JPS5921108B2 - テ−プ位置検出装置 - Google Patents
テ−プ位置検出装置Info
- Publication number
- JPS5921108B2 JPS5921108B2 JP6743578A JP6743578A JPS5921108B2 JP S5921108 B2 JPS5921108 B2 JP S5921108B2 JP 6743578 A JP6743578 A JP 6743578A JP 6743578 A JP6743578 A JP 6743578A JP S5921108 B2 JPS5921108 B2 JP S5921108B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- tape
- reel
- measuring
- pulse
- circuit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Indexing, Searching, Synchronizing, And The Amount Of Synchronization Travel Of Record Carriers (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はテープレコーダにおけるテープの現在位置を自
動的に検出するテープ位置検出装置に関する。
動的に検出するテープ位置検出装置に関する。
テープスタート時点からの位置すなわちテープ現在位置
を知る手段としてはテープカウンタが用いられている。
を知る手段としてはテープカウンタが用いられている。
しかしながらテープカウンタは機械的に動作するもので
あるから正確なテープ位置を求めることは不可能である
。従つて本発明の目的は正確なテープ現在位置を知るこ
とのできるテープ位置検出装置を提供することである。
あるから正確なテープ位置を求めることは不可能である
。従つて本発明の目的は正確なテープ現在位置を知るこ
とのできるテープ位置検出装置を提供することである。
本発明のテープ位置検出装置は、アークアップ及びサプ
ライリールの各々の１回転に要する時間すなわち回転周
期Ｔｔ及びＴｓをそれぞれ測定する測定手段と、任意の
時刻から両リールが共に少くとも１回転したことを検出
する検出手段と、当該検出手段の検出出力に応答して測
定手段の測定値Ｔｔ及びＴｓ、更にはテープ厚やテープ
長Ｌにより定まる定数にを用いて、△Ｌ＝（１−（Ｔｓ
／Ｔｔ）２１・に／（１＋（Ｔｓ／Ｔｔ）２）なる式に
基づき△Ｌを算出し、かつ当該算出値△Ｌとテープ長Ｌ
とを用いて（％Ｌ＋△Ｌ）なる値を算出する演算手段と
″を含むことを特徴としている。
ライリールの各々の１回転に要する時間すなわち回転周
期Ｔｔ及びＴｓをそれぞれ測定する測定手段と、任意の
時刻から両リールが共に少くとも１回転したことを検出
する検出手段と、当該検出手段の検出出力に応答して測
定手段の測定値Ｔｔ及びＴｓ、更にはテープ厚やテープ
長Ｌにより定まる定数にを用いて、△Ｌ＝（１−（Ｔｓ
／Ｔｔ）２１・に／（１＋（Ｔｓ／Ｔｔ）２）なる式に
基づき△Ｌを算出し、かつ当該算出値△Ｌとテープ長Ｌ
とを用いて（％Ｌ＋△Ｌ）なる値を算出する演算手段と
″を含むことを特徴としている。
当該（％Ｌ＋△Ｌ）なる算出値がテープスタート時より
のテープ現在位置を示すもので、よつてこの算出値をテ
ープ位置表示のための適当な表示装置により表示するこ
とにより正確なテープ位置・を知ることが可能となる。
のテープ現在位置を示すもので、よつてこの算出値をテ
ープ位置表示のための適当な表示装置により表示するこ
とにより正確なテープ位置・を知ることが可能となる。
以下本発明につき添付図面を用いて詳述する。
