JP2008256699A - 渦電流検査システムにおける長手方向欠陥のための方法及びアルゴリズム - Google Patents
渦電流検査システムにおける長手方向欠陥のための方法及びアルゴリズム Download PDFInfo
- Publication number
- JP2008256699A JP2008256699A JP2008098545A JP2008098545A JP2008256699A JP 2008256699 A JP2008256699 A JP 2008256699A JP 2008098545 A JP2008098545 A JP 2008098545A JP 2008098545 A JP2008098545 A JP 2008098545A JP 2008256699 A JP2008256699 A JP 2008256699A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- eddy current
- impedance
- algorithm
- probe
- measurements
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/72—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
- G01N27/82—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
- G01N27/90—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Electrochemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Abstract
【解決手段】渦電流検査システムの高域通過フィルタ段の代わりに用いるのに適し、また、走査軸に平行に走る細長い欠陥がないか試験片を検査するために最適化されたシステムに必要なものを提供する同時に用いられるデータ処理アルゴリズムの集合体。これらのアルゴリズムは、数学的な手法を用いて、試験片間の基準インピーダンスオフセットを除去し、走査中、オフセットドリフトを補正し、不明な品質の一組の試験片だけを用いて、システム平衡化を可能にする。
【選択図】図2
Description
試験片間の全体的な基準インピーダンスばらつきの主な元凶は、試験片自体間の冶金学上の及び幾何学的なばらつきに起因する。試験に先立って、渦電流アレイ検査システムが、高精度な標準の又は最高のユニットを用いて、完全に較正され、また、平衡化された理想的な場合でさえ、例えば、製造プロセスのばらつき又は周囲温度変動によって、渦電流プローブによって検出される基準インピーダンスには、必ず差異が生じる。これらの避け難いインピーダンス差異は、渦電流検査システムの感度に対する重大な障害を表し、従って、新しい試験片各々の開始時、これらの全平均インピーダンスシフトを最小にするためのアルゴリズムが必要である。
図3から分かるように、MVACアルゴリズムは、渦電流プローブアレイの要素によって検出される全体的な平均インピーダンスを、インピーダンス平面303のヌルポイントにシフトさせる効果的な手段である。しかしながら、各要素からの個々のインピーダンス測定値304は、依然として、ヌルポイント303周辺に広く分散している。この分散は、渦電流プローブの個々の各要素によって検出された局在化した冶金学上の及び幾何学的なばらつきの結果である。アルゴリズムは、個々の要素毎に試験片間のこれらオフセットばらつきを調整するのに必要である。図4A乃至4Cは、ちょうどそのようなアルゴリズム、即ち、限定初期値補正(LIVC)アルゴリズムを示す。MVACアルゴリズムと同時に機能すると、LIVCアルゴリズムは、インピーダンス平面の測定分散を最小にすることによって、渦電流測定データの基準オフセットを更に低減するために用い得る。
MVAC及びLIVCアルゴリズムは、同時に機能して、渦電流アレイ検査システムにおける異なる試験片間のあらゆる基準インピーダンスばらつきを補正する。しかしながら、個々の試験片の走査軸に沿って見えるインピーダンスばらつきの補正に関しては何も行わない。試験片の走査軸に沿うインピーダンス非均一性は、基準ドリフトと通常称される現象を生じ得るが、この場合、渦電流プローブによって検出された基準インピーダンスは、走査の過程においてインピーダンス平面内でドリフトする傾向がある。これを補正するために高域通過フィルタがシステムにない場合、特に基準ドリフトを対象にする新しいアルゴリズムが必要である。
前章で開示したMVAC、LIVC、及びBIOCアルゴリズムは、試験片間又はそれらに沿うインピーダンス変化に関連する基準オフセットを補正するように機能する。しかしながら、これら全ての3つのアルゴリズムは、渦電流プローブによって検出されるあらゆる大きな基準オフセットが、試験片インピーダンスばらつきだけから生じることを知ることができるように、試験を行う前に、渦電流テストプローブが、適度に平衡化されることを必要とする。このことを前提にすると、本開示のアルゴリズムを用いる渦電流試験システムが、従来技術によるシステムより更に正確なプローブ平衡化を必要と見なすことは、妥当である。これに対して必要なものを提供するために、以下の3つの渦電流プローブ平衡化アルゴリズムを開示するが、これらは、実行が簡単であり、また、不明な品質の試験片で実施し得る。
Claims (27)
- 高域通過フィルタを用いることなく、試験システムにおける信号ドリフトの影響を除去するための方法であって、
測定値が或るしきい値範囲にある場合にのみ、設定された一定傾斜値だけ基準側へ信号ドリフトを補正して、欠陥解析の障害を防止する段階が含まれる方法。 - 請求項1に記載の方法であって、初期インピーダンス測定値を平均してシフト定数を決定することによって、また、前記シフト定数分だけ後続の測定値をシフトさせることによって、部品間測定ばらつきを低減する段階が含まれる方法。
- 請求項2に記載の方法であって、初期インピーダンス測定値の平均値を用いて、シフト定数を決定する段階が含まれる方法。
- 請求項2に記載の方法であって、初期インピーダンス測定値の中央値を用いて、シフト定数を決定する段階が含まれる方法。
- 請求項1に記載の方法であって、一組のユーザ定義の変換パラメータにより測定値を水平及び垂直方向にパラメトリックにシフトさせることによって、測定値間の分散の影響を低減する段階が含まれる方法。
- 請求項1に記載の方法であって、渦電流プローブを利用し、また、3つのアルゴリズムの内の少なくとも1つを実施して、渦電流プローブの走査方向に沿って走る長手方向の欠陥を示す渦電流プローブデータをかき消すことなく、渦電流プローブによって検出された基準オフセットを除去する段階が含まれる方法。
- 請求項6に記載の方法であって、渦電流プローブは、多数のコイルを含むアレイ型プローブである方法。
- 請求項6に記載の方法であって、プローブ測定からのインピーダンス測定値をインピーダンス平面のヌルポイント側に繰り返し調整する有界反復オフセット補正(BIOC)アルゴリズムを実施する段階が含まれる方法。
