JPS59191130A - 磁気記録媒体用基材および磁気記録媒体 - Google Patents
磁気記録媒体用基材および磁気記録媒体Info
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- JPS59191130A JPS59191130A JP58065891A JP6589183A JPS59191130A JP S59191130 A JPS59191130 A JP S59191130A JP 58065891 A JP58065891 A JP 58065891A JP 6589183 A JP6589183 A JP 6589183A JP S59191130 A JPS59191130 A JP S59191130A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/62—Record carriers characterised by the selection of the material
- G11B5/64—Record carriers characterised by the selection of the material comprising only the magnetic material without bonding agent
- G11B5/65—Record carriers characterised by the selection of the material comprising only the magnetic material without bonding agent characterised by its composition
- G11B5/656—Record carriers characterised by the selection of the material comprising only the magnetic material without bonding agent characterised by its composition containing Co
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- Magnetic Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、磁気記録媒体用基材および磁気記録媒体に関
するものであシ、さらに詳しくは、基体上に軟磁性層を
設けた磁気記録媒体用基材およびその基材の軟磁性層の
上に硬磁性層を設けた磁気記録媒体に関するものであ乙
。
するものであシ、さらに詳しくは、基体上に軟磁性層を
設けた磁気記録媒体用基材およびその基材の軟磁性層の
上に硬磁性層を設けた磁気記録媒体に関するものであ乙
。
従来、垂直磁気記録媒体として、 CQ−Crスパッタ
形成薄膜が知られている。しかし、かかるGo−Cr
スパッタ薄膜(は垂直磁気記録媒体として良好な諸物
件を備えているが、磁気特性の膜厚依存性が大きいとい
う欠点があった。
形成薄膜が知られている。しかし、かかるGo−Cr
スパッタ薄膜(は垂直磁気記録媒体として良好な諸物
件を備えているが、磁気特性の膜厚依存性が大きいとい
う欠点があった。
すなわち、スパッタ初期において殆どのCQ−Crは結
晶的に無配向であるが、スパッタが連続して行われるに
従い次第にc(、−crは結晶配向してゆき。
晶的に無配向であるが、スパッタが連続して行われるに
従い次第にc(、−crは結晶配向してゆき。
垂直磁気記録媒体としての磁気特性を満足するようにな
る。この磁気特性の膜厚依存性はプラスチックやガラス
等の基板を用いた場合2μm以上で無視できる程度に減
少するが、 Co−Cr層を厚くすることは、記録媒体
の柔軟性低下によるヘッドタッチの悪化や薄膜形成に時
間がかかるなど実用上。
る。この磁気特性の膜厚依存性はプラスチックやガラス
等の基板を用いた場合2μm以上で無視できる程度に減
少するが、 Co−Cr層を厚くすることは、記録媒体
の柔軟性低下によるヘッドタッチの悪化や薄膜形成に時
間がかかるなど実用上。
生産上大きな弊害となる。
垂直磁気記録方式に関して、更にその性能を高めるもの
としては、 Fe−Ni合金であるパーマロイなどの軟
磁性層上に媒体面に垂直方向に磁化容易軸を有する硬磁
