JPS5916331B2 - コウガクシキシンゴウヨミトリソウチ - Google Patents

コウガクシキシンゴウヨミトリソウチ

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JPS5916331B2
JPS5916331B2 JP50141987A JP14198775A JPS5916331B2 JP S5916331 B2 JPS5916331 B2 JP S5916331B2 JP 50141987 A JP50141987 A JP 50141987A JP 14198775 A JP14198775 A JP 14198775A JP S5916331 B2 JPS5916331 B2 JP S5916331B2
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diameter
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JP50141987A
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JPS5265405A (en
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斉 金丸
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Pioneer Corp
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Pioneer Electronic Corp
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Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、レーザー光等で信号を検出するVLP(ビ
デオ・ロング・プレーイング)再生機等の光学式信号読
取装置の改良に関する。
第1図に従来の光学式信号読取装置のブロック図を示す
Aは読取部、Bは回転円盤、Cはその回転円盤Bを回転
する電動機である。回転円盤Bには第2図に示すように
同心円状あるいは渦巻状に情報トラックB1、B2・・
・・・・に沿つて記録された情報を現す情報ビットbが
配列されており、これらの情報ビットbは円盤Bの他の
部分から、例えば光反射率、吸収率、屈折率あるいは高
低位置5 が異なる等の何らかの存在する部分で、トラ
ックB1、B2・・・・・・に沿つた方向でのビットb
の繰返し周期、すなわち記録波長及びビットbの長さに
よつて記録された情報が表されている。光源1(例えば
ヘリウムネオンレーザー等)か’0 ら出た光線束は、
コリメーター2で適当な直径の光線束に拡大され、ビー
ムスプリッター3、可動鏡4を経由して収束レンズ5に
至り、この収束レンズ5で回転円盤B上に微小な光点と
なる様に収束される。
j5この時電動機Cによつて回転円盤Bが回転していれ
ば、上記微小な点は例えばトラックB2に沿つてピット
bを順次走査して行くようになる。
ピットbがそれぞれ情報に応じて反射率が異なるとすれ
ば、その円盤Bでの反射光は再度収束レンズ■05で集
められ、可動鏡4を経由した後、ビームスプリッター3
で分離されて光検出器6の受光面に至る。この反射光は
光検出器6で電気信号に変換され、増巾器7で増巾され
た後、端子8から復調器(図示せず)に送られて元の情
報に復元される■5 ようになる。以上従来例の概略で
あるが、収束レンズ5による光線束の状態は一般に第3
図のようになり、従来では回転円盤Bを光線束が最も小
さな光点を結ぶ■の位置におき、回転円盤Bからの情報
を読幻 み取つている。
すなわち、第4図(ある瞬間における回転円盤Bの情報
ピットbへの情報読取光線束の照射状態を示す図)の■
に示すように読取光線束9の直径が情報ピットbの寸法
より小さくなるように選び、第5図(光検出器6の受光
面にフ5 おける情報ピットbの拡大投影図)のHに示
すように情報ピットbの拡大投影図dが情報反射光線束
9’の全体を占めるようにしている。このように読取光
線束9の直径を情報ピツトbの寸法より小さくしていた
理由は、第8図Aに示すようにピツトbの境界部におい
て、反射率が変化する読取信号(第8図A2)を得て、
この読取信号によりフリツプフロツプをトリカーするこ
とでピツトの有無を検出(第8図A3)するようにして
いたことによる。
しかし、読取光線束9を小さくした場合には、デイスク
表面又はデイスク記録面上のゴミ等による誤検出するこ
とがあるので、読取信号の平均値によりピツト有無を検
出するようになつてきた。
平均値であればゴミ等による瞬間的なノイズの影響を受
けないからである。このように読取信号の平均値をとる
ようになると、第8図A2のような読取信号では平均値
はほぼ零となつてしまい検出できなくなる。そこで第8
図Bに示すように読取光線束9の直径を情報ピツトbの
寸法より大きくし、ピツト部と非ピツト部で反射した光