- 請求項6に記載の方法であって、渦電流プローブアレイにおける個々の検出要素からの検出されたインピーダンス測定値の分散を低減する限定初期値補正(LIVC)アルゴリズムを実施する段階が含まれる方法。
- 請求項6に記載の方法であって、試験片間インピーダンスシフトに起因する基準オフセットの範囲を低減する平均値解析補正(MVAC)アルゴリズムを実施する段階が含まれる方法。
- 請求項8に記載の方法であって、有界反復オフセット補正(BIOC)アルゴリズムは、固定値ステップを利用する方法。
- 請求項8に記載の方法であって、測定値の大きさが所定のしきい値外にある場合、有界反復オフセット補正アルゴリズムを実施する段階を中断する段階が含まれる方法。
- 渦電流欠陥検出システムであって、
被験物体に渦電流を誘起し、被験物体から渦電流データを得るための渦電流アレイプローブと、
渦電流データを処理するための処理システムと、
被験物体の試験結果を表示するための表示システムと、が含まれ、
前記処理システムには、様々な測定からのインピーダンス測定値をインピーダンス平面のヌルポイント側に繰り返し調整することによって、基準ドリフトを低減するように構成された有界反復オフセット補正(BIOC)機能が含まれるシステム。 - 請求項13に記載のシステムであって、更に、被験物体間の平均インピーダンスシフトに起因する基準オフセットの範囲を低減するように構成された平均値解析補正(MVAC)機能が含まれるシステム。
- 請求項13に記載のシステムであって、更に、渦電流アレイプローブを構成する検出要素の様々なものから検出されたインピーダンス測定値の分散を低減するように構成された限定初期値補正(LIVC)機能が含まれるシステム。
- 請求項13に記載のシステムであって、BIOC機能の前に配置された低域通過フィルタが含まれるシステム。
- 請求項13に記載のシステムであって、BIOC機能は、DCオフセット補償を維持する一方で、潜在的な欠陥データを確保するように構成されているシステム。
- 請求項13に記載のシステムであって、更に、いつ渦電流アレイプローブが被験物体への所定の距離内にあるかを検出し、また、MVACとLIVCアルゴリズムとの同期をとるための近接検出器が含まれるシステム。
- 請求項13に記載のシステムであって、MVAC機能は、適合欠陥又は傷に関連する設定値範囲外にあるMVAC機能から得られた測定値を除外するように構成されているシステム。
- 請求項13に記載のシステムであって、MVAC機能は、被験物体当り一回計算され被験物体の走査に引き続き利用される平均及び中央インピーダンス値の内の1つを生成するように構成されているシステム。
- 請求項13に記載のシステムであって、LPVC機能は、オペレータ定義の変換係数を利用して、インピーダンス平面のヌルポイント付近にインピーダンス測定値をシフトするように構成されているシステム。
- 請求項21に記載のシステムであって、変換係数には、それぞれx及びy方向に関連する一対の係数が含まれるシステム。
- 請求項21に記載のシステムであって、変換係数には、固定ベクトルが含まれるシステム。
- 渦電流アレイプローブの個々の要素を平衡化するためのアルゴリズムであって、
不明な品質の少なくとも1つの試験片上で平衡化する段階と、
引き続き前記試験片を走査して、結果を検証する段階と、が含まれるアルゴリズム。 - 請求項24に記載の方法であって、
不明な品質の単一の試験片上で平衡化する段階と、
走査する段階に先立ち、テストプローブに対して前記試験片を回転する段階と、が含まれる方法。 - 請求項24に記載の方法において、複数の試験片を走査する段階であって、その各々は、部品品質が試験直後に決定されるように、一回だけ試験を受けることができる前記段階が含まれる方法。
- 請求項24に記載の方法であって、複数の試験片を走査する段階であって、その各々は、部品品質が後続試験片の走査後決定されるように、一回だけ試験を受けることができる前記段階が含まれる方法。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US11/696,918 US7505859B2 (en) | 2007-04-05 | 2007-04-05 | Method and algorithms for inspection of longitudinal defects in an eddy current inspection system |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008256699A true JP2008256699A (ja) | 2008-10-23 |
Family
ID=39809805
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008098545A Pending JP2008256699A (ja) | 2007-04-05 | 2008-04-04 | 渦電流検査システムにおける長手方向欠陥のための方法及びアルゴリズム |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7505859B2 (ja) |
JP (1) | JP2008256699A (ja) |
CN (2) | CN101281169B (ja) |
DE (1) | DE102008017267B4 (ja) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20090091318A1 (en) * | 2007-09-11 | 2009-04-09 | Benoit Lepage | Phased scan eddy current array probe and a phased scanning method which provide complete and continuous coverage of a test surface without mechanical scanning |
US8794083B2 (en) | 2010-07-12 | 2014-08-05 | General Electric Company | Low row steam generator inspection probe |
CN102297893A (zh) * | 2011-06-30 | 2011-12-28 | 武汉中飞扬测控工程有限公司 | 连铸坯在线表面检测装置及方法 |
US9007053B2 (en) * | 2012-03-30 | 2015-04-14 | Olympus Scientific Solutions Americas Inc. | Circuitry for and a method of compensating drift in resistance in eddy current probes |
US20150265893A1 (en) * | 2014-03-01 | 2015-09-24 | Louis A. Ledoux, JR. | System and Methods for Baseball Bat Construction |
