JPS59152654A - 絶縁形半導体装置 - Google Patents
絶縁形半導体装置Info
- Publication number
- JPS59152654A JPS59152654A JP58027165A JP2716583A JPS59152654A JP S59152654 A JPS59152654 A JP S59152654A JP 58027165 A JP58027165 A JP 58027165A JP 2716583 A JP2716583 A JP 2716583A JP S59152654 A JPS59152654 A JP S59152654A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electrode terminal
- tablet
- frame
- molding
- lead frame
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/02—Bonding areas ; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/04—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
- H01L24/06—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of a plurality of bonding areas
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/48—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
- H01L23/488—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
- H01L23/495—Lead-frames or other flat leads
- H01L23/49541—Geometry of the lead-frame
- H01L23/49562—Geometry of the lead-frame for devices being provided for in H01L29/00
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/02—Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/04—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
- H01L2224/04042—Bonding areas specifically adapted for wire connectors, e.g. wirebond pads
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/02—Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/04—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
- H01L2224/06—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of a plurality of bonding areas
- H01L2224/0601—Structure
- H01L2224/0603—Bonding areas having different sizes, e.g. different heights or widths
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/4805—Shape
- H01L2224/4809—Loop shape
- H01L2224/48091—Arched
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/481—Disposition
- H01L2224/48151—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/48221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/48245—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
- H01L2224/48247—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/484—Connecting portions
- H01L2224/4847—Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a wedge bond
- H01L2224/48472—Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a wedge bond the other connecting portion not on the bonding area also being a wedge bond, i.e. wedge-to-wedge
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/49—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/49—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
- H01L2224/4901—Structure
- H01L2224/4903—Connectors having different sizes, e.g. different diameters
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/49—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
- H01L2224/491—Disposition
- H01L2224/4912—Layout
- H01L2224/49171—Fan-out arrangements
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01082—Lead [Pb]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/10—Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/1015—Shape
- H01L2924/10155—Shape being other than a cuboid
- H01L2924/10156—Shape being other than a cuboid at the periphery
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/181—Encapsulation
