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HINTERGRUND DER ERFINDUNG
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Die
vorliegende Erfindung bezieht sich auf die Überprüfung
von Teilen unter Verwendung von Wirbelstrom-Techniken und insbesondere
auf die Verarbeitung von Signalen von einer Wirbelstrom-Sonden-Anordnung.
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Die
gesamte Diskussion des verwandten Standes der Technik in dieser
Beschreibung sollte in keiner Weise als ein Einverständnis
betrachtet werden, dass dieser Stand der Technik allgemein bekannt
ist oder einen Teil der allgemeinen Kenntnis auf diesem Gebiet bildet.
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Die
Wirbelstrom-Überprüfung wird üblicherweise
dazu verwendet, um Defekte oder Fehlstellen in Erzeugnissen, wie
z. B. Rohren oder Barren, festzustellen. Eine Prüfspule,
die typischerweise als Wirbelstrom-Sonde bezeichnet wird, wird in
der Nähe eines zu überprüfenden Teils
angeordnet und mit hochfrequenten elektrischen Wechselströmen
angesteuert, die ihrerseits ein magnetisches Wechselfeld in der
Nähe der Oberfläche des zu testenden Teils erzeugen.
Dieses Magnetfeld erzeugt Wirbelströme in der leitenden
Oberfläche des zu testenden Teils, die von der Wirbelstrom-Sonde
erfasst und gemessen werden. Wenn eine Fehlstelle oder ein Defekt
in der Oberfläche des zu testenden Teils vorhanden ist,
so wird der Fluss der Wirbelströme geändert, und
diese Änderung wird sehr einfach durch die Wirbelstrom-Sonde
erfasst. Die Amplitude und Position dieser Stromänderungen
kann dann analysiert und aufgezeichnet werden, beispielsweise durch
eine visuelle Betrachtung durch eine den Test durchführende Person
oder durch eine Verarbeitung in einem automatisierten Alarm-Algorithmus,
um die Größe und Position des Defektes oder der
Fehlstelle festzustellen. Wirbelstrom-Anordnungs-Systeme umfassen eine
Anzahl von Prüfspulen, die in einer derartigen Weise angeordnet
sind, dass sie für eine bestimmte Überprüfungsaufgabe
förderlich sind.
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Sowohl
Einzelelement- als auch Gruppen- oder Sonden-Anordnungs-Wirbelstrom-Prüfsysteme erfordern
eine Symmetrierung der Sonde vor der Abtastung, um sicherzustellen,
dass die Fehlstellen-Erkennung und die Messung ihrer Größe
genau ist. Bestimmte unvermeidbare Änderungen, wie z. B.
die exakte Anordnung der Sonde, Herstellungsunterschiede zwischen
Sonden-Anordnungen oder Umgebungs-Variablen machen es unmöglich,
die exakten Impedanz-Messungen vorherzusagen, die von der Spule
oder den Spulen in einer Wirbelstrom-Sonde für eine vorgegebene
Oberfläche erfasst werden. Das Symmetrieren ist ein Verfahren,
bei dem eine Bezugs-Messung für jede Spule in der Wirbelstrom-Sonde
gemessen und aufgezeichnet wird. Dieser Bezugswert wird dann von
allen nachfolgenden Messungen subtrahiert, die von jeder Spule gemessen
werden, wodurch die Basislinie oder der Nullpunkt jeder Impedanz-Messung
auf Null gezogen wird.
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Was
die Aufgabe der Spulen-Symmetrierung in einer Wirbelstrom-Sonde
kompliziert macht, ist die Änderung der zu testenden Teile
von Einheit zu Einheit. Bestimmte Faktoren, wie z. B. metallurgische Diskrepanzen
oder geometrische Änderungen beeinflussen die Impedanz
jedes zu testenden Teils und führen daher zu unterschiedlichen
Wirbelströmen für das gleiche Magnetfeld. Als
Ergebnis verschiebt sich die Basislinien-Messung von zu testendem
Teil zu zu testendem Teil. Dies kann für die genaue Feststellung
und Messung der Größe von Fehlstellen problematisch
sein.
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Eine
zweite Kompliziertheit bezüglich der Proben-Symmetrierung
in Wirbelstrom-Systemen besteht in dem, was typischerweise als Basislinien-Drift
bezeichnet wird. In diesem Fall können beispielsweise metallurgische,
geometrische oder Temperaturänderungen entlang des Abtastpfades
eines einzigen zu testenden Teils eine Drift der Basislinien-Impedanz-Messung,
die von jeder Wirbelstrom-Spule in der Sonde gesehen wird, innerhalb der
Impedanz-Ebene hervorrufen. Obwohl diese Impedanz-Änderungen
typischerweise erwartet werden und innerhalb der Toleranz des Herstellungs-Prozesses
liegen, können sie die Empfindlichkeit des Wirbelstrom-Prüfsystems
beschränken und die Detektion kleiner Fehler behindern.
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Bei
bekannten Systemen wurden diese Basislinien-Verschiebungen – sowohl
diejenigen, die sich aus einer Änderung der zu testenden
Teile ergeben, als auch die, die sich aus der Basislinien-Drift
ergeben – durch die Verwendung eines Hochpassfilters beseitigt,
das die Gleichspannungs-Komponente der gemessenen Wirbelstrom-Signale
beseitigt, wodurch der Nullpunkt des zu prüfenden Teils
auf Null bewegt wird, unabhängig von der von Natur aus
vorhandenen Impedanz des zu testenden Teils, und lediglich Schwankungen
der gemessenen Wirbelstrom-Signale weitergeleitet werden, die Defekten
oder Fehlstellen entsprechen würden. Die Verwendung eines Hochpassfilters
ist eine effektive Lösung für diese Probleme,
sie führt jedoch auch eine erhebliche Beschränkung
ein. Obwohl kurze Schwankungen in dem gemessenen Wirbelstrom-Signal
das Hochpassfilter relativ unverändert durchlaufen, wird
ein eine erhebliche Länge aufweisender Fehler, wie er mit
großer Wahrscheinlichkeit in einem Stahlrohr oder Stahlstab
vorhanden ist, zweifellos verzerrt. Dies kann die Genauigkeit und
in manchen Fällen sogar die Feststellung der Fehlstelle
oder des Defektes selbst beeinflussen. Zusätzlich würde
ein Hochpassfilter mit einer Grenzfrequenz, die niedrig genug ist, um
nutzbar zu sein, unabhängig davon, ob es digital oder als
Analog-Schaltung implementiert ist, erhebliche Resourcen und/oder
Verarbeitungszeit erfordern.
