JPS5920082B2 - 円筒状工作物の自動検査選別装置 - Google Patents
円筒状工作物の自動検査選別装置Info
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- JPS5920082B2 JPS5920082B2 JP15389077A JP15389077A JPS5920082B2 JP S5920082 B2 JPS5920082 B2 JP S5920082B2 JP 15389077 A JP15389077 A JP 15389077A JP 15389077 A JP15389077 A JP 15389077A JP S5920082 B2 JPS5920082 B2 JP S5920082B2
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- Japan
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- defective
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Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、円筒状工作物、例えば自動者のディスクブ
レーキ用油圧ピストンの軸方向寸法、Ｒコーナーの凸疵
、円筒表面の欠陥、材料割れ等を自動的に検査し選別す
る装置に関する。
レーキ用油圧ピストンの軸方向寸法、Ｒコーナーの凸疵
、円筒表面の欠陥、材料割れ等を自動的に検査し選別す
る装置に関する。
例えば前記油圧ピストンにおいて、その製造工程に発生
する表面の打痕疵、材料割れとか、加工不良に起因する
研摩時の黒皮残り、砥粒疵、シュー疵等は、ディスクブ
レーキ作動時の油洩れ、油圧低下の原因となり、打痕の
著しい場合には、組立時にシール等の損傷の原因となつ
たり、シリンダーに干渉してひつかかりを生ずる等の不
都合があつて、自動車の最重要保安部品としてのブレー
キの機能を失うという重大な結果につながる。
する表面の打痕疵、材料割れとか、加工不良に起因する
研摩時の黒皮残り、砥粒疵、シュー疵等は、ディスクブ
レーキ作動時の油洩れ、油圧低下の原因となり、打痕の
著しい場合には、組立時にシール等の損傷の原因となつ
たり、シリンダーに干渉してひつかかりを生ずる等の不
都合があつて、自動車の最重要保安部品としてのブレー
キの機能を失うという重大な結果につながる。
このために前記ビストンは、その全数が厳重に検査され
るわけであるが、その検査は検査係員の目視検査に依存
している現状であつて、製品群内の相対判定、あるいは
個人差による判定基準の不明確、相違等の不都合が絶え
ず発生し、またその判定に高度の熟練を要し、さらに高
輝度照明の下での目視判定は、倹査係員の目を酷使して
労動条＼件を著しく悪化させ、品質保証、労働環境、生
産能率等の各面からその改善が要望されている。
るわけであるが、その検査は検査係員の目視検査に依存
している現状であつて、製品群内の相対判定、あるいは
個人差による判定基準の不明確、相違等の不都合が絶え
ず発生し、またその判定に高度の熟練を要し、さらに高
輝度照明の下での目視判定は、倹査係員の目を酷使して
労動条＼件を著しく悪化させ、品質保証、労働環境、生
産能率等の各面からその改善が要望されている。
この発明は、以上のような円筒状工作物の、殊に従来は
その検査．程が個別に行われていた軸方向寸法検査、Ｒ
コーナーの凸疵倹査、円筒表面の欠陥検査等の異質の検
査を全自動的に一貫して実施し、その検査結果に従つて
良品と不良品とを自動的に選別する装置を提供すること
を目的とし、検査工程における省力化を達成すると同時
に、判定基準のバラツキ、品質のバラツキ等の諸問題を
完全に解消するものである。第１図はこの発明の各部の
配置例を平面的（一部立面図）に示す図であつて、第２
