JPS5918843B2 - 抵抗回路基板とその製造方法 - Google Patents

抵抗回路基板とその製造方法

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JPS5918843B2
JPS5918843B2 JP49092791A JP9279174A JPS5918843B2 JP S5918843 B2 JPS5918843 B2 JP S5918843B2 JP 49092791 A JP49092791 A JP 49092791A JP 9279174 A JP9279174 A JP 9279174A JP S5918843 B2 JPS5918843 B2 JP S5918843B2
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JP
Japan
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conductive pattern
film resistor
resistor
hybrid integrated
integrated circuit
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JP49092791A
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JPS5121159A (en
Inventor
博 松本
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Toshiba Corp
Original Assignee
Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
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Publication date
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Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は混成集積回路装置に関し、特に混成集積回路に
使用する抵抗と回路基板を安定かつ低廉に製造できるも
のである。
〔発明の技術的背景とその問題点〕
混成集積回路用の抵抗と回路基板としては従来セラミッ
ク基板の主面に高温焼成用の厚膜導体および抵抗体のペ
ーストを印刷して焼成したものが主体を占めてきている
が、これは安定度の高い抵抗体が得られるが高価になる
という欠点がある。
そこでこれをさけるために若干安定性において劣るが、
価格を低廉にするためにフェノール、ガラスエポキシ等
の銅貼積層板に低温焼成用の抵抗ペーストを印刷して使
用する方法がとられてきた。この場合は一般に第1図a
、a’に一部を1で示した銅貼積層板を用意する。上記
図aは断面図、図a’は上面図を示し、以下図b、c、
dについて上記に準する。この銅箔2部にたとえばエッ
チングを施こして所定形状の導電パターン3a、3bを
形成する(図b、b’)。次に前記導電パターンの13
aの1部位3a′ と、他3b(T)l部位3b′ と
の間の所定位置に膜抵抗体4を印刷形成する(図c、c
’)。さらに前記導電パターンの2部位3a、3a′の
夫々と、前記抵抗体4の両端部の夫々とを導電するため
の導体5a、5bを印刷形成する(図d、d’ )。上
記従来の混成集積回路装置とは銅箔を導体パターンに形
成するために一例としてエッチングを施すことを要し、
さらに抵抗体との接続のために導体を形成するので工程
が複雑になるという欠点があつた。
しかして銅箔に直接抵抗体を印刷すると、抵抗焼成時に
銅箔が酸化されて抵抗体との導電が得られないという欠
点がある。また第2図に示す如く、銅箔が35μの如く
厚いために抵抗体(通常は膜厚10〜20μ)との接続
部で熱膨張係数の差に起因する応力により亀裂6や断線
が生じて不安定になるため実用できなかつた。〔発明の
目的〕 本願は上記従来の欠訊を除去するためになされた混成集
積回路装置にかかり、膜抵抗体と導体パターンとの接続
が確実な構造を提供するものである。
即ち本願は次の如くである。〔発明の概要〕 回路基板の一主面に配設された導体パターンの所定2部
位間に橋絡して配設された膜抵抗体を備えた抵抗回路基
板に卦いて、導体パターンがNi,Au,Sn,Zn,
Ag,Pbの中の少くとも1でなるとともに層厚が8μ
以下の無電解メツキ層にして、かつ低温焼成の抵抗ペー
ストで形成された導体パターンよりも厚い膜厚を有する
膜抵抗体を具備したことを特徴とする混成集積回路装置
〔発明の実施例〕以下に本願の一実施例につき図面を参
照して詳細イ説明する。
第3図に本願の一実施例示す如くまづフエノール、エポ
キシ等の合成樹脂に充填材等を含んでなる絶縁基板11
の1主面に、無電解メツキによりNLAu,Sn,Zn
.Ag.PPb等の少くとも1を層厚5〜8μにして被
着する。特に該層厚は8μ以下にとどめ、膜抵抗体の厚
さよりも薄く被着することが必要である。な卦、該層厚
の8μは無電解メツキで形成できる層厚の最大値である
。この導体層12を形成した状態を図aに断面図で、図
alに上面図で示す。以下図B,cについても上記に準
する。ついで、上記導体層12にエツチングを施し図B
.b′に示す如き導体パターン13a.13bに形成す
る。な卦該導体パターンの形成は絶縁基板の1主面全部
に導電層を被着することなく、不所望の部分を予めレジ
ストの如きで被覆して置いて無電解メツキを施せば所望
の部分のみに導電パターンを形成することができる。次
に図C,c′に示す如く前記導電パターンに卦ける膜抵
抗体との導接予定の2部位13a′,13b′間を橋絡
する如く低温焼成の抵抗ペーストを被着形成し、ついで
これを加熱焼成を施すことによつて膜抵抗体14の配設
を達成する。な卦膜抵抗体と導電パターンの導接部を第
4図に例示する如く、その何れか一方を幅広に形成する
ことも本願により達成できる。(第4図は膜抵抗体、導
電パターンの両方とも導接部を広幅にした例である。)
〔発明の効果〕 本願によれば導電パターンの所望部に膜抵抗体を直接に
積層形成することができるので、製造の工程が簡単で廉
価な半導体装置がえられる。
また膜抵抗体と導体パターンとの接続部に亀裂を生ずる
こともなく安定した半導体装置がえられるという利点も
ある。さらに導電体が銅に比して比較的酸化し難い金属
でなるため、膜抵抗体との接触も良好なる上、製造も容
易であるなどの顕著な利点がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の混成集積回路装置を説明するための図a
−dは工程順に示す断面図、図a′〜d′は前記図a−
dに対応する上面図、第2図は従来の半導体装置の一部
を断面で示す図、第3図は本願の一例の混成集積回路装
置を説明するための図a−cは工程順に示す断面図、図
a′〜c/は前記図a−cに対応する上面図、第4図は
本願の別の一実施例を示す上面図である。 図中同一符号は同一または相当部分を示すものとする。 11・・・・・・回路基板、13a,13b・・・・・
・導電パターン、14・・・・・・膜抵抗体。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 混成集積回路を形成するための平坦な一主面を有す
    る樹脂基板と、この一主面にNi、Au、Zn、Ag、
    Pb、Snからなる群の少なくとも一種で無電解メッキ
    により層厚を8μm以下に形成した少なくとも一対の導
    電パターン層と、この導電パターン層を橋絡する如く前
    記樹脂基板の一主面に配置された前記導電パターン層の
    層厚よりも厚い低温焼成ペーストからなる膜抵抗体とを
    具備し、前記膜抵抗体が前記導電パターンと積層状態で
    導通していることを特徴とする混成集積回路装置。
JP49092791A 1974-08-15 1974-08-15 抵抗回路基板とその製造方法 Expired JPS5918843B2 (ja)

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JPS5121159A JPS5121159A (en) 1976-02-20
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0581336U (ja) * 1992-04-02 1993-11-05 富士見グリーンエンジニアリング株式会社 排水基盤体

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4951594A (ja) * 1972-09-22 1974-05-18

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