JPS59168934A - 磁気デイスク用基板の製造方法 - Google Patents
磁気デイスク用基板の製造方法Info
- Publication number
- JPS59168934A JPS59168934A JP58042107A JP4210783A JPS59168934A JP S59168934 A JPS59168934 A JP S59168934A JP 58042107 A JP58042107 A JP 58042107A JP 4210783 A JP4210783 A JP 4210783A JP S59168934 A JPS59168934 A JP S59168934A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- oxide film
- anodic oxide
- thickness
- heat treatment
- alloy
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/62—Record carriers characterised by the selection of the material
- G11B5/73—Base layers, i.e. all non-magnetic layers lying under a lowermost magnetic recording layer, e.g. including any non-magnetic layer in between a first magnetic recording layer and either an underlying substrate or a soft magnetic underlayer
- G11B5/739—Magnetic recording media substrates
- G11B5/73911—Inorganic substrates
- G11B5/73913—Composites or coated substrates
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Electrochemical Coating By Surface Reaction (AREA)
- Magnetic Record Carriers (AREA)
- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は、薄膜磁気ディスクに用いる基板の強度と精度
とを向上するようにした磁気ディスク用基板の製造方法
に関する。
とを向上するようにした磁気ディスク用基板の製造方法
に関する。
;4↓
〔〕
スバ、タディスクの重要な技術的課題の一つとして、基
板の強度を高くすることがあげられる。
板の強度を高くすることがあげられる。
通常の磁気ディスク用基板は、AtXけJ4L合金の中
心部の層と、この中心部の層の両面にAtXはAl−合
金の陽極酸化膜を形成した三層構造になっている。
心部の層と、この中心部の層の両面にAtXはAl−合
金の陽極酸化膜を形成した三層構造になっている。
この基板は、 At又はAt合金素材を研磨した後、陽
極酸化して陽極酸化膜(Ate On )を形成し、こ
れを熱処理(例えば300℃1A)シ、しかるのちに表
面を高精度に研磨して製造する。上記陽極酸化膜を熱処
理する目的は、陽極酸化膜に圧縮応力を付与することに
よってr−F a、0などの磁性媒体形成時に行なわれ
る熱酸化1稈でのクラック発生を未然に防ぐことにある
。このクラックは、At又はAt合金の中心層と、この
中心層の両面に形成した陽極酸化膜層との間の熱膨張差
によって生ずる。
極酸化して陽極酸化膜(Ate On )を形成し、こ
れを熱処理(例えば300℃1A)シ、しかるのちに表
面を高精度に研磨して製造する。上記陽極酸化膜を熱処
理する目的は、陽極酸化膜に圧縮応力を付与することに
よってr−F a、0などの磁性媒体形成時に行なわれ
る熱酸化1稈でのクラック発生を未然に防ぐことにある
。このクラックは、At又はAt合金の中心層と、この
中心層の両面に形成した陽極酸化膜層との間の熱膨張差
によって生ずる。
この上記両者間の熱膨張差は、基板製造工程において行
なわれる熱処理によって、陽極酸化膜に付与する圧縮応
力値と、陽極酸化膜の厚さに大きく影響され、一般的に
は、陽極酸化膜の厚さが厚くなる程、クラックが発生し
易くなる。
なわれる熱処理によって、陽極酸化膜に付与する圧縮応
力値と、陽極酸化膜の厚さに大きく影響され、一般的に
