JPS59154023A - 板状体の姿勢制御装置 - Google Patents

板状体の姿勢制御装置

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JPS59154023A
JPS59154023A JP58028336A JP2833683A JPS59154023A JP S59154023 A JPS59154023 A JP S59154023A JP 58028336 A JP58028336 A JP 58028336A JP 2833683 A JP2833683 A JP 2833683A JP S59154023 A JPS59154023 A JP S59154023A
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center point
hole
respect
slopes
spring
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JP58028336A
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Yukio Kakizaki
幸雄 柿崎
Hisao Izawa
伊沢 久男
Junji Hazama
間 潤治
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Nikon Corp
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Nikon Corp
Nippon Kogaku KK
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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70691Handling of masks or workpieces

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Control Of Position Or Direction (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (発明の技術分野) 本発明は板状体の姿勢制御装置に関する。
(発明の背型) マスクのパターン、ケ1ノエハ上に転写するために1史
用さ1しるプロキシミティ露元装置においては、露光開
始前にマスクとウェハのアライメントを行う必要がある
。このアライメントのための動作としては概略以下こと
を安する。
(1)  マスク及びウェハにそれぞれ形成されたアラ
イメントマークを合致させる。このとき、マスク及び/
又はウェハはX−Y軸方向の移動及びθ方向の回転を必
要とする。
(2)マスクとウェハとを互いに平行に載置つけする。
このとき、マスク及び/又はウェハは前記アライメント
マークの合致を崩さぬようにして(X−Y軸方向ρ横方
向移動を極力抑え込んで)任意の方向へ傾斜用T1ヒで
あることか要求される。
(3)  マスクとウーハとの間の間隙を所定量に調節
する。このとき、マスク及び/又はウェハはX−Y軸を
含む平面に世直なZ軸方向に平行移動可能であることが
要求される。
プロキンミティ露光装置に2いては基本的に以上のよう
なアライメント動作ン賛求される・特に有限な大きさの
ターゲットでX線を発生し、このX線によってウェハ上
tq?、スクパターンY露光vるX#露光装置にあって
は、マスクとウェハ間ノ間隙の調節誤差がX−Y軸方向
のアライメント精度に大きく影響するために、マスクと
ウェハノ間隙と平行性を厳密に調節する心安がある。
そこでこのような要求を満足するためには%桝1えは(
11の動作を果す機構に(2)の動作を果す機構を順次
結合させることが考えられるが、こうすると全体構成が
複雑となる可能性が強い。
(発明の目的) 本発明の目的は、マスク又はウェハのような板状態の平
行移動4作と傾斜動作な同一機構で可能とするとともに
、該傾斜動作における任意方向の傾斜中心点の横方向移
動を実用上無視できる程度すで抑え込めるようにした板
状体の姿勢制御装置を提供することである。
(発明の概要) 本発明によれは、互いに直交する2本の座標軸をXII
II及びY軸とし、該両座振軸の旋点を中心点(?!1
7Lは後述のPI )とし− ぞして該X軸及びYll
ll含む平面を基準平面とした−とき;前記中心点を囲
むように位置する第1孔部(例えば後述のMl )が設
