JPS6253778B2 - - Google Patents
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- JPS6253778B2 JPS6253778B2 JP53072585A JP7258578A JPS6253778B2 JP S6253778 B2 JPS6253778 B2 JP S6253778B2 JP 53072585 A JP53072585 A JP 53072585A JP 7258578 A JP7258578 A JP 7258578A JP S6253778 B2 JPS6253778 B2 JP S6253778B2
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- JP
- Japan
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- circuit
- coils
- signal
- test
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 17
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 16
- 230000005284 excitation Effects 0.000 claims description 8
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 claims description 7
- 238000003672 processing method Methods 0.000 claims description 3
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 claims description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 10
- 238000005096 rolling process Methods 0.000 description 6
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 description 5
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 3
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 3
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- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 1
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Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は渦流検査装置の信号処理方法に関す
る。
る。
本発明者等は、複数個の検査コイルを時分割で
励振し、各検査コイルからの出力信号を時間的に
連続した信号に合成して信号処理する方式の渦流
検査装置に関して種々研究を重ね、たとえば検査
コイルを時分割で励振するための切換方法に関し
て特願昭51−78444号及び特願昭52−127406号に
て特許出願している。この先願の発明における検
査コイルの切換えの方法は、検査コイルの励振
用高周波電流に同期し、かつ該電流の周波数の整
数分の１の周期でパルス信号を発生させ、該パル
ス信号に応じて動作するシフトレジスタ回路の出
力信号にもとづいて電子スイツチ回路により各検
査コイルへの励振を順次切換える方法（特願昭51
−78444号）およびブリツジ回路で構成される
各渦流検出部の励振側と出力側のそれぞれの位置
に切換スイツチを設けて、各渦流検出部の作動を
順次切換える方法（特願昭52−127406号）であ
る。
励振し、各検査コイルからの出力信号を時間的に
連続した信号に合成して信号処理する方式の渦流
検査装置に関して種々研究を重ね、たとえば検査
コイルを時分割で励振するための切換方法に関し
て特願昭51−78444号及び特願昭52−127406号に
て特許出願している。この先願の発明における検
査コイルの切換えの方法は、検査コイルの励振
用高周波電流に同期し、かつ該電流の周波数の整
数分の１の周期でパルス信号を発生させ、該パル
ス信号に応じて動作するシフトレジスタ回路の出
力信号にもとづいて電子スイツチ回路により各検