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Ein
in dem
US-Patent 4,218,651 vorgeschlagenes
Verfahren beschreibt ein Verfahren, das zumindest eine Wirbelstrom-Sonde
verwendet, die in einem Testkopf festgelegt ist, der es der Sonde
oder den Sonden ermöglicht, sich um ein zu testendes Teil zu
drehen. Diese Technik und Variationen hiervon wurden zu einer üblichen
Praxis und sollten dem Fachmann gut bekannt sein. Unter Verwendung
eines derartigen Verfahrens würde ein Fehler parallel zur
Längsachse des zu testenden Teils in zuverlässiger
Weise selbst dann gemessen, wenn ein Hochpassfilter zur Verarbeitung
der Roh-Messdaten verwendet würde. Dieses Verfahren erfordert
jedoch zwingend eine komplexe mechanische Halterung, was die Kosten
vergrößert und die Zuverlässigkeit des
Testsystems verringert und die Geschwindigkeit, mit der Einheiten
getestet werden können, beträchtlich begrenzt.
Zusätzlich ist ein derartiges Verfahren lediglich für
zylindrische zu testende Teile brauchbar.
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Weiterer
verwandter oder bekannter Stand der Technik findet sich in den
US-Patenten 3,152,302 ,
4,203,069 ,
3,906,357 ,
4,673,897 ,
4,965,519 und
5,371,462 . Der Inhalt der oben erwähnten
Patente wird durch diese Bezugnahme hiermit aufgenommen.
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Entsprechend
würde es vorteilhaft sein, ein Verfahren zur Verarbeitung
von Signalen aus einer Wirbelstrom-Anordnung zu schaffen, das die
Wirkungen von sich ändernden Basislinien-Impedanzen zwischen
zu testenden Teilen und die Effekte einer Basislinien-Drift beseitigt,
während gleichzeitig tatsächliche Fehler-Daten
nicht verzerrt werden. Weiterhin würde es vorteilhaft sein,
wenn dieses Verfahren mechanisch einfach zu implementieren und für hohe
Abtastraten geeignet sein würde. Es würde weiterhin
vorteilhaft sein, wenn dieses neue Verfahren auf Stäbe
mit Querschnitten oder Geometrien anwendbar ist, die von der runden
Form abweichen, wie z. B., jedoch ohne Beschränkung hierauf,
ovale, rechtwinklige und sechseckige Formen. Es würde weiterhin
vorteilhaft sein, wenn dieses neue Verfahren ohne die Verwendung
eines übermäßigen Ausmaßes von
System-Resourcen oder Verarbeitungszeit implementiert werden könnte.
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ZUSAMMENFASSUNG DER ERFINDUNG
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Es
ist ein Ziel der vorliegenden Erfindung, die mit dem Stand der Technik
verbundenen Probleme zu beseitigen. Die vorliegende Erfindung erreicht dies
durch Ersetzen des Hochpassfilters des typischen bekannten Wirbelstrom-Anordnungs-Systems durch
ein System von Verarbeitungs-Algorithmen, die so ausgelegt sind,
dass sie iterativ die normalen Impedanz-Basislinien-Verschiebungen
zwischen zu testenden Teilen ohne die Verzerrung von Fehler-Messungen
beseitigen. Unter gemeinsamer Verwendung arbeiten drei nachfolgend
beschriebene Algorithmen zur Beseitigung der Basislinien-Offset-Werte,
die von einer Wirbelstrom-Sonde gemessen werden, während
gleichzeitig längs verlaufende Fehler – Fehler,
die entlang der Oberfläche eines zu testenden Teils parallel
zur Abtastrichtung verlaufen – genau gemessen werden.
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Der
erste dieser drei Algorithmen, der Mittelwert-Analyse-Korrektur-(MVAC-)Algorithmus,
wird zur Verringerung des Bereiches des Basislinien-Offset-Wertes
verwendet, der sich aus den mittleren Gesamt-Impedanz-Verschiebungen
von einem zu testendem Teil zu einem anderen ergeben, und er ist
lediglich dann nützlich, wenn eine Wirbelstrom-Sonden-Anordnung
verwendet wird. Der MVAC-Algorithmus mittelt die Impedanz-Werte,
die von jedem der Elemente in der Wirbelstrom-Anordnung gemessen werden – unter
Ausschluss derjenigen Messungen, die außerhalb eines voreingestellten
Bereiches liegen, der gültige Defekte oder Fehlstellen
darstellen würde – und er verschiebt dann die
Rohdaten-Messungen von jedem der Elemente um diesen mittleren Impedanz-Wert.
Bei der bevorzugten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung
wird dieser mittlere Impedanz-Wert einmal pro zu testendem Teil
berechnet, und alle nachfolgenden Messungen an dem zu testenden
Teil werden um diesen Wert verschoben. Auf diese Weise wird ein
Grob-Abgleich durchgeführt, um die von jedem Element in
der Wirbelstrom-Sonden-Anordnung gemessene Basislinien-Impedanz
näher an den Nullpunkt in der Impedanz-Ebene heran zu bewegen,
wodurch die mögliche Basislinien-Verschiebung zwischen
zu testenden Teilen beträchtlich verringert wird.
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Der
zweite Basislinien-Offset-Korrektur-Algorithmus, der begrenzte Anfangswert-Korrektur-(LIVC-)Algorithmus,
wird speziell zur Verringerung der Streuung der Impedanz-Messungen
verwendet, die von jedem der Elemente in der Wirbelstrom- Sonden-Anordnung
gemessen werden. Im Gegensatz zu dem MVAC-Algorithmus ist der LIVC-Algorithmus
sowohl für Einzelelement- als auch Wirbelstrom-Sonden-Anordnungen
nützlich. Der LIVC-Algorithmus verwendet ein Paar von von
dem Betreiber definierten Translations-Faktoren, um Impedanz-Messungen
näher an den Nullpunkt in der Impedanz-Ebene zu verschieben.
Bei der bevorzugten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung läuft
der LIVC-Algorithmus einmal pro zu testendem Teil ab, und ein Paar
von Translations-Parametern wird für jedes Element in der
Wirbelstrom-Sonden-Anordnung bestimmt. Diese Translations-Parameter
werden dann zum Abgleich aller nachfolgenden Messungen an dem zu
testenden Teil verwendet.
