JPS59210320A - 磁気抵抗素子 - Google Patents
磁気抵抗素子Info
- Publication number
- JPS59210320A JPS59210320A JP8461483A JP8461483A JPS59210320A JP S59210320 A JPS59210320 A JP S59210320A JP 8461483 A JP8461483 A JP 8461483A JP 8461483 A JP8461483 A JP 8461483A JP S59210320 A JPS59210320 A JP S59210320A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- elements
- magnetic
- magnetic field
- signal
- phase
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
く技術分野〉
本発明は、回転・位置検出機器等で使用される磁気抵抗
素子に関するものである。
素子に関するものである。
〈従来技術〉
磁気式ロータリーエンコーダ等による回転・位置検出に
おいて、小型、高密度化が行なわれており、磁気媒体の
記録周期(5−N−5又はN−3−N距離:λ)は小さ
くなっている。
おいて、小型、高密度化が行なわれており、磁気媒体の
記録周期(5−N−5又はN−3−N距離:λ)は小さ
くなっている。
磁気記録が高密度化された場合、エレメント幅が大きい
と、0磁界及びピーク磁界での磁界検出か、点検出では
なく面検出となるため、エレメント幅が無視できないよ
うになり、その結果、分解能が低下し、エレメントの抵
抗変化が小さくなるために、得られる信号振幅が小さく
なる。
と、0磁界及びピーク磁界での磁界検出か、点検出では
なく面検出となるため、エレメント幅が無視できないよ
うになり、その結果、分解能が低下し、エレメントの抵
抗変化が小さくなるために、得られる信号振幅が小さく
なる。
」二記影響を小さくするために、エレメント幅を極力小
さくする必要があるが、エレメント幅を小さくした場合
、流すことのできる電流値I5が問題になる。すなわち
、エレメントに流す電流密度■ 、、−3(w エレメント幅、t゛ニレメンt l・厚み)は、エレメントの発熱及び溶断の関係から制
限される。
さくする必要があるが、エレメント幅を小さくした場合
、流すことのできる電流値I5が問題になる。すなわち
、エレメントに流す電流密度■ 、、−3(w エレメント幅、t゛ニレメンt l・厚み)は、エレメントの発熱及び溶断の関係から制
限される。
また、高感度化という点からみると、素子特性において
、IJ上へのエレメント幅W及びニレメント厚みLの影
響は下記式より決まる。xq、 −、−H5(H8:飽
和磁界)で、飽和磁界は Hs# I−Tk千4XMB − (Hk 膜の異方性磁界1M5.飽和磁化)で表わされ
る。電流密度を大きくするために、[を犬きくすると、
飽和磁界H5か大きくなり感度が下がるため、しは最適
価500〜+oooX程度に決まる。
、IJ上へのエレメント幅W及びニレメント厚みLの影
響は下記式より決まる。xq、 −、−H5(H8:飽
和磁界)で、飽和磁界は Hs# I−Tk千4XMB − (Hk 膜の異方性磁界1M5.飽和磁化)で表わされ
る。電流密度を大きくするために、[を犬きくすると、
飽和磁界H5か大きくなり感度が下がるため、しは最適
価500〜+oooX程度に決まる。
以上より、印加電圧を大きくして信号振幅を大きくする
ためには、エレメント長を長くする必要かある。従来は
、エレメント幅を大きくするが、または同一位置で2折
、3折と短冊状にしている素子例がある。いずれにぜよ
これらは、実質的にエレメント幅が大きくなり、上記理
由により高密度化が困難であった。
ためには、エレメント長を長くする必要かある。従来は
、エレメント幅を大きくするが、または同一位置で2折
、3折と短冊状にしている素子例がある。いずれにぜよ
これらは、実質的にエレメント幅が大きくなり、上記理
由により高密度化が困難であった。
ちなみに従来の代表的な例は第1図、第2図に示すとお
りで、Tλの間隔をあけて配置したA相検出のためのニ
レメン) A、] 、A2 ト、A相ノ“エレメントと
は宮λの位相差を有し同じく7λの間隔をあけて配置し
たB相検出のためのエレメントB1.B2とから磁気抵
抗素子を構成し、ブリッジ回路のA1.A2接続点から
A相信号、B1’B2接続点からB相信号を取り出して
いる。第3図は抵抗値を大きくするために、第1図の同
一位置で2折にした例で、接続関係は、第2図のブリッ
ジ回路と全く同様となる。
りで、Tλの間隔をあけて配置したA相検出のためのニ
レメン) A、] 、A2 ト、A相ノ“エレメントと
は宮λの位相差を有し同じく7λの間隔をあけて配置し
たB相検出のためのエレメントB1.B2とから磁気抵