性層(垂直磁化層)を具備した二層構造の垂直磁気記録
媒体が提案されている(例えば特開昭54−51804
)。
としては、 Fe−Ni合金であるパーマロイなどの軟
磁性層上に媒体面に垂直方向に磁化容易軸を有する硬磁
性層(垂直磁化層)を具備した二層構造の垂直磁気記録
媒体が提案されている(例えば特開昭54−51804
)。
かかる媒体を用いれば、電磁変換特性の大幅な改善およ
び高密度記録が可能となる。しかし、Co−Cr層をパ
ーマロイ等の結晶性の軟磁性層上に設けた場合1両者の
結晶構造の違い等のためCo−Crの結晶配向が非常に
大きく乱され、十分な磁気特性を得ることが困難であり
、Co−Cr層の厚さを更に厚くする必要がある。一方
、 c、)−cr層をCo−Zr等のアモルファス軟
磁性層上に設けた場合は、C。
び高密度記録が可能となる。しかし、Co−Cr層をパ
ーマロイ等の結晶性の軟磁性層上に設けた場合1両者の
結晶構造の違い等のためCo−Crの結晶配向が非常に
大きく乱され、十分な磁気特性を得ることが困難であり
、Co−Cr層の厚さを更に厚くする必要がある。一方
、 c、)−cr層をCo−Zr等のアモルファス軟
磁性層上に設けた場合は、C。
−Cr、の結晶配向性の乱れは、結晶性の軟磁性層上に
Co−CI−を設けた場合に比べて小さくなるが、プラ
スチックやガラス等を基板に用いた場合に比べの磁気特
性の膜厚依存性を減少させる提案がなされている。(例
えば特開昭55−122232 )。
Co−CI−を設けた場合に比べて小さくなるが、プラ
スチックやガラス等を基板に用いた場合に比べの磁気特
性の膜厚依存性を減少させる提案がなされている。(例
えば特開昭55−122232 )。
しかしながらこの場合、膜゛厚依存性は改良されるもの
の非磁性層」二に、垂直磁化層を設けるため。
の非磁性層」二に、垂直磁化層を設けるため。
電磁変換特性の向上および高密度記録が望めない。
丑た。非磁性C○−Crば C)7含有量が25係以上
と高くなるため薄膜の剛性が犬きくなpすぎ、ヘッドタ
ッチの悪化をきたし、再生出力が低下する問題があるこ
とが明らかとなった。
と高くなるため薄膜の剛性が犬きくなpすぎ、ヘッドタ
ッチの悪化をきたし、再生出力が低下する問題があるこ
とが明らかとなった。
本発明者らは、かかる問題を鋭意検削し°、Co及びC
r から主として成る。基体面と平行方向の保磁力が
001〜50エルステツドの軟磁性層をco−cr垂直
磁化層の下地として用いることによシc(、−cr垂直
磁化層の膜厚依存性を大幅に軽減できかつ良好な電磁変
換特性が得られることを見出し。
r から主として成る。基体面と平行方向の保磁力が
001〜50エルステツドの軟磁性層をco−cr垂直
磁化層の下地として用いることによシc(、−cr垂直
磁化層の膜厚依存性を大幅に軽減できかつ良好な電磁変
換特性が得られることを見出し。
本発明に到達した。
すなわち本発明は、基体と該基体上に形成されたコバル
トおよびクロムから主としてなシ基体面。
トおよびクロムから主としてなシ基体面。
と平行方向の保磁力が001〜50エルステツドの磁性
薄膜とからなる磁気記録媒体用基材を特徴とするもの、
およびその基材と、その基材の磁性薄膜上に形成された
コバルトおよびクロムから主としてなシ基体面と垂直方
向の保持力が200〜2000エルステツドの磁性薄膜
とからなる磁気記録媒体を特徴とするものである。
薄膜とからなる磁気記録媒体用基材を特徴とするもの、
およびその基材と、その基材の磁性薄膜上に形成された
コバルトおよびクロムから主としてなシ基体面と垂直方
向の保持力が200〜2000エルステツドの磁性薄膜
とからなる磁気記録媒体を特徴とするものである。
本発明で用いることのできる基体としては、特に限定さ
れるものではないが、アルミニウム、銅。
れるものではないが、アルミニウム、銅。
鉄、ステンレスなどで代表される金属、ガラス。
セラミックなどの無機材料、プラスチックフィルムなど
の有機重合体材料などがあげられる。特に加工性、成形
性、可撓性が重視される場合には。
の有機重合体材料などがあげられる。特に加工性、成形
性、可撓性が重視される場合には。
有機重合体材料が適しておシ、中でもポリエチレンテレ
フタレート、ポリエチレン2−6ナフタレート々どのポ
リエステル、°°°゛。
フタレート、ポリエチレン2−6ナフタレート々どのポ
リエステル、°°°゛。
−゛ 4 − ポリプロピレン、 d6リブテンな