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Der
dritte Algorithmus, der begrenzte iterative Offset-Korrektur-(BIOC-)Algorithmus,
wird speziell zur Bekämpfung der Basislinien-Drift verwendet. Der
BIOC-Algorithmus führt einen iterativen Abgleich der Impedanz-Messungen
von jeder Messung in Richtung auf den Nullpunkt in der Impedanz-Ebene unter
Verwendung fester Wert-Schritte aus. Der Wert dieser Abgleich-Schritte,
der als der Steigungs-Wert bezeichnet wird, wird von einer einen
Test durchführenden Person in Abhängigkeit von
Testbedingungen eingestellt und wird typischerweise so ausgewählt, dass
er gleich der mittleren Steigung der erwarteten Basislinien-Drift
ist. Fehlstellen-Messungen werden in dem BIOC-Algorithmus dadurch
aufrecht erhalten, dass der iterative Abgleich immer dann ausgesetzt wird,
wenn die Amplitude der Messung außerhalb der Grenzen eines
voreingestellten Schwellenwertes liegt. Dieser Schwellenwert wird
durch den Betreiber des Tests oder der Prüfung in Abhängigkeit
von Testbedingungen eingestellt, und er wird typischerweise auf
einen Wert eingestellt, der gerade kleiner als die Alarm-Grenzen
ist. Ähnlich wie der LIVC-Algorithmus kann der BIOC-Algorithmus
sowohl für Einzelelement- als auch Sonden-Anordnungs-Systeme
nützlich sein.
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Die
vorliegende Erfindung ergibt weiterhin eine Reihe von Wirbelstrom-Sonden-Symmetrier- oder
Nullsetz-Algorithmen, die speziell so ausgelegt sind, dass sie für
die Verfahren der vorliegenden Erfindung förderlich sind.
Diese Verfahren ergeben in Kombination mit den BIOC-, MVAC- und
LIVC-Algorithmen ein vollständiges Wirbelstrom-Überprüfungs-System,
das für das Prüfen auf langgestreckte Defekte
optimiert ist, die parallel zu der Abtastachse verlaufen, und die
in der vorliegenden Beschreibung als längs verlaufende
Defekte oder Fehlstellen bezeichnet werden.
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Entsprechend
ist es ein Ziel der vorliegenden Erfindung ein Verfahren zur Verarbeitung
und zum Interpretieren von Daten zu schaffen, die von einem Wirbelstrom-Sonden-Anordnungs-Überprüfungssystem
erfasst werden, bei dem die Probleme der Basislinien-Offset-Werte
und der Basislinien-Drift beseitigt sind, ohne dass die Erfassung
von längs verlaufenden Defekten beeinträchtigt
wird.
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Es
ist weiterhin ein Ziel der vorliegenden Erfindung, dass dieses Verfahren
mechanisch einfach zu implementieren ist und keine Drehung der Wirbelstrom-Sonde
gegenüber dem zu testenden Teil erfordert.
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Es
ist weiterhin ein Ziel der vorliegenden Erfindung, ein Verfahren
zur Symmetrierung einer Wirbelstrom-Sonden-Anordnung in einer Weise
zu schaffen, die für ein diese Algorithmen verwendendes
System förderlich ist.
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Bei
der bevorzugten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung
wird eine ringförmige Wirbelstrom-Sonden-Anordnung um ein
zu prüfendes oder zu testendes Teil herum angeordnet, vorzugsweise einen
langgestreckten Stab. Dies Impedanz-Messungen, die von den einzelen
Elementen gemessen werden, werden zunächst um den mittleren
Impedanz-Wert verschoben – der durch den MVAC-Algorithmus
bestimmt wird –, dann parametrisch erneut durch einen Satz
von Translations-Parametern verschoben – die durch den
LIVC-Algorithmus bestimmt werden –, um irgendeinen Basislinien-Offset-Wert
zu korrigieren, und dann über ein Tiefpassfilter verarbeitet,
um Hochfrequenz-Störungen zu beseitigen, und schließlich
werden sie durch den BIOC-Algorithmus eingestellt, um kontinuierlich
irgendeine Basislinien-Drift zu korrigieren.
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Weitere
Merkmale und Vorteile der vorliegenden Erfindung werden aus der
folgenden Beschreibung der Erfindung ersichtlich, die sich auf die beigefügten
Zeichnungen bezieht.
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KURZE BESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN
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1 ist
eine perspektivische Zeichnung, die ein typisches Wirbelstrom-Anordnungs-Überprüfungssystem
zeigt;
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2 ist
ein Blockschaltbild des Wirbelstrom-Überprüfungssystems
der bevorzugten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung;
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3 ist
eine graphische Darstellung des Mittelwert-Analyse-Korrektur-(MVAC-)Algorithmus;
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4A bis 4C sind
graphische Darstellungen des beschränkten Anfangswert-Korrektur-(LIVC-)Algorithmus;
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5A ist
ein Ablaufdiagramm, das den begrenzten iterativen Offset-Korrektur-(BIOC-)Algorithmus
zeigt;
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5B ist
eine mathematische Darstellung des begrenzten iterativen Offset-Korrektur-(BIOC-)Algorithmus;
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6 ist
eine graphische Darstellung, die den Effekt des begrenzten iterativen
Offset-Korrektur-(BIOC-)Algorithmus mit dem eines typischen Hochpassfilters
an simulierten Rohdaten vergleicht;
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7A bis 7C Ablaufdiagramme
sind, die die drei Symmetrier-Algorithmen der vorliegenden Erfindung
erläutern.
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AUSFÜHRLICHE BESCHREIBUNG
VON AUSFÜHRUNGSFORMEN DER ERFINDUNG
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Bei
bekannten Wirbelstrom-Überprüfungssystemen wird
ein Hochpassfilter an den Roh-Messdaten verwendet, um irgendeinen
Gleichspannungs-Offset-Wert zu beseitigen, der von den Elementen
in der Wirbelstrom-Sonden-Anordnung gemessen wird. Dieser Gleichspannungs-Offset-Wert kann
sich aus einer Vielzahl von Quellen ergeben, wie z. B., jedoch ohne
Beschränkung hierauf, aus Temperaturänderungen
im Verlauf der Überprüfung und aus metallurgischen
oder geometrischen Differenzen zwischen zu testenden Teilen, und
dies kann in nachteiliger Weise den Überprüfungs-Prozess
beeinflussen. Ein Hochpassfilter ist gut geeignet, um diesen Gleichspannungs-Offset-Wert
zu beseitigen, doch kann unter bestimmten Bedingungen dieses gleiche
Filter Messdaten verzerren und die Analyse und Feststellung eines
Defektes behindern. Weiterhin ist ein eine erhebliche Länge
aufweisender Fehler auf einem zu testenden Teil von dem Gleichspannungs-Offset-Wert
eines traditionellen Hochpassfilters nicht unterscheidbar, wodurch
die Wahrscheinlichkeit beträchtlich vergrößert
wird, dass der Fehler überhaupt nicht festgestellt wird.