CN105606700A (zh) * | 2015-09-29 | 2016-05-25 | 上海航天精密机械研究所 | 一种对火箭贮箱的搅拌摩擦焊缝进行检测的方法 |
TWI684762B (zh) * | 2018-11-30 | 2020-02-11 | 財團法人金屬工業研究發展中心 | 金屬表面缺陷量測裝置及其量測方法 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0344552A (ja) * | 1989-07-12 | 1991-02-26 | Kubota Corp | マルチチャンネル渦流探傷装置 |
JPH06102254A (ja) * | 1992-09-19 | 1994-04-15 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 渦流探傷方法及び装置 |
Family Cites Families (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3152302A (en) | 1962-05-16 | 1964-10-06 | Budd Co | Electromagnetic testing apparatus having a rotating apertured cylinder for spirally scanning cylindrical workpieces |
US3906357A (en) | 1973-06-29 | 1975-09-16 | Amf Inc | Method and apparatus for testing an object for flaws consisting of two sensors spaced apart along the object path and each connected to a common marker |
US4218651A (en) | 1975-07-25 | 1980-08-19 | Ivy Leon H | Apparatus for detecting longitudinal and transverse imperfections in elongated ferrous workpieces |
US4203069A (en) | 1977-12-29 | 1980-05-13 | Electric Power Research Institute, Inc. | Method and apparatus for non-destructively testing electrically conductive elongate cylindrical components using an eddy current producing coil with a rotor to concentrate the magnetic field in a selected area |
US4424486A (en) * | 1980-10-14 | 1984-01-03 | Zetec, Inc. | Phase rotation circuit for an eddy current tester |
GB2119581A (en) | 1982-04-26 | 1983-11-16 | Philips Electronic Associated | Waveguide/microstrip mode transducer |
US4673879A (en) | 1984-06-27 | 1987-06-16 | Rupublic Steel Corporation | Eddy current flaw detector having rotatable field defining sleeve for selectively enhancing induced eddy currents in a workpiece |
SE456863B (sv) | 1986-07-15 | 1988-11-07 | Toernbloms Kvalitetskontroll | Maet- och/eller kontrollanordning utnyttjande virvelstroemsteknik med undertryckning av godartade ytdeformationer |
US5144231A (en) * | 1988-09-30 | 1992-09-01 | Jeffrey Tenenbaum | Eddy current detector for detecting an object with offset compensation |
US5371462A (en) | 1993-03-19 | 1994-12-06 | General Electric Company | Eddy current inspection method employing a probe array with test and reference data acquisition and signal processing |
US5737445A (en) | 1995-04-20 | 1998-04-07 | The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy | Automated feature detection and identification in digital point-ordered signals |
GB9718891D0 (en) * | 1997-09-06 | 1997-11-12 | British Gas Plc | Pipeline inspection device |
US6220099B1 (en) * | 1998-02-17 | 2001-04-24 | Ce Nuclear Power Llc | Apparatus and method for performing non-destructive inspections of large area aircraft structures |
CN2442269Y (zh) * | 2000-09-18 | 2001-08-08 | 宝山钢铁股份有限公司 | 单体多功能轧辊涡流检测探头 |
CN1128358C (zh) * | 2000-12-05 | 2003-11-19 | 宝山钢铁股份有限公司 | 轧辊涡流检测仪的数字化仿真模拟校准装置 |
US7005851B2 (en) | 2003-09-30 | 2006-02-28 | General Electric Company | Methods and apparatus for inspection utilizing pulsed eddy current |
US7233867B2 (en) * | 2005-04-06 | 2007-06-19 | General Electric Company | Eddy current inspection method and system |
US8001841B2 (en) * | 2005-10-14 | 2011-08-23 | Olympus Ndt | Ultrasonic fault detection system using a high dynamic range analog to digital conversion system |
