JPH0295252A - 磁気探傷装置の感度校正方法 - Google Patents
磁気探傷装置の感度校正方法Info
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、薄鋼板の欠陥を磁気探傷法で検査する装置の
感度校正方法に関するもので検査装置を検査時と同条件
に設定し薄鋼板を磁化する事により薄鋼板の表面粗度に
よって生じる漏洩磁気を利用して行う簡便でしかも正確
な磁気探傷装置の感度校正方法である。
感度校正方法に関するもので検査装置を検査時と同条件
に設定し薄鋼板を磁化する事により薄鋼板の表面粗度に
よって生じる漏洩磁気を利用して行う簡便でしかも正確
な磁気探傷装置の感度校正方法である。
磁気探傷装置の感度校正方法は、特開昭４９−４６９９
３号公報に記載されているように、従来被検材と同等品
のサンプルに人工欠陥（標準欠陥）を加工し当該人工欠
陥を検出し検査装置の増幅度を設定するか、あるいは信
号検出のしきい値レベルを設定する方法と、特開昭５６
−２９７８２号公報に記載されているように、純電気的
に欠陥に似た信号を発生させ感磁性素子以降の測定系の
感度を設定する方法がある。
３号公報に記載されているように、従来被検材と同等品
のサンプルに人工欠陥（標準欠陥）を加工し当該人工欠
陥を検出し検査装置の増幅度を設定するか、あるいは信
号検出のしきい値レベルを設定する方法と、特開昭５６
−２９７８２号公報に記載されているように、純電気的
に欠陥に似た信号を発生させ感磁性素子以降の測定系の
感度を設定する方法がある。
検査装置における最重要課題は、装置で使用する感磁性
素子から信号処理回路迄を含めた検査装置全体の信号検
出感度が全てのチャンネルで同一に設定されていること
と、それを保証していることである。これを実現するた
め種々の方法が採用されているが原理的に上述のように
標準欠陥を用いる方法と純電気的な方法の二通りである
。まず、標準欠陥を用いる方法は検査装置に使用してい
る感磁性素子の数が少ない場合、例えばパイプの検査の
ようにパイプを回転させながら検査する場合には最適な
方法と思われる。しかし使用感磁素子の数が多い場合、
例えば薄ｆｉｌ板を全面全幅検査する場合等使用感磁素
子の数は数百から子細以上に及ぶことがあり、これら全
ての感磁性素子に対応して薄鋼板表面に標準欠陥を加工
することは標準欠陥の大きさを均一にする事と、標準欠
陥の加工位置等の加工精度の困難さ及びある程度の精度
で標準欠陥が加工できたとしてもサンプルを通板すると
きの位置決め精度に問題があり、標準欠陥による感度校
正は使用している感磁性素子の数が多い場合非常に難し
い。
素子から信号処理回路迄を含めた検査装置全体の信号検
出感度が全てのチャンネルで同一に設定されていること
と、それを保証していることである。これを実現するた
め種々の方法が採用されているが原理的に上述のように
標準欠陥を用いる方法と純電気的な方法の二通りである
。まず、標準欠陥を用いる方法は検査装置に使用してい
る感磁性素子の数が少ない場合、例えばパイプの検査の
ようにパイプを回転させながら検査する場合には最適な
方法と思われる。しかし使用感磁素子の数が多い場合、
例えば薄ｆｉｌ板を全面全幅検査する場合等使用感磁素
子の数は数百から子細以上に及ぶことがあり、これら全
ての感磁性素子に対応して薄鋼板表面に標準欠陥を加工
することは標準欠陥の大きさを均一にする事と、標準欠
陥の加工位置等の加工精度の困難さ及びある程度の精度
で標準欠陥が加工できたとしてもサンプルを通板すると
きの位置決め精度に問題があり、標準欠陥による感度校
正は使用している感磁性素子の数が多い場合非常に難し
い。
また、純電気的に欠陥信号に似た信号波形を作り出し感
磁性素子以降の信号処理回路の感度を均一にする方法は
最も感度差が大きい感磁性素子の校正が出来ず検査装置
全体の検出感度の保証が出来ないという大きな問題があ
る。
磁性素子以降の信号処理回路の感度を均一にする方法は
最も感度差が大きい感磁性素子の校正が出来ず検査装置
全体の検出感度の保証が出来ないという大きな問題があ
る。
本発明は、被検材を電磁石で磁化し欠陥から漏洩する磁
気を感磁性素子で検出する磁気探傷法による薄鋼板の欠