第１図及び第３図は本発明の一実施例を示す回路ブロッ
ク図であり、第２図は第１図の各部動作波形図を示す。
図において、アークアップ及びサブフライリール（図示
しない）の回転周期をそれぞれ検出するためにフォトカ
プラ１ａ及びＩｂが設けられ、各フォトカプラ１ａ、Ｉ
ｂの発光及び受光素子間にはリール台の回転に伴つて回
転する回転板をそれぞれ設け、当該回転板の各々には所
定５のスリットを形成しておくことにより、各フォトカ
プラ１ａ、Ｉｂの出力にはリールの回転速度に応じてパ
ルス信号が発生される。このパルス信号Ａりーは各波形
整形回路２ａ，２ｂにより整形増幅されて出力信号ａ及
びｂがそれぞれ得られる。
ク図であり、第２図は第１図の各部動作波形図を示す。
図において、アークアップ及びサブフライリール（図示
しない）の回転周期をそれぞれ検出するためにフォトカ
プラ１ａ及びＩｂが設けられ、各フォトカプラ１ａ、Ｉ
ｂの発光及び受光素子間にはリール台の回転に伴つて回
転する回転板をそれぞれ設け、当該回転板の各々には所
定５のスリットを形成しておくことにより、各フォトカ
プラ１ａ、Ｉｂの出力にはリールの回転速度に応じてパ
ルス信号が発生される。このパルス信号Ａりーは各波形
整形回路２ａ，２ｂにより整形増幅されて出力信号ａ及
びｂがそれぞれ得られる。
本例においては第２図Ａ，ｂに示す如くリールの１回転
毎に４個（ｎ個）のパルス信号が得られるように構成さ
れている。パルス信号Ａ，ｂはｎ進カウンタ、この場合
には４進カウンタ３ａ，３ｂによりパルス信号Ｃ，ｄに
変換され従つて各リールの１回転毎に１個のパルスが発
生されることになる。各パルス信号Ｃ，ｄは単安定マル
チ４ａ，４ｂにそれぞれ入力される。この単安定マルチ
４ａ，４ｂは入力パルスの立上りによりトリガされるも
のとすると、第２図Ｅ，ｆに示す如く各リールの１回転
の初期に１個のパルスが発生される。当該マルチ４ａ，
４ｂの各出力Ｅ，ｆはそれぞれカウンタ５ａ，５ｂのク
リア入力となつている。一方、一定の周波数を有するパ
ルス信号を発生する発振回路６が設けられており、この
発振回路６の出力パルスは分周回路７を介して先のカウ
ンタ５ａ，５ｂのクロツク入力となつている。分周回路
７の分周比はスイツチＳにより可変自在となつており、
装置が再生（ＰＬＡＹ）状態及び早送り巻戻し（ＦＦ／
ＲＷ）状態に応じてその分周比が切換えられる。カウン
タ５ａ，５ｂの出力はｍビツトの並列デジタル出力信号
となつており、当該並列出力はｍビツトの並列記憶を行
う記憶手段としてのラツチ回路８ａ，８ｂへそれぞれ入
力される。
毎に４個（ｎ個）のパルス信号が得られるように構成さ
れている。パルス信号Ａ，ｂはｎ進カウンタ、この場合
には４進カウンタ３ａ，３ｂによりパルス信号Ｃ，ｄに
変換され従つて各リールの１回転毎に１個のパルスが発
生されることになる。各パルス信号Ｃ，ｄは単安定マル
チ４ａ，４ｂにそれぞれ入力される。この単安定マルチ
４ａ，４ｂは入力パルスの立上りによりトリガされるも
のとすると、第２図Ｅ，ｆに示す如く各リールの１回転
の初期に１個のパルスが発生される。当該マルチ４ａ，
４ｂの各出力Ｅ，ｆはそれぞれカウンタ５ａ，５ｂのク
リア入力となつている。一方、一定の周波数を有するパ
ルス信号を発生する発振回路６が設けられており、この
発振回路６の出力パルスは分周回路７を介して先のカウ
ンタ５ａ，５ｂのクロツク入力となつている。分周回路
７の分周比はスイツチＳにより可変自在となつており、
装置が再生（ＰＬＡＹ）状態及び早送り巻戻し（ＦＦ／
ＲＷ）状態に応じてその分周比が切換えられる。カウン
タ５ａ，５ｂの出力はｍビツトの並列デジタル出力信号
となつており、当該並列出力はｍビツトの並列記憶を行
う記憶手段としてのラツチ回路８ａ，８ｂへそれぞれ入