査コイルへの励振を順次切換える方法（特願昭51
−78444号）およびブリツジ回路で構成される
各渦流検出部の励振側と出力側のそれぞれの位置
に切換スイツチを設けて、各渦流検出部の作動を
順次切換える方法（特願昭52−127406号）であ
る。
ところで時分割で励振される各検査コイルは、
すべての検査コイルが常に同一条件下で動作して
いるとは限らない場合がある。例えば製鉄所にお
ける線材圧延ラインのごとく複数の圧延機列で同
時に線材が圧延されており、しかも各圧延機列に
おいて異つたサイズの線材を圧延している場合
や、同一圧延機列内であつても各圧延スタンドご
とに検査コイルを設けて圧延材の検査を行う場合
など、それぞれの場所にとりつけられた検査コイ
ルのサイズや形状等の相異による検査コイルの出
力差が生じる。この出力差の主なものとしては、
出力電圧の振幅の差と位相の差がある。従つてこ
れらの出力差のある信号を時間的に連続した信号
に合成した上で信号処理し、欠陥の評価を行なう
にあたつては、これらの出力差を有する信号を何
らかの方法で調整した上で欠陥判別回路に入力し
てやらなければならない。
すべての検査コイルが常に同一条件下で動作して
いるとは限らない場合がある。例えば製鉄所にお
ける線材圧延ラインのごとく複数の圧延機列で同
時に線材が圧延されており、しかも各圧延機列に
おいて異つたサイズの線材を圧延している場合
や、同一圧延機列内であつても各圧延スタンドご
とに検査コイルを設けて圧延材の検査を行う場合
など、それぞれの場所にとりつけられた検査コイ
ルのサイズや形状等の相異による検査コイルの出
力差が生じる。この出力差の主なものとしては、
出力電圧の振幅の差と位相の差がある。従つてこ
れらの出力差のある信号を時間的に連続した信号
に合成した上で信号処理し、欠陥の評価を行なう
にあたつては、これらの出力差を有する信号を何
らかの方法で調整した上で欠陥判別回路に入力し
てやらなければならない。
本発明は異つた条件下に置かれた複数個の検査
コイルの各出力信号の振幅及び位相を調整する方
法を提供するものであつて、その要旨は、複数個
の検査コイルを時分割で励振し各検査コイルから
の出力信号を時間的に連続した信号に合成して信
号処理する方式の渦流検査装置に、前記複数個の
検査コイルと１対１で対応し直流電源からの直流
電圧を調整する複数個の電圧調整器と前記複数個
の検査コイルの励振用高周波電流の周波数に同期
したパルス信号を発生するパルス信号発生回路と
前記複数個の検査コイルと１対１で対応し前記パ
ルス信号発生回路からのパルス信号を遅延させる
複数個の遅延回路とを設け、前記複数個の検査コ
イルのそれぞれの検査コイルが励振している間、
対応する電圧調整器からの出力電圧を利得調整回
路に入力して当該検査コイルからの出力信号の利
得調整を行つて該出力信号を位相検波回路に入力
するとともに対応する遅延回路からのパルス信号
をゲート発生回路に入力して前記位相検波回路に
入力させるゲート信号の位相の調整を行うことを
特徴とする渦流探傷装置の信号処理方法である。
以下本発明を図示の実施例に基づき詳細に説明す
る。
コイルの各出力信号の振幅及び位相を調整する方
法を提供するものであつて、その要旨は、複数個
の検査コイルを時分割で励振し各検査コイルから
の出力信号を時間的に連続した信号に合成して信
号処理する方式の渦流検査装置に、前記複数個の
検査コイルと１対１で対応し直流電源からの直流
電圧を調整する複数個の電圧調整器と前記複数個
の検査コイルの励振用高周波電流の周波数に同期
したパルス信号を発生するパルス信号発生回路と
前記複数個の検査コイルと１対１で対応し前記パ
ルス信号発生回路からのパルス信号を遅延させる
複数個の遅延回路とを設け、前記複数個の検査コ
イルのそれぞれの検査コイルが励振している間、
対応する電圧調整器からの出力電圧を利得調整回
路に入力して当該検査コイルからの出力信号の利
得調整を行つて該出力信号を位相検波回路に入力
するとともに対応する遅延回路からのパルス信号
をゲート発生回路に入力して前記位相検波回路に
入力させるゲート信号の位相の調整を行うことを
特徴とする渦流探傷装置の信号処理方法である。
以下本発明を図示の実施例に基づき詳細に説明す
る。
図面は本発明の方法を実施する装置の構成例を
示す電気ブロツク図である。図において１は電圧
調整部であり、複数個の検査コイルと同数の電圧
調整器、たとえばポテンシオメータ１-1，１-2，
…１-oより成つており、一定の直流電圧が印加さ
れている。ｎ個のポテンシオメータはｎ個の検査
コイルとそれぞれ１対１で対応しており、各ポテ
ンシオメータ１-1，１-2，…１-oの分圧電圧は対
応する検査コイルの条件に応じてそれぞれ予め設