図にそのフローチヤートを示してある。
その検査．程が個別に行われていた軸方向寸法検査、Ｒ
コーナーの凸疵倹査、円筒表面の欠陥検査等の異質の検
査を全自動的に一貫して実施し、その検査結果に従つて
良品と不良品とを自動的に選別する装置を提供すること
を目的とし、検査工程における省力化を達成すると同時
に、判定基準のバラツキ、品質のバラツキ等の諸問題を
完全に解消するものである。第１図はこの発明の各部の
配置例を平面的（一部立面図）に示す図であつて、第２
図にそのフローチヤートを示してある。
図において、１は第１測定ボジシヨン、２は第２測定ボ
ジシヨンであつて、これらのボジシヨン１，２の前後に
、例えばシユート等の搬送装置３，４，５，６，７を配
置し、前工程Ａでの加工を完了した円筒状工作物ｗを各
ボジシヨン１，２のそれぞれに一旦受け止めて測定し、
後工程Ｂに搬送する。第１、第２測定ボジシヨン１，２
の間、すなわち搬送装置４，５の間には、第１測定ボジ
シヨン１における寸法測定結果とＲコーナー（円筒面と
端面とがなすアールを付したコーナー）測定結果の電気
信号によつてそれぞれ単独に作動し得るように構成して
、寸法不良品、あるいはＲコーナー不良品があつたとき
、その搬送路に臨出して寸法不良品ストツクパレツト８
、あるいはＲコーナー不良品ストツクパレツト９に当該
不良品を排出する例えばバタフライダンパ一伏の選別手
段１０，１１を設ける。第２測定ボジシヨン２は、円筒
表面の疵を光学的に走査し、それを電気信号に変換する
光電変換式表面疵検出部３１であり、該ボジシヨン２か
ら後工程Ｂまでの間、すなわち搬送装置６と７の間に、
前記表面疵検出信号、殊に表面疵不良品検出信号により
工作物の搬送路に臨出して、当該不良品を円筒表面疵不
良品ストツクパレツト１２に排出する選別手段１３を設
けてある。第１測定ボジシヨン１は、第３図、第４図に
示す如く、円筒状工作物Ｗを搬送装置から一旦受け止め
てその軸方向寸法と、その円筒面と端面（ピストンのと
きは受圧端面）とがなすＲコーナーＷＲの打痕、殊に凸
出する打痕等を検出するものであつて、フレーム２０に
回転可能に支持して、工作物ｗの前記端面を支承する計
測台２１と、該計測台２１を回転させるモータ２２、ブ
一り２３，２４、ベルト２５等の駆動機構と、フレーム
２０に上下に移動可能に支持されて工作物ｗの他端面に
向つて軸方向に進退し、その下動で計測台２１との間に
工作物を挟装支持計測部材２６と、該支持計測部材２６
の計測位置、すなわち工作物を挟装した位置を検出し、
これを工作物の寸法測定信号として出力する電気接点付
ダイヤルゲージ２７等の電気的計測機構と、前記計測台
２１と共に工作物Ｗが回転させられたとき、シリンダ２
８により工作物Ｗｆ）ＲコーナーＷＲに向つて回転接触
子２９を進出させられ、該接触子２９を図中仮想線に示
す如く転接させて、その振動を加速度信号として検出し
電気信号とする加速度型振動検出器３０とからなつてい
る。
ジシヨンであつて、これらのボジシヨン１，２の前後に
、例えばシユート等の搬送装置３，４，５，６，７を配
置し、前工程Ａでの加工を完了した円筒状工作物ｗを各
ボジシヨン１，２のそれぞれに一旦受け止めて測定し、
後工程Ｂに搬送する。第１、第２測定ボジシヨン１，２
の間、すなわち搬送装置４，５の間には、第１測定ボジ
シヨン１における寸法測定結果とＲコーナー（円筒面と
端面とがなすアールを付したコーナー）測定結果の電気
信号によつてそれぞれ単独に作動し得るように構成して
、寸法不良品、あるいはＲコーナー不良品があつたとき
、その搬送路に臨出して寸法不良品ストツクパレツト８
、あるいはＲコーナー不良品ストツクパレツト９に当該
不良品を排出する例えばバタフライダンパ一伏の選別手
段１０，１１を設ける。第２測定ボジシヨン２は、円筒
表面の疵を光学的に走査し、それを電気信号に変換する
光電変換式表面疵検出部３１であり、該ボジシヨン２か
ら後工程Ｂまでの間、すなわち搬送装置６と７の間に、