は、陽極酸化膜の厚さが厚くなる程、クラックが発生し
易くなる。
一方陽極酸化膜の表面硬度は、膜厚が薄くなると低下す
る傾向にあるので、基板としては耐衝撃強度の大きい本
のが望ましいから陽極酸化膜の膜厚は厚ければ厚込はど
好ましい。
る傾向にあるので、基板としては耐衝撃強度の大きい本
のが望ましいから陽極酸化膜の膜厚は厚ければ厚込はど
好ましい。
このようK、基板の製造においては、耐クラ、り性と耐
衝撃性との間には相反するものがあシ、陽極酸化膜の厚
さは、この両者の間のバランスにおりて決定される。
衝撃性との間には相反するものがあシ、陽極酸化膜の厚
さは、この両者の間のバランスにおりて決定される。
実用上の陽極酸化膜の厚さは、耐クラツク性を重視して
2〜3μmの厚さしかできず、耐衝撃強度が不充分なも
のとなっている。
2〜3μmの厚さしかできず、耐衝撃強度が不充分なも
のとなっている。
更に従来の基板の製造方法では、中心層の両面に形成さ
れる陽極酸化膜の厚さを2〜3μmにし、これを熱処理
して圧縮応力を増した後に研磨するので、2〜3μ専の
厚さに陽極酸化膜を形成しても、研磨によってその厚さ
が更に薄くなり、増々耐衝撃強度が低下して′Lまうと
いう欠点があった。
れる陽極酸化膜の厚さを2〜3μmにし、これを熱処理
して圧縮応力を増した後に研磨するので、2〜3μ専の
厚さに陽極酸化膜を形成しても、研磨によってその厚さ
が更に薄くなり、増々耐衝撃強度が低下して′Lまうと
いう欠点があった。
本発明の目的は、陽極酸化膜の表面硬度が大きく、膜厚
が厚くしかも耐クラック性、更に耐衝撃性に優れた薄膜
磁気ディスク用基板の製造方法を提供することにある。
が厚くしかも耐クラック性、更に耐衝撃性に優れた薄膜
磁気ディスク用基板の製造方法を提供することにある。
発明者らは、上記欠点を解決するために実験研究を重ね
た結果、熱処理温度と、!II極酸極膜化膜厚、クラッ
クとの間にある関係があることを窮め、中心層の両面に
形成する陽極酸化膜の厚さを充分厚?しておき、この陽
極酸化膜を研磨して、クラックが発生しない最大厚さの
層に仕上げ、然る後に熱処理を行なうのが良いととを見
い出した。
た結果、熱処理温度と、!II極酸極膜化膜厚、クラッ
クとの間にある関係があることを窮め、中心層の両面に
形成する陽極酸化膜の厚さを充分厚?しておき、この陽
極酸化膜を研磨して、クラックが発生しない最大厚さの
層に仕上げ、然る後に熱処理を行なうのが良いととを見
い出した。
即ち本発明は、従来のように、耐クラ、り性を考慮した
厚さに陽極酸化膜を形成し、これを直接熱処理するので
はなく、充分に厚い陽極酸化膜を形成しておき、この陽
極酸化膜を次工程の熱処理温度に見合った厚さに正確に
研磨加工して最大限の陽極酸化膜の厚さにした後熱処理
をするようにしたものであって、At又はAt合金の中
心層を研磨した後その両面に所定膜厚さのAt又けAt
合金の陽極酸化膜形成する工程と1次にこの陽極酸化膜
を研磨し1次工程の熱処理温度に見合った厚さに陽極酸
化膜を加工する工程と、これを次に熱処理して陽極酸化
膜の圧縮強度を向上させる工程と、最後に精密研磨する
ことを特徴とする。
厚さに陽極酸化膜を形成し、これを直接熱処理するので
はなく、充分に厚い陽極酸化膜を形成しておき、この陽
極酸化膜を次工程の熱処理温度に見合った厚さに正確に
研磨加工して最大限の陽極酸化膜の厚さにした後熱処理
をするようにしたものであって、At又はAt合金の中
心層を研磨した後その両面に所定膜厚さのAt又けAt
合金の陽極酸化膜形成する工程と1次にこの陽極酸化膜
を研磨し1次工程の熱処理温度に見合った厚さに陽極酸
化膜を加工する工程と、これを次に熱処理して陽極酸化
膜の圧縮強度を向上させる工程と、最後に精密研磨する
ことを特徴とする。
以下本発明の一実施例について詳細に説明する。第1図
は、陽極酸化膜厚さと基板の硬度との関係を示す。
は、陽極酸化膜厚さと基板の硬度との関係を示す。
At又はAt合金表面を形成する陽極酸化膜の表面硬度
は、中心層であるAt又はAt合金が軟らかいため、陽
極酸化膜の厚さに大きく影響される。
は、中心層であるAt又はAt合金が軟らかいため、陽
極酸化膜の厚さに大きく影響される。
第1図はその具体例を示すが、膜厚が厚いほど陽極酸化
膜の本来の膜硬度に近ずくのがわかる。
膜の本来の膜硬度に近ずくのがわかる。
したがって膜厚が厚いほど好ましいことが解る。
一方、第2図は、膜厚とクラック発生の有無および熱処
理温度の関係を示すが、熱処理によってクラックが発生
しない限界の膜厚を知るこ・ 4 ・ とができる、第2園中領域G/4)はクラックが入らぬ
