JPH0373451U - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0373451U JPH0373451U JP12413490U JP12413490U JPH0373451U JP H0373451 U JPH0373451 U JP H0373451U JP 12413490 U JP12413490 U JP 12413490U JP 12413490 U JP12413490 U JP 12413490U JP H0373451 U JPH0373451 U JP H0373451U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- image
- optical axis
- optical
- imaging
- pixel
- Prior art date
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- Granted
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 20
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims 9
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
Landscapes
- Control Of Position Or Direction (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
Description
第1図は本考案の全体概略図、第2図は本考案
の一実施例の光学装置の概略図、第3図は本考案
の他の実施例の光学装置の概略図である。 52……ウエハ、40,100……第1の光路
、50,74……光源、42,102……第2の
光路、72……ビジコン管、65……シヤツタ、
54……フラツト部、104……第3光路、10
6……第4光路。
の一実施例の光学装置の概略図、第3図は本考案
の他の実施例の光学装置の概略図である。 52……ウエハ、40,100……第1の光路
、50,74……光源、42,102……第2の
光路、72……ビジコン管、65……シヤツタ、
54……フラツト部、104……第3光路、10
6……第4光路。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 同様なパターンのアレイが表面に設けられ
ている目的物を整列させる自動整列装置であつて
: 整列させるべき目的物を支持する可動のステー
ジ手段にして、入力信号に応じてX,YおよびZ
の方向ならびにθ軸の回りでの位置調節が可能な
ステージ手段と; 前記目的物の表面を照射する照射手段と; 第1の予定の倍率を有し、照射された前記表面
の第1部分の像を第1の光軸に沿つて結像面へと
結像し得る第1の光学手段と; 前記第1の予定の倍率よりも相当に大きい第2
の予定の倍率を有し、照射された前記表面の第2
部分の像を第2の光軸に沿つて結像面へと結像し
得る第2の光学手段と; 前記第1部分の像をまず選択して前記結像面へ
結像させ、次ぎに前記第2部分の像を選択して前
記結像面へ結像させる像選択手段と; 前記結像面に配置された光検出手段にして、前
記第1部分の像を、先ずその各画素の像に関する
内容を表す第1の目的物データへ変換し、次ぎに
前記第2部分の像を、その各画素の像に関する内
容を表す第2の目的物データへ変換する光検出手
段と; 第1の基準像の各画素の内容に対応する第1の
基準像データのセツトを発生し、第2の基準像の
各画素の内容に対応する第2の基準像データのセ
ツトを発生する手段と、 前記第1の目的物データを前記第1の基準像デ
ータと比較してそれら相互間の差に比例した第1
の整列修正信号を先ず発生し、次ぎに前記第2の
目的物データを前記第2の基準像データと比較し
てそれら相互間の差に比例した第2の整列修正信
号を発生する比較手段と; 整列修正手段にして、前記第1の整列修正信号
に応じて、X,Y,およびZの方向ならびにθ軸
の回りで要求される前記ステージ手段の位置調節
を先ず行つて、前記第1の目的物データと前記第
1の基準像データとの一致が前記比較手段により
示されるようにし、次ぎに前記第2の整列修正信
号に応じて、X,YおよびZの方向ならびにθ軸
の回りで要求される前記ステージ手段の位置調節
を行つて、前記第2の目的物データと前記第2の
基準像データとの一致が前記比較手段により示さ
れるようにするための整列修正手段と を備えることを特徴とする自動整列装置。 (2) 実用新案登録請求の範囲第1項に記載の装
置において、前記像選択手段は、前記第1および
第2の光学手段と前記結像面との間に配置された
可動のシヤツタを含み、そのシヤツタは、一方の
位置にある時に前記第1の光軸に一致する第1の
透孔と、他方の位置にある時に前記第2の光軸に
一致する第2の透孔とを有していることを特徴と
する自動整列装置。 (3) 実用新案登録請求の範囲第1項に記載の装
置において、前記照射手段は、前記目的物の第1
部分を照射する第1の照射源と、前記目的物の第
2部分を照射する第2の照射源とを含むことを特
徴とする自動整列装置。 (4) 実用新案登録請求の範囲第3項に記載の装
置において、前記第1の光軸が前記目的物の表面
に交差する点は、前記第2の光軸が前記目的物の
表面に交差する点から離間していることを特徴と
する自動整列装置。 (5) 実用新案登録請求の範囲第1項に記載の装
置において、第1の予定の倍率を有し、照射され
た前記表面の第1部分から離間した第3の部分の
像を第3の光軸に沿つて前記結像面へと結像し得
る第3の光学手段と、前記第2の予定の倍率を有
し、照射された前記表面の第4の部分の像を第4
の光軸に沿つて結像面へと結像し得る第4の光学
手段とを含んでいることを特徴とする自動整列装
置。 (6) 実用新案登録請求の範囲第1項に記載の装
置において、前記光検出手段は、前記結像面へ結
像される像の各画素の内容に対応するアナログ信
号を発生するビデオカメラ手段と、各画素の内容
を示すそのアナログ信号を、各画素の内容を示す
デイジタル信号へ変換するアナログ・デイジタル
変換手段とを含むことを特徴とする自動整列装置
