JPS5919344A - 2視野光学装置 - Google Patents

2視野光学装置

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JPS5919344A
JPS5919344A JP12754282A JP12754282A JPS5919344A JP S5919344 A JPS5919344 A JP S5919344A JP 12754282 A JP12754282 A JP 12754282A JP 12754282 A JP12754282 A JP 12754282A JP S5919344 A JPS5919344 A JP S5919344A
Authority
JP
Japan
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field
wide
optical
narrow
mirror
Prior art date
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Pending
Application number
JP12754282A
Other languages
English (en)
Inventor
Shunichiro Fujioka
俊一郎 藤岡
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
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Publication of JPS5919344A publication Critical patent/JPS5919344A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は狭視野、広視野の2種類の視野を有する2視野
光学装置に関するものである。
半導体装置の組立工程、中でもペレットボンディング工
程やワイヤボンディング工程では、リードフレームやペ
レット等を撮像装置にて撮像してリードフレームやペレ
ットの位置、更にはり−ドフレームのボスト部やペレッ
トの電% ハツトの各位置を認識し、これによりペレッ
トボンディングやワイヤボンディングの自動化v行なっ
ている。
この場合、各部の位置認識を効率良く行なうためにリー
ドフレームやペレットの略全体な視野とする広視野光学
系と、ボスト部や電極パッドを部分的に視野として位I
Ik高精度に求めるための狭視野光学系とを撮像装置に
設け1両光学系の協働によって迅速かつ高精度に位置認
識な行なっている。
例えば、第1図はワイヤボンディング工程における認識
な説明するための図であり、広視野光学系はペレット1
およびリードフレーム2のインナーリード(ボスト部)
3を含む広視野域8Iを一度に視野とし、狭視野光学系
はその一部1図ではペレット1の一部の電極パッド4を
含むだけの狭視舒域8t k視野としている。そして、
これらの両光学系は夫々基準位置0な共通させてこの位
置0からの偏りを求めることにより、リードフレーム2
やペレット1の全体位l11tj!を求め、更にこれな
利用してボス)部3JP電極パッド4を高精度に求める
ようにしているのである、 ところで、従来のこの梱の装置では、第2図のように、
広視野の撮像器5と狭視野の撮像器6を並置させて対象
物7の撮像ないし位If認識を行なう構成が一般に用い
られている。しかしながら。
この構成では両撮像器5,6が距離りだけ離れているた
めに各視野域での基準位置が距離りだけずれることにな
り、このずれ値の補正が必要とされる等位置認識が面倒
になりかつ誤差が生じ易くなるという問題がある。
これに対し、第3図に示すように、I\−フミラー8の
透過1反射な利用して広視野撮像@5と狭視野撮像器6
な同軸関係になるように直交配置したものが提案されて
いる。この構成によれば、基準位置の共通化が可能で位
置認識の向上には有効であるが、第2図のものと同様に
2台の撮像器が必要とされるため、装置全体が大型にな
りかつ婢造が複雑になると共にコスト高になるという問
題がある。
1、tこが。て本発明の目的は基準位置の共通化な可能
にすることはもちろんのこと、一台の撮像器で広視野、
狭視野の認識を行なって装置の小型化および低コスト化
を達成することができる2視野光学装置を提供すること
にある。
この目的を達成するために本発明は一台の撮像器の光軸
路に広視野、狭視野の各光学系な並設すると共に、これ
ら両光学系の間に光路切換手段な設けるようにしたもの
である。
以下、本発明な図示の実施例により説明する。
第4図は本発明の2視野光学装置の全体構成図であり、
図において10はリードフレームやベレット等の対象物
、11はこの対象物10を撮像するために一台だけ設け
られた撮像器(カメラ)である。そして、この撮像器1
1の前方位置には前記対象物10な撮像器11に結像さ
せるための結像光学系を配設しているが1本発明にあっ
てはこの結像光学系として広視野光学系12と狭視野光
学系13とを並列に配置している。前記広視野光学系1
2は焦点距#[! f Iが短くされ、対象物IOの広
い範囲を視野として前記撮像器11に結像できる。また
、狭視野光学系13は焦点距離ftが比較的長くされ、
対象物10の一部な視野としてその拡大率を高めた状態
で前記撮像器11に結像できる。更に、本実施例におい
ては前記撮像器11の光軸X、上にIU紀広視野光学系
12を配置し。
これと隣り合一た位置に前記狭視野光学系13を配置し
ている。また、前記光軸X、の対象物IOよりの位置に
は光源14に対向してハーフミラ−15な設置し、光源
14光な対象物10に反射させてその照明な行なう一方
で対象物10からの反射光を光軸X、に沿って撮像器1
1に透過させるようにしている。
そして、このように構成した上で、前記広視野光学系I
2の前側の光軸X、上には光路切換手段としての可動反