力される。
また、各リールの１回転を検出するための検出回路９ａ
，９ｂが設けられている。
，９ｂが設けられている。
すなわち本例では５個（ｎ＋１個）のパルスが各フオト
カプラ１ａ，１ｂの出力より発生されたことを検出して
、第２図Ｇ，ｈに示す如く高レベルの信号をそれぞれ発
生している。各検出回路９ａ，９ｂの出力が共に高レベ
ルになつたことを検出して所定時間後に第２図１に示す
如きりセツトパルスｉを発生す ５るりセツト信号発生
回路１０が設けられている。検出回路９ａ，９ｂの各出
力Ｇ，ｈが先述したラツチ回路８ａ，８ｂの読込み指令
信号となつており、またりセツト信号１が４進カウンタ
３ａ，３ｂ及び検出回路９ａ，９ｂのりセツト入力とな
４つている。か〜る構成において、第２図に示す如く
、テークアツプリールの回転速度がサプライリールのそ
れに比し大なる場合でかつテークアツプリールの）フオ
トカプラ１ａからの信号ａがサプライリールのフオトカ
プラ１ｂの信号ｂより先に時刻Ｔ，において発生した場
合につき述べる。
カプラ１ａ，１ｂの出力より発生されたことを検出して
、第２図Ｇ，ｈに示す如く高レベルの信号をそれぞれ発
生している。各検出回路９ａ，９ｂの出力が共に高レベ
ルになつたことを検出して所定時間後に第２図１に示す
如きりセツトパルスｉを発生す ５るりセツト信号発生
回路１０が設けられている。検出回路９ａ，９ｂの各出
力Ｇ，ｈが先述したラツチ回路８ａ，８ｂの読込み指令
信号となつており、またりセツト信号１が４進カウンタ
３ａ，３ｂ及び検出回路９ａ，９ｂのりセツト入力とな
４つている。か〜る構成において、第２図に示す如く
、テークアツプリールの回転速度がサプライリールのそ
れに比し大なる場合でかつテークアツプリールの）フオ
トカプラ１ａからの信号ａがサプライリールのフオトカ
プラ１ｂの信号ｂより先に時刻Ｔ，において発生した場
合につき述べる。
この時刻ｔ１における信号ａの第１パルスに応答して単
安定マルチ４ａの出力ｅによりカウンタ５ａがクリアさ
れて分周回路７からの一定周波数の出力パルスを零より
カウントアツプする。次の時刻Ｔ，において、サプライ
リールのフオトカプラ１ｂから第１のパルスｂが発生さ
れ、この発生タイミングによりカウンタ５ｂは零にクリ
アされて分周回路７からの一定周波数のクロツクパルス
をカウントアツプする。時刻Ｔ３においてテークアツプ
リールは丁度１回転となり、よつて検出回路９ａの出力
ｇは高レベルに変化するから、この出力ｇの立上りのタ
イミングによりカウンタ５ａのカウント内容がラツチ回
路８ａに並列デジタル信号として読込まれ記憶される。
時刻Ｔ，においてサプライリールの１回転が完了し、よ
つて検出回路９ｂの出力ｈは高レベルに変化する。
安定マルチ４ａの出力ｅによりカウンタ５ａがクリアさ
れて分周回路７からの一定周波数の出力パルスを零より
カウントアツプする。次の時刻Ｔ，において、サプライ
リールのフオトカプラ１ｂから第１のパルスｂが発生さ
れ、この発生タイミングによりカウンタ５ｂは零にクリ
アされて分周回路７からの一定周波数のクロツクパルス
をカウントアツプする。時刻Ｔ３においてテークアツプ
リールは丁度１回転となり、よつて検出回路９ａの出力
ｇは高レベルに変化するから、この出力ｇの立上りのタ
イミングによりカウンタ５ａのカウント内容がラツチ回
路８ａに並列デジタル信号として読込まれ記憶される。
時刻Ｔ，においてサプライリールの１回転が完了し、よ
つて検出回路９ｂの出力ｈは高レベルに変化する。
この出力ｈの立上りのタイミングによりカウンタ５ｂの
カウント内容がラツチ回路８ｂに並列デジタル信号とし
て読込まれ記憶される。そして検出回路９ａ，９ｂの出
力Ｇ，ｈが共に高レベルになつたことを検出して所定期
間後の時刻Ｔ，にりセツト信号発生回路１０よりりセツ