Die Verfahren der vorliegenden Erfindung beseitigen in Kombination die
Notwendigkeit dieses Hochpassfilters.
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3 zeigt
ein typisches Wirbelstrom-Überprüfungssystem,
das die Verfahren der vorliegenden Erfindung verwenden würde.
Eine Anzahl von Wirbelstrom-Spulen 101 ist in einer ringförmigen
Anordnung 102 um ein zu testendes Teil 103 herum
angeordnet. Das zu testende Teil 103 ist so dargestellt,
als ob es zwei Fehler aufweist. Der erste Fehler 105 ist eine
relativ kleine Fehlstelle, die unter einem rechten Winkel zu der
Abtastrichtung der Wirbelstrom-Sonde ausgerichtet ist, und Abtastdaten,
die über diese Fehlstelle gewonnen werden, würden
mit großer Wahrscheinlichkeit das Hochpassfilter der bekannten Wirbelstrom-Überprüfungssysteme
ohne jede wesentliche Verzerrung durchlaufen. Der zweite Fehler 104 weist
jedoch eine erhebliche Länge auf, und er ist parallel zur
Abtastrichtung der Wirbelstrom-Sonde ausgerichtet. Im Fall dieses
zweiten Fehlers 104 würden die bei der Abtastung
gewonnenen Daten mit großer Wahrscheinlichkeit durch die
Verwendung eines Hochpassfilters verzerrt.
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Ein
Schnittstellen-Kabel 106 überträgt Erregungssignale
von der Instrumenten-Baugruppe 107 an die Wirbelstrom-Anordnung 102 sowie
von der Wirbelstrom-Anordnung 102 gemessene Messsignale
zurück an die Instrumenten-Baugruppe 107, in der die
Verfahren der vorliegenden Erfindung verwendet werden, um die empfangenen
Daten zu verarbeiten. In Abhängigkeit von der Kompliziertheit
des Wirbelstrom-Überprüfungssystems ist die Instrumenten-Baugruppe 107 typischerweise
ein Hand-gehaltenes Gerät oder ein Computer-basiertes System.
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2 zeigt – unter
Verwendung eines vereinfachten Blockschaltbildes – die
bevorzugte Ausführungsform der vorliegenden Erfindung,
wie sie innerhalb eines Wirbelstrom-Überprüfungssystems nach 1 wirksam
sein würde. Obwohl die folgende Beschreibung der vorliegenden
Erfindung speziell die ausführliche in 2 gezeigte
Implementierung anspricht, ist die vorliegende Erfindung hierauf
nicht beschränkt. Die Verfahren der vorliegenden Erfindung
sind auf andere Implementierungs-Schemas anwendbar, unter Einschluss
von, jedoch ohne Begrenzung auf, eine Implementierung ohne ein Tiefpassfilter 212 und
eine Implementierung, bei der der MVAC-Algorithmus 206 mehr
als einmal pro zu testendem Teil 201 abläuft.
Die Verfahren der vorliegenden Erfindung sind weiterhin auf andere
Wirbelstrom-Sonden-Anordnungs-Konfigurationen anwendbar, wie z.
B. lineare, keilförmige und rechtwinklige oder andere zu
testende Gegenstände, jedoch ohne Beschränkung
hierauf, wie z. B. von Rohr-Schweißverbindungen, Metallplatten
und geformten Verbindungsteilen, jedoch ohne Beschränkung
hierauf.
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Die
von der Wirbelstrom-Sonden-Anordnung 202 bei der Abtastung
des zu testenden Teils 201 empfangenen Test-Signale werden
durch eine Analogschaltung 204 verarbeitet und digitalisiert.
Vielfältige Verfahren zur Verarbeitung und Digitalisierung der
Roh-Analog-Signale von der Wirbelstrom-Sonden-Anordnung 202 sind
dem Fachmann gut bekannt, und sie sind für die Verfahren
der vorliegenden Erfindung nicht spezifisch. Die Näherungs-Sensoren 203 stellen
die voreilende Kante eines neuen zu testenden Teils fest und alarmieren
den Näherungs-Detektor-Block 205. Der Näherungs-Detektor-Block
ermöglicht dann das Laden neuer Abgleich-Parameter von
dem MVAC-Algorithmus-Block 206 und dem LIVC-Algorithmus-Block 209 in
die Register 207 bzw. 210.
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Der
MVAC-Algorithmus-Block 206 führt eine Grob-Messung
der Basislinien-Impedanz des neuen zu prüfenden Teils durch,
und dieser Wert – der in der vorliegenden Beschreibung
als der mittlere Impedanzverschiebungs-Wert bezeichnet wird – wird
zur Verschiebung jedes nachfolgenden Datenpunktes verwendet, wodurch
die gesamte mittlere Impedanz-Änderung kompensiert wird,
die auf dem neuen zu testenden Teil vorhanden ist. Der LIVC-Algorithmus-Block 209 berechnet
einen Satz von Translations-Parametern für jedes Element
in der Wirbelstrom-Sonden-Anordnung 202, und diese Werte
werden zum Abgleich jeder nachfolgenden Messung verwendet, wodurch
die Streuung der Messwerte zwischen den verschiedenen Elementen
der Wirbelstrom-Sonden-Anordnung beträchtlich verringert wird.
Der MVAC-Algorithmus 206 und der LIVC-Algorithmus 209 und
die Bedeutung des mittleren Impedanzverschiebungs-Wertes und der
LIVC-Translations-Parameter werden im Einzelnen in den nachfolgenden
Abschnitten erläutert.
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Digitalisierte
Daten durchlaufen einen Tiefpassfilter-Block 212, um irgendein
hochfrequentes Rauschen oder Störungen zu beseitigen, die
von der Wirbelstrom-Sonden-Anordnung 202 gemessen werden.
Die gefilterten Daten werden dann durch den Offset-Korrekturfaktor
abgeglichen, der von dem BIOC-Algorithmus 213 berechnet
wird. Der BIOC-Algorithmus 213 gleicht iterativ die Basislinien-Impedanz des
zu testenden Teils 201 (wie sie von der Wirbelstrom-Sonden-Anordnung 202 gemessen
wird) auf den Nullpunkt in der Impedanz-Ebene ab. Um eine Verzerrung
von möglichen Fehler-Daten zu verhindern, wird der iterative
Abgleich-Prozess ausgesetzt, wenn Daten-Messwerte einen bestimmten
Schwellenwert übersteigen. Der BIOC-Algorithmus 213 und die
Berechnung des Korrekturfaktors werden nachfolgend in einem folgenden
Abschnitt beschrieben.
