JPH08145953A - 鋼板の結晶粒径測定装置およびその方法 - Google Patents

鋼板の結晶粒径測定装置およびその方法

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JPH08145953A
JPH08145953A JP28307894A JP28307894A JPH08145953A JP H08145953 A JPH08145953 A JP H08145953A JP 28307894 A JP28307894 A JP 28307894A JP 28307894 A JP28307894 A JP 28307894A JP H08145953 A JPH08145953 A JP H08145953A
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JP
Japan
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grain size
plate
steel sheet
magneto
rolling direction
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JP28307894A
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English (en)
Inventor
Michiaki Ishihara
道章 石原
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Nippon Steel Corp
Original Assignee
Sumitomo Metal Industries Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】オンラインで、空間分解能を高くして、微細な
結晶粒からの漏れ磁場を測定し、鋼板の結晶粒径を測定
するための装置およびその方法を得る。 【構成】鋼板の圧延方向に磁化する磁化器と、鋼板の表
面直上に圧延直交方向へ延伸配列した磁気光学素子列
と、前記磁気光学素子列に対し直線偏光を圧延直交方向
に走査する機構を有する光源と、前記磁気光学素子列か
らの反射光を検出する検光子および光検出器と、検出信
号から漏れ磁場および結晶粒径を演算・記憶する演算手
段とを備る。なお、前記光源からの光の断面形状は鋼板
の圧延方向長さより圧延直交方向幅の方が長いことが望
ましい。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、高速で移動する鋼板の
特に圧延方向の結晶粒径の板幅方向分布をオンラインで
測定するための結晶粒径測定装置およびその方法に関す
る。
【0002】
【従来の技術】鋼板の結晶粒径は、機械特性や電磁気特
性を決定する要因の一つである。特に方向性電磁鋼板の
場合、結晶粒は鋼板の圧延方向に延伸しており粒径、特
に圧延方向の粒の長さをオンラインで評価することは品
質保証・品質管理上重要である。
【0003】鋼板内の磁気特性差を検出することで結晶
粒径を測定する方法としては、特開昭53−90987
号公報に図4に示すようなホール素子3を磁化コイル2
で磁化された鋼板1に近接させて粒界からの漏れ磁場を
磁束計4で測定し粒径を求める方法が提案されている。
【0004】また、特開昭59−18055号公報には
磁性流体を満たしたセルを鋼板に近接させ、漏れ磁場を
観測し粒径を求める方法も提案されている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、ホール
素子で粒界からの漏れ磁場を測定する場合、ホール素子
が有限の大きさ(最小のものでも数mm角)を持つた
め、ホール素子の大きさより小さな粒径では平均化され
た出力が観測されてしまう。
【0006】一方、磁性流体を使用する場合、磁性流体
中の磁性粒子の大きさが結晶粒に比べ十分小さいため空
間分解能に関しては問題ないが、特開昭59−1805
5号公報に明示のように鋼板を一次停止させる必要があ
り、オンラインで測定する上では問題があった。
【0007】本発明の目的は、オンラインで、空間分解
能を高くして、より微細な結晶粒からの漏れ磁場を測定