前記表面疵検出信号、殊に表面疵不良品検出信号により
工作物の搬送路に臨出して、当該不良品を円筒表面疵不
良品ストツクパレツト１２に排出する選別手段１３を設
けてある。第１測定ボジシヨン１は、第３図、第４図に
示す如く、円筒状工作物Ｗを搬送装置から一旦受け止め
てその軸方向寸法と、その円筒面と端面（ピストンのと
きは受圧端面）とがなすＲコーナーＷＲの打痕、殊に凸
出する打痕等を検出するものであつて、フレーム２０に
回転可能に支持して、工作物ｗの前記端面を支承する計
測台２１と、該計測台２１を回転させるモータ２２、ブ
一り２３，２４、ベルト２５等の駆動機構と、フレーム
２０に上下に移動可能に支持されて工作物ｗの他端面に
向つて軸方向に進退し、その下動で計測台２１との間に
工作物を挟装支持計測部材２６と、該支持計測部材２６
の計測位置、すなわち工作物を挟装した位置を検出し、
これを工作物の寸法測定信号として出力する電気接点付
ダイヤルゲージ２７等の電気的計測機構と、前記計測台
２１と共に工作物Ｗが回転させられたとき、シリンダ２
８により工作物Ｗｆ）ＲコーナーＷＲに向つて回転接触
子２９を進出させられ、該接触子２９を図中仮想線に示
す如く転接させて、その振動を加速度信号として検出し
電気信号とする加速度型振動検出器３０とからなつてい
る。
第２測定ボジシヨン２は、第５図、第６図に示す如く、
搬送装置から一旦受け止めた工作物ｗを載せて回転させ
る回転機構３２と前記光電変換式表面疵検出部３１であ
り、該検出部３１は、光源３３の光を、コンデンサレン
ズ３４等で平行光束とし、該光束で照明された工作物表
面の反射光を、ハーフミラー３５、結像レンズ３６によ
り光電変換器３７の受光面に結像させると共に、該反射
光像を制限する固定スリツト３８と、該スリツト３８を
透過した光を走査する回転スリツト３９により走査し、
この光学信号を光電変換器３７で光電変換し、電気信号
として図示しない電子回路により不良品の判定を行う。
搬送装置から一旦受け止めた工作物ｗを載せて回転させ
る回転機構３２と前記光電変換式表面疵検出部３１であ
り、該検出部３１は、光源３３の光を、コンデンサレン
ズ３４等で平行光束とし、該光束で照明された工作物表
面の反射光を、ハーフミラー３５、結像レンズ３６によ
り光電変換器３７の受光面に結像させると共に、該反射
光像を制限する固定スリツト３８と、該スリツト３８を
透過した光を走査する回転スリツト３９により走査し、
この光学信号を光電変換器３７で光電変換し、電気信号
として図示しない電子回路により不良品の判定を行う。
なお図示の実施例では、光電変換器３７の受光面には正
反射像を受光させ、もう一方のミラー３５′、結像レン
ズ３６′、固定スリツト３８、回転スリツト３９、光電
変換器３７′により拡散反射像を走査せしめて、正反射
、拡散反射のいずれか一方、ないし双方の要因をもつ表
面疵（および材料割れ）等のどのような欠陥をも検出し
得るような例を示してある（詳細は実願昭５２−１１８
４０５号参照）。第５図においてαは拡散反射性表面疵
に対する平行光束の入射角、α＋βは拡散反射角である
。また工作物ｗの長さが長くて、固定スリツト３８と回
転スリツト こ３９による光学的走査を一度に実施でき
ないときは、先ず第１段の走査を行つた後、工作物ｗを
軸方向に移動させる２段測定用巾移動装置４０（図示せ
ず）により工作物をその軸方向に移動させる機構を設け
、第１段の走査で不良品がなかつたと １きに第２段の
走査を行うように構成する。この発明は以上のような構
成であつて、前工程Ａでの加工を完了した工作物ｗは、
搬送装置３にて第１測定ボジシヨン１に送られ、受け止
められてその計測台２１上に載置される。
反射像を受光させ、もう一方のミラー３５′、結像レン
ズ３６′、固定スリツト３８、回転スリツト３９、光電
変換器３７′により拡散反射像を走査せしめて、正反射
、拡散反射のいずれか一方、ないし双方の要因をもつ表
面疵（および材料割れ）等のどのような欠陥をも検出し