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Nach
der Korrektur durch den BIOC-Algorithmus 213 werden die
abgeglichenen Sonden-Daten zu der Instrumenten-Schaltung 216 weitergeleitet,
in der sie durch andere digitale Signalverarbeitungs-Algorithmen
analysiert, dem Benutzer angezeigt, für eine spätere
Analyse gespeichert oder gegen Alarm-Algorithmen geprüft
werden können.
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MVAC-Algorithmus
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Eine
erhebliche Quelle der Gesamt-Basislinien-Impedanz-Änderung
zwischen zu testenden Teilen ergibt sich aus metallurgischen und
geometrischen Änderungen zwischen den zu testenden Teilen selbst.
Selbst in einem Idealfall, bei dem ein Wirbelstrom-Anordnungs-Überprüfungssystem
perfekt kalibriert und symmetriert sein würde, wobei ein
präzises Normteil oder eine „goldene Einheit"
vor der Überprüfung verwendet wird, würden Änderungen
des Herstellungs-Prozesses oder Umgebungstemperatur-Änderungen,
um Beispiele zu nennen, zweifellos zu Unterschieden der Basislinien-Impedanz
führen, die von den Wirbelstrom-Sonden gemessen wird. Diese
unvermeidbaren Impedanz-Unterschiede stellen ein beträchtliches
Hindernis für die Empfindlichkeit des Wirbelstrom-Überprüfungssystems
dar, und es ist daher ein Algorithmus erforderlich, um diese Gesamt-Mittelwert-Impedanzverschiebungen
zu Beginn jedes neuen zu testenden Teils zu einem Minimum zu machen.
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3 zeigt
diesen neuen Algorithmus, der in der vorliegenden Beschreibung als
der Mittelwert-Analyse-Korrektur-(MVAC-)Algorithmus bezeichnet wird.
Wenn ein neues zu prüfendes Teil von dem Näherungssensor
des Wirbeistrom-Überprüfungssystems erfasst wird,
so werden die Impedanz-Messungen von jedem der Elemente in der Wirbelstrom-Sonden-Anordnung
gemittelt, um den Basislinien-Impedanz-Wert – dargestellt
durch das punktierte Kreuz 302 – des neuen zu
testenden Teils zu berechnen. Um zu verhindern, dass irgendwelche Fehler
in dem zu testenden Teil oder beschädigte Elemente in fehlerhafter
Weise diesen berechneten Wert verschieben, werden lediglich die
Messungen, die in einen vorgegebenen Bereich fallen – der
durch den gestrichelten Kreis 301 dargestellt ist – in
die Berechnung eingefügt. Die schwarzen Kreise 304 stellen
Messungen dar, die bei dieser Berechnung verwendet werden. Der graue
Kreis 305 stellt einen möglichen Fehler oder eine
aus anderen Gründen schlechte Messung dar, und sie wird
aus der Berechnung entfernt.
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Ein
mittlerer Impedanzverschiebungs-Wert wird berechnet – durch
Bilden entweder der Mittel- oder der Median-Werte der gültigen
Impedanz-Messungen –, wobei dieser Wert den Delta-Wert
zwischen dem berechneten Basislinien-Impedanz-Wert 302 und
dem „Nullpunkt" in der Impedanz-Ebene darstellt, der durch
das mit durchgezogenen Linien gezeigte Kreuz 303 dargestellt
ist. Alle nachfolgend an dem zu testenden Teil durchgeführten
Messungen – unter Einschluss derjenigen, die außerhalb
des vorgegebenen Bereiches 301 liegen – werden
dann um diesen Delta-Wert für den Rest der Test-Abtastung verschoben.
Wie dies aus 3 zu erkennen ist, verringert
diese Verschiebung beträchtlich den Basislinien-Impedanz-Offset-Wert
des neuen zu testenden Teils.
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LIVC-Algorithmus
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Wie
dies aus 3 zu erkennen ist, stellt der MVAC-Algorithmus
auch eine effektive Möglichkeit zum Verschieben der gesamten
mittleren Impedanz, die von den Elementen der Wirbelstrom-Sonden-Anordnung
gemessen wird, auf den Nullpunkt in der Impedanz-Ebene 303 dar.
Die einzelnen Impedanz-Messungen 304 von jedem Element
streuen jedoch immer noch sehr stark um den Nullpunkt 303. Diese
Streuung ist das Ergebnis der örtlichen metallurgischen
und geometrischen Änderungen, die von jedem der einzelnen
Elemente in der Wirbelstrom-Sonde gemessen werden. Es ist ein Algorithmus
zum Abgleich dieser Offset-Änderungen zwischen zu testenden
Teilen auf einer Grundlage der einzelnen Elemente erforderlich.
Die 4A bis 4C zeigen
genau einen solchen Algorithmus: den begrenzten Anfangswert-Korrektur-(LIVC-)Algorithmus.
Bei einer Verwendung im Zusammenwirken mit dem MVAC-Algorithmus
kann der LIVC-Algorithmus dazu verwendet werden, den Basislinien-Offset-Wert
der Wirbelstrom-Mess-Daten dadurch weiter zu verringern, dass die
Mess-Streuung in der Impedanz-Ebene zu einem Minimum gemacht wird.
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4A zeigt
Mess-Daten, die von dem MVAC-Algorithmus verarbeitet wurden. Jeder
der schwarzen Kreise 402 in der Impedanz-Ebene 401 stellt
eine Impedanz-Messung von einem Element in der Wirbelstrom-Sonden-Anordnung
dar. Die Abgleichvorgänge, die von diesem MVAC-Algorithmus durchgeführt
werden, haben sichergestellt, dass die Impedanz-Messungen allgemein
um den Nullpunkt 403 zentriert sind, doch gibt es immer
noch ein beträchtliches Ausmaß an Streuung zwischen
den Messwerten 402.