抗素子を構成し、ブリッジ回路のA1.A2接続点から
A相信号、B1’B2接続点からB相信号を取り出して
いる。第3図は抵抗値を大きくするために、第1図の同
一位置で2折にした例で、接続関係は、第2図のブリッ
ジ回路と全く同様となる。
〈発明の目的〉
本発明は、ブリッジ回路を形成する1辺のエレメントに
相当して、これを−λの関係をもってずらして配置した
複数本のエレメント組から構成することによって、漏洩
磁界を検出する各エレメントの幅を小さくすることがで
き、かつエレメント長さを幅を変えずに2倍、3倍とす
ることができるため、有効に高密度記録の検出が行なえ
る磁気抵抗素子を提供するものである。
相当して、これを−λの関係をもってずらして配置した
複数本のエレメント組から構成することによって、漏洩
磁界を検出する各エレメントの幅を小さくすることがで
き、かつエレメント長さを幅を変えずに2倍、3倍とす
ることができるため、有効に高密度記録の検出が行なえ
る磁気抵抗素子を提供するものである。
〈実施例〉
第4図は磁気抵抗素子を回転制御に用いた場合の構成図
で、磁気ドラム1が回転することにより、磁気媒体2に
記録されている、5−N−5−・曲の磁気パターンが磁
気抵抗素子3の位置に交互に接近し、その漏洩磁界によ
り、各エレメントの抵抗が変化することにより、電気信
号に変換される。
で、磁気ドラム1が回転することにより、磁気媒体2に
記録されている、5−N−5−・曲の磁気パターンが磁
気抵抗素子3の位置に交互に接近し、その漏洩磁界によ
り、各エレメントの抵抗が変化することにより、電気信
号に変換される。
ここで磁気抵抗素子3は、第5図に示されるように、1
相信号を作るのに各8本のエレメント(Al〜八8へB
1〜B8)を有している。ニレメン)A4・A3.A2
・A1.A346.A748はそれぞ1 れ)−λの間隔をもち、またこれらの各列は7λの間隔
をもって配置される。ニレメン)B4・B3゜B2・B
1 、 B 5・B6.B7・B8 も全く同様であ
るが、エレメントA1〜A8とは相対的にてλの位置関
係のずれをもって配置される。
相信号を作るのに各8本のエレメント(Al〜八8へB
1〜B8)を有している。ニレメン)A4・A3.A2
・A1.A346.A748はそれぞ1 れ)−λの間隔をもち、またこれらの各列は7λの間隔
をもって配置される。ニレメン)B4・B3゜B2・B
1 、 B 5・B6.B7・B8 も全く同様であ
るが、エレメントA1〜A8とは相対的にてλの位置関
係のずれをもって配置される。
磁気抵抗変化モードは、
一λの位置関係 同位相
一λの位置関係 逆位相(反転位相)一λの位置関
係 90度位相 である。
係 90度位相 である。
磁気抵抗素子3のパターン図を第6図に、配線図を第7
図に示す。
図に示す。
第8図はA相信号検出回路、第9図はB″相信号検出回
路である。ブリッジ回路の1辺はA1・A2(Bl・B
2)、A3 A4(B3 B4)、A5・A6(B5・
B6)、A7・As(B7−Bs)のように、土λの位
置関係にあり同位相である。信号を取り出すための接続
点に関して対象な辺、図示でいえば、AIA2(BI
B2)とA3・A4 (B3・B4)、A5・A 6(
B 5・Bc、)とA7 A8(B7・Bs)は、それ
ぞれ−λの位置関係にあり逆位相(反転位相)となるよ
うに接続される。
路である。ブリッジ回路の1辺はA1・A2(Bl・B
2)、A3 A4(B3 B4)、A5・A6(B5・
B6)、A7・As(B7−Bs)のように、土λの位
置関係にあり同位相である。信号を取り出すための接続
点に関して対象な辺、図示でいえば、AIA2(BI
B2)とA3・A4 (B3・B4)、A5・A 6(
B 5・Bc、)とA7 A8(B7・Bs)は、それ
ぞれ−λの位置関係にあり逆位相(反転位相)となるよ
うに接続される。
このようにブリッジ回路を形成する1辺のエレメントに
相当して、これを±λずつずらして配置した複数本(2
本に限らず、3本、4本と複数本でも可能)のエレメン
ト組から構成することによって、漏洩磁界を検出する各
エレメントの幅を小さくすることができ、かつエレメン
ト長さを実質的に幅を変えずに2倍、3倍とすることか
できるため、有効に高密度記録の検出を行なうことかで
きる。
相当して、これを±λずつずらして配置した複数本(2
本に限らず、3本、4本と複数本でも可能)のエレメン
ト組から構成することによって、漏洩磁界を検出する各
エレメントの幅を小さくすることができ、かつエレメン
ト長さを実質的に幅を変えずに2倍、3倍とすることか
できるため、有効に高密度記録の検出を行なうことかで
きる。
また、lλずれていることにより、漏洩磁界のSの山と
Nの山の位置で同位相となるため、素子特有の特性であ
るヒステリシスがある場合も、その影響を打ち消し合う
ことかできる。素子にヒステリシスがあるときは、磁気
ドラムによる磁気抵抗素子に及ぼす磁界の向きがS極の
場合と、N極が来た場合とで、波形が非対称にひずむ。