陥検査装置に於いて、薄鋼板を検査時と同じ磁化力で磁
化し薄鋼板の表面粗度によって生じる漏洩磁気を利用し
て検査装置の感度校正を行うもので、薄鋼板の表面粗度
によって生じる漏洩磁気を感磁性素子で検出し、電気信
号に変換した後信号を増幅し、雑音除去のために設けた
周波数フィルターを通過した後絶体値回路で信号電圧の
進体値を取り、その信号電圧を一定時間サンプリングし
サンプリング時間内のピーク値をＡ／Ｄ変換した後コン
ピューターで読み込む。この処理を１チャンネル当たり
１０回以上繰り返し平均値を算出後、信号電圧比較回路
のしきい値以下で、被検材毎に検査条件によって定める
電圧レベルになるまで電気的スイッチを用いた減衰器の
定数設定操作を繰り返すことにより検査装置全チャンネ
ルの感度校正を行い検査装置の信号検出感度を保証する
磁気探傷装置の感度校正方法である。
気を感磁性素子で検出する磁気探傷法による薄鋼板の欠
陥検査装置に於いて、薄鋼板を検査時と同じ磁化力で磁
化し薄鋼板の表面粗度によって生じる漏洩磁気を利用し
て検査装置の感度校正を行うもので、薄鋼板の表面粗度
によって生じる漏洩磁気を感磁性素子で検出し、電気信
号に変換した後信号を増幅し、雑音除去のために設けた
周波数フィルターを通過した後絶体値回路で信号電圧の
進体値を取り、その信号電圧を一定時間サンプリングし
サンプリング時間内のピーク値をＡ／Ｄ変換した後コン
ピューターで読み込む。この処理を１チャンネル当たり
１０回以上繰り返し平均値を算出後、信号電圧比較回路
のしきい値以下で、被検材毎に検査条件によって定める
電圧レベルになるまで電気的スイッチを用いた減衰器の
定数設定操作を繰り返すことにより検査装置全チャンネ
ルの感度校正を行い検査装置の信号検出感度を保証する
磁気探傷装置の感度校正方法である。
以下本発明を図示の実施例にもとづいて詳細に説明する
。第１図は本発明の実施例のブロック図である。被検材
Ｓの上面側に感磁性素子群ｌを内蔵した流体浮上式追従
機構を備えた検出へラド２を設置しである。被検材Ｓを
電磁石３で磁化すると被検材Ｓの表面粗度に比例した強
さの漏洩磁気が生じる。感磁性素子群１で検出した当該
漏洩磁気は電気信号に変換され増幅器４で増幅され周波
数フィルター５で雑音が除去される。フィルター５を通
過した信号は信号の電圧レベルを一定値に揃えるために
設けた、電気的スイッチで減衰量を変えることの出来る
減衰器６を通って進体値回路７に入り信号電圧の進体値
が取られる。次段のサンプルアンドホールド回路８では
一定時間入力信号をサンプリングしサンプリング時間内
のピーク値が保持され、サンプリング時間が経過すると
当該ピーク値がコンピューター９に読み込まれる。
。第１図は本発明の実施例のブロック図である。被検材
Ｓの上面側に感磁性素子群ｌを内蔵した流体浮上式追従
機構を備えた検出へラド２を設置しである。被検材Ｓを
電磁石３で磁化すると被検材Ｓの表面粗度に比例した強
さの漏洩磁気が生じる。感磁性素子群１で検出した当該
漏洩磁気は電気信号に変換され増幅器４で増幅され周波
数フィルター５で雑音が除去される。フィルター５を通
過した信号は信号の電圧レベルを一定値に揃えるために
設けた、電気的スイッチで減衰量を変えることの出来る
減衰器６を通って進体値回路７に入り信号電圧の進体値
が取られる。次段のサンプルアンドホールド回路８では
一定時間入力信号をサンプリングしサンプリング時間内
のピーク値が保持され、サンプリング時間が経過すると
当該ピーク値がコンピューター９に読み込まれる。
この処理を１チャンネル当たり１０回以上繰り返しその
平均値を算出し、被検材毎に検査条件によって予め定め
られた電圧レベルになるまで減衰器６の設定値を電気的
スイッチを介してコンピューター９で制御する。上記の
ように薄鋼板の表面粗度によって生じる漏洩磁気を利用
して上述の一連の処理を繰り返す事により磁気探傷法に
よる検査装置の全てのチャンネルについて簡便でしかも
正確に感度校正が行える。
平均値を算出し、被検材毎に検査条件によって予め定め
られた電圧レベルになるまで減衰器６の設定値を電気的
スイッチを介してコンピューター９で制御する。上記の
ように薄鋼板の表面粗度によって生じる漏洩磁気を利用