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4B zeigt
die Anwendung des LIVC-Algorithmus. Ein Paar von Translations-Faktoren,
die mit X 404 und Y 405 bezeichnet sind, wird
von dem Betreiber des Tests eingestellt. Wie dies aus 4B zu erkennen
ist, definiert der X-Translations-Faktor 404 einen rechtwinkligen
Bereich 406 in der Impedanz-Ebene 401 symmetrisch
um die vertikale Achse, und der Y-Translations-Faktor 405 definiert
einen ähnlichen Bereich 407 symmetrisch um die
horizontale Achse. Die Translations-Faktoren werden zum parametrischen
Abgleich jeder der Impedanz-Messungen 402 verwendet und
definieren einen Satz von Translations-Parametern – die
durch die Pfeile 408 und 409 dargestellt sind – für
jedes Element in der Wirbelstrom-Sonden-Anordnung. Messungen, die außerhalb
der beiden schraffierten Bereiche 406 und 407 fallen,
werden in Richtung auf den Nullpunkt 403 sowohl in den
horizontalen als auch vertikalen Richtungen durch die X- bzw. Y-Translations-Faktoren 404 bzw. 405 verschoben.
Messwerte, die in den horizontalen schraffierten Bereich 407,
jedoch nicht in den vertikalen schraffierten Bereich 406 fallen,
werden zu der horizontalen Achse in der vertikalen Richtung und
in Richtung auf den Nullpunkt durch den X-Translations-Faktor 404 in
der horizontalen Richtung verschoben. In ähnlicher Weise
werden Messungen, die in den vertikalen schraffierten Bereich 406 fallen,
jedoch nicht in den horizontalen schraffierten Bereich 407,
auf die vertikale Achse in der horizontalen Richtung und in Richtung
auf den Nullpunkt durch den Y-Translations-Faktor 405 in
der vertikalen Richtung verschoben. Schließlich werden
Messwerte, die sowohl in den horizontalen schraffierten Bereich 407 als
auch den vertikalen schraffierten Bereich 406 fallen, exakt
auf den Nullpunkt 403 verschoben. Die Größe
und Richtung jeder Verschiebung – die für jedes
Element in der Wirbelstrom-Sonden-Anordnung einzigartig ist – werden
als die Translations-Parameter für jedes Element definiert
und sind wiederum am besten durch die Pfeile 408 und 409 dargestellt.
Bei der bevorzugten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung
lässt man den LIVC-Algorithmus einmal pro zu testendem
Teil ablaufen, wobei der gesamte Satz von Translations-Parametern
für die Wirbelstrom-Sonden-Anordnung gespeichert wird,
und alle nachfolgenden Messungen werden durch diese Parameter für
den Rest der Test-Abtastung abgeglichen.
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4C zeigt
die Messdaten, nachdem sie durch die LIVC-Translations-Parameter
abgeglichen wurden. Die Messwerte 402 sind immer noch um
den Nullpunkt 403 zentriert, doch sind sie nunmehr enger um
diesen Punkt herum gruppiert, wodurch der Basislinien-Offset-Wert
beträchtlich verringert wird.
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BIOC-Algorithmus
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Die
MVAC- und LIVC-Algorithmen wirken gemeinsam miteinander, um irgendwelche
Basislinien-Impedanz-Änderungen zwischen unterschiedlichen
zu testenden Teilen in einem Wirbelstrom-Anordnungs-Überprüfungssystem
zu korrigieren. Sie tun jedoch nichts, um Impedanz-Änderungen
zu korrigieren, die entlang der Abtast-Achse einzelner zu testender
Teile gesehen werden. Eine Impedanz-Inhomogenität entlang
der Abtast-Achse eines zu testenden Teils kann zu Erscheinungen
führen, die typischerweise als eine Basislinien-Drift bezeichnet
werden, wobei die Basislinien-Impedanz, die von einer Wirbelstrom-Sonde
gemessen wird, zu einer Drift innerhalb der Impedanz-Ebene im Verlauf
der Abtastung neigt. Ohne ein Hochpassfilter in dem System zur Korrektur
dieses Verhaltens ist ein neuer Algorithmus erforderlich, um speziell
die Basislinien-Drift zu behandeln.
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Der
begrenzte iterative Offset-Korrektur-(BIOC-)Algorithmus wird dadurch
implementiert, dass das von jedem der Elemente in der Wirbelstrom-Sonden-Anordnung
gemessene Daten-Signal in Richtung auf die Basislinie oder den Nullpunkt
in der Impedanz-Ebene in relativ kleinen, iterativen Schritten bewegt
wird, die durch einen konstanten vorgegebenen Steigungswert definiert
sind. Für Messungen, deren Amplituden größer
als ein vorgegebener Schwellenwert sind – wodurch ein möglicher
Defekt angezeigt wird – wird dieser Bewegungs-Abgleich ausgesetzt,
um die Messdaten beizubehalten. Der Steigungswert ist typischerweise
so gewählt, dass er gleich dem Doppelten der mittleren
Steigung der erwarteten Basislinien-Drift ist. Dies könnte
ein Wert sein, der dem Betreiber der Überprüfung
für einen vorgegebenen Testaufbau gut bekannt ist, und
er würde typischerweise empirisch bestimmt, wenn ein Wirbelstrom-Überprüfungssystem
erstmalig installiert wird. Der Schwellenwert wird typischerweise
so gewählt, dass er ein Wert ist, der gerade kleiner als die
Alarm-Einstellung ist, um eine gewisse Hysterese zwischen Messungen
zu schaffen, die als Basislinien-Drift-Fehler betrachtet werden,
und denjenigen, die als gültige Fehler betrachtet werden.
Die erforderliche Differenz oder der Delta-Wert zwischen dem Schwellenwert
und der Alarm-Einstellung würde typischerweise wiederum
empirisch bei der erstmaligen Installation eines Wirbelstrom-Überprüfungssystems bestimmt.
Die Verwendung eines Tiefpassfilters (wie es in 2 gezeigt
ist) kann beträchtlich den erforderlichen Delta-Wert zwischen
dem Schwellenwert und der Alarm-Einstellung dadurch verringern,
dass das Hochfrequenz-Rauschen oder Störungen auf dem Messsignal
beseitigt oder stark verringert werden.
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5A zeigt
den BIOC-Algorithmus in Form eines Ablaufdiagramms, während 5B diesen
Algorithmus in mathematischen Ausdrücken darstellt. Eine
oder beide dieser Figuren sollten zur Unterstützung der
nachfolgenden ausführlichen Erläuterung des BIOC-Algorithmus
verwendet werden.
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Nach
jeder Messung wird ein Korrekturfaktor (Cn)
zu dem Rohdaten-Punkt (Xn) zur Erzeugung
eines korrigierten Wertes (Yn) hinzugefügt.
Bei dem ersten Zyklus des Algorithmus (n = 0) wird der Korrekturfaktor
(C0) auf der Grundlage des Vorzeichens des
ersten Rohdaten-Punktes (X0) initialisiert.