けられた支持テーブル(ψりえは後述の]);前記支持
テーブルに載置されるとともに。
前記第1孔部の内側で前記中心点乞囲むように位置する
第2孔部(例えば後述のMl )が設けられた第1テー
ブル(例えば後述の2);前記一方の座標軸に関して対
向する少なくとも2箇所に2いて、前記中心点を通って
前記基準平面と所定角度を成す線分(例えば後述のtl
、t2)と略直交する方向に前記第1テーブルを駆動す
る第1駆動手段;前記支持テーブルに前記第1テーブル
ηど載itlすべく該両チーフル間の前記一方の座g軸
に関して対向する征1喉に配置され、前記支持チーフル
に対して前記第1テーブルの変位方向と該変位方向にx
寸して1頃斜する方向とに変形する少なくとも2つの第
】バネ部材(j+l+えは後述の3〜5);前記第1チ
ーフルに載置されるとともに、前記第2孔の内側で前記
中心点ケ含む前記基準平面上に欣定の板状体乞支持する
交付部材(例えは後述の60)を備えた第2テーブル(
例えは後述の6);前記他方の座標軸に関して対向する
少なくとも2箇所において、前記中心点を通って前記基
準平面と所定角度を成す線分(例えば後述のt3.1.
 )と略直交する方向に前記第2テーブルを駆動する第
2駆動手段;及び前記第1テーブルに前記第2テーブル
を載置すべく該両テーブル間の前記他方の座標軸に関し
て対向する位置に配置され、前記第1テーブルに対して
前記第2テーブルの変位方向と該変位方向に対して1頃
斜する方向とに髪形する少なくとも2つの第2バネ部材
(例えは後述の7〜9)から成る板状体の姿勢制御装置
が提供される。
(実施例) 以下1本発明を実施例に基づいて説明する。
第1図は姿勢制御装置の正面図、第2図は第1図のX−
X断面図、ijg3図は第1図のY−Y断面図である。
第1図においてx−X軸はX座標軸、Y−Y軸はX座標
軸とそれぞれ対応している。また第1〜第3図に2いて
X座標軸及びX座標軸は中心点P+で交差しており、該
中心点P1はX1Y座襟軸ケ含む平面内lこ存在してい
るものとする、さて、支持テーブル1は露光装置本体(
不図示)に固足されるか、又はX、Y座標軸方向に可動
に載置されている。支持テーブル】は、その表面には大
きな矩形の第1開口を、またその表面には小さな矩形の
第2開口を形成するような一対の斜面□1a、1bを形
成する如く第1孔部M+が穿設されている。そして、こ
の斜面CI支持テーブルlの表面の上端縁1c及び下端
縁1dがらX座標軸へ向う方向にのみ形成される6第1
テーブル2は。
その裏面側に支持テーブル1の1対の斜面1a、】bと
ほぼ同一傾斜の斜面2a、2bYそれぞれ有する。第】
テーブル2は、その表面には大きな矩形の第3開口?、
またその裏面には小さな矩形の第4開口乞形成するよう
な一対の斜面2c12dを形成する如く第2孔部M、が
穿設されている。
そして、この斜面2c、2dは第1テーブル2の表面の
右端縁2e及び左端縁2fからX座標軸へ向う方向にの
み形成される。第1テーブル2は斜面2a、2bが支持
テーブル1の斜面1a、lbと対向するようにして、該
支持テーブル】に収納され、そして斜面1aと斜面2a
との間にはバネ3.4が固着され、斜面1bと斜面2b
との間にはバネ5が固着される。第2テーブル6は、一
対の斜面、即ち矩形状の表面の左、右端縁からX座標軸
方向に向けてそれぞれ斜lAた斜面6a、6bを備えた
上部体と、第1テーブル2の第4開口に挿通される円筒
状の下部体6cとから成る。この下部体6cは中心点P
Rを中心とする円筒でありその下端は第1及び第2テー
ブルの裏面より突出している。第2テーブル6の上部体
と下部体とを貫通して、中心点Psを中心とした貫通孔
Msが穿設されている。この下部体6cはマスク又はウ
ェハな吸着支持するための支持台として作用する。
第2図及び第3図においては支持台6cにマスク】0が
吸着されており、該マスク10に対向してウェハ11が
配置されている。そして、蕗光時には光又はX?PMが
貫通孔Msの上方力1らマスク及びウェハに回けて照射
ざrL=。
弔2デープル6のi凹側の斜面6a、6bは第1チーフ
ル2の斜[[2c、2dとはは同−佃糾の斜面である。
この第2テーブル6は;$ft…6a、6°イ゛b7J
imlデーフル2の$tuL12 c 、2 dと対向
するよつに(、て該第2テーブル2に収納され、そして
斜面6aと斜面2cとの間にげバネ7.8か固着され、
斜面6b(:斜面2dとの間にはバネ9が固着されてい
る。
第4図はハネ3〜5及びバネ7〜9を具体的に示T、i
W4〆I(al゛はバネの正凹図、第4図(blはバネ
の断面図、第4図Jclは第4図(blのA矢視断面図