して上述の一連の処理を繰り返す事により磁気探傷法に
よる検査装置の全てのチャンネルについて簡便でしかも
正確に感度校正が行える。
〔作 用〕
本実施例における磁気探傷装置の感度校正方法について
説明する。薄鋼板を電磁石で磁化すると薄鋼板の表面に
ある微少な凹凸が磁束の通路の妨げとなり、この凹凸の
大きさに比例した強さの磁気が漏洩する。薄鋼板表面の
微小凹凸即ち、表面粗さは薄鋼板では製品の性質に大き
な影響をもっておりその主たるものは光沢、外観、加工
性、半田性などであり製品毎に規格化している。第２図
に示すグラフの例は横軸は表面粗度、縦軸は信号電圧で
表面粗度に対する信号電圧の特性値を表しており、表面
粗度が大きくなると信号電圧が高くなっていることが分
かる。ここに得られている信号電圧は一般的には雑音と
呼ばれている信号だが、明らかに電気的な雑音信号では
なく薄鋼板の表面粗度によって生じている信号であり、
薄鋼板表面の凹凸は微小欠陥が無数存在していると考え
ることが出来、これが本発明による検査装置の感度校正
が出来る根拠である。第２図のグラフでは部分的に表面
粗度と信号電圧が比例してないデータがあるがこの原因
は表面粗さの規則正しさの差による相違であり薄鋼板の
表面粗度によって生じている漏洩磁気から得た信号であ
ることには変わりなく本発明の校正方法に影響を与える
ものではない。
説明する。薄鋼板を電磁石で磁化すると薄鋼板の表面に
ある微少な凹凸が磁束の通路の妨げとなり、この凹凸の
大きさに比例した強さの磁気が漏洩する。薄鋼板表面の
微小凹凸即ち、表面粗さは薄鋼板では製品の性質に大き
な影響をもっておりその主たるものは光沢、外観、加工
性、半田性などであり製品毎に規格化している。第２図
に示すグラフの例は横軸は表面粗度、縦軸は信号電圧で
表面粗度に対する信号電圧の特性値を表しており、表面
粗度が大きくなると信号電圧が高くなっていることが分
かる。ここに得られている信号電圧は一般的には雑音と
呼ばれている信号だが、明らかに電気的な雑音信号では
なく薄鋼板の表面粗度によって生じている信号であり、
薄鋼板表面の凹凸は微小欠陥が無数存在していると考え
ることが出来、これが本発明による検査装置の感度校正
が出来る根拠である。第２図のグラフでは部分的に表面
粗度と信号電圧が比例してないデータがあるがこの原因
は表面粗さの規則正しさの差による相違であり薄鋼板の
表面粗度によって生じている漏洩磁気から得た信号であ
ることには変わりなく本発明の校正方法に影響を与える
ものではない。
上記説明から明らかなように薄鋼板の表面粗度＝微小欠
陥と見なせるから表面粗度によって生じる漏洩磁気を利
用すれば標準欠陥を用いることも電気的な疑似信号を使
うこともなく検査装置の感度校正が出来るわけで、後は
感度校正の誤差をいかに少なくするかに絞られる。この
ために本性では、薄鋼板の検査を行う前に検査装置を検
査時と同じ条件に設定し、薄鋼板を通板し薄鋼板を磁化
する事により薄鋼板の表面粗度によって生じる漏洩磁気
を検出しその検出した信号を一定時間（周波数フィルタ
ーの中心周波数のｌＯ波長程度）サンプリングしこのデ
ータを１０個以上採取しその平均値を算出し、戸別に設
定しである信号比較回路のしきい値以下で被検材毎の検
査条件によって定める信号電圧になるまで減衰器の電気
的スイッチをコンピューターで操作して減衰量を調整す
る。この処理を検査装置の全チャンネルについて行った
後再度全チャンネルの信号電圧をコンピューターで読み
込み設定電圧の±２ｄＢ以内であるかをチエツクし範囲
外のチャンネルについては減衰量の再調整を行うが、調
整段階で信号電圧が目標値の２分の１以下あるいは２倍
以上の範囲にしか調整出来ないチャンネルについては信
号入力をカシトし調整を中止するとともに信号異常チャ
ンネルをプリンター等に出力しトラブル発生を知らせる
。
陥と見なせるから表面粗度によって生じる漏洩磁気を利
用すれば標準欠陥を用いることも電気的な疑似信号を使
うこともなく検査装置の感度校正が出来るわけで、後は
感度校正の誤差をいかに少なくするかに絞られる。この
ために本性では、薄鋼板の検査を行う前に検査装置を検
査時と同じ条件に設定し、薄鋼板を通板し薄鋼板を磁化
する事により薄鋼板の表面粗度によって生じる漏洩磁気