の干渉による光量減少を利用した読取が行なわれるよう
になつた。この場合、従来の読取光線束9を情報ピツト
bの径より小さくしていた装置は最早利用できないとい
う問題点が生じてきた。そこでこの発明は以上のような
点に着目し、回転円盤の情報記録面を第3図1あるいは
の位置になるようにして、前記した従来の問題点を解決
した光学式信号読取装置を提供しようとするものである
以下、実施例を図を参照して説明する。
情報記録面における情報読取光線束9の照射状態は第4
図1あるいはに示される。その情報読取光線束9の直径
を情報ピツトbの幅より大きく、且つ情報トラツクBl
,B2・・・・・・の間隔の2倍以下、望ましくはトラ
ツク間隔に略等しく選ぶ。これは第3図におけるIある
いはの位置に情報記録面が位置するように調整すること
によつて達せられる。情報ピツトbの寸法は、巾が波長
と同程度、例えば0.6μm程度、深さが波長の数分の
1、例えば1/4として0.16μ湛程度である。この
情報ピツトbの部分が円盤Bの他の部分とは、例えば光
反射率、吸収率屈折率あるいは高低位置等が異なるよう
にして情報の記録再生が行なわれる。本実施例では高低
位置が異なる場合につき説明する。この場合、ピツトb
の深さが前述の如く1/4波長とされていることからピ
ツト部で反射した光の光路と非ピツト部で反射した光の
光路とが2×1/4波長異なり、これ等2つの光が干渉
効果により光量減少することを利用して、情報の読取が
行われる。このような干渉効果による光量減少を利用し
たことにより、第8図B2に示すようにピツトbを平均
光量として検出でき、境界部以外でも信号が得られるよ
うになる。これによりゴミ等による瞬間的なノイズの影
響を受けないようにできる。この読取信号(第8図B2
)はその後に波形整形されて、第8図B3に示すような
情報信号とされる。ピツト底部と非ピツト部のいずれを
基準として第3図1,の位置を決定するかについては、
いずれであつてもよい。
なぜなら、前述の如くレンズ5とデイスクBとの距離が
約3m1Lであるのに対してピツト深さは約0.16μ
mであつて無視できる値だからである。光検出器6の受
光面における情報ピツトbの拡大投影像B5は、第5図
のIあるいはに示すようになるoなお、この第5図のI
ととで投影像b′の上下位置が異なるのは、円盤Bが回
転したときに投影像b′がこの第5図の上下方向に移動
することを示すためである。
第4図の1,で情報ピツトbの読取光線束9に対する位
置関係が同一だとすれば、対応する第5図のI,におい
ても、情報反射光線束9′に対する投影像b′の位置も
I,とで同一となる。この第5図に示すように受光面に
おける拡大投影像dは情報反射光線束qの中に含まれ、
両者の寸法比は第4図のIあるいはに示した情報記録面
でのそれに略等しくなる。
従つて、光検出器6の受光面の寸法は拡大投影像b′の
それに略等しくか、もしくは大き目に選ぶ方が検出感度
の点から望ましい。ここで、位置1は収束位置の前方に
あり、位置は後方にあるから、第5図1ととでは拡大投
影像の上下左右が全て逆となり、拡大投影像の移動方向
も逆となるが、この点を除けばIととは等価でどちらを
利用しても同じ結果が得られる。
以下にこれを説明する。He−Neレーザを、ビーム径
φが0.7μmとなる様に光束をしぼり込める対物レン
ズ5の開口数NA(NumericalApartur
e)は収差を無視すると、となる。
ここで対物レンズ5の開口数NAは第7図においてで表
される。
故にとなる。
今、仮に第3図におけるビーム径φをとすると、位置と
位置との距離δは 程度となる。
一方、ビデオデイスク用の対物レンズの焦点距離fはデ
イスクのそり等を考慮して、程度必要とされる。
従つて対物レンズの開口部における反射光束の比は、す
なわち、0.067%程度発散による光量損失があるに
すぎない。
さらに、He−Neレーザ光束の強度分布が照射光の光
軸を中心としたガウス分布に近似できる事も考慮に入れ
ると、発散による光量損失は無視できる事は明白である
。従つての位置と1の位置とのいずれにおいても情報検
出が可能である。第6図に示すように情報記録面の位置
を移動させて検出信号出力、すなわち情報読取光線束9
がピツト部を照射した場合の光検出器6の出力と、非ピ
ツト部を照射した場合の光検出器6の出力との差を測定
すると、位置の前後に最大出力となる最良位置が存在す
る。
この位置は第4図のI,の照射状態にあり、また第5図
1,の受光状態の場合に相当する。即ち、第4図1,に
示すように情報記録面において情報読取光線束9の直径
が情報ピツトbの幅より大でかつ情報トラツクBl,B
2・・・・・・の間隔の2倍以下となし、かつ第5図1
,に示すように受光面において光検出器6の面積を拡大
投影像b′の直径より大とすることにより検出感度を上
げることができる。ノ なぜなら、ピツト部で反射した光と非ピツト部で反射し
た光の干渉による光量減少を利用していることからピツ
ト部と非ピツト部の双方に読取光線束9を照射しなけれ
ばならず、従つて情報ピツトbの巾より読取光線束9の
直径は大でなければならないからである。