し、鋼板の結晶粒径を測定するための装置およびその方
法を提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明請求項1に係る鋼
板の結晶粒径測定装置は、移動する鋼板内の磁気特性差
から該鋼板の結晶粒径を測定するものであって、鋼板の
圧延方向に磁化する磁化器と、鋼板の表面直上に圧延直
交方向へ延伸配列した磁気光学素子列と、前記磁気光学
素子列に対し直線偏光を圧延直交方向に走査する機構を
有する光源と、前記磁気光学素子列からの反射光を検出
する検光子および光検出器からなる集光検出器と、該集
光検出器による検出信号をA/D変換後に漏れ磁場およ
び結晶粒径を演算・記憶する演算手段とを備えることを
要旨とする。
【0009】本発明請求項2に係る鋼板の結晶粒径測定
方法は、請求項1の結晶粒径測定装置を用い、直線偏光
光源を鋼板の圧延方向に横長に絞ること、すなわち走査
光源の断面形状を鋼板の圧延方向長さより圧延直交方向
幅の方を長くすることを要旨とする。
【0010】
【作用】磁気光学素子はファラデー効果を利用して、磁
場を偏光の回転として検出するための感磁素子である。
強磁性磁気光学素子は迷路状磁区構造を持ち、鋼板粒界
からの漏れ磁場が磁区に転写され、これを光に変換し検
出する。磁区の幅は数μm〜数10μmであるため、少
なくとも同等の大きさの結晶粒径まで識別可能である。
以下、図1に示す実施例に基づき説明を進める。
【0011】磁気光学素子列10は鋼板1の圧延直交方
向に平行に、かつ鋼板直上0.1mm〜0.5mmに近
接配置されている。この磁気光学素子列10にレーザ光
に代表される直線偏光が走査的に照射される。磁気光学
素子列10の鋼板1に相対する面には反射膜が存在し、
上述の光は磁気光学素子10を透過した後、反射膜で反
射されて、検光子を前面に配した集光器13および光検
出器14からなる集光検出器16に入る。ここで鋼板1
を圧延方向に磁化器2により強く磁化すれば、図2
(a)に示すように結晶粒界から漏れ磁場が発生し、漏
れ磁場が磁気光学素子10の磁区分布を変化させ、ファ
ラデー効果により上述の直線偏光が回転する。偏光面の
回転は検光子13を透過することにより、光強度に変換
され光検出器14で図2(b)のように検出される。こ
こで、iはi番目の走査を示す。
【0012】粒界からの漏れ磁場は、印加された磁場方
向に直交する粒界でのみ発生するため、鋼板の一定長毎
の漏れ磁場の圧延方向積分値(加算値)を観測すれば、
図2(c)のように鋼板圧延方向の結晶粒の数あるいは
長さを測定することとなる。
【0013】方向性電磁鋼板の場合には、圧延直交方向
の粒径、即ち結晶粒の幅は概略一定であるから、その磁
気特性は圧延方向の粒径、即ち結晶粒の長さと高い相関
を持つ。従って、本発明のように漏れ磁場の圧延方向積
分値を観測すれば、結晶粒数から結晶粒径への変換、な
らびに結晶粒径から鋼板の磁気特性への変換も自由に行
なえ、諸々の磁気特性の推定が可能となる。
【0014】さらに、結晶粒長さを高精度で観測するに
は、照射直線偏光のビーム形状を圧延方向に絞ること、
すなわち走査光源の断面形状が鋼板の圧延方向長さより
圧延直交方向幅の方が長いことが望ましい。
【0015】例えば、事例として多い、図5に示すよう
な幅方向(圧延直交方向)に延伸した欠陥が存在した場
合、圧延方向に磁化しているため、欠陥からの漏れ磁場
は幅方向に連続しているのに対し、結晶粒からの漏れ磁
場は幅方向には不連続となる。このとき、図6に示すよ
うに、走査ビームの形状により検出信号波形に次の通り
大きな差異が生じる。
【0016】(1)点状ビームの場合 図6(b)に示すように、ビーム断面積が小さいため磁
気光学素子の磁区ノイズが顕在化し、結晶粒信号との弁
別がつきにくい。
【0017】(2)圧延方向に縦長ビームの場合 図6(c)に示すように、前記磁区ノイズは低減する
が、欠陥部信号の立上り/立下りの周波数と結晶粒信号
の周波数とが概略同じとなるため、分離が困難となる。
【0018】(3)本発明方法による圧延方向に横長ビ
ームの場合 図6(a)に示すように、欠陥部信号の周波数を低く
し、結晶粒信号の周波数との差を大きくでき、欠陥信号
との弁別がつき易くなる。
【0019】以上のように、ビームを圧延方向に横長に
絞ることによって鋼板の欠陥等の影響を排除し、より微
細な粒界からの漏れ磁場の検出が可能となる。