領域であり、領域(烏はクラックが入る領域である。
理温度の関係を示すが、熱処理によってクラックが発生
しない限界の膜厚を知るこ・ 4 ・ とができる、第2園中領域G/4)はクラックが入らぬ
領域であり、領域(烏はクラックが入る領域である。
例えば1次工程の熱処理温度を350℃にて行なうとす
れば、陽極酸化膜の厚さを10μ以上にしておき、これ
を研磨して10μmの厚さにしておけば、350℃で熱
処理して本、クラックが生じないことが解る。
れば、陽極酸化膜の厚さを10μ以上にしておき、これ
を研磨して10μmの厚さにしておけば、350℃で熱
処理して本、クラックが生じないことが解る。
更に第3図は、陽極酸化した膜厚と膜硬度の縦方向依存
性を示すものである。即ち、初期膜厚が比較的厚い曲線
4の例C膜厚40μm)では硬度変化はゆるやかな勾配
となり、陽極酸化膜とAtとの界面に近ず(にしたがっ
て急しゅんな勾配を示す、初期膜厚が比較的薄い曲線2
0例(膜厚20μm)では、4に比べ硬度は急な勾配を
示す、なお曲線1は10μm1曲線3は30μmである
。
性を示すものである。即ち、初期膜厚が比較的厚い曲線
4の例C膜厚40μm)では硬度変化はゆるやかな勾配
となり、陽極酸化膜とAtとの界面に近ず(にしたがっ
て急しゅんな勾配を示す、初期膜厚が比較的薄い曲線2
0例(膜厚20μm)では、4に比べ硬度は急な勾配を
示す、なお曲線1は10μm1曲線3は30μmである
。
この理由は、バリア型の陽極酸化の工程では、酸化瞑が
本質的に多孔質であるがために、化成液にさらされて、
硬度が表面に近くなるに従って劣化し、At界面に近く
なるに従って、化成液の影響が少くカリ、陽極酸化膜本
来の硬度に急げきに近ずくためと考えられる。
本質的に多孔質であるがために、化成液にさらされて、
硬度が表面に近くなるに従って劣化し、At界面に近く
なるに従って、化成液の影響が少くカリ、陽極酸化膜本
来の硬度に急げきに近ずくためと考えられる。
このことから、より硬い陽極酸化膜を得ようとする場合
は、中心層に最初に形成される陽極酸化膜の厚さを充分
厚くして、化成化液に影響され劣化した部分を研磨によ
り充分削り取り。
は、中心層に最初に形成される陽極酸化膜の厚さを充分
厚くして、化成化液に影響され劣化した部分を研磨によ
り充分削り取り。
化成化液に影響されない部分を露出させることによって
達成されることが解る。
達成されることが解る。
そこで、薄膜ディスク用基板として、より硬く厚く、し
かも耐クラツク性の優れた陽極酸化膜を得るには、あら
かじめ、厚い陽極酸化膜を形成しこれをクラックが生じ
ない限界まで研磨し、しかる後に、熱処理して圧縮応力
を増加させれば良い。
かも耐クラツク性の優れた陽極酸化膜を得るには、あら
かじめ、厚い陽極酸化膜を形成しこれをクラックが生じ
ない限界まで研磨し、しかる後に、熱処理して圧縮応力
を増加させれば良い。
次に上述した方法により実際に製造例を以下に示す。
実施例1
At−4%M、、合金φ8#素材を表面研磨し、これを
20℃の15%、EtSO,浴中で電流密度1A/d
m” (D条件で約30μmの陽極酸化膜を形成した。
20℃の15%、EtSO,浴中で電流密度1A/d
m” (D条件で約30μmの陽極酸化膜を形成した。
次にこれを約20μm研磨し、300℃、5hrO熱処
理をした。
理をした。
との時クラックは発生しかかった。更にこれを高精度研
磨し、陽極酸化膜厚95μm1表面硬度Ex=500の
基板を得た。
磨し、陽極酸化膜厚95μm1表面硬度Ex=500の
基板を得た。
実施例2
実施例1と同様の条件で、20μmの陽極酸化膜を形成
し、これを10μm研磨し1次に同条件で熱処理、高精
度研磨し、陽極酸化膜厚95μm、表面硬度B、450
の基板を得た。
し、これを10μm研磨し1次に同条件で熱処理、高精
度研磨し、陽極酸化膜厚95μm、表面硬度B、450
の基板を得た。
以上詳述した通り、本発明の磁気ディスク用基板の製造
方法によれば、中心部の層の両面に充分に厚い陽極酸化
膜を形成し1次に熱処理温度に適合した厚さまで研磨し
た後熱処理をするようにしたので、クラックを発生させ
るととなく厚い陽極酸化膜を形成することができ、耐衝
撃性の高い基板とすることができた。
方法によれば、中心部の層の両面に充分に厚い陽極酸化
膜を形成し1次に熱処理温度に適合した厚さまで研磨し
た後熱処理をするようにしたので、クラックを発生させ
るととなく厚い陽極酸化膜を形成することができ、耐衝
撃性の高い基板とすることができた。
又陽極酸化膜厚充分厚くすることによって、化成液によ
る劣化部分を研磨によって充分除去し、化成液に影響さ