定され、該分圧電圧はそれぞれ対応するスイツチ
S1-1，S1-2，…Ｓ1-oを介して合成回路２につなが
つている。切換スイツチS1-1，S1-2，…Ｓ1-oは対
応する検査コイルが励振している期間だけ閉じる
ようにスイツチング制御回路９により開閉が制御
される。今例えば第１の検査コイルが励振されて
いるとすると、第１の検査コイルが励振している
間切換スイツチS1-1が閉じ、ポテンシオメータ１
-1の分圧電圧が合成回路２に出力される。合成回
路２の出力は渦流検出部ECDと位相検波回路８
の間に設けられた利得調整回路３に入力される。
利得調整回路３は渦流検出部の各検査コイルの出
力信号の利得調整を行なう回路であり、例えば第
１の検査コイルからの出力信号を合成回路２の出
力電圧に応じた増幅率すなわち第１の検査コイル
の条件に応じた増幅率で増幅し、次段の位相検波
回路８に出力する。次に第２の検査コイルが励振
されると切換スイツチS1-1は開いて切換スイツチ
S1-2が閉じ、ポテンシオメータ１-1の分圧電圧は
出力しなく、ポテンシオメータ１-2の分圧電圧が
合成回路２に出力され、該出力電圧に応じた増幅
率すなわち第２の検査コイルの条件に応じた増幅
率で第２の検査コイルからの出力信号が利得調整
回路３で増幅される。以下同様にして各検査コイ
ルが励振される毎に各検査コイルからの出力信号
の利得調整が行われ、次段の位相検波回路８に入
力される。
示す電気ブロツク図である。図において１は電圧
調整部であり、複数個の検査コイルと同数の電圧
調整器、たとえばポテンシオメータ１-1，１-2，
…１-oより成つており、一定の直流電圧が印加さ
れている。ｎ個のポテンシオメータはｎ個の検査
コイルとそれぞれ１対１で対応しており、各ポテ
ンシオメータ１-1，１-2，…１-oの分圧電圧は対
応する検査コイルの条件に応じてそれぞれ予め設
定され、該分圧電圧はそれぞれ対応するスイツチ
S1-1，S1-2，…Ｓ1-oを介して合成回路２につなが
つている。切換スイツチS1-1，S1-2，…Ｓ1-oは対
応する検査コイルが励振している期間だけ閉じる
ようにスイツチング制御回路９により開閉が制御
される。今例えば第１の検査コイルが励振されて
いるとすると、第１の検査コイルが励振している
間切換スイツチS1-1が閉じ、ポテンシオメータ１
-1の分圧電圧が合成回路２に出力される。合成回
路２の出力は渦流検出部ECDと位相検波回路８
の間に設けられた利得調整回路３に入力される。
利得調整回路３は渦流検出部の各検査コイルの出
力信号の利得調整を行なう回路であり、例えば第
１の検査コイルからの出力信号を合成回路２の出
力電圧に応じた増幅率すなわち第１の検査コイル
の条件に応じた増幅率で増幅し、次段の位相検波
回路８に出力する。次に第２の検査コイルが励振
されると切換スイツチS1-1は開いて切換スイツチ
S1-2が閉じ、ポテンシオメータ１-1の分圧電圧は
出力しなく、ポテンシオメータ１-2の分圧電圧が
合成回路２に出力され、該出力電圧に応じた増幅
率すなわち第２の検査コイルの条件に応じた増幅
率で第２の検査コイルからの出力信号が利得調整
回路３で増幅される。以下同様にして各検査コイ
ルが励振される毎に各検査コイルからの出力信号
の利得調整が行われ、次段の位相検波回路８に入
力される。
一方検査コイルの励振用高周波電流の周波数に
同期したパルス信号を発生するパルス信号発生回
路１０からのパルス信号が遅延部４に入力され
る。遅延部４は複数個の検査コイルと同数でかつ
ｎ個の検査コイルとそれぞれ１対１で対応したｎ
個の遅延回路４-1，４-2，…４-oから成つてお
り、各遅延回路は対応する検査コイルの出力信号
の調整すべき移相量に応じて励振用高周波電流の
周波数のほぼ360゜に相当する角度内で予め設定
された移相角に相応した時間だけパルス信号発生
回路１０からのパルス信号を遅延させるものであ
る。各遅延回路の出力はそれぞれ対応するアンド
回路５-1，５-2，…５-oに入力される。アンド回
路５-1，５-2，…５-oの今一つの入力端子には切
換スイツチS2-1，S2-2、…Ｓ2-oがそれぞれインバ
ータI1，I2，…Ｉoを介して接続されている。切換
スイツチS2-1，S2-2，…Ｓ2-oは対応する検査コイ
ルが励振している期間だけ閉じるように、スイツ
チング制御回路９により開閉が制御される。今例
えば第１の検査コイルが励振されているとする
と、第１の検査コイルが励振している間切換スイ
ツチS2-1が閉じ、アンド回路５-1のアンド条件が
成立し、遅延回路４-1の出力信号（第１の検査コ
イルの出力信号の調整すべき移相量に相応した時
間だけ遅延したパルス信号）がアンド回路部５-1