CN200975992Y (zh) * | 2006-11-01 | 2007-11-14 | 浙江大学 | 基于巨磁电阻传感器的涡流检测装置 |
-
2007
- 2007-04-05 US US11/696,918 patent/US7505859B2/en active Active
-
2008
- 2008-04-04 JP JP2008098545A patent/JP2008256699A/ja active Pending
- 2008-04-04 DE DE102008017267.7A patent/DE102008017267B4/de active Active
- 2008-04-07 CN CN2008101003302A patent/CN101281169B/zh active Active
- 2008-04-07 CN CN201110150765.XA patent/CN102323332B/zh active Active
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0344552A (ja) * | 1989-07-12 | 1991-02-26 | Kubota Corp | マルチチャンネル渦流探傷装置 |
JPH06102254A (ja) * | 1992-09-19 | 1994-04-15 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 渦流探傷方法及び装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN102323332B (zh) | 2015-07-22 |
CN102323332A (zh) | 2012-01-18 |
US20080246468A1 (en) | 2008-10-09 |
DE102008017267B4 (de) | 2021-12-09 |
DE102008017267A1 (de) | 2008-11-06 |
CN101281169B (zh) | 2011-08-03 |
CN101281169A (zh) | 2008-10-08 |
US7505859B2 (en) | 2009-03-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6549707B2 (ja) | 漏れ磁束検査のための方法および装置 | |
JP5194131B2 (ja) | 無指向性渦電流プローブを用いた部品検査方法及び装置 | |
JP2008256699A (ja) | 渦電流検査システムにおける長手方向欠陥のための方法及びアルゴリズム | |
JP5562629B2 (ja) | 探傷装置及び探傷方法 | |
US6252393B1 (en) | System and method for normalizing and calibrating a sensor array | |
JP5462576B2 (ja) | 渦電流探傷装置及びその信号処理方法 | |
JP2008309573A (ja) | 渦電流探傷装置および渦電流探傷方法 | |
FR2594532A1 (fr) | Procede de traitement de signaux et detecteur de defauts a courants de foucault pour un test d'induction electromagnetique | |
JP2006317194A (ja) | マルチセンサ信号異常検知装置および方法 | |
US10775346B2 (en) | Virtual channels for eddy current array probes | |
US4792755A (en) | Process and apparatus for the non-destructive examination of ferromagnetic bodies having sections of surface adjoining each other along edges and/or at corners | |
US10132906B2 (en) | Multi-element sensor array calibration method | |
CN112083059A (zh) | 一种滤除钢轨顶面提离干扰的方法 | |
JP2011069623A (ja) | 渦電流探傷方法 | |
JP2005164516A (ja) | 欠陥検知方法 | |
CN113671018A (zh) | 一种用于抑制钢轨漏磁检测提离干扰的滤波方法 | |
KR20150047272A (ko) | 표면결함 탐상장치 및 그 방법 | |
JP6299485B2 (ja) | 検査装置及び検査方法 | |
US20060202688A1 (en) | Detection system and method thereof | |
JP2010156617A (ja) | 渦電流探傷方法と渦電流探傷装置 | |
JP5907750B2 (ja) | 検査位置の検出方法、検査範囲確認方法、検査方法及び検査装置 | |
CN117824482A (zh) | 薄带钢内缺仪提离在线测量方法及装置 | |
JPS60161555A (ja) | 金属表面の欠陥検出方法 | |
JPS6128299B2 (ja) | ||
JPH1144656A (ja) | ディスク表面検査装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20110127 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110201 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20110502 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20110510 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110601 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110628 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20110928 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20111003 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20111003 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20111025 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20120410 |