どのポリオレフィン、ポリメチルメタアクリレートなど
のアクリル系樹脂、ポリカーボネート、ポリスルフォン
、ポリアミド、芳香族ホリアミド、ポリフェニレンスル
フィト、ポリフエイ ニレンオキザイド、ポリアミドイミド、ポリナミド、ポ
リ塩化ビニル、ポリ弗化ビニリデン、テトラフルオロエ
チレン、エポキシ樹脂、 ウv タン樹脂あるいはこれ
らの混合物、共重合物などが適している。特に二軸延伸
されたフィルム、シート類は、平面性2寸法安定性に優
れ最も適している。
どのポリオレフィン、ポリメチルメタアクリレートなど
のアクリル系樹脂、ポリカーボネート、ポリスルフォン
、ポリアミド、芳香族ホリアミド、ポリフェニレンスル
フィト、ポリフエイ ニレンオキザイド、ポリアミドイミド、ポリナミド、ポ
リ塩化ビニル、ポリ弗化ビニリデン、テトラフルオロエ
チレン、エポキシ樹脂、 ウv タン樹脂あるいはこれ
らの混合物、共重合物などが適している。特に二軸延伸
されたフィルム、シート類は、平面性2寸法安定性に優
れ最も適している。
基体の形状としては、ドラム状、デ9スク状。
シート状、テープ状、カード状等いずれでも良く。
厚みも特に限定されるものではない。シート状。
テープ状、カード状等の場合、加工性1寸法安定性の点
で、厚みは6〜500μ、中でも4〜200μの範囲が
好ましい。
で、厚みは6〜500μ、中でも4〜200μの範囲が
好ましい。
本発明で用いられる基体は9次に述べる軟磁性層の形成
に先たち、易接着化、平面性改良9着色。
に先たち、易接着化、平面性改良9着色。
帯電防止、耐摩耗性付与等の目的で各種の表面処理や前
処理が施されても良い。
処理が施されても良い。
該基体上に形成される磁性薄膜(以下、軟磁性層と略称
する)と(は、その主な成分がコバルトおよびクロムか
らなり、基体面と平行方向の保磁力力0.01〜50エ
ルステツドのものである。
する)と(は、その主な成分がコバルトおよびクロムか
らなり、基体面と平行方向の保磁力力0.01〜50エ
ルステツドのものである。
軟磁性層に含まれるコバルトとクロムの重量比率は、7
5:25から95=5好ましくは、78:22から90
:10であるのが良好な磁気特性および柔軟性を得られ
る点で望ましい。またコバルトとクロム以外の第6成分
として、ニッケル。
5:25から95=5好ましくは、78:22から90
:10であるのが良好な磁気特性および柔軟性を得られ
る点で望ましい。またコバルトとクロム以外の第6成分
として、ニッケル。
鉄、銅、マンガン、バナジウム、タングステン。
ルテニウム、レニウム、ロジウム、アルミニウム。
チタンなどの金属が50重量係以下の範囲で含まれてい
ても良い。軟磁性層の厚みは、ヘッドタッチを良くする
点や、丑だ、薄膜形成時間を短縮する点で薄い方が良く
、該軟磁性層上にCo−Crから成る硬磁性層が形成さ
れる場合には、硬磁性層の垂直配向性を向上する点では
厚い方が好ましいため、001μから十μ、好ましくは
005μから! =e+μの範囲が望ましい。
ても良い。軟磁性層の厚みは、ヘッドタッチを良くする
点や、丑だ、薄膜形成時間を短縮する点で薄い方が良く
、該軟磁性層上にCo−Crから成る硬磁性層が形成さ
れる場合には、硬磁性層の垂直配向性を向上する点では
厚い方が好ましいため、001μから十μ、好ましくは
005μから! =e+μの範囲が望ましい。
基体面と平行方向の保磁力は、基体面と平行方向に加え
る磁界を変化させていった時の磁化率の変化特性から測
定できる。
る磁界を変化させていった時の磁化率の変化特性から測
定できる。
保磁力は001〜50エルステツド、好ましくは60エ
ルステッド以下、最も好ましくは10エルステツド以下
が、その層の上に周知の硬磁性磁気記録層を設けたとき
裏面の磁気回路を閉じ1表面の磁束密度を亮める上で適
している。
ルステッド以下、最も好ましくは10エルステツド以下
が、その層の上に周知の硬磁性磁気記録層を設けたとき
裏面の磁気回路を閉じ1表面の磁束密度を亮める上で適
している。
かかる軟磁性層の製法としては、真空蒸着、スパッタリ
ング、イオンブレーティングなどのいわゆる真空析出法
が一般に採用できる。特に組成比を一定に保ち、特性を
均一にできる点では、スパッタリング法が適する。これ
らの真空析出法において、アルゴン、ヘリウム、ネオン
などの不活性ガスあるいは酸素、水素、窒素、炭酸ガス
、水蒸気、−酸化炭素、アンモニア、炭化水素などの活