得るような例を示してある（詳細は実願昭５２−１１８
４０５号参照）。第５図においてαは拡散反射性表面疵
に対する平行光束の入射角、α＋βは拡散反射角である
。また工作物ｗの長さが長くて、固定スリツト３８と回
転スリツト こ３９による光学的走査を一度に実施でき
ないときは、先ず第１段の走査を行つた後、工作物ｗを
軸方向に移動させる２段測定用巾移動装置４０（図示せ
ず）により工作物をその軸方向に移動させる機構を設け
、第１段の走査で不良品がなかつたと １きに第２段の
走査を行うように構成する。この発明は以上のような構
成であつて、前工程Ａでの加工を完了した工作物ｗは、
搬送装置３にて第１測定ボジシヨン１に送られ、受け止
められてその計測台２１上に載置される。
そこで挟装支持計測部材２６が下動し、計測台２１との
間に工作物ｗを挟装した時点で電気接点付ダイヤルゲー
ジ２７が、工作物ｗの軸方向寸法を測定し、その寸法の
上限および下限を設定しておいて、該設定値の間にある
ものを良品とし、その上限、または下限からはみ出すも
のを不良品としてその測定結果を電気信号Ｓ，に変換す
る。なおこの寸法測定において、前記計測台２１を回転
駆動機構により回転させ、前記挟装支持計測部材２６を
回転首振りヘツドとして電気接点付ダイヤルゲージ２７
に組合せ、前記寸法の平均値を計測できるようにし、測
定部，機構の精度の影響が測定値にでないようにすると
さらに好結果が得られる。前記寸法測定において、工作
物ｗが良品であると判定されると、前記回転駆動機構に
よる計測台２１の回転を続行させ、また加速度型振動検
出器３０の進退機構を作動させてその回転接触子２９を
進出せしめ、工作物Ｗｆ）ＲコーナーＷＲに転接させる
。
間に工作物ｗを挟装した時点で電気接点付ダイヤルゲー
ジ２７が、工作物ｗの軸方向寸法を測定し、その寸法の
上限および下限を設定しておいて、該設定値の間にある
ものを良品とし、その上限、または下限からはみ出すも
のを不良品としてその測定結果を電気信号Ｓ，に変換す
る。なおこの寸法測定において、前記計測台２１を回転
駆動機構により回転させ、前記挟装支持計測部材２６を
回転首振りヘツドとして電気接点付ダイヤルゲージ２７
に組合せ、前記寸法の平均値を計測できるようにし、測
定部，機構の精度の影響が測定値にでないようにすると
さらに好結果が得られる。前記寸法測定において、工作
物ｗが良品であると判定されると、前記回転駆動機構に
よる計測台２１の回転を続行させ、また加速度型振動検
出器３０の進退機構を作動させてその回転接触子２９を
進出せしめ、工作物Ｗｆ）ＲコーナーＷＲに転接させる
。
これにより該検出部３０がＲコーナーＷＲの部分の打痕
、殊にその凸疵を加速度振動として検出し、その振動値
を電気信号Ｓ２として、該振動値が基準値を越えた場合
を不良品、越えない場合を良品として判定する。寸法測
定において、工作物ｗを不良品と判定した場合には、前
記とは逆に回転駆動機構を停止させ、ＲコーナーＷＲの
打痕検査は行わず（加速度型振動検出器の進出機構を作
動させない。
、殊にその凸疵を加速度振動として検出し、その振動値
を電気信号Ｓ２として、該振動値が基準値を越えた場合
を不良品、越えない場合を良品として判定する。寸法測
定において、工作物ｗを不良品と判定した場合には、前
記とは逆に回転駆動機構を停止させ、ＲコーナーＷＲの
打痕検査は行わず（加速度型振動検出器の進出機構を作
動させない。
）計測台２１上の工作物（不良品）を直ちに搬送装置４
上に移動させる。フ また寸法測定が良品と判定され、つづいてＲコーナーの
検査が完了すると、その工作物は前記と同様に計測台２
１から搬送装置４に移される。
上に移動させる。フ また寸法測定が良品と判定され、つづいてＲコーナーの
検査が完了すると、その工作物は前記と同様に計測台２
１から搬送装置４に移される。
前記工作物が寸法測定において不良品と判定されたとき
は、その電気信号Ｓ１によつて選別手段１０が工作物の