れない部分を露出させるよ、7 。
る劣化部分を研磨によって充分除去し、化成液に影響さ
れない部分を露出させるよ、7 。
うにしたので、表面硬度が高くなり、精密研磨の仕上げ
精度が向上され、3万回以上のヘッドのC55(eon
tatyt 5tart 5top)を得ることができ
。
精度が向上され、3万回以上のヘッドのC55(eon
tatyt 5tart 5top)を得ることができ
。
耐衝撃性、耐クラツク性、仕上げ精度及び信頼性の裏込
磁気ディスク用基板を製造することができた。
磁気ディスク用基板を製造することができた。
第1図は、陽極酸化膜厚さと硬度との関係を。
第2図は、陽極酸化膜厚さとクラック及び熱処理温度と
の関係を、又第3図は、陽極酸化膜厚さの縦方向位置と
硬度との関係をそれぞれ示す。 、8 。 第1 図 10 a) 30 40膳辱
(、に?、) 第2図 愁処fL温儂(’C)
の関係を、又第3図は、陽極酸化膜厚さの縦方向位置と
硬度との関係をそれぞれ示す。 、8 。 第1 図 10 a) 30 40膳辱
(、に?、) 第2図 愁処fL温儂(’C)
Claims (1)
- 中心層がAt又はAt合金層であシ、この両面にAtX
けAt合金の陽極酸化膜を形成して成る3層構造の磁気
ディスク用基板において、At又FiAI合金の層を研
磨した後その両面に所定膜厚さのAt又はAt合金の陽
極酸化膜を形成し、然る後にこの陽極酸化膜部を研磨す
ることによって、次工程の熱処理温度に見合った所定の
陽極酸化膜厚さとし、次にこれを所定温度にて熱処理し
、その後高精度研磨を行なうことを特徴とする磁気ディ
スク用基板の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58042107A JPS59168934A (ja) | 1983-03-16 | 1983-03-16 | 磁気デイスク用基板の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58042107A JPS59168934A (ja) | 1983-03-16 | 1983-03-16 | 磁気デイスク用基板の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59168934A true JPS59168934A (ja) | 1984-09-22 |
Family
ID=12626735
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58042107A Pending JPS59168934A (ja) | 1983-03-16 | 1983-03-16 | 磁気デイスク用基板の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS59168934A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4761874A (en) * | 1986-04-01 | 1988-08-09 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Method of making magnetic recording medium |
JPH01205965A (ja) * | 1988-02-10 | 1989-08-18 | Kobe Steel Ltd | アルミニウム合金ディスクブランクとその研削方法 |
-
1983
- 1983-03-16 JP JP58042107A patent/JPS59168934A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4761874A (en) * | 1986-04-01 | 1988-08-09 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Method of making magnetic recording medium |
JPH01205965A (ja) * | 1988-02-10 | 1989-08-18 | Kobe Steel Ltd | アルミニウム合金ディスクブランクとその研削方法 |
JP2671000B2 (ja) * | 1988-02-10 | 1997-10-29 | 株式会社神戸製鋼所 | アルミニウム合金ディスクブランクとその研削方法 |
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