射ミラー16な配置し、かつ後側の光軸X、上にはハー
フミラ−17な配置する。
更に、これら可動反射ミラー16とハーフミラ−17に
直角方向に対向する前記狭視野光学系13の光軸x2上
には夫々反射ミラー18.19に配置するっ前記可動ミ
ラー16は図外の駆動機構により図示矢印へのように、
光軸に対して45°の位置と0°の位置とに夫々回動位
置が選択的に変化できる。
以上の構成によれば、可動ミラー16な第5図(4)の
ように光軸X、と平行(Oo )の位置に回動させると
、対象物10からの反射光はそのまま直進して広視野光
学系12に進入し、・・−フミラー17を透過して撮像
器11に到達される。したがって、この状態では広視野
の撮像が行われる。
一方、可動ミラー16を同図(B)のように光軸X1と
45°の回動位置にすると、対象物lOの反射光は可動
ミラー16にて反射された上で反射ミラー18により反
射されて狭視野光学系13に導かれ、これを通った後は
反射きシー19.ハーフミラ−17にて夫々反射されて
撮像器11に到達される。したがって、この状態では狭
視野の撮像が行なわれることになる。
この結果、本装置では可動ミラー16の回動位置を変化
させるだけで広、狭の視野を任意に得ることができ、し
かも撮像器は一台でその光軸も−定しているので1両視
野において光軸は一致してその基準位置を共通にし、こ
れにより高精度の位rItFFg識を迅速に行なうこと
ができると共に、撮像器は一台で済むので構造の簡易化
、小型化な図りかつ低コスト化な達成できる。
なお2広、狭の各光学系12.13の配置に際してはそ
の焦点距離に応じて第4図の距離、ell、e。
を適宜に設定すればよい。
ここで、光路切換手段はハーフミラ−17を可動反射ミ
ラー構造にしてもよく、この場合には前記可動反射ミラ
ー16なハーフミラ−構造とする。
もっとも、ミラー16.17の両方な可動反射ミラー構
造にしてもよい。また、ミラー18,19なハーフミラ
−にした状態で反射ミラー18.19の少なくとも一方
な可動構造にしてもよいのである。
第6図囚〜(Ctに示すものは、可動反射ミラー(光路
切換手段)16な種々の態様に可動可能とした本発明の
各実施例な示すものである。
以上のように本発明の2視野光学装置は広、狭の各視野
光学系を一台の撮像器に対して並列的に配置し、その上
で光路切換手段にて対象物から撮像器に到る光路な切換
えるようにしているので。
一台の撮像器でしかも同一光軸位置で広、狭両方の視野
を得ることができ、これにより基準位置の共通化な図−
で高精度の認識な可能にする一方で。
装置の構造の簡易化、小型化および低コスト化な達成す
ることができるという効果な奏する。
【図面の簡単な説明】
第1図はワイヤボンディング時における広、狭視野の説
明図。 第2図および第3図は夫々異なる従来装置の構成図。 第4図は本発明装置の構成図。 第5図囚、(B)は作用な説明するための第4図と同様
の図。 第6図囚〜telは本発明の他の実施例を示す図である
。 10・・・対象物、11・・・撮像器、12・・・広視
野光学系、13・・・狭視野光学系、14・・・光源、
16・・・可動反射ミラー(光路切換手段)、17・・
・/・−フミラー、18.19・・・反射ミラー1第 
 1  図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、対象物を撮像するための一台の撮像器の光軸路に沿
    って広視野光学系と狭視野光学系を並設すると共に、こ
    れら両光学系の間に光路切換手段を設け、前記対象物か
    らの光を前記両光学系のいずれか一方を通して前記撮像
    器に導くように構成したことを特徴とする2視野光学装
    置つ 2、光路切換手段はその回動位置の変化により前記両光
    学系に向い或いは通過されてきた光の光路を切換える可
    動反射ミラーである特許請求の範囲第1項記載の2視野
    光学装置。
JP12754282A 1982-07-23 1982-07-23 2視野光学装置 Pending JPS5919344A (ja)

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JP12754282A JPS5919344A (ja) 1982-07-23 1982-07-23 2視野光学装置

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JP12754282A JPS5919344A (ja) 1982-07-23 1982-07-23 2視野光学装置

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JPS5919344A true JPS5919344A (ja) 1984-01-31

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ID=14962581

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JP12754282A Pending JPS5919344A (ja) 1982-07-23 1982-07-23 2視野光学装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0373451U (ja) * 1984-02-22 1991-07-24

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JPS57167651A (en) * 1981-04-07 1982-10-15 Mitsubishi Electric Corp Inspecting device for surface of semiconductor wafer

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