Wenn der erste Rohdaten-Punkt (X0) positiv
ist, was eine Messung oberhalb der Basislinie oder in den oberen zwei
Quadranten der Impedanz-Ebene darstellt, so wird der Korrekturfaktor
(C0) auf den negierten voreingestellten
Steigungswert (–S) initialisiert. Wenn der erste neue Rohdaten-Punkt
(X0) negativ ist, was eine Messung unterhalb
der Basislinie oder in den unteren zwei Quadranten der Impedanz-Ebene
darstellt, so wird der Korrekturfaktor (C0)
auf den voreingestellten Steigungswert (S) initialisiert.
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Unter
normalen Bedingungen – wenn die Größe
des vorhergehenden korrigierten Wertes (Yn-1) innerhalb
des eingestellten Schwellenwertbereiches liegt – wird der
Korrekturfaktor (Cn) jedesmal abgeglichen,
bevor er zu dem Rohdaten-Punkt (Xn) hinzugefügt
wird. Dieser Abgleich beruht auf dem Vorzeichen des vorhergehenden
korrigierten Wertes (Yn-1). Wenn der vorhergehende
korrigierte Wert (Yn-1) positiv war, was
eine Messung oberhalb der Basislinie oder in den oberen zwei Quadranten
der Impedanz-Ebene darstellt, so wird der Korrekturfaktor (Cn) um den Steigungswert verringert. Wenn
der vorhergehende korrigierte Wert (Yn-1)
negativ war, was eine Messung unterhalb der Basislinie oder in den
unteren zwei Quadranten der Impedanz-Ebene darstellt, so wird der Korrekturfaktor
(Cn) um den Steigungswert vergrößert.
Auf diese Weise wird irgendeine Signal-Drift, unabhängig
davon, ob sie positiv oder negativ ist, die von der Wirbelstrom-Sonde
gemessen wird, im Verlauf der ersten wenigen Messungen auskompensiert.
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Im
Gegensatz zu diesem Normalbetrieb erfolgt, wenn die Größe
des vorhergehenden korrigierten Wertes (Yn-1)
außerhalb des voreingestellten Schwellenwert-Bereiches
liegt – was mit größter Wahrscheinlichkeit
einen Fehler in dem zu testenden Teil anzeigt – kein Abgleich
des Korrekturfaktors (Cn), und der vorhergehende
Korrekturfaktor-Wert (Cn-1) wird verwendet.
Auf diese Weise behält der Korrektur-Algorithmus irgendwelche
möglichen Fehler-Daten bei, während dennoch eine
Gleichspannungs-Offset-Kompensation aufrecht erhalten wird.
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6 zeigt
graphisch die Funktion des BIOC-Algorithmus durch die Darstellung
simulierter Impedanz-Messungen als eindimensionale skalare Werte
(die vertikale Komponente des Signals vom einem einzelnen Element
in der Wirbelstrom-Sonden-Anordnung). Die kurze gestrichelte Kurve 601 stellt
rohe unkorrigierte Daten dar, die eine stetige und konstante Basislinien-Drift
(ungefähr 0,1 Zählungen pro Messung) zeigen. Die
mit durchgezogenen Linien gezeigte Kurve 602 stellt die
simulierten Daten nach der Korrektur unter Verwendung des BIOC-Algorithmus
dar. Über die ersten vierzig Messungen wird die Basislinien-Drift
kompensiert, und die Basislinien-Impedanz wird ungefähr
auf Null gehalten, und sie bleibt dort, bis eine Fehlstelle festgestellt
wird. An diesem Punkt (bei der Messung #40) wird der Offset-Korrektur-Abgleichwert
konstant gehalten, und es erfolgt keine Änderung an den
Fehler-Daten-Messungen, wie dies bei einem Vergleich der Form der mit
durchgezogenen Linien gezeigten Kurve 602 mit der kurzen
gestrichelten Kurve 603 zwischen den Messungen #40 und
#58 zu erkennen ist. Es ist darauf hinzuweisen, dass sobald der
Fehler vorbeigelaufen ist, die iterativen Abgleichvorgänge
an dem Korrekturwert wieder aufgenommen werden, und der Basislinien-Offset-Wert
sehr schnell auf Null zurückkehrt. Zum Vergleich stellt
die lange gestrichelte Kurve 603 die simulierten Daten
dar, die über ein typisches Hochpassfilter verarbeitet
werden. Die Basislinien-Drift ist beseitigt, doch werden die Fehler-Daten zwischen
den Messungen #40 und #58 beträchtlich verzerrt.
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Wirbelstrom-Sonden-Anordnungs-Symmetrierung
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Die
MVAC-, LIVC- und BIOC-Algorithmen, die in den vorstehenden Abschnitten
beschrieben wurden, bewirken eine Korrektur von Basislinien-Offset-Werten,
die mit Impedanz-Änderungen zwischen oder entlang von zu
testenden Teilen verbunden sind. Alle dieser drei Algorithmen erfordern
jedoch, dass die Wirbelstrom-Test-Sonde in annehmbarer Weise symmetriert
wird, bevor der Test oder die Überprüfung beginnt,
so dass bekannt ist, dass irgendwelche wesentlichen Basislinien-Offset-Werte,
die von der Wirbelstrom-Sonde gemessen werden, lediglich von der
Impedanz-Änderung des zu überprüfenden
Teils stammen. In diesem Fall ist es sinnvoll, anzunehmen, dass
ein Wirbelstrom-Test-System, das die Algorithmen der vorliegenden
Erfindung verwendet, eine genauere Sonden-Symmetrierung erfordern
würde, als bekannte Systeme. Um dies zu berücksichtigen,
werden folgenden drei Wirbelstrom-Sonden-Symmetrier-Algorithmen
offenbart, die einfach auszuführen sind und die mit zu
testenden Teilen unbekannter Qualität durchgeführt
werden können.
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Die 7A bis 7C zeigen
drei Wirbelstrom-Sonden-Symmetrier- oder NULLUNGS-Algorithmen über
eine Serie von Ablaufdiagrammen. Alle drei Algorithmen symmetrieren
eine Wirbelstrom-Sonden-Anordnung ohne die Notwendigkeit eines idealen
Mess-Standards oder einer goldenen Einheit, und sie können
damit wesentlich häufiger in bequemer Weise durchgeführt
werden, als bekannte Symmetrier-Algorithmen. Für die folgende
Beschreibung wird angenommen, dass das Wirbelstrom-Test-System zunächst
kalibriert wurde, dass irgendein tatsächlicher Fehler – d.
h. ein gültiger physikalische Fehler an einem zu testenden
Teil und nicht ein fehlerhaftes Artifakt einer ungeeigneten Sonden-Symmetrierung – in
der positiven Hälfte der Impedanz-Ebene erscheint. Ein
derartiger Kalibrier-Prozess sollte dem Fachmann gut bekannt sein. Bei
einem derartigen Messaufbau kann die positive Hüllkurve
des Signals für die Fehlererfassung verwendet werden, und
ihr negatives Äquivalent kann für die Validierung
der Wirbelstrom-Sonden-Anordnungs-Symmetrierqualität verwendet
werden.