搬送路上に臨出して、該工作物を寸法不良品ストツクパ
レツト８に向つて搬送路から排除し、打痕倹査において
不良品と判定されたと雫は、その電気信号Ｓ２によつて
選別手段１１が前記搬送路に臨出して、該工作物をＲコ
ーナー不良品ストツクパレツト９に排出する。寸法測定
、Ｒコーナーの打痕倹査の双方において良品と判定され
た工作物は、搬送装置４，５により第２測定ボジシヨン
２に移送され受け止められて、その回転機構３２上に載
置され、その外径円筒面を光源３３、コンデンサレンズ
３４等の光学系で照明され、その正反射像、拡散反射像
が固定スリツト３８、回転スリツト３９、光電変換器３
７により走査され光電変換されて図示しない電子回路に
より該円筒面の表面疵等の有無を判定し、良、不良品を
判定する。
は、その電気信号Ｓ１によつて選別手段１０が工作物の
搬送路上に臨出して、該工作物を寸法不良品ストツクパ
レツト８に向つて搬送路から排除し、打痕倹査において
不良品と判定されたと雫は、その電気信号Ｓ２によつて
選別手段１１が前記搬送路に臨出して、該工作物をＲコ
ーナー不良品ストツクパレツト９に排出する。寸法測定
、Ｒコーナーの打痕倹査の双方において良品と判定され
た工作物は、搬送装置４，５により第２測定ボジシヨン
２に移送され受け止められて、その回転機構３２上に載
置され、その外径円筒面を光源３３、コンデンサレンズ
３４等の光学系で照明され、その正反射像、拡散反射像
が固定スリツト３８、回転スリツト３９、光電変換器３
７により走査され光電変換されて図示しない電子回路に
より該円筒面の表面疵等の有無を判定し、良、不良品を
判定する。
固定スリツト３８に対して全長の長い工作物ｗについて
は、第１回目の測定の後、２段測定用巾移動装置４０に
より横送りを行い、２回目の測定を行う。すなわち全長
を２つに分割して２段の測定を行うが、第１回目の測定
で不良品と判定された工作物ｗについては第２回目の測
定を省略する。かくて円筒面の表面疵、割れ等の測定を
完了すると工作物ｗが搬送装置６に移され、前記表面疵
測定信号Ｓ３の指令により、不良品と判定されたときは
、選別手段１３により搬送路から該工作物を排除して円
筒表面疵不良品ストツクパレツト１２に排出し、良品と
判定されたときは搬送装置７にて後工程Ｂに給送する。
は、第１回目の測定の後、２段測定用巾移動装置４０に
より横送りを行い、２回目の測定を行う。すなわち全長
を２つに分割して２段の測定を行うが、第１回目の測定
で不良品と判定された工作物ｗについては第２回目の測
定を省略する。かくて円筒面の表面疵、割れ等の測定を
完了すると工作物ｗが搬送装置６に移され、前記表面疵
測定信号Ｓ３の指令により、不良品と判定されたときは
、選別手段１３により搬送路から該工作物を排除して円
筒表面疵不良品ストツクパレツト１２に排出し、良品と
判定されたときは搬送装置７にて後工程Ｂに給送する。
各不良品ストツクパレツト８，９，１２は、該装置の長
時間の無人運転を想定してその大きさを計算してあり、
また各工程の順序、工程数は、前記実施例に限定するも
のではなく、検査する工作物の内容に合わせ、最も適当
な組合せを選ぶ。
時間の無人運転を想定してその大きさを計算してあり、
また各工程の順序、工程数は、前記実施例に限定するも
のではなく、検査する工作物の内容に合わせ、最も適当
な組合せを選ぶ。
この発明は以上のように、例えばデイスクブレーキ用油
圧ピストン等の工作物の軸方向寸法と、そのＲコーナー
、円筒表面等の表面疵、打痕、割れ等の欠陥の従来個別
に行われていた異質の倹査を、その検査工程をいちいち
変更することなく一貫して全自動的に無人運転にて実施
することを可能とするものであつて、その検査精度が高
く、かつ検査結果における従来のようねバラツキを完全
に防止することができる。またＲコーナー部の打痕検査
には、接触子を回転体とした加速度型振動検出器を用い
るものであるから、ピストン等の性能に無関係な凹疵を
検出せず、有害な凸疵のみを加速度信号として検出する