【0020】また、鋼板速度に応じて測定ピッチを同等
にするため、積分区間(加算回数)を自動的に変更する
ことが望ましい。
【0021】なお、磁化器としては、図1に示すような
ロール内格納型のものに限らず、図4に示すような貫通
型のものを用いてもよいことは言うまでもない。
【0022】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図1の装置構成図
に基づき詳細に説明する。
【0023】測定対象の鋼板1を移動させるためのロー
ル50内に鋼板1の圧延方向に磁化する磁化器2を格納
した。鋼板表面直上に磁気光学素子列10を鋼板の圧延
直交方向(板幅方向)に平行に配置した。直線偏光光源
としてレーザビーム発生装置11を用い、これを走査器
12で前記磁気光学素子列10に向け走査させた。前記
磁気光学素子列10からの反射光を受光する位置(磁気
光学素子列10と平行)に検光子13および光検出器1
4からなる集光器16を配した。光検出器14からの検
出信号は増幅器およびフィルタ20ならびにA/D変換
器21で整備の上、コンピュータ22に取り込み、前述
の演算処理および表示器23による測定結果の表示を行
った。また、レーザビームの走査端を検出する位置に光
電素子15を設け、走査回数カウンタ24を通じて走査
情報をコンピュータ22に送信し、これにより積分範囲
のリセットおよびピッチコントロールを行わせた。
【0024】また、前記レーザービーム発生装置の前面
にシリンドリカルレンズを配し、ビームを圧延方向に絞
り込んだ。
【0025】鋼板製造ライン上に図1の装置を設置し
て、電磁鋼板(板幅1500mm,板厚0.35mm)
の結晶粒径分布を測定した結果を次に示す。
【0026】直線偏光の走査周波数を3kHz で、鋼板
速度180m/minとし、圧延方向に1mmピッチで
測定した。周期100回分(鋼板100mm長さ)を加
算し、鋼板幅方向の結晶粒数を算出すると、図3のよう
になり、オフラインでの従来の顕微鏡ミクロ測定法によ
る測定の分布傾向とよく一致した。
【0027】
【発明の効果】本発明の装置および方法によれば、鋼板
板幅方向の結晶粒径分布を高分解能でオンラインで高速
に測定することが可能である。
【0028】また、鋼板の結晶粒径と相関のある磁気特
性および機械特性の測定も可能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例の装置構成図である。
【図2】本発明の装置による結晶粒径測定の手法を説明
する図である。
【図3】本発明の一実施例の装置で測定した、鋼板の板
幅方向の100mm当たりの結晶粒数分布のプロフィー
ル例である。
【図4】従来のホール素子による結晶粒径測定装置の構
成図である。
【図5】欠陥が存在した場合の漏れ磁場の状態を示す概
念図である。
【図6】直線偏光光源のビーム断面形状と検出信号波形
との関係を示すチャート図である。
【符号の説明】
1 鋼板 2 磁化器 3 ホール素子 4 磁束計 10 磁気光学素子列 11 レーザビーム発生装置 12 走査器 13 集光器 14 光検出器 15 光電素子 16 集光検出器 22 コンピュータ(演算機) 50 ロール

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】鋼板の圧延方向に磁化する磁化器と、鋼板
    の表面直上に圧延直交方向へ配列した磁気光学素子列
    と、前記磁気光学素子列に対し直線偏光を圧延直交方向
    に走査する機構を有する光源と、前記磁気光学素子列か
    らの反射光を検出する集光検出器と、該集光検出器によ
    る検出信号に基づき漏れ磁場および結晶粒径を演算・記
    憶する演算手段とを具備することを特徴とする鋼板の結
    晶粒径測定装置。
  2. 【請求項2】請求項1の結晶粒径測定装置を用いる鋼板
    の結晶粒度測定方法であって、直線偏光光源を鋼板の圧
    延方向に横長に絞ることを特徴とする鋼板の結晶粒径測
    定方法。
JP28307894A 1994-11-17 1994-11-17 鋼板の結晶粒径測定装置およびその方法 Pending JPH08145953A (ja)

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