ト信号１が発生されて、４進カウンタ３ａ，３ｂ及び検
出回路９ａ，９ｂがりセツトされ初期状態に復帰するこ
とになる。従つて、時刻Ｔ，に続く最初のパルス、本例
ではテークアツプ側のパルスａが発生されて再び同様な
動作が繰返される。その結果、第２図Ｊ，ｋに示す如く
時刻Ｔ４においては期間Ｔ，〜Ｔ，及びＴ２〜Ｔ４の間
の分周回路出力パルス数がラツチ回路８ａ，８ｂにそれ
ぞれ記憶されていることになり、換言すれば各りールの
１回転に要する時間に比例した値がそれぞれｍビツト並
列デイジタル信号Ｔｔ及びＴｓとして保持される。
カウント内容がラツチ回路８ｂに並列デジタル信号とし
て読込まれ記憶される。そして検出回路９ａ，９ｂの出
力Ｇ，ｈが共に高レベルになつたことを検出して所定期
間後の時刻Ｔ，にりセツト信号発生回路１０よりりセツ
ト信号１が発生されて、４進カウンタ３ａ，３ｂ及び検
出回路９ａ，９ｂがりセツトされ初期状態に復帰するこ
とになる。従つて、時刻Ｔ，に続く最初のパルス、本例
ではテークアツプ側のパルスａが発生されて再び同様な
動作が繰返される。その結果、第２図Ｊ，ｋに示す如く
時刻Ｔ４においては期間Ｔ，〜Ｔ，及びＴ２〜Ｔ４の間
の分周回路出力パルス数がラツチ回路８ａ，８ｂにそれ
ぞれ記憶されていることになり、換言すれば各りールの
１回転に要する時間に比例した値がそれぞれｍビツト並
列デイジタル信号Ｔｔ及びＴｓとして保持される。
これ等デジタル信号Ｔｔ及びＴｓは第３図に示す如く、
演算回路１１へ入力される。
演算回路１１へ入力される。
ここで、テープリールのテープ巻き径がテークアツプ側
及びサプライ側共に等しい時点からのテープ走行量（テ
ープ走行長さ）をΔＬとし、当該時点から微少時間Ｄｔ
後を考えると、ｄ（ΔＬ）＝ＶＯｄｔ・・・・・・（１
）だけテープは移動するとになる。
及びサプライ側共に等しい時点からのテープ走行量（テ
ープ走行長さ）をΔＬとし、当該時点から微少時間Ｄｔ
後を考えると、ｄ（ΔＬ）＝ＶＯｄｔ・・・・・・（１
）だけテープは移動するとになる。
ＶＯはテープ速度である。これに対し、リールのテープ
巻き半径Ｒは一回転毎にテープ厚さＡだけ変化するので
、微少時間Ｄｔでは、ＤＲ＝±Ａ−ｄθ／２π
・・・・・・（２）だけ変化する。
巻き半径Ｒは一回転毎にテープ厚さＡだけ変化するので
、微少時間Ｄｔでは、ＤＲ＝±Ａ−ｄθ／２π
・・・・・・（２）だけ変化する。
ｄθはラジアンである。ＲｄＯ半ｄ（△Ｌ）
・・・・・・（３）であるから、（３）式を用い
て（２）式を変形すると、ＤＲ＝±Ａ／（２πＲ）・ｄ
（ΔＬ）・・・・・・（４）となる。
・・・・・・（３）であるから、（３）式を用い
て（２）式を変形すると、ＤＲ＝±Ａ／（２πＲ）・ｄ
（ΔＬ）・・・・・・（４）となる。
よつて、ＦＲ−ＤＲ＝±Ａ／２πＦｄ（ΔＬ） ・・・
・・・（５）となるから、この一般解を求めると、Ｒ２
／２＋Ｃ＝＋（Ｖ２π）・ΔＬ ・・・・・・（６）
再生及び早送りには供給リール側のテープ巻き半径Ｒｓ
は減少するので、Ｒｓ２＋Ｃｓ＝−（Ａ／π）・△Ｌ
・・・・・・（７）となり、巻取リール側のテープ巻
き径Ｒｔは増大するので、Ｒｔ２＋Ｃｔ＝（Ａ／π）・
ΔＬ ・・・・・・（８）となる。
・・・（５）となるから、この一般解を求めると、Ｒ２
／２＋Ｃ＝＋（Ｖ２π）・ΔＬ ・・・・・・（６）
再生及び早送りには供給リール側のテープ巻き半径Ｒｓ
は減少するので、Ｒｓ２＋Ｃｓ＝−（Ａ／π）・△Ｌ
・・・・・・（７）となり、巻取リール側のテープ巻
き径Ｒｔは増大するので、Ｒｔ２＋Ｃｔ＝（Ａ／π）・
ΔＬ ・・・・・・（８）となる。
もつとも、巻取時には（７），（８）式は逆となる。（
７），（８）式における定数Ｃｓ，Ｃｔを求めるに、テ
ープが丁度中間の時点では、ΔＬ＝０であるから、Ｃｓ