を通過する。アンド回路５-1の出力はオア回路６
に入力される。オア回路６の出力信号はゲート発
生回路７に入力される。ゲート発生回路７はオア
回路６からの入力信号の立ち上がりを起点とし、
励振用高周波電流の周波数の180゜分に相当する
長さのゲート信号と、該ゲート信号と90゜位相の
異なるゲート信号の２種類のゲート信号を発生す
る。次に第２の検査コイルが励振されると切換ス
イツチS2-1は開いて切換スイツチS2-2が閉じ、ア
ンド回路５-1は出力しなく、遅延回路４-2の出力
信号（第２の検査コイルの出力信号の調整すべき
移相量に対応した時間だけ遅延したパルス信号）
がアンド回路５-2を通過する。アンド回路５-2の
出力はオア回路６に入力され、オア回路６の出力
信号はゲート発生回路７に入力され前記第１の検
査コイルが励振されたときとは位相の異なる２種
類のゲート信号を発生する。以下同様にして各検
査コイルが励振される毎に各検査コイルの出力信
号の調整すべき移相量に対応しただけ位相の異な
るゲート信号がゲート発生回路７から位相検波回
路に入力される。
同期したパルス信号を発生するパルス信号発生回
路１０からのパルス信号が遅延部４に入力され
る。遅延部４は複数個の検査コイルと同数でかつ
ｎ個の検査コイルとそれぞれ１対１で対応したｎ
個の遅延回路４-1，４-2，…４-oから成つてお
り、各遅延回路は対応する検査コイルの出力信号
の調整すべき移相量に応じて励振用高周波電流の
周波数のほぼ360゜に相当する角度内で予め設定
された移相角に相応した時間だけパルス信号発生
回路１０からのパルス信号を遅延させるものであ
る。各遅延回路の出力はそれぞれ対応するアンド
回路５-1，５-2，…５-oに入力される。アンド回
路５-1，５-2，…５-oの今一つの入力端子には切
換スイツチS2-1，S2-2、…Ｓ2-oがそれぞれインバ
ータI1，I2，…Ｉoを介して接続されている。切換
スイツチS2-1，S2-2，…Ｓ2-oは対応する検査コイ
ルが励振している期間だけ閉じるように、スイツ
チング制御回路９により開閉が制御される。今例
えば第１の検査コイルが励振されているとする
と、第１の検査コイルが励振している間切換スイ
ツチS2-1が閉じ、アンド回路５-1のアンド条件が
成立し、遅延回路４-1の出力信号（第１の検査コ
イルの出力信号の調整すべき移相量に相応した時
間だけ遅延したパルス信号）がアンド回路部５-1
を通過する。アンド回路５-1の出力はオア回路６
に入力される。オア回路６の出力信号はゲート発
生回路７に入力される。ゲート発生回路７はオア
回路６からの入力信号の立ち上がりを起点とし、
励振用高周波電流の周波数の180゜分に相当する
長さのゲート信号と、該ゲート信号と90゜位相の
異なるゲート信号の２種類のゲート信号を発生す
る。次に第２の検査コイルが励振されると切換ス
イツチS2-1は開いて切換スイツチS2-2が閉じ、ア
ンド回路５-1は出力しなく、遅延回路４-2の出力
信号（第２の検査コイルの出力信号の調整すべき
移相量に対応した時間だけ遅延したパルス信号）
がアンド回路５-2を通過する。アンド回路５-2の
出力はオア回路６に入力され、オア回路６の出力
信号はゲート発生回路７に入力され前記第１の検
査コイルが励振されたときとは位相の異なる２種
類のゲート信号を発生する。以下同様にして各検
査コイルが励振される毎に各検査コイルの出力信
号の調整すべき移相量に対応しただけ位相の異な
るゲート信号がゲート発生回路７から位相検波回
路に入力される。
以上のようにして、各検査コイルが励振される
毎に当該検査コイルの条件に応じて振幅が調整さ
れた検査コイルの出力信号と位相が調整されたゲ
ート信号とが位相検波回路に入力される。
毎に当該検査コイルの条件に応じて振幅が調整さ
れた検査コイルの出力信号と位相が調整されたゲ
ート信号とが位相検波回路に入力される。
以上説明したごとく、本発明の方法によれば複
数個の検査コイルの各出力信号の振幅及び位相を
個々に調整する事ができるので、各検査コイルの
間に同一評価の欠陥に対する出力信号の振幅や位
相に差があつてもユニフオーミテイのよい情報を
位相検波回路から次段の欠陥判別回路に送ること
ができ、渦流検査装置としての性能を向上させる
ことができる。
数個の検査コイルの各出力信号の振幅及び位相を
個々に調整する事ができるので、各検査コイルの
間に同一評価の欠陥に対する出力信号の振幅や位
相に差があつてもユニフオーミテイのよい情報を
位相検波回路から次段の欠陥判別回路に送ること
ができ、渦流検査装置としての性能を向上させる
ことができる。
図面は本発明の方法を実施する装置の構成例を
示すブロツク図である。 １……電圧調整部、１-1，１-o……ポテンシオ