。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US58259084A | 1984-02-22 | 1984-02-22 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0373451U true JPH0373451U (ja) | 1991-07-24 |
JPH0537476Y2 JPH0537476Y2 (ja) | 1993-09-22 |
Family
ID=24329741
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60032947A Pending JPS60194537A (ja) | 1984-02-22 | 1985-02-22 | 整列装置 |
JP1990124134U Expired - Lifetime JPH0537476Y2 (ja) | 1984-02-22 | 1990-11-26 |
Family Applications Before (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60032947A Pending JPS60194537A (ja) | 1984-02-22 | 1985-02-22 | 整列装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (2) | JPS60194537A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012064608A (ja) * | 2010-09-14 | 2012-03-29 | Hitachi High-Technologies Corp | 検査装置 |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6262538A (ja) * | 1985-09-13 | 1987-03-19 | Toshiba Corp | 位置決め装置 |
JPH0625011Y2 (ja) * | 1988-02-15 | 1994-06-29 | 株式会社東京精密 | 半導体チップの基準線検出装置 |
JP2015226043A (ja) * | 2014-05-30 | 2015-12-14 | 株式会社ディスコ | ウェーハid読み取り装置 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS54159876A (en) * | 1978-06-07 | 1979-12-18 | Nec Corp | Wafer position detection method and its unit |
JPS56134741A (en) * | 1980-03-25 | 1981-10-21 | Toshiba Corp | Position detecting device |
JPS574134A (en) * | 1980-06-10 | 1982-01-09 | Fujitsu Ltd | Recognizing device |
JPS57167651A (en) * | 1981-04-07 | 1982-10-15 | Mitsubishi Electric Corp | Inspecting device for surface of semiconductor wafer |
JPS57169251A (en) * | 1981-04-09 | 1982-10-18 | Toshiba Corp | Recognizing device for position |
JPS57198641A (en) * | 1981-05-30 | 1982-12-06 | Toshiba Corp | Pattern detection |
JPS5919344A (ja) * | 1982-07-23 | 1984-01-31 | Hitachi Ltd | 2視野光学装置 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57133428A (en) * | 1981-02-12 | 1982-08-18 | Nippon Kogaku Kk <Nikon> | Alignment optical system capable of variable magnification |
-
1985
- 1985-02-22 JP JP60032947A patent/JPS60194537A/ja active Pending
-
1990
- 1990-11-26 JP JP1990124134U patent/JPH0537476Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS54159876A (en) * | 1978-06-07 | 1979-12-18 | Nec Corp | Wafer position detection method and its unit |
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JPS57169251A (en) * | 1981-04-09 | 1982-10-18 | Toshiba Corp | Recognizing device for position |
JPS57198641A (en) * | 1981-05-30 | 1982-12-06 | Toshiba Corp | Pattern detection |
JPS5919344A (ja) * | 1982-07-23 | 1984-01-31 | Hitachi Ltd | 2視野光学装置 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012064608A (ja) * | 2010-09-14 | 2012-03-29 | Hitachi High-Technologies Corp | 検査装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0537476Y2 (ja) | 1993-09-22 |
JPS60194537A (ja) | 1985-10-03 |
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