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Das
erste in 7A gezeigte Verfahren ist in einer
Testsituation brauchbar, in der es möglich und zweckmäßig
ist, ein zu testendes Teil mehrere Male aufeinanderfolgend abzutasten
und zu drehen. Die Elemente der Wirbelstrom-Anordnung werden anfänglich
unter Verwendung eines zu testenden Teils mit unbestimmter Qualität
symmetriert. Das gleiche zu testende Teil wird dann an den Anfang
des Überprüfungs-Prozesses zurückgeführt
und gedreht. Der Grad der Drehung ist willkürlich, solange
die einzelnen Wirbelstrom-Anordnungs-Elemente einen Abschnitt des
zu prüfenden Teils überprüfen, der von dem
verschieden ist, der während der ersten Überprüfung überprüft
wurde. Wenn ein langgestreckter Fehler während der zweiten Überprüfung
in der Symmetrier-Zone auf dem voreilenden Ende festgestellt wird,
so wird das Test-Prüfstück verworfen und das Verfahren
wird mit dem nächsten Test-Prüfstück
wiederholt, bis kein Fehler in der Symmetrier-Zone festgestellt
wird.
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Das
zweite Verfahren, das in 7B gezeigt ist,
ist in einer Testsituation nützlich, bei der ein zu testendes
Teil lediglich einmal getestet werden kann, und eine Entscheidung über
die Qualität des zu testenden Teils unmittelbar nach dessen
erster und einziger Test-Abtastung getroffen werden muss. Die Elemente
der Wirbelstrom-Anordnung werden anfänglich unter Verwendung
eines ersten zu testenden Teils von unbestimmter Qualität
symmetriert. Dieses erste zu testende Teil wird dann als fehlerhaft
betrachtet und in den Abfallbehälter geworfen. Ein zweites
zu testendes Teil wird dann überprüft. Wenn die Abtastung
des zweiten zu testenden Teils abgeschlossen wird, ohne dass eines
der Elemente der Wirbelstrom-Sonden-Anordnung einen Ausgang liefert,
der sich in die negative Hälfte der Impedanz-Ebene erstreckt,
so wird der zweite zu testende Teil so betrachtet, als ob es den
Test bestanden hat, und die Wirbelstrom-Sonde wird als symmetriert
betrachtet. Wenn sich jedoch eine der Sonden-Anordnungs-Messungen
in die negative Hälfte der Impedanz-Ebene erstreckt, so
wird angenommen, dass eine fehlerhafte Symmetrierung für
das erste zu testende Teil erfolgt ist. Die Abtastung des zweiten
zu testenden Teils wird gestoppt, und die Elemente der Wirbelstrom-Anordnung
werden neu symmetriert (unter Verwendung des zweiten zu testenden
Teils). Das zweite zu testende Teil wird dann als fehlerhaft betrachtet
und in den Abfallbehälter geworfen. Ein drittes zu testendes
Teil wird gewählt, und der Validierungs-Abtast-Prozess
wird wiederholt. Der Zyklus setzt sich fort, bis ein zu testendes
Teil nach einem Symmetrier-Zyklus abgetastet wird, ohne dass irgendeines
der Elemente der Wirbelstrom-Sonden-Anordnung eine negative Messung
erzeugt.
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Das
dritte Verfahren, das in 7C gezeigt ist,
ist in einer Testsituation nützlich, in der ein zu testendes
Teil lediglich einmal getestet werden kann, eine Entscheidung hinsichtlich
der Qualität des zu testenden Teils jedoch zurückgestellt
werden kann, bis ein zweites zu testendes Teil abgetastet wurde. Die
Elemente der Wirbelstrom-Anordnung werden anfänglich unter
Verwendung eines ersten zu testenden Teils mit unbestimmter Qualität
symmetriert. Dieses erste zu testende Teil wird dann beiseite gelegt, und
ein zweites zu testendes Teil wird überprüft. Wenn
die Abtastung des zweiten zu testenden Teils abgeschlossen wird,
ohne dass eines der Elemente der Wirbelstrom-Sonden-Anordnung einen
Ausgang liefert, der sich in die negative Hälfte der Impedanz-Ebene
erstreckt, so werden sowohl das erste als auch das zweite zu testende
Teil so betrachtet, als ob sie den Test bestanden haben, und die
Wirbelstrom-Sonde wird als symmetriert angenommen. Wenn sich jedoch
eine der Sonden-Anordungs-Messungen in die negative Hälfte
der Impedanz-Ebene erstreckt, so wird angenommen, dass eine fehlerhafte
Symmetrierung an dem ersten zu testenden Teil erfolgt ist. Eine
Abtastung des zweiten zu testenden Teils wird gestoppt, und. die
Elemente der Wirbelstrom-Anordnung werden neu symmetriert (unter Verwendung
des zweiten zu testenden Teils). Das erste zu testende Teil wird
dann als fehlerhaft betrachtet und in den Abfallbehälter
geworfen, und das zweite zu testende Teil wird beiseite gelegt.
Ein drittes zu testendes Teil wird dann gewählt, und der
Validierungs-Abtast-Prozess wird wiederholt. Der Zyklus setzt sich
fort, bis ein zu testendes Teil nach einem Symmetrierungs-Zyklus
abgetastet wurde, ohne dass irgendeines der Elemente der Wirbelstrom-Sonden-Anordnung
eine negative Messung ergeben hat.
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Obwohl
die vorliegende Erfindung anhand spezieller Ausführungsformen
hiervon beschrieben wurde, werden viele Abänderungen und
Modifikationen und andere Anwendungen für den Fachmann
ersichtlich. Es wird daher bevorzugt, dass die vorliegende Erfindung
nicht durch die vorstehende ausführliche Beschreibung beschränkt
sein soll.
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ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG
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Zitierte Patentliteratur
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- - US 4218651 [0008]
- - US 3152302 [0009]
- - US 4203069 [0009]
- - US 3906357 [0009]
- - US 4673897 [0009]
- - US 4965519 [0009]
- - US 5371462 [0009]