メータ、２……合成回路、３……利得調整回路、
４……遅延部、４-1，〜４-o……遅延回路、５…
…アンド回路部、５-1，〜５-o……アンド回路、
６……オア回路、７……ゲート発生回路、８……
位相検波回路、９……スイツチング制御回路、
S1-1，〜Ｓ1-o，S2-1，〜Ｓ2-o……切換スイツ
チ、１０……パルス信号発生回路、I1〜Ｉo……
インバータ。
示すブロツク図である。 １……電圧調整部、１-1，１-o……ポテンシオ
メータ、２……合成回路、３……利得調整回路、
４……遅延部、４-1，〜４-o……遅延回路、５…
…アンド回路部、５-1，〜５-o……アンド回路、
６……オア回路、７……ゲート発生回路、８……
位相検波回路、９……スイツチング制御回路、
S1-1，〜Ｓ1-o，S2-1，〜Ｓ2-o……切換スイツ
チ、１０……パルス信号発生回路、I1〜Ｉo……
インバータ。
Claims (1)
- １ 複数個の検査コイルを時分割で励振し各検査
コイルからの出力信号を時間的に連続した信号に
合成して信号処理する方式の渦流検査装置に、前
記複数個の検査コイルと１対１で対応し直流電源
からの直流電圧を調整する複数個の電圧調整器と
前記複数個の検査コイルの励振用高周波電流の周
波数に同期したパルス信号を発生するパルス信号
発生回路と前記複数個の検査コイルと１対１で対
応し前記パルス信号発生回路からのパルス信号を
遅延させる複数個の遅延回路とを設け、前記複数
個の検査コイルのそれぞれの検査コイルが励振し
ている間、対応する電圧調整器からの出力電圧を
利得調整回路に入力して当該検査コイルからの出
力信号の利得調整を行つて該出力信号を位相検波
回路に入力するとともに対応する遅延回路からの
パルス信号をゲート発生回路に入力して前記位相
検波回路に入力させるゲート信号の位相の調整を
行うことを特徴とする渦流探傷装置の信号処理方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7258578A JPS5554446A (en) | 1978-06-15 | 1978-06-15 | Signal processing method of eddy-current check unit |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7258578A JPS5554446A (en) | 1978-06-15 | 1978-06-15 | Signal processing method of eddy-current check unit |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5554446A JPS5554446A (en) | 1980-04-21 |
| JPS6253778B2 true JPS6253778B2 (ja) | 1987-11-12 |
Family
ID=13493594
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7258578A Granted JPS5554446A (en) | 1978-06-15 | 1978-06-15 | Signal processing method of eddy-current check unit |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5554446A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59108955A (ja) * | 1982-12-13 | 1984-06-23 | Nippon Steel Corp | マルチプロ−ブコイルマルチ周波数渦流探傷装置 |
| JPS59108956A (ja) * | 1982-12-14 | 1984-06-23 | Nippon Steel Corp | マルチプロ−ブ渦流深傷装置の出力電圧補正方法 |
| JPS59166857A (ja) * | 1983-03-11 | 1984-09-20 | Nippon Steel Corp | マルチプロ−ブ、マルチ周波数渦流探傷装置の信号処理回路 |
-
1978
- 1978-06-15 JP JP7258578A patent/JPS5554446A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5554446A (en) | 1980-04-21 |
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