第4図(diは第4図(blのB矢祝断田」図である・
これらのバネ(代表的に符号3で表わす。)は内筒状を
屈しており、そこに中心軸oI向けて略直交する方向か
−ら切込6ケ人1して互い違いにスリット3a、3t)
?設けている。このような形状のバネ3はその中心物1
(J+の方向に伸縮し、またスリット3a及び/又は3
bの幅によってiff谷される童たけ中心軸01と交差
する方向(傾斜方向)に曲ることか5f能である。し力
)シ、中心軸01と直交する方向には、スリット3 a
、3 bをAい違いに設けることにより変゛形しないよ
うにしである。
さて、%1〜3図において、中心点P1  は支持台6
cに例えばマスク1oが吸着保持されたとき。
該マスク10の回路パターンが形成された面(例えはマ
スク10の下th+)に存在するように設定される。バ
ネ3,4は斜面1aと2aとが平行になるように、また
バネ5は斜面1.bと2bとが平行になるように支持テ
ーブル1と第1テーブル2とを接続する。バネ7゛、8
は斜面2cと6aとか平行になるように、またバネ9は
斜面2dと6bとが平行となるよ6に第1テーブル2と
第2テーブル6とを従続する。
次に、バネ3〜5.7〜9と中心点P1との関係を説明
する、先ず、バネ3〜5の谷中心点をPl、〜P!1、
バネ7〜9の谷中心点ケP鵞−4〜Pt−5と足ぬる。
バネ3.4の中心点P2−I%P2−tv結ぶ軸分の2
等分点P3と中心点P1  とケ結ぶ線分1.の長さ、
及び、中心点P+  と)<ネ3の中心点P2−1.”
l’結ぶ線分L1の長さに等しG)。
中心点P1と各バネの中心点P1−r〜P 2−3とを
それぞれ結ぶ線分か、X、X座標軸及び中心点Pty!
′宮む平面(基準平面)と成す角度v11000こ等し
い。バネ7.8の中心点P!−411Pt−5を!((
酊分の2寺分点P、と中心点P1とを結ぶ線分11の長
さ、及び中心点Psとバネ9の中心点P!−6を結ぶ線
分t4の長さは等しい。中心点P饋各〕〈不7・〜9の
中心点P宏−4〜P2−6とケそれぞれ結ぶ線分が、前
記基準平面と成す角度0才  は互G)lこ等しい。
第5図は駆動装置の構成を概略的に示す説明図である。
モータ20の回転軸にはカム21が取付けら7している
。このカム21には駆動棒22か接触させられている。
モータ20が回転してカム21か回転すると駆動棒22
は上方又は下方に変位する。この駆動装置は第1テーブ
ル2.第2テーブル6の駆動用にそれぞれ2組1更用さ
れる・そして、釜駆動装置は支持テーブル1に据え付け
られる。このとき、谷躯動装置の駆動棒は中心点Plと
点Ps 、 P4 、 Pz −s 、  Pり−6を
結ぶ線分と略直交する方向に変位して支持テーブル1に
対して第1テーブル2及び第2テーブル6を駆動するよ
うに据え付けられる。各駆動棒は、その中心軸が点Pa
、 P4.PI−a 、  PI−6を通るように配置
されるこ、とが好ましい。第6図は不夾施例の斜視断面
図である。
次に動作を説明する。第1テーブル20点P8ど+α変
位させ(持ち上げ)、点P z−sを−α変位させ(引
下げ)ると、第1テーブル2はX座標軸を中心に△UI
傾斜する。また、第2テーブル6の点P、を+β変位さ
せ点P!−6を−β変位させると、第2テーブル6はX
座標軸を中心に△V。
傾斜する。そして、この第1テーブル、第2テーブルの
傾斜量を同時に制御すれは支持台6Cに吸着されたマス
クの1頃きを中心点PIY中心にして任意方向に調節す
ることができる。また、第1テーブル2の点P3、Pg
 s を同一方向に+α又は−α変位させれば第1テー
ブルは中心点Pl Y横すれさせることなく上方又は下
方に平行移動する。
第2テーブル6も同様である。便って、第1テーブル2
及び/又は第2テーブル6の変位によってマスクを上下
方向に平行移動させることができる。
以上の動作は変位置α、βがあまり大きくなると確実に
保証されるものではないが、数ミクロン−考 数百ミクロン程度の変位ならば実用上f児匁程度にマス
ク10を傾斜及び/又は平行移動させることができるも
のである。
以上の実施例では第1テーブル2及び第2テーブル6が
駆動装置の駆動棒の作用を受ける作用点が中心点P+よ
りも上方に位置していることが理解されよろ。これは、
基準平面と上記作用点との間に駆動装置を収納する空間
を形成できる点で有利である。例えば、プロキシミティ
蕗元装置においてステップ・アンド・リピート方式の=
元プロセスを実現しようとすると、露光のたびにウーハ
11を移動させなければならない。そのため、マスク1
0の姿勢制御用の駆動装置をウェハの移動憐域内に突出