性ガスを、析出時に雰囲気中に導入することは適宜許さ
れる。むしろ、窒素ガスなどの特定ガスの導入は、軟磁
性層の面内方向の保磁力を減少させる有効な効果があり
、かえって好ましい。窒素ガスを真空系内に導入する場
合、系内の窒素分圧は10 〜iD Torr、特に
io 〜10 Torr オーダーが好ましい。
ング、イオンブレーティングなどのいわゆる真空析出法
が一般に採用できる。特に組成比を一定に保ち、特性を
均一にできる点では、スパッタリング法が適する。これ
らの真空析出法において、アルゴン、ヘリウム、ネオン
などの不活性ガスあるいは酸素、水素、窒素、炭酸ガス
、水蒸気、−酸化炭素、アンモニア、炭化水素などの活
性ガスを、析出時に雰囲気中に導入することは適宜許さ
れる。むしろ、窒素ガスなどの特定ガスの導入は、軟磁
性層の面内方向の保磁力を減少させる有効な効果があり
、かえって好ましい。窒素ガスを真空系内に導入する場
合、系内の窒素分圧は10 〜iD Torr、特に
io 〜10 Torr オーダーが好ましい。
磁気記録媒体用基材の製法の一例について説明するが、
必ずしもこれに限定されるものではない。
必ずしもこれに限定されるものではない。
マス、二軸延伸されたポリエチレンテレフタレートフィ
ルムをあらかじめ真空中で120’cにて加熱乾燥し、
いったん10トール台まで排気したのち、アルゴンガス
および窒素ガスを導入し、全圧が1xiO)−ル、窒素
分圧が2×10 トール。
ルムをあらかじめ真空中で120’cにて加熱乾燥し、
いったん10トール台まで排気したのち、アルゴンガス
および窒素ガスを導入し、全圧が1xiO)−ル、窒素
分圧が2×10 トール。
となるよう系内を保つ。次いで、直流マグ坏トロンスパ
ッタにより、コバルトとクロムの重量比が81:19の
ターゲットを用いてスノシツタし、60=離れて配置さ
れたフィルム基板上に軟磁性薄膜を形成する。このとき
、基板温度は、−20°C〜200 ’Oの範囲で冷却
または加熱しておくことかできる。
ッタにより、コバルトとクロムの重量比が81:19の
ターゲットを用いてスノシツタし、60=離れて配置さ
れたフィルム基板上に軟磁性薄膜を形成する。このとき
、基板温度は、−20°C〜200 ’Oの範囲で冷却
または加熱しておくことかできる。
このようにして得られた磁気記録媒体用基材は可撓性が
あ凱適轟な剛性と柔軟性を持っているため、磁気記録媒
体の基材として有効であり2%に磁気特性のうち保磁力
が小さく、透磁率か太きいため垂直磁気記録媒体の基材
として、配向性。
あ凱適轟な剛性と柔軟性を持っているため、磁気記録媒
体の基材として有効であり2%に磁気特性のうち保磁力
が小さく、透磁率か太きいため垂直磁気記録媒体の基材
として、配向性。
磁気特性の向上、ひいては出力の増大、記録密度の向」
二に寄与できる。
二に寄与できる。
の主な成分がコバルトおよびクロムからな几基体面と垂
直方向の保磁力が200〜2000エルステッドのもの
である。
直方向の保磁力が200〜2000エルステッドのもの
である。
硬磁性層に含まれるコバルトとクロムの重量比率は75
:25から90:1’0が奸才しく、特に好ましくは7
8:22から88:12が良好な垂”直磁気異方性を得
られる点で優れている。
:25から90:1’0が奸才しく、特に好ましくは7
8:22から88:12が良好な垂”直磁気異方性を得
られる点で優れている。
また、コバルトとクロム以外の第6成分として。
モリブデン、ロジウム、ルテニウム、バナジウム。
タングステン、レニウムなどの金属が20重量係以下の
範囲で含まれていても良い。硬磁性層の厚みは、ヘッド
タッチを良くシ、また薄膜形成時間を短縮する点で薄い
方が良く、硬磁性層の垂直磁気異方性を向上し、てだ残
留磁気モーメントを大きくする点では厚い方が好ましい
ため、001μmから2μmの範囲が好ましく、中でも
0.1μmから1μmの範囲が最も好ましい。
範囲で含まれていても良い。硬磁性層の厚みは、ヘッド
タッチを良くシ、また薄膜形成時間を短縮する点で薄い
方が良く、硬磁性層の垂直磁気異方性を向上し、てだ残
留磁気モーメントを大きくする点では厚い方が好ましい
ため、001μmから2μmの範囲が好ましく、中でも
0.1μmから1μmの範囲が最も好ましい。
硬磁性層の基体面と垂直方向の保磁力としては200〜
2,000エルステツド、好」、17ぐは600〜1.