＝Ｃｔ＝−（Ｒｍ／２）２ ・・・・・・（９）と
なる。
７），（８）式における定数Ｃｓ，Ｃｔを求めるに、テ
ープが丁度中間の時点では、ΔＬ＝０であるから、Ｃｓ
＝Ｃｔ＝−（Ｒｍ／２）２ ・・・・・・（９）と
なる。
ここに、Ｒｍは供給若しくは巻取リールにすべてテープ
が巻き取られている場合のテープ巻き半径である。ここ
で、ＲＨ＝Ｒｍ／２とおいて、（９）式を（７），（８
）式に代入すると、Ｒｓ２＝ＲＨ２−（Ａ／π）△Ｌ
・・・・・・０ＩＲｔ，＝ＲＨ２＋（Ａ／π）ΔＬ
・・・・・・（自）となる。また、Ｒとリール回
転周期Ｔとの間には、：：Ｘ；ニ：１Ｘ；｝ ・・・・
・・（自）なる関係が成立するから、（自）式を（１１
，（自）式へ代入すると、Ｔｓ２＝（２π／ＶＯ）２・
ＲＨ２−４πＡ／ＶＯ２・（ΔＬ） ・・・・
・・（自）Ｔｔ２＝（２π／ＶＯ）２・ＲＨ２＋４πＡ
／ＶＯ２・（ΔＬ） ・・・・・・（自）とな
る。
が巻き取られている場合のテープ巻き半径である。ここ
で、ＲＨ＝Ｒｍ／２とおいて、（９）式を（７），（８
）式に代入すると、Ｒｓ２＝ＲＨ２−（Ａ／π）△Ｌ
・・・・・・０ＩＲｔ，＝ＲＨ２＋（Ａ／π）ΔＬ
・・・・・・（自）となる。また、Ｒとリール回
転周期Ｔとの間には、：：Ｘ；ニ：１Ｘ；｝ ・・・・
・・（自）なる関係が成立するから、（自）式を（１１
，（自）式へ代入すると、Ｔｓ２＝（２π／ＶＯ）２・
ＲＨ２−４πＡ／ＶＯ２・（ΔＬ） ・・・・
・・（自）Ｔｔ２＝（２π／ＶＯ）２・ＲＨ２＋４πＡ
／ＶＯ２・（ΔＬ） ・・・・・・（自）とな
る。
ここで、ＲＨについて求めるに、（５）式の積分式ＦＲ
−ＤＲ＝Ａ／２πＦｄ（ΔＬ） ・・・・・・（自）か
ら、ＦＲＨＲ−ＤＲ＝Ａ／２πｆ層ｄ（ΔＬ）・・・（
自）ＲＯＯを求めると、（ＲＯはハブ径である）、 ＲＨ２＝ＲＯ２＋（Ａ／２π）Ｌ ・・・・・・（
至）となる。
−ＤＲ＝Ａ／２πＦｄ（ΔＬ） ・・・・・・（自）か
ら、ＦＲＨＲ−ＤＲ＝Ａ／２πｆ層ｄ（ΔＬ）・・・（
自）ＲＯＯを求めると、（ＲＯはハブ径である）、 ＲＨ２＝ＲＯ２＋（Ａ／２π）Ｌ ・・・・・・（
至）となる。
よつて、０２），（自）式を、Ｔｓ２＝ｋ１−Ｋ２・Δ
Ｌ ・・・・・・σηＴｔ２＝ｋ１＋Ｋ，・
ΔＬ ・・・・・・（自）とおくと、Ｋ，は
ハブ径、テープ長、テープ速度及びテープ厚さにより定
まる定数、Ｋ，はテープ速度及びテープ厚さにより定ま
る定数となる。
Ｌ ・・・・・・σηＴｔ２＝ｋ１＋Ｋ，・
ΔＬ ・・・・・・（自）とおくと、Ｋ，は
ハブ径、テープ長、テープ速度及びテープ厚さにより定
まる定数、Ｋ，はテープ速度及びテープ厚さにより定ま
る定数となる。
上記Ａ７），Ａｖ：，を変形すると次式となる。△Ｌ＝
｛ １−（Ｔｓ／Ｔｔ）２ト ・Ｊ（／｛１＋（Ｔｓ／
Ｔｔ）２｝ ・・・・・・（１９ここに、ｋはテ
ープ厚さ、テープ長及びハブ径により定まる定数である
。従つて、ｌ式より明らかな如く、ΔＬはテープ速度に
は無関係となり、ふつてＦＦ／ＲＷ時にもＰＬＡＹ時に
も適用可能である。従つて、上記ｌ式の△Ｌにより、テ
ープ位置を下記（１）式を用いて算出することができる
。
｛ １−（Ｔｓ／Ｔｔ）２ト ・Ｊ（／｛１＋（Ｔｓ／
Ｔｔ）２｝ ・・・・・・（１９ここに、ｋはテ
ープ厚さ、テープ長及びハブ径により定まる定数である
。従つて、ｌ式より明らかな如く、ΔＬはテープ速度に
は無関係となり、ふつてＦＦ／ＲＷ時にもＰＬＡＹ時に
も適用可能である。従つて、上記ｌ式の△Ｌにより、テ
ープ位置を下記（１）式を用いて算出することができる
。
テープ現在位置＝（１／２）Ｌ＋ΔＬよつて、再び第３
図を参照するに、メモリ回路１２からテープ長Ｌ，テー
プ長さ及びハブ径に応じて定まる定数Ｋを出力して演算
回路１１に入力し、先のラツチ回路８ａ，８ｂの出力Ｔ
