1)明、細書第7頁下から3行の「よシリ」を「よシ
も」に補正する。 (2)同第14頁11行の「探傷時」を「探傷時」に補
正する。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 (11対象物体の表面に沿って並ぶように配設された複
    数の検出端と、該検出端の各々に接続され互いに独立な
    信号検出処理用探傷チャンネルを備える多チヤンネル渦
    流探傷装置において、 各チャンネルの特性整合用試験片を探傷したときの8の
    字型検出信号の頂点ベクトルのX軸成分及びY軸成分を
    サンプルホールド回路に取込んで得た静止ベクトルを回
    転させ、その位相角を所定値にする位相回転回路を備え
    る自動位相回転器と、該回転された静止ベクトルのX又
    はY軸成分の大きさを予め設定した値に調節する自動利
    得調節器とからなる検出特性整合装置を各チャンネルに
    設け、 前記試験片での探傷で前記位相回転器及び利得調節器を
    自動調整して、該試験片に対する各チャンネルの検出出
    力が位相及び振幅において均一となるようにしてなるこ
    とを特徴とする特許合装置付き多チヤンネル渦流探傷装
    置。 (2)自動位相回転器は、8の字型検出信号の頂点ベク
    トルのX軸成分及びY軸成分をサンプルホールドする回
    路と、該X,Y軸成分にsinφ,cosφを乗じかつ
    加減算して該X.Y軸成分を位相角φだけ回転させる位
    相回転回路と、該位相角φの値を出力するアンプダウン
    カウンタと、該カウンタの出力φを受けて前記cosφ
    ,sinφを出力する手段と、該位相回転回路の出力が
    所定位相になるまで前記カウンタをアンプカウント.ダ
    ウンカウントさせる回路を有することを特徴とする特許
    請求の範囲第1項記載の多チヤンネル渦流探傷装置。 《3》自動利得調節器は、回転された静止ベクトルを入
    力されるデジタル減衰器と、該減衰器の減衰量を制御す
    るアップダウンカウンタと、該デジタル減衰器の出力を
    受けて該出力の大きさが設定値になるように該カウンタ
    をアップカウント又はダウンカウントさせる回路とを備
    えることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の多チ
    ャンネル渦流探傷装置。
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