。
圧ピストン等の工作物の軸方向寸法と、そのＲコーナー
、円筒表面等の表面疵、打痕、割れ等の欠陥の従来個別
に行われていた異質の倹査を、その検査工程をいちいち
変更することなく一貫して全自動的に無人運転にて実施
することを可能とするものであつて、その検査精度が高
く、かつ検査結果における従来のようねバラツキを完全
に防止することができる。またＲコーナー部の打痕検査
には、接触子を回転体とした加速度型振動検出器を用い
るものであるから、ピストン等の性能に無関係な凹疵を
検出せず、有害な凸疵のみを加速度信号として検出する
。
加速度信号は、鈍い突起の疵に対しては凸量に比較して
小さく、鋭い突起の疵に対しては凸量に比較して大きく
出る。このため、判定基準は凸量のみでなく突起の形状
をも含むので、目視検査では見逃すような小さい鋭い突
起疵をも確実に検出して良、不良の判定を可能とし、ま
た目視検査では倹査員の個人差によつて判定が異なり易
い大きい鈍い突起疵をも確実に一定判定基準のもとに真
に有害であるか否かを判定することができる。また工作
物の円筒表面疵の検査は、光学的に明疵と暗疵に区別し
て捉え、良品光沢面光量に対して一定割合以下の光量の
部分（暗疵）、一定割合以上の光量の部分（明疵）があ
れば、工作物個々の良品光沢面の光Ｉの変化（工作物の
光沢の違い）にかかわらず不良判定をするため、目視倹
査では工作物個々の良品光沢面の光量変化の判定を正確
に変化させることが難かしく検査員独自の判断に＝依存
し、判定基準そのものの変化率が個人差によつて変わり
一定の判定基準が得られず、検査に熟練を要するような
状況でも、一定の判定基準により一定条件のもとにすべ
ての工作物の良、不良品の良品光沢面との相対判定が可
能となる。同時に良品光沢面光量に関係なく、一定光量
以下の部分（暗疵）、または一定光量以上の部分（明疵
）があれば不良判断するから、相対判定の目視検査では
工作物個々の良品光沢面光量により少なからず判定基準
が変化するような場合でも、良品光沢面光量に無関係な
一定の光量を持つ疵に対して、有効な一定条件のもとで
の絶対判定を行うことができる。さらに寸法測定に、ダ
イヤルゲージと、挟装支持計測部材として回転首振りヘ
ツドとを組合せることにより、前述の如く前記寸法の平
均値の測定が可能となり、そしてこの計測台側方に加速
度型振動検出装置を配置したことで、検査装置をコンパ
クト化し、検査能率を向上させることができる。
小さく、鋭い突起の疵に対しては凸量に比較して大きく
出る。このため、判定基準は凸量のみでなく突起の形状
をも含むので、目視検査では見逃すような小さい鋭い突
起疵をも確実に検出して良、不良の判定を可能とし、ま
た目視検査では倹査員の個人差によつて判定が異なり易
い大きい鈍い突起疵をも確実に一定判定基準のもとに真
に有害であるか否かを判定することができる。また工作
物の円筒表面疵の検査は、光学的に明疵と暗疵に区別し
て捉え、良品光沢面光量に対して一定割合以下の光量の
部分（暗疵）、一定割合以上の光量の部分（明疵）があ
れば、工作物個々の良品光沢面の光Ｉの変化（工作物の
光沢の違い）にかかわらず不良判定をするため、目視倹
査では工作物個々の良品光沢面の光量変化の判定を正確
に変化させることが難かしく検査員独自の判断に＝依存
し、判定基準そのものの変化率が個人差によつて変わり
一定の判定基準が得られず、検査に熟練を要するような
状況でも、一定の判定基準により一定条件のもとにすべ
ての工作物の良、不良品の良品光沢面との相対判定が可
能となる。同時に良品光沢面光量に関係なく、一定光量
以下の部分（暗疵）、または一定光量以上の部分（明疵
）があれば不良判断するから、相対判定の目視検査では
工作物個々の良品光沢面光量により少なからず判定基準
が変化するような場合でも、良品光沢面光量に無関係な
一定の光量を持つ疵に対して、有効な一定条件のもとで
の絶対判定を行うことができる。さらに寸法測定に、ダ