ｔ，Ｔｓをそれぞれ用いて上式（３）及び（４）式に基
づいて演算を実行し、テープ現在位置を算出することが
可能となる。
図を参照するに、メモリ回路１２からテープ長Ｌ，テー
プ長さ及びハブ径に応じて定まる定数Ｋを出力して演算
回路１１に入力し、先のラツチ回路８ａ，８ｂの出力Ｔ
ｔ，Ｔｓをそれぞれ用いて上式（３）及び（４）式に基
づいて演算を実行し、テープ現在位置を算出することが
可能となる。
このようにして得られた算出値をデコーダ１３により表
示駆動信号に変換してテープ位置表示器１４を駆動表示
するものである。上記実施例においては、各リールの１
回転に要する時間の測定手段及び各リールが任意の時刻
から１回転したことを検出する検出手段等をハードウエ
ア構成として実現する場合を示したが、マイクロコンピ
ユータ等の演算手段を用いていわゆるソフトウエアによ
り当該コンピユータを制御して上記測定手段の一部及び
検出手段を構成することができる。
示駆動信号に変換してテープ位置表示器１４を駆動表示
するものである。上記実施例においては、各リールの１
回転に要する時間の測定手段及び各リールが任意の時刻
から１回転したことを検出する検出手段等をハードウエ
ア構成として実現する場合を示したが、マイクロコンピ
ユータ等の演算手段を用いていわゆるソフトウエアによ
り当該コンピユータを制御して上記測定手段の一部及び
検出手段を構成することができる。
この場合の例を第４図及び第５図に示す。第４図におい
て第１図及び第３図と同等部分は同一符号により示す。
すなわち分周回路７の出力パルスをクロツク入力とする
カウンタ５ａ，５ｂのクリア，カウントアツプ及びホー
ルド動作の制御をマイクロコンピユータ２０により行う
もので、当該マイクロコンピ丑一タ２０には、テークア
ツプ及びサプライリールのフオトカプラ１ａ，１ｂの各
出力Ａ，ｂをそれぞれ入力するＩ／０ポート２１、各カ
ウンタ５ａ，５ｂの出力Ｔｔ，Ｔｓをそれぞれ入力する
Ｉ／Ｏポート２２，２３及びＣＰＵ２５からの制御出力
信号をカウンタ５ａ，５ｂや表示器１４へ供給するＩ／
０ポート２４が設けられている。更にＣＰＵ２５内には
カウンタ５ａ，５ｂの出力や、信号Ａ，ｂ等を一時記憶
するＲＡＭ（ランダムアクセスメモリ）２６と、コンピ
ユータを制御するプログラムや定数Ｋ等が格納されたＲ
ＯＭＯ−ドオンリメモリ）２７とが含まれている。ＲＯ
Ｍ２７に格納されたプログラムが第５図にステツプ順の
フローチヤートにて示されている。当該プログラムに基
づき、第２図に示したフオトカプラ１ａ，１ｂの各出力
信号Ａ，ｂの状態に応じて第１図〜第３図に示した実施
例と全く同一の動作がなされることは容易に理解できる
ものである。以上詳述した如く本発明によればテープの
現在位置が正確に検出できるので従来のテープカウンタ
に比し大幅な精度の向上が期待できる。
て第１図及び第３図と同等部分は同一符号により示す。
すなわち分周回路７の出力パルスをクロツク入力とする
カウンタ５ａ，５ｂのクリア，カウントアツプ及びホー
ルド動作の制御をマイクロコンピユータ２０により行う
もので、当該マイクロコンピ丑一タ２０には、テークア
ツプ及びサプライリールのフオトカプラ１ａ，１ｂの各
出力Ａ，ｂをそれぞれ入力するＩ／０ポート２１、各カ
ウンタ５ａ，５ｂの出力Ｔｔ，Ｔｓをそれぞれ入力する
Ｉ／Ｏポート２２，２３及びＣＰＵ２５からの制御出力
信号をカウンタ５ａ，５ｂや表示器１４へ供給するＩ／
０ポート２４が設けられている。更にＣＰＵ２５内には
カウンタ５ａ，５ｂの出力や、信号Ａ，ｂ等を一時記憶
するＲＡＭ（ランダムアクセスメモリ）２６と、コンピ
ユータを制御するプログラムや定数Ｋ等が格納されたＲ
ＯＭＯ−ドオンリメモリ）２７とが含まれている。ＲＯ
Ｍ２７に格納されたプログラムが第５図にステツプ順の