Nの山の位置で同位相となるため、素子特有の特性であ
るヒステリシスがある場合も、その影響を打ち消し合う
ことかできる。素子にヒステリシスがあるときは、磁気
ドラムによる磁気抵抗素子に及ぼす磁界の向きがS極の
場合と、N極が来た場合とで、波形が非対称にひずむ。
上述ではこれも除去できる。
第8図、第9図では、1相当り1つのブリッジ11.i
l路で検出するようにしたが、例えば、A1−A4とB
1〜B4て1つのブリッジ回路を形成し、AlA2とA
3・A4の接続点+B1’B2とB3・B4の接続点か
ら、それぞれA相信号及びB相信号を取り出すことか可
能である。この場合、他のエレメントA5〜A8,85
〜B8はあえて不要で、1相信号を作るのに4本のエレ
メントとしてもよい。
l路で検出するようにしたが、例えば、A1−A4とB
1〜B4て1つのブリッジ回路を形成し、AlA2とA
3・A4の接続点+B1’B2とB3・B4の接続点か
ら、それぞれA相信号及びB相信号を取り出すことか可
能である。この場合、他のエレメントA5〜A8,85
〜B8はあえて不要で、1相信号を作るのに4本のエレ
メントとしてもよい。
ただし、1相当り8本のエレメントとし第8図。
4.第9図のような各検出回路で、A相信号及びB相信
号を取り出すようにすると、次のような利点がある。
号を取り出すようにすると、次のような利点がある。
従来例では第1図、第3図に見られるように漏洩磁界の
S、Hの1つの山(Iλの記録周期)、あるいは図示し
ていないが5−N−3の1周期λ内で検出しているにす
ぎない。従って、従来例では磁気媒体2(第1図参照)
の記録において、表面状態等の関係より数ケ所に記録状
態の悪い個所(記録欠陥)が生じた場合、その状態によ
る影響がそのまま出力信号にでるという欠点がある。本
実施例では8本のエレメントによって、2周期以−ヒ、
ここでは3周期の漏洩磁界を利用して平均化されるので
、記録状態の欠陥による影響も平均化され、出力信号へ
の影響を小さくすることができる。なお、第8図、第9
図において、Aは差動アンプ、Cはコンパレータである
。
S、Hの1つの山(Iλの記録周期)、あるいは図示し
ていないが5−N−3の1周期λ内で検出しているにす
ぎない。従って、従来例では磁気媒体2(第1図参照)
の記録において、表面状態等の関係より数ケ所に記録状
態の悪い個所(記録欠陥)が生じた場合、その状態によ
る影響がそのまま出力信号にでるという欠点がある。本
実施例では8本のエレメントによって、2周期以−ヒ、
ここでは3周期の漏洩磁界を利用して平均化されるので
、記録状態の欠陥による影響も平均化され、出力信号へ
の影響を小さくすることができる。なお、第8図、第9
図において、Aは差動アンプ、Cはコンパレータである
。
第10図は1相信号を作るエレメント数を16本とした
もので、第11図のようにブリッジ回路を形成する1辺
はTλの位置関係にある4本のエレメント組となる。ま
た、この例では7周期の漏洩磁界を利用して出力信号が
平均化されることになる。
もので、第11図のようにブリッジ回路を形成する1辺
はTλの位置関係にある4本のエレメント組となる。ま
た、この例では7周期の漏洩磁界を利用して出力信号が
平均化されることになる。
ところで、前述した±λの位置関係は一般的にT)′°
m 同様に±λの位置関係は ±λ十±λ、n 2 同様にIλの位置関係は 1 、.1−4−、Jop たたし、m+ n+ pは任意の自然数と書けるもので
あって、エレメントはこれら一般式を満足するように配
置すれば同様の作用効果を期待できる。しかし、例えば
第7図、第1011の実施例に示されるように配置すれ
ば、入出力端子数を極力少なくした構成になり、磁気抵
抗素子のチップの横方向の大きさは入出力端子数できま
ることから、横方向の大きさを小さくして、がっブリッ
ジ回路1辺の複数本のエレメント組合せより、1本のエ
レメントの長さを小さくすることも可能で、全体として
チップ面積を小さくし、コストダウンを行なえる利点か
ある。
m 同様に±λの位置関係は ±λ十±λ、n 2 同様にIλの位置関係は 1 、.1−4−、Jop たたし、m+ n+ pは任意の自然数と書けるもので
あって、エレメントはこれら一般式を満足するように配
置すれば同様の作用効果を期待できる。しかし、例えば
第7図、第1011の実施例に示されるように配置すれ
ば、入出力端子数を極力少なくした構成になり、磁気抵
抗素子のチップの横方向の大きさは入出力端子数できま
ることから、横方向の大きさを小さくして、がっブリッ
ジ回路1辺の複数本のエレメント組合せより、1本のエ
レメントの長さを小さくすることも可能で、全体として
チップ面積を小さくし、コストダウンを行なえる利点か
ある。
〈発明の効果〉
以上のように本発明は、信号を取り出すためのブリッジ
回路を形成する1辺を、−λの関係をもってずらして配
置した複数本のエレメント組がら構成するようしたもの
であり、漏洩磁界を検出する各エレメント幅を小さくす