させることはできないから、該駆動装置の配置に苦心す
ることになる。露光装置の小型化は急務であるから、基
準平面と作用点との間に形成された空間に駆動装置を収
納できることは1′″− 非常有効なことである。
以上の実施例において、バネ3.4は点Psの両側に2
個、またバネ7.8も点P4の両側に2個設けられてい
るがこれに限定されるものではない。例えば、第7図に
示すようにバネの中心P1を点P1又はP4と合致させ
て、つまり中心点P+に対してバネ5.バネ9と刈称な
部位にそれぞれ11固のバネ25.26を設けたもので
もよい。
また、線分L1とt2の長さ、及び線分t、 lt4の
長さはそれぞれ等しく設定されていたが、これらは等し
くなくてもよい。そのときには第1テーブル2に関して
は点PsとPI m の変位量、また第2テーブル6に
関しては点P4とP2−@  の変位量をそれぞれ異な
らしめれば前述同様の作用が得られる。更に、駆動装置
は4組用意したが、変位量α又はβはその変位方向が異
なるもののその絶対量はそれぞれ等しいから適尚な手段
をとれば2組の駆動装置でも充分に変位置α又はβを発
生覆ることができる。またその駆動源(モータ)の数は
心安にルしして選択すればよい・また、第1孔部Ml、
第2孔部M1′#+はテーブルに穿設したものに限られ
るものではなく、支持部材6cを囲むものであれはよい
(発明の効果) 以上のような本発明によれば第1テーブルと第2テーブ
ルの変位量を調節するだけで板状体の平行移動4作と傾
斜動作が達成できる。また板状体の任意方向の傾斜に際
してその中心点の横ずれは実用上無視できるようになる
。史に駆動装置の配置空間も取れるようになる。従って
、プロキシミティ露光装置等においてステップ・アンド
・リピート露光を採用するのに有用な板状体の姿勢制御
装置が得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による姿勢制御装置の実施例の正面図、
第2図は第1図のX−X断面図、第3図は第1図のY−
Y断面図、第4図は第1図中におけるバネ3〜5.7〜
9の実施例を示す説明図、第5図は姿勢制御のための駆
動装置を概略的に示す肉、第6図は本発明による姿勢制
御装置の斜視断面図、第7図は本発明による姿勢制御装
置の別の実施例の正面図。 l・・・支持テーブル%   2 ・・第1テーブル。 3〜5・・・・・バネ、    6 m第2テーブル。 6c・・・・支持台、     7〜9 ・・バネ。 Ml・・・第1孔部b     Mx・・ 第2孔部、
M3  ・・貫通孔 出願人 日本光学工業株式会社 代理人渡辺隆男 士6 図 矛7図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. て該X軸及びY軸を含む平面を基準平面としたとき;前
    記中心点を囲むように位置する第1孔部が設けられた支
    持テーブル;前記支持アーフルに載置されるとともに、
    111記第】孔部の内側で前記中心点ケ囲むように位置
    する第2孔部が設けられた第1テーブル;前記一方の座
    標軸に関して対向する少なくとも2箇所に2いて、前記
    中心点ケ辿って前記巷準平面と所定角四ヶ成す線分と略
    11゛父する方向に前記第1チーフル乞駆動する第】駆
    動手段;前記支持テーブルに前記第1テーブルケ載置す
    べく該両テーブル間の前記一方の座標軸に関して対向す
    る位置に配置され、前記支持テーブルに対して前記第1
    チーフルの変位方向と該変位方向に対して傾斜する方向
    とに変形する少なくとも2つの第1バネ部材;前記第1
    テーブルに載置合れるとともに、前記第2孔の内側で前
    記中心点を含む前記基準平面上に所定の板状体を支持す
    る支持部材を備えた第2テーブル;前記他方の座標軸、
    に関して対向する少なくとも2箇所において、前記中心
    点を通って前記基準平面と所定角度を成す線分と略直交
    する方向に前記第2テーブルを駆動する第2駆動手段;
    及び前記第1テーブルに前記第2テーブルを載置すべく
    該両テーブル間の前記他方の座標軸に関して対向する位
    置に配置され、前記第1テーブルに対して前記第2テー
    ブルの変位方向と該変位方向に対して傾斜する方向とに
    変形する少なくとも2つの第2バネ部材から成ることを
    特徴とする板状体の姿勢制御装置・
JP58028336A 1983-02-22 1983-02-22 板状体の姿勢制御装置 Granted JPS59154023A (ja)