フローチヤートにて示されている。当該プログラムに基
づき、第２図に示したフオトカプラ１ａ，１ｂの各出力
信号Ａ，ｂの状態に応じて第１図〜第３図に示した実施
例と全く同一の動作がなされることは容易に理解できる
ものである。以上詳述した如く本発明によればテープの
現在位置が正確に検出できるので従来のテープカウンタ
に比し大幅な精度の向上が期待できる。
尚、上述の実施例においては、リールの周期の測定のた
めに光学的方式を用いたが、静電的若しくは電磁気的方
式を用いてもよいことは勿論である。
めに光学的方式を用いたが、静電的若しくは電磁気的方
式を用いてもよいことは勿論である。
第１図及び第３図は本発明の一実施例を示すブ咄ンク図
、第２図は第１図の各部動作波形を示す図、第４図は本
発明の他の実施例を示すプロツク図、第５図は第４図の
プロツクの動作を示すフローチヤート図である。
、第２図は第１図の各部動作波形を示す図、第４図は本
発明の他の実施例を示すプロツク図、第５図は第４図の
プロツクの動作を示すフローチヤート図である。
Claims (1)
- １ テークアップリール及びサプライリールの各各の１
回転に要する時間Ｔｔ及びＴｓをそれぞれ測定する測定
手段と、任意の時刻から前記両リールが共に１回転した
ことを検出する検出手段と、前記検出手段の検出出力に
応答して前記測定手段の測定値Ｔｔ及びＴｓ、定数Ｋ（
テープ厚及びテープ長Ｌにより定まる）を用いて、ΔＬ
＝｛１−（Ｔｓ／Ｔｔ）＾２｝・Ｋ／｛１＋（Ｔｓ／Ｔ
ｔ）＾２｝なる式に基づきΔＬを算出し、かつ前記算出
値ΔＬと前記テープ長Ｌとを用いて、（１／２Ｌ＋ΔＬ
）なる値を算出する演算手段とを含むことを特徴とする
テープ位置検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6743578A JPS5921108B2 (ja) | 1978-06-05 | 1978-06-05 | テ−プ位置検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6743578A JPS5921108B2 (ja) | 1978-06-05 | 1978-06-05 | テ−プ位置検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS54158911A JPS54158911A (en) | 1979-12-15 |
| JPS5921108B2 true JPS5921108B2 (ja) | 1984-05-17 |
Family
ID=13344830
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6743578A Expired JPS5921108B2 (ja) | 1978-06-05 | 1978-06-05 | テ−プ位置検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5921108B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58143480A (ja) * | 1982-02-20 | 1983-08-26 | Akai Electric Co Ltd | テ−プ走行量表示装置 |
-
1978
- 1978-06-05 JP JP6743578A patent/JPS5921108B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS54158911A (en) | 1979-12-15 |
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