800エルステツド、最も好ましく[500〜1.60
0エルステツドが磁気記録を保持する点や電磁変換特性
を向上させる点および記録ヘッドの飽和磁束の点で望ま
しい。
2,000エルステツド、好」、17ぐは600〜1.
800エルステツド、最も好ましく[500〜1.60
0エルステツドが磁気記録を保持する点や電磁変換特性
を向上させる点および記録ヘッドの飽和磁束の点で望ま
しい。
かかる硬磁性層を軟磁性層上に設ける方法としては、前
述の軟磁性層と同様、真空蒸着、スバ゛ツタリング、イ
オンブレーティングなどのいわゆる真空析出法が一般に
採用できる。特に組成を均一に保ち、特性を均一にでき
る点ではスパッタリング法が適する。これらの真空析出
法において、アルゴン、ヘリウム、ネオンなどの不活性
ガス、あるいは酸素、水素、炭酸ガス、水蒸気、−酸化
炭素、炭化水素などの活性ガスを析出時に雰囲気中特性
の膜厚依存性が小さく、比較的薄い膜厚で良好な垂直磁
化膜としての特性を備えた磁気記録媒体を実現し、かつ
上記硬磁性層下に軟磁性層が配置されていることにより
、優れた電磁変換特性と高密度記録を実現でき、優れた
垂直磁気記録媒体となる。また、比較的薄い膜厚で良好
な垂直磁気記録媒体薄膜を実現できるため、ヘッドタッ
チが良好であシ、更に薄膜形成時間を大幅に短縮するこ
とができ、生産性を大きく向上させることができる。
述の軟磁性層と同様、真空蒸着、スバ゛ツタリング、イ
オンブレーティングなどのいわゆる真空析出法が一般に
採用できる。特に組成を均一に保ち、特性を均一にでき
る点ではスパッタリング法が適する。これらの真空析出
法において、アルゴン、ヘリウム、ネオンなどの不活性
ガス、あるいは酸素、水素、炭酸ガス、水蒸気、−酸化
炭素、炭化水素などの活性ガスを析出時に雰囲気中特性
の膜厚依存性が小さく、比較的薄い膜厚で良好な垂直磁
化膜としての特性を備えた磁気記録媒体を実現し、かつ
上記硬磁性層下に軟磁性層が配置されていることにより
、優れた電磁変換特性と高密度記録を実現でき、優れた
垂直磁気記録媒体となる。また、比較的薄い膜厚で良好
な垂直磁気記録媒体薄膜を実現できるため、ヘッドタッ
チが良好であシ、更に薄膜形成時間を大幅に短縮するこ
とができ、生産性を大きく向上させることができる。
なお、硬磁性層の上には、必要に応じて他の層例えば保
護層などを設けることができる。
護層などを設けることができる。
以下、実施例で用いる各種の測定方法′および実施例に
ついて説明する。
ついて説明する。
試料に外部磁界を加え1次にこの磁界を減じ、更には磁
界の方向を反転させ、試料の磁化もしくは磁束の方向を
反転させる過程において、試料の磁化もしくは磁束密度
が零となるときの外部磁界の大きさを保磁力という。こ
のとき、基体面に垂直方向に外部磁界をかけた場合の保
磁力か基体面に垂直方向の保磁力であり9基体面に平行
方向に外部磁界をかけた場合の保磁力が基体面に平行方
向の保磁力である。
界の方向を反転させ、試料の磁化もしくは磁束の方向を
反転させる過程において、試料の磁化もしくは磁束密度
が零となるときの外部磁界の大きさを保磁力という。こ
のとき、基体面に垂直方向に外部磁界をかけた場合の保
磁力か基体面に垂直方向の保磁力であり9基体面に平行
方向に外部磁界をかけた場合の保磁力が基体面に平行方
向の保磁力である。
本件では、理研電子株式会社製振動試料型磁力計(モデ
ルBHV−’30)を使用し、保磁力を測定した。
ルBHV−’30)を使用し、保磁力を測定した。
(2) Δθ5o−(。。2)
Δθso(。。2)は、結晶の(002)面が基体面と
平行な方向に対して、どの程度分散しているかを示す指
標であシ、Δθ50(。。2)の値が小さい和結晶の(
002)面の垂直配向性が良く、良好な垂直磁化性を備
えていることを示す。
平行な方向に対して、どの程度分散しているかを示す指
標であシ、Δθ50(。。2)の値が小さい和結晶の(
002)面の垂直配向性が良く、良好な垂直磁化性を備
えていることを示す。
7θ50(002)はX線回折によって測定することが
できる。すなわち、X線回折によシ基体面に平行に配向
している(002)面を見出し、この時のX線の入射方
向、X線テイテクタの位置を固定する。次に、試料のみ
を回転させて、X線テイテクタへの回折強度の分布をと
る。この分布の半値幅をΔθso(。。2)とするO 本件では、理学電気株式会社製I)5C型X線発生装置