を検出しその検出した信号を一定時間（周波数フィルタ
ーの中心周波数のｌＯ波長程度）サンプリングしこのデ
ータを１０個以上採取しその平均値を算出し、戸別に設
定しである信号比較回路のしきい値以下で被検材毎の検
査条件によって定める信号電圧になるまで減衰器の電気
的スイッチをコンピューターで操作して減衰量を調整す
る。この処理を検査装置の全チャンネルについて行った
後再度全チャンネルの信号電圧をコンピューターで読み
込み設定電圧の±２ｄＢ以内であるかをチエツクし範囲
外のチャンネルについては減衰量の再調整を行うが、調
整段階で信号電圧が目標値の２分の１以下あるいは２倍
以上の範囲にしか調整出来ないチャンネルについては信
号入力をカシトし調整を中止するとともに信号異常チャ
ンネルをプリンター等に出力しトラブル発生を知らせる
。
一連の調整を繰り返し信号電圧が目標値に収束した時点
で感度校正作業を終了するが、当該作業に要する時間は
、サンプリング時間を５０ｍｓ・データ採取回数を１０
回・チャンネル数を１０００とした場合でも９分弱で１
回の調整は終わり、その後いくつかのチャンネルについ
て補正を行ったとしても感度校正は２０分以下の短い時
間で終了し、標準欠陥を何度も通すというような面倒な
作業も必要なく、簡便でしかも正確に感度校正が行える
方法である。
で感度校正作業を終了するが、当該作業に要する時間は
、サンプリング時間を５０ｍｓ・データ採取回数を１０
回・チャンネル数を１０００とした場合でも９分弱で１
回の調整は終わり、その後いくつかのチャンネルについ
て補正を行ったとしても感度校正は２０分以下の短い時
間で終了し、標準欠陥を何度も通すというような面倒な
作業も必要なく、簡便でしかも正確に感度校正が行える
方法である。
第３図は本発明による感度校正を行った検査装置での検
査結果の例を示した図表で、欠陥の大きさと信号電圧に
比較的良い相関が得られており、本発明の有効性が立証
されている。
査結果の例を示した図表で、欠陥の大きさと信号電圧に
比較的良い相関が得られており、本発明の有効性が立証
されている。
以上述べたごとく本発明による磁気探傷装置の感度校正
方法によれば、薄鋼板通板時に簡便でしかも正確な感度
校正が行え、製品の品質保証体制の強化あるいは、検査
結果を製造ラインヘフィードバノクする事により製造工
程改善等に寄与するところ大である。
方法によれば、薄鋼板通板時に簡便でしかも正確な感度
校正が行え、製品の品質保証体制の強化あるいは、検査
結果を製造ラインヘフィードバノクする事により製造工
程改善等に寄与するところ大である。
第１図は本発明による実施例のブロック図、第２図は表
面粗度に対する信号電圧の特性値の例を示す図表、 第３図は検査結果の例を示す図表である。 Ｓ・・・被検材、 １・・・感磁性素子群、
２・・・検出ヘッド、 ３・・・磁化器、４・・
・増幅器、 ５・・・周波数フィルター６・・
・減衰器、 ７・・・絶体値回路、８・・・サ
ンプルアンドホールド回路、９・・・コンピューター ２・・・検出へ・ンド ３・・・磁化器 ５・・・周波数フィルタ ６・・・減衰器 ７・・・絶対値回路 ８・・・サンプルアンドホールド回路 ９・・・コンピューター
面粗度に対する信号電圧の特性値の例を示す図表、 第３図は検査結果の例を示す図表である。 Ｓ・・・被検材、 １・・・感磁性素子群、
２・・・検出ヘッド、 ３・・・磁化器、４・・
・増幅器、 ５・・・周波数フィルター６・・
・減衰器、 ７・・・絶体値回路、８・・・サ
ンプルアンドホールド回路、９・・・コンピューター ２・・・検出へ・ンド ３・・・磁化器 ５・・・周波数フィルタ ６・・・減衰器 ７・・・絶対値回路 ８・・・サンプルアンドホールド回路 ９・・・コンピューター
Claims (1)
- 被検材を電磁石で磁化し欠陥から漏洩する磁気を感磁
性素子で検出する磁気探傷装置による薄鋼板の欠陥検査
装置に於いて、上記薄鋼板の表面粗度によって生じる漏
洩磁気を感磁性素子で検出し電気信号に変換した後、そ
の信号を増幅し雑音除去のために設けた周波数フィルタ
ーに通過せしめた後、絶対値回路で信号電圧の絶対値を
取り、その信号電圧を一定時間サンプリングし、サンプ
リング時間内のピーク値をＡ／Ｄ変換してコンピュータ