イヤルゲージと、挟装支持計測部材として回転首振りヘ
ツドとを組合せることにより、前述の如く前記寸法の平
均値の測定が可能となり、そしてこの計測台側方に加速
度型振動検出装置を配置したことで、検査装置をコンパ
クト化し、検査能率を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
第１図はこの発明の実施例の配置図、第２図は検査工程
のフローチヤートを示す図、第３図は第１測定ボジシヨ
ンにおける検査装置の一例を示す正面図、第４図はその
側面図、第５図は第２測定ボジシヨンにおける光学装置
の構成例を示す図、第６図は走査機構の一例を示す図で
ある。 １・・・第１測定ボジシヨン、２・・・第２測定ボジシ
ヨン ３，４，５，６，７・・・搬送装置、８，９，１
２・・・ストツクパレツト、１０，１１，１３・・・選
別手段、２１・・・計測台、２７・・・電気接点付ダイ
ヤルゲージ、２９・・・回転接触子、３０・・・加速度
型振動検出器、３２・・・回転機構、３１・・・光電変
換式表面疵検出部。
のフローチヤートを示す図、第３図は第１測定ボジシヨ
ンにおける検査装置の一例を示す正面図、第４図はその
側面図、第５図は第２測定ボジシヨンにおける光学装置
の構成例を示す図、第６図は走査機構の一例を示す図で
ある。 １・・・第１測定ボジシヨン、２・・・第２測定ボジシ
ヨン ３，４，５，６，７・・・搬送装置、８，９，１
２・・・ストツクパレツト、１０，１１，１３・・・選
別手段、２１・・・計測台、２７・・・電気接点付ダイ
ヤルゲージ、２９・・・回転接触子、３０・・・加速度
型振動検出器、３２・・・回転機構、３１・・・光電変
換式表面疵検出部。
Claims (1)
- １ 搬送装置で搬送される円筒状工作物を受け止めてそ
の軸方向寸法とＲコーナーとの各計測を可能とした第１
測定ポジションと、第１測定ポジションから送られた工
作物を受け止めてその円筒表面の欠陥を検出する第２測
定ポジションと、第１測定ポジションで測定された工作
物の寸法不良品とＲコーナー不良品とを、それぞれの測
定結果信号に従つて第１測定ポジションから第２測定ポ
ジシヨンへの搬送行程の途次に各不良原因毎にそれを収
容するストックパレットに排除する選別手段、および第
２測定ポジションで測定された表面疵不良品を、その測
定結果信号に従つて後工程への搬送行程の途次に表面疵
不良品ストックパレットに排除する選別手段とを備え、
第１測定ポジションが、円筒状工作物を受け止めてその
端面を支承する回転可能な計測台と、計測台上の工作物
に向つてその軸線方向に進退し、計測台との間に工作物
を挟装してその軸方向寸法を測定しその結果を電気信号
に変換すると共に、寸法不良を検出することにより寸法
不良品選別手段および次工程に所要の電気信号を送りこ
れらを作動させる軸方向寸法計測装置と、該計測装置の
電気信号により計測台を回転させる手段と、該電気信号
により工作物のＲコーナーに回転接触子を転接させ、該
コーナーに凸疵があるとき、それを加速度信号として検
出して、該信号によりＲコーナー不良品収容パレットに
該不良品を排除する選別手段を作動させる加速度型振動
検出装置としてのＲコーナー計測装置とを備え、第２測
定ポジションが、搬送装置から受け入れた前記工作物を
支承してその円周方向に回転させる回転機構と、回転す
る工作物の円筒表面を照明する手段と、その反射光を、
工作物の軸線方向に沿うスリットと該スリットを一端か
ら他端に向けて走査する回転スリットとを介して受光し
光電変換する光学的表面欠陥検出手段とを備え、工作物
の円筒表面疵を検出したとき、表面疵不良品選別手段を
作動させて該不良品をそれを収容するストックパレット
に搬送路から排除させることを特徴とする円筒状工作物