を使用し、Δθ50(002) を測定した。
できる。すなわち、X線回折によシ基体面に平行に配向
している(002)面を見出し、この時のX線の入射方
向、X線テイテクタの位置を固定する。次に、試料のみ
を回転させて、X線テイテクタへの回折強度の分布をと
る。この分布の半値幅をΔθso(。。2)とするO 本件では、理学電気株式会社製I)5C型X線発生装置
を使用し、Δθ50(002) を測定した。
(3) 膜厚
小板研究所製万能表面形状測定器モデル5E−6Eを使
用し、薄膜付着面と非付着面の高低尭を測定し、膜厚と
した。
用し、薄膜付着面と非付着面の高低尭を測定し、膜厚と
した。
(4) 再生出力
磁性薄膜シートを直径5インチのフロッピーディスク状
に切断し、ジャケットに収納したのち。
に切断し、ジャケットに収納したのち。
ミニフロッピーディスク駆動装置(アップル社製ディス
ク■)を改造した装置を用いて、 62.5 kHzの
正弦波信号を記録し9次いで、再生信号出力を交流電圧
計(横筒ヒューレットパソカード社製。
ク■)を改造した装置を用いて、 62.5 kHzの
正弦波信号を記録し9次いで、再生信号出力を交流電圧
計(横筒ヒューレットパソカード社製。
400Fりを用いて再生出力を測定する。
フロッピーディスク駆動装置の記録再生ヘッドは、厚み
1μmのフェライト板から成る単磁極垂直ヘッドを用い
た。
1μmのフェライト板から成る単磁極垂直ヘッドを用い
た。
再生出力はミリボルト実効値(mV (r、 m、s)
)であられす。
)であられす。
実施例1
コバルトとクロムの重量比が81:19の合金をターゲ
ットに用い、直流マグネトロン型スパッタリングにより
、軟磁性層と硬磁性層とから成る二層構造の磁性薄膜を
基体上に作製した。基体には厚さ50μmのポリイミド
フィルム(デュポン社製・・カプトン′″)を使用した
。
ットに用い、直流マグネトロン型スパッタリングにより
、軟磁性層と硬磁性層とから成る二層構造の磁性薄膜を
基体上に作製した。基体には厚さ50μmのポリイミド
フィルム(デュポン社製・・カプトン′″)を使用した
。
、 真空槽内にアルゴン:窒素−7010(体積比)の
混合ガスを10mTorrまで導入し、十分にプレスパ
ッタを行なった後、スパッタ速度015μm/分で、膜
厚口25μmの軟磁性層を直流マグネトロンスパッタに
より作製した。
混合ガスを10mTorrまで導入し、十分にプレスパ
ッタを行なった後、スパッタ速度015μm/分で、膜
厚口25μmの軟磁性層を直流マグネトロンスパッタに
より作製した。
次に、真空槽内を十分にアルゴンガスで置換し2 m
Torr の圧力で十分にプレスパツタを行った後、
スパッタ速度0.6μm/分で膜厚06μmの硬磁性層
を上記軟磁性層」二にスパッタによシ作製した。
Torr の圧力で十分にプレスパツタを行った後、
スパッタ速度0.6μm/分で膜厚06μmの硬磁性層
を上記軟磁性層」二にスパッタによシ作製した。
かくして得た軟磁性層の基体面と平行方向の保磁力は2
エルステツド、該軟磁性層上に設けだ硬磁性層の基体面
と垂直方向の保磁力は500エルステツドで、Δθso
(。。2)80であった。
エルステツド、該軟磁性層上に設けだ硬磁性層の基体面
と垂直方向の保磁力は500エルステツドで、Δθso
(。。2)80であった。
また、再生出力は4.2mV (r、 m、 s )で
エンベロープ波形も良好であった。
エンベロープ波形も良好であった。
実施例2
膜厚0.25μmnの軟磁性層を実施例1と同様にして
作製した後、該軟磁性層上に膜厚O5μ7nの硬磁性層
を実施例1と同様の製法で作製した。かくして得られた
硬磁性層の基体面と垂直方向の保磁力i、580エルス
テッドであり、Δθso(。。2)ば40 であった。
作製した後、該軟磁性層上に膜厚O5μ7nの硬磁性層
を実施例1と同様の製法で作製した。かくして得られた
硬磁性層の基体面と垂直方向の保磁力i、580エルス
テッドであり、Δθso(。。2)ば40 であった。
実施例6
膜厚025μmの軟磁性層を実施例1と同様にして作製
した後、該軟磁性層上に膜厚07μmの硬磁性層を実施
例1と同様の製法で作製した。かくして得られた硬磁性
層の基体面と垂直方向の保磁力は650エルステツドで
あシ、Δθ50(。02)は。