ーで読み込み、この処理を１チャンネル当たり１０回以
上繰り返し平均値を算出した後、信号電圧比較回路のし
きい値電圧以下で被検材毎に検査条件によって定める電
圧レベルになるまで、前記コンピューターによって電気
的スイッチを用いた減衰器の定数設定操作を繰り返すこ
とにより、検査装置全チャンネルの感度校正を行い検査
装置の信号検出感度を保証することを特徴とする磁気探
傷装置の感度校正方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24588888A JP2619498B2 (ja) | 1988-10-01 | 1988-10-01 | 磁気探傷装置の感度校正方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24588888A JP2619498B2 (ja) | 1988-10-01 | 1988-10-01 | 磁気探傷装置の感度校正方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0295252A true JPH0295252A (ja) | 1990-04-06 |
| JP2619498B2 JP2619498B2 (ja) | 1997-06-11 |
Family
ID=17140303
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24588888A Expired - Fee Related JP2619498B2 (ja) | 1988-10-01 | 1988-10-01 | 磁気探傷装置の感度校正方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2619498B2 (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0510926A (ja) * | 1991-02-04 | 1993-01-19 | Nkk Corp | 磁気探傷装置の校正方法及び装置 |
| JPH06123729A (ja) * | 1992-10-12 | 1994-05-06 | Toyo Seikan Kaisha Ltd | 缶体フランジ部のクラック検査装置 |
| KR100388313B1 (ko) * | 1998-12-23 | 2003-08-19 | 주식회사 포스코 | 박강판 결함탐상을 위한 신호처리 방법 |
| JP2007064907A (ja) * | 2005-09-02 | 2007-03-15 | Jfe Steel Kk | 漏洩磁束探傷装置 |
| JP2014130127A (ja) * | 2012-11-28 | 2014-07-10 | Jfe Steel Corp | 漏洩磁束式検査装置および検査方法 |
| CN110146589A (zh) * | 2019-06-17 | 2019-08-20 | 东北大学 | 一种管道漏磁数据的高清可视化方法 |
-
1988
- 1988-10-01 JP JP24588888A patent/JP2619498B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0510926A (ja) * | 1991-02-04 | 1993-01-19 | Nkk Corp | 磁気探傷装置の校正方法及び装置 |
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| CN110146589A (zh) * | 2019-06-17 | 2019-08-20 | 东北大学 | 一种管道漏磁数据的高清可视化方法 |
| CN110146589B (zh) * | 2019-06-17 | 2022-12-30 | 东北大学 | 一种管道漏磁数据的高清可视化方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2619498B2 (ja) | 1997-06-11 |
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