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JP58028336A JPS59154023A (ja) 1983-02-22 1983-02-22 板状体の姿勢制御装置

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JPH0430174B2 JPH0430174B2 (ja) 1992-05-21

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63255916A (ja) * 1987-04-13 1988-10-24 Nikon Corp 投影光学装置
JP2014053343A (ja) * 2012-09-05 2014-03-20 Toyota Motor Corp 半導体位置決め装置、及び半導体位置決め方法

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3645622A (en) * 1970-03-31 1972-02-29 Ibm Method and apparatus for aligning a photomask
FR2218805A5 (ja) * 1973-02-16 1974-09-13 Thomson Csf
FR2330030A1 (fr) * 1975-10-31 1977-05-27 Thomson Csf Nouvel appareil photorepeteur de masques de haute precision
US4093378A (en) * 1976-11-01 1978-06-06 International Business Machines Corporation Alignment apparatus
US4189230A (en) * 1977-10-26 1980-02-19 Fujitsu Limited Wafer holder with spring-loaded wafer-holding means
GB1588090A (en) * 1978-05-16 1981-04-15 Standard Telephones Cables Ltd Mask alignment for semiconductor processing
FR2429447A1 (fr) * 1978-06-23 1980-01-18 Thomson Csf Systeme optique de projection muni d'un positionneur de plaque
US4345836A (en) * 1979-10-22 1982-08-24 Optimetrix Corporation Two-stage wafer prealignment system for an optical alignment and exposure machine
JPS5825637A (ja) * 1981-08-08 1983-02-15 Canon Inc 投影焼付装置
JPS5885338U (ja) * 1981-12-07 1983-06-09 株式会社日立製作所 自動焦点装置
US4441808A (en) * 1982-11-15 1984-04-10 Tre Semiconductor Equipment Corp. Focusing device for photo-exposure system

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63255916A (ja) * 1987-04-13 1988-10-24 Nikon Corp 投影光学装置
JP2014053343A (ja) * 2012-09-05 2014-03-20 Toyota Motor Corp 半導体位置決め装置、及び半導体位置決め方法

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