した後、該軟磁性層上に膜厚07μmの硬磁性層を実施
例1と同様の製法で作製した。かくして得られた硬磁性
層の基体面と垂直方向の保磁力は650エルステツドで
あシ、Δθ50(。02)は。
68 であった。
実施例4
膜厚0.25μmの軟磁性層を実施例1と同様にして作
製した後、該軟磁性層上に膜厚09μmの硬磁性層を実
施例1と同様の製法で作製した。かくして得られた硬磁
性層の基体面と垂直方向の保磁力は700エルステツド
であり、Δθso(。。2.ば66 であった。
製した後、該軟磁性層上に膜厚09μmの硬磁性層を実
施例1と同様の製法で作製した。かくして得られた硬磁
性層の基体面と垂直方向の保磁力は700エルステツド
であり、Δθso(。。2.ば66 であった。
まだ、再生出力は5.8mV (r、m、 s )であ
り、エンベロープ波形も良好であった。
り、エンベロープ波形も良好であった。
比較例1
コバルトとクロムの重量比が81:19の合金をターゲ
ットに用い、直流マグネトロンスパッタリングにより、
基体上に直接硬磁性薄膜を作製した。基体には厚さ50
μmのポリイミドフィルムを使用した。
ットに用い、直流マグネトロンスパッタリングにより、
基体上に直接硬磁性薄膜を作製した。基体には厚さ50
μmのポリイミドフィルムを使用した。
真空槽内にアルゴンガスを2mTOrr′!f、で導入
し、十分にプレスパツタを行なった後、スパッタ速度0
3μm/分で膜厚0.6μmの硬磁性薄膜を上記基体上
に作製した。かくして得られた硬磁性薄膜の基体面に垂
直方向の保磁力[,250エルステツド、Δθ50(0
02) は、110 であった。
し、十分にプレスパツタを行なった後、スパッタ速度0
3μm/分で膜厚0.6μmの硬磁性薄膜を上記基体上
に作製した。かくして得られた硬磁性薄膜の基体面に垂
直方向の保磁力[,250エルステツド、Δθ50(0
02) は、110 であった。
また、再生出力は1.8mV (r、 m、 s )と
実施例1にくらべて低かった。
実施例1にくらべて低かった。
比較例2
膜厚05μmの硬磁性薄膜を比較例1と同様の製法で作
製した。得られた硬磁性薄膜の基体面に垂直方向の保磁
力は、680エルステツドΔθ5o(。。2)は、80
であった。
製した。得られた硬磁性薄膜の基体面に垂直方向の保磁
力は、680エルステツドΔθ5o(。。2)は、80
であった。
しかし、再生出力は2.2mV (r、 rn、 s
) であり。
) であり。
実施例1と比較して出力が低かった。
比較例6
膜厚O7μ7+1の硬磁性薄膜を比較例1と同様の製法
で作製した。得られた硬磁性薄膜の基体面に垂直方向の
保磁力は、480エルステツド。
で作製した。得られた硬磁性薄膜の基体面に垂直方向の
保磁力は、480エルステツド。
Δθso(。。2)は、5.8であった。
比較例4
膜厚09μmの硬磁性薄膜を比較例1と同様の製法で作
製した。得られた硬磁性薄膜を比較例1と同様の製法で
作製した。得られた硬磁性薄膜の基体面に垂直方向の保
磁力は、550エルステツド、Δθso(。02)
は、50であった。
製した。得られた硬磁性薄膜を比較例1と同様の製法で
作製した。得られた硬磁性薄膜の基体面に垂直方向の保
磁力は、550エルステツド、Δθso(。02)
は、50であった。
比較例5
基体に、厚さ50μmのポリイミドフィルムを使用し、
該基体上に鉄とニッケルの複合ターゲットを用い、直流
マグ坏トロン型スパッタにより鉄−ニッケル合金軟磁性
層を作製した。
該基体上に鉄とニッケルの複合ターゲットを用い、直流
マグ坏トロン型スパッタにより鉄−ニッケル合金軟磁性
層を作製した。
すなわち、真空槽内にアルゴンガスを8mTorrまで
導入し、十分にプレスパツタを行なった後。
導入し、十分にプレスパツタを行なった後。
スパッタ速度0.09μm/分で、膜厚025μmの鉄
−ニッケル合金軟磁性層をスパッタによシ作製した。
−ニッケル合金軟磁性層をスパッタによシ作製した。
次に、コバルトとクロムの重量比が81:19の合金を
ターゲットに用い、直流マグネトロン型スパンタリング
により、上記鉄−ニッケル合金′軟磁性層」二にコバル
トとクロムよシなる硬磁性層を作製した。
ターゲットに用い、直流マグネトロン型スパンタリング
により、上記鉄−ニッケル合金′軟磁性層」二にコバル
トとクロムよシなる硬磁性層を作製した。