るとともに、エレメントの長さを実質的に各エレメント
の数倍にすることができ、高密度記録を精度よくかつ高
出力で検出する有用な磁気抵抗素子を提供できる。
回路を形成する1辺を、−λの関係をもってずらして配
置した複数本のエレメント組がら構成するようしたもの
であり、漏洩磁界を検出する各エレメント幅を小さくす
るとともに、エレメントの長さを実質的に各エレメント
の数倍にすることができ、高密度記録を精度よくかつ高
出力で検出する有用な磁気抵抗素子を提供できる。
第1図は従来のエレメントと磁気記録周期との関係を示
す図、第2図は信号取り出しのためのブリッジ回路図、
第3図は従来の他のエレメント、=磁気記録周期との関
係を示す図、第4図は一般的な回転制御用回路例を示す
構成図、第5図は本発明の一実施例におけるエレメント
を磁気記録周期との関係を示す図、第6図は磁気抵抗素
子としてのパターン図、第7図はエレメント配線図、第
8図は7B、目信号検出回路図、第9図はB相信号検出
回路図、第10図は本発明の他の実施例におけるA相側
エレメントと磁気記録周期との関係を示す図、第11図
は第1O図におけるブリッジ回路形成例を示す図である
。 1 磁気ドラム、2・・記録媒体、3・・磁気抵抗素子
、A1〜A8 B1〜B8・・・エレメント。 代理人 弁理士 福 士 愛 彦(他2名)abcde
f QbCdej 第3z 第4 図 第5 図 第6図 第8図 bCd 第1I図
す図、第2図は信号取り出しのためのブリッジ回路図、
第3図は従来の他のエレメント、=磁気記録周期との関
係を示す図、第4図は一般的な回転制御用回路例を示す
構成図、第5図は本発明の一実施例におけるエレメント
を磁気記録周期との関係を示す図、第6図は磁気抵抗素
子としてのパターン図、第7図はエレメント配線図、第
8図は7B、目信号検出回路図、第9図はB相信号検出
回路図、第10図は本発明の他の実施例におけるA相側
エレメントと磁気記録周期との関係を示す図、第11図
は第1O図におけるブリッジ回路形成例を示す図である
。 1 磁気ドラム、2・・記録媒体、3・・磁気抵抗素子
、A1〜A8 B1〜B8・・・エレメント。 代理人 弁理士 福 士 愛 彦(他2名)abcde
f QbCdej 第3z 第4 図 第5 図 第6図 第8図 bCd 第1I図
Claims (1)
- 1、漏洩磁界の検出に応答して信号を取り出すためのブ
リッジ回路を形成する1辺に相当して、該各1辺を、漏
洩磁界の5−N−5(又はN−3−N)の磁気記録周期
λに対して、±λ・m(+n:任意の自然数)ずつずら
して配置した複数本のエレメント組から構成してなるこ
とを特徴とする磁気抵抗素子。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8461483A JPS59210320A (ja) | 1983-05-13 | 1983-05-13 | 磁気抵抗素子 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8461483A JPS59210320A (ja) | 1983-05-13 | 1983-05-13 | 磁気抵抗素子 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59210320A true JPS59210320A (ja) | 1984-11-29 |
Family
ID=13835568
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8461483A Pending JPS59210320A (ja) | 1983-05-13 | 1983-05-13 | 磁気抵抗素子 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS59210320A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62239020A (ja) * | 1986-04-11 | 1987-10-19 | Unitika Ltd | 回転センサ− |
JPH01297506A (ja) * | 1988-05-26 | 1989-11-30 | Hitachi Ltd | 磁気検出装置 |
-
1983
- 1983-05-13 JP JP8461483A patent/JPS59210320A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62239020A (ja) * | 1986-04-11 | 1987-10-19 | Unitika Ltd | 回転センサ− |
JPH01297506A (ja) * | 1988-05-26 | 1989-11-30 | Hitachi Ltd | 磁気検出装置 |
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