また、その直径が情報トラツクBl,B2・・・・・・
の2つ以上にまたがるときは、1つの情報トラツクの読
取りができなくなることから、情報トラツクBl,B2
・・・・・・の間隔の2倍以下でなければならないから
である。更に受光面においては、光検出器6の巾が投影
像b′の巾より小である場合には投影像b′がピツト部
と非ピツト部とで変化することを充分に利用していない
ことになるからである。
なお、上記第3図のIあるいはの位置に回転円盤Bの情
報記録面を位置させ、保持させるには、空気軸受作用を
利用して利用して回転円盤B上に一定の距離を保つて収
束レンズ5を浮上させ、適宜手段により情報記録面の位
置を検知してそれにより収束レンズ5の位置をサーボ機
構によつて迫従させればよい。
以上のようにすることによつて、回転円盤Bの情報記録
面はIあるいはの位置に常に保持されるようになるので
、情報読取光線束9に対する情報ピツトbの左右方向の
移動(回転円盤Bの偏心等によつて生じる)は、第5図
に示す情報反射光線9′に対する情報ピツトb拡大投影
像b′の左右方向の移動に対応する。
従つて第5図の光検出器6の受光面を左右に2等分し、
それぞれの出力を比較することによつて拡大投影像b″
の左右方向位置を検知できるようになる。すなわち、情
報トラツクBl,B2・・・・・・を追従して読取るた
めのトラツキング情報を得ることができるようになる。
以上のようにこの発明は、回転円盤上の情報をレーザー
光等で検出する光学式信号読取装置において、光源から
の光束を収束レンズで一点に収束せしめ、該収束点から
偏位した位置に上記回転円盤の記録情報面を位置させ、
該記録情報面の情報ピツトの巾より大で、且つ情報トラ
ツク間隔の2倍より小なる領域を実質的に照射するよう
にしたものである。このため従来の光束を収束レンズで
一点に収束してピツトの境界を検出するようにしていた
装置を、記録情報面の位置を変えるだけで平均光量とし
て記録情報を検出する装置として使用できるようになる
以上からVLP再生機器等の読取装置に最適なものとな
り、特に微細構造の光学式投影読取装置に最適なものと
なる。
【図面の簡単な説明】
第1図は光学式信号読取装置のプロツク図、第2図は回
転円盤の説明図、第3図は収束レンズからの光線束の説
明図、第4図は情報読取光線束の回転円盤への照射説明
図、第5図は光検出器への反射情報光線の投影説明図、
第6図は光検出器の検出信号出力特性図、第7図は収束
レンズからの光線束の説明図、第8図A及び第8図Bは
従来例と本発明との相違点を説明するための説明図であ
る。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 回転円盤上の情報をレーザー光等で検出する光学式
    信号読取装置であつて、光源からの光束を収束レンズで
    一点に収束せしめ、該収束点における情報読取光線束の
    直径を上記回転円盤の記録情報面における各情報ピット
    の寸法より小さくしたものにおいて、該収束点から偏位
    した位置に上記回転円盤の記録情報面を位置させ、この
    位置における上記読取光線束はその直径が上記記録情報
    面の各情報ピットの幅よりも大で、且つ情報トラック間
    隔の2倍以下の領域を実質的に照射するようにし、上記
    記録情報面を経た光束を光検出器によつて平均光量とし
    て検出することを特徴とする光学式信号読取装置。
JP50141987A 1975-11-27 1975-11-27 コウガクシキシンゴウヨミトリソウチ Expired JPS5916331B2 (ja)

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JP50141987A JPS5916331B2 (ja) 1975-11-27 1975-11-27 コウガクシキシンゴウヨミトリソウチ

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JP50141987A JPS5916331B2 (ja) 1975-11-27 1975-11-27 コウガクシキシンゴウヨミトリソウチ

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JPS5265405A JPS5265405A (en) 1977-05-30
JPS5916331B2 true JPS5916331B2 (ja) 1984-04-14

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JP50141987A Expired JPS5916331B2 (ja) 1975-11-27 1975-11-27 コウガクシキシンゴウヨミトリソウチ

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4965726A (ja) * 1972-09-02 1974-06-26

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