の自動検査選別装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15389077A JPS5920082B2 (ja) | 1977-12-20 | 1977-12-20 | 円筒状工作物の自動検査選別装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15389077A JPS5920082B2 (ja) | 1977-12-20 | 1977-12-20 | 円筒状工作物の自動検査選別装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5485756A JPS5485756A (en) | 1979-07-07 |
| JPS5920082B2 true JPS5920082B2 (ja) | 1984-05-10 |
Family
ID=15572341
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15389077A Expired JPS5920082B2 (ja) | 1977-12-20 | 1977-12-20 | 円筒状工作物の自動検査選別装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5920082B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6164591U (ja) * | 1984-10-04 | 1986-05-01 | ||
| JPS61126176U (ja) * | 1985-01-28 | 1986-08-08 | ||
| JPH0616446U (ja) * | 1992-02-14 | 1994-03-04 | 日本ケミテック株式会社 | 耐水性水膨潤性シーリング材及び推進工法用カラー |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56158908A (en) * | 1980-05-12 | 1981-12-08 | Nippon Seiko Kk | Inspection device for external appearance of cylindrical body, annular body and the like |
| JPS6098307A (ja) * | 1983-11-02 | 1985-06-01 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 寸法計測分類装置 |
| JPS6162807A (ja) * | 1984-09-04 | 1986-03-31 | Shin Nippon Tube Kogyo Kk | 押出チユ−ブの塗装膜欠陥検出方法 |
| EP0895142B1 (en) | 1997-01-17 | 2004-09-22 | Seiko Epson Corporation | Display device and timepiece with same |
-
1977
- 1977-12-20 JP JP15389077A patent/JPS5920082B2/ja not_active Expired
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6164591U (ja) * | 1984-10-04 | 1986-05-01 | ||
| JPS61126176U (ja) * | 1985-01-28 | 1986-08-08 | ||
| JPH0616446U (ja) * | 1992-02-14 | 1994-03-04 | 日本ケミテック株式会社 | 耐水性水膨潤性シーリング材及び推進工法用カラー |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5485756A (en) | 1979-07-07 |
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