すなわち、真空槽内にアルゴンガスを2mTorrまで
導入し、十分にプレスパツタを行なった後。
導入し、十分にプレスパツタを行なった後。
スパッタ速! 0.5μmで厚さ口9μInの硬磁性層
を上記硬磁性層上に作製した。
を上記硬磁性層上に作製した。
かくして得た軟磁性層の組成は、鉄とニッケルノ重量比
が55: 45で、またその基体面と平行方向の保磁力
1l−tO,5エルステツドであった。該軟磁性層」二
に設けた硬磁性層の基体面と垂直方向の保磁力は、45
0エルステツド、Δθso(。。2)は。
が55: 45で、またその基体面と平行方向の保磁力
1l−tO,5エルステツドであった。該軟磁性層」二
に設けた硬磁性層の基体面と垂直方向の保磁力は、45
0エルステツド、Δθso(。。2)は。
io、o であった。
また、再生出力は、 2.5mV (r、 m、 s
)と、実施例4にくらべて低かった。
)と、実施例4にくらべて低かった。
Claims (2)
- (1)基体と、該基体上に形成されたコバルトおよびク
ロムから主としてなシ基体面と平行方向の保磁力が0.
01〜50エルステツドの磁性薄膜とから々る磁気記録
媒体用基材。 - (2)基体と、該基体上に形成されたコバルトおよびク
ロムから主としてなり基体面と平行方向の保磁力が00
1〜50エルステツドの磁性薄膜と。 200〜2000エルステツドの磁性薄膜とから力る磁
気記録媒体。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58065891A JPS59191130A (ja) | 1983-04-14 | 1983-04-14 | 磁気記録媒体用基材および磁気記録媒体 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58065891A JPS59191130A (ja) | 1983-04-14 | 1983-04-14 | 磁気記録媒体用基材および磁気記録媒体 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59191130A true JPS59191130A (ja) | 1984-10-30 |
Family
ID=13300035
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58065891A Pending JPS59191130A (ja) | 1983-04-14 | 1983-04-14 | 磁気記録媒体用基材および磁気記録媒体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS59191130A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5543221A (en) * | 1987-09-21 | 1996-08-06 | Hitachi Maxell, Ltd. | Magnetic recording medium |
US6426157B1 (en) | 1998-08-28 | 2002-07-30 | Nec Corporation | Perpendicular magnetic recording medium |
-
1983
- 1983-04-14 JP JP58065891A patent/JPS59191130A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5543221A (en) * | 1987-09-21 | 1996-08-06 | Hitachi Maxell, Ltd. | Magnetic recording medium |
US6426157B1 (en) | 1998-08-28 | 2002-07-30 | Nec Corporation | Perpendicular magnetic recording medium |
US7090934B2 (en) | 1998-08-28 | 2006-08-15 | Hoya Corporation | Perpendicular magnetic recording medium |
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