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の属する技術分野〕
本発明は絶縁形半導体装置にかがシ、特に放熱体への取
シ付はタブレットと半導体スイッチとを内部絶縁する絶
縁形半導体装置に関する。
シ付はタブレットと半導体スイッチとを内部絶縁する絶
縁形半導体装置に関する。
従来、内部絶縁形半導体装置は第1図に示すように半導
体ペレット4を接着(以下マウントと呼ぶ)するフレー
ム3と金属製(一般にはQが用いられる)のタブレット
1との間にセラミック2を絶縁材としてサンドイッチ構
造にし、これを絶縁樹脂5でモールドしたものが知られ
ている。
体ペレット4を接着(以下マウントと呼ぶ)するフレー
ム3と金属製(一般にはQが用いられる)のタブレット
1との間にセラミック2を絶縁材としてサンドイッチ構
造にし、これを絶縁樹脂5でモールドしたものが知られ
ている。
この構造の装置の製作にあたっては裏表のメタライズさ
れたセラミック板2に前記フレーム3とタブレット1を
それぞれはんだ付けし、絶縁用樹脂でモールド封止(一
般にはトランスファモールド成形)したものである。リ
ードフレーム3はそ°のま\外部電極端子6−2として
取シ出され、また同様に半導体ペレットの他の物。
れたセラミック板2に前記フレーム3とタブレット1を
それぞれはんだ付けし、絶縁用樹脂でモールド封止(一
般にはトランスファモールド成形)したものである。リ
ードフレーム3はそ°のま\外部電極端子6−2として
取シ出され、また同様に半導体ペレットの他の物。
極は内部接続線(以下ボンティング線と呼ぶ)、例えば
7−1.7−2でペレット4と外部電極端子6−1.6
−3とそれぞれ接続し取シ出される。また図において1
−aは複数個隣接しているフレーム間をつないでいる部
分で、素子をモールド成形した後リード端子のタイバー
切断と同時切シ離される個所である。
7−1.7−2でペレット4と外部電極端子6−1.6
−3とそれぞれ接続し取シ出される。また図において1
−aは複数個隣接しているフレーム間をつないでいる部
分で、素子をモールド成形した後リード端子のタイバー
切断と同時切シ離される個所である。
第2図は最近紹介された絶縁形構造でペレットをマウン
トするフレームを兼ねる金属製タブレット(一般にはC
u)に非絶縁形と同様半導体ペレット4を直接マウント
するとともに、このフレームの一部を外部電極端子6−
2として取シ出す。半導体ペレットの他の電極は第1図
のものと同様にボンディング線7−1.7−2でそれぞ
れ接続され、例えば6−1.6−3として取シ出される
。このようにマウントおよびボンディングされたものは
、特に放熱体との絶縁耐圧によシ桐脂厚t、、’t、を
充分管理しモーノリ゛封入される。一般にとのt、、’
t、およびt3の厚さは要求する絶縁耐圧から0.4〜
Q、5mm程度であシ、組立封入時にとの部分のバラツ
キを押え精度をあげる目的と第1図のものと同様複数個
隣接しているフレーム間をつなぐ目的で外部取シ出し端
子とは逆の方向に1−bなる金属製フレームの角が設け
である。これはモールド成形後、素子間を切離すため外
部に露出することになる。
トするフレームを兼ねる金属製タブレット(一般にはC
u)に非絶縁形と同様半導体ペレット4を直接マウント
するとともに、このフレームの一部を外部電極端子6−
2として取シ出す。半導体ペレットの他の電極は第1図
のものと同様にボンディング線7−1.7−2でそれぞ
れ接続され、例えば6−1.6−3として取シ出される
。このようにマウントおよびボンディングされたものは
、特に放熱体との絶縁耐圧によシ桐脂厚t、、’t、を
充分管理しモーノリ゛封入される。一般にとのt、、’
t、およびt3の厚さは要求する絶縁耐圧から0.4〜
Q、5mm程度であシ、組立封入時にとの部分のバラツ
キを押え精度をあげる目的と第1図のものと同様複数個
隣接しているフレーム間をつなぐ目的で外部取シ出し端
子とは逆の方向に1−bなる金属製フレームの角が設け
である。これはモールド成形後、素子間を切離すため外
部に露出することになる。
しかし、このように形成された絶縁形半導体装置はそれ
ぞれ次のような欠点を持っている。
ぞれ次のような欠点を持っている。
すなわち、第1図のセラミックを使用するものは、セラ
ミックそのものが高価であるばかりでなく、製造面にお
いても、まずタブレットの裏表にそれぞれメタライズを
施したセラミック2をはんだ付けし、さらにこのセラミ
ック2上にペレット4をマウントし、外部電極として取
如出すリードフレーム3をはんだ付けする構造であり、
作業工程的にも複雑で工程が長くカシ、コスト高になる
欠点がある。
ミックそのものが高価であるばかりでなく、製造面にお
いても、まずタブレットの裏表にそれぞれメタライズを
施したセラミック2をはんだ付けし、さらにこのセラミ
ック2上にペレット4をマウントし、外部電極として取
如出すリードフレーム3をはんだ付けする構造であり、
作業工程的にも複雑で工程が長くカシ、コスト高になる
欠点がある。
また、第2図の金属製タブレット全体を絶縁樹脂5で覆
うものについては絶縁樹脂を充填する場合第2図の1.
.1.の樹脂厚精度を出すためにタブレット1の一方の
端子を樹脂封入時に外部で固定(第2図の1−b部)す
る取シ出しピンの必要がある。
うものについては絶縁樹脂を充填する場合第2図の1.
.1.の樹脂厚精度を出すためにタブレット1の一方の
端子を樹脂封入時に外部で固定(第2図の1−b部)す
る取シ出しピンの必要がある。
この固定のだめのピン(タブレットの一部)は樹脂封入
後根元で切断されるものの、外部に露出しておシ、取り
伺ける放熱体との間で沿面放電し、絶縁耐圧がこの部分
で決ってしまう欠点がある。
後根元で切断されるものの、外部に露出しておシ、取り
伺ける放熱体との間で沿面放電し、絶縁耐圧がこの部分
で決ってしまう欠点がある。
また、樹脂充填時に生じ易い樹脂内の気泡(ボイド)も
、タブレットとの絶縁を取っている面積が広いため確率
も高くなる。J さらに、絶縁距離(tI、t2)も一般的には0.4〜
Q、5 mmであり、放熱体と゛の実装時に起り易い金
属クズなどにより樹脂へのキズで絶縁耐圧を低下させる
欠点を持っている。
、タブレットとの絶縁を取っている面積が広いため確率
も高くなる。J さらに、絶縁距離(tI、t2)も一般的には0.4〜
Q、5 mmであり、放熱体と゛の実装時に起り易い金
属クズなどにより樹脂へのキズで絶縁耐圧を低下させる
欠点を持っている。
本発明はこれらの欠点を解決するためになされたもので
、非絶縁型、およびセラミックによる内部絶縁型と外観
上は変らないで、セラミックを除き、この部分に絶縁樹
脂を充填する基本構造を特徴とし、その目的は既存の製
造組立設備の小俊更で、製造コストの安価な1.シかも
従来製品との実装、取り扱いは変わらない高絶縁耐圧を
持った絶縁形半導体装置を提供するにある。
、非絶縁型、およびセラミックによる内部絶縁型と外観
上は変らないで、セラミックを除き、この部分に絶縁樹
脂を充填する基本構造を特徴とし、その目的は既存の製
造組立設備の小俊更で、製造コストの安価な1.シかも
従来製品との実装、取り扱いは変わらない高絶縁耐圧を
持った絶縁形半導体装置を提供するにある。
本発明は半導体チップをはんだ等によシ導電的に接着し
一つの電極端子とするリードフレームと、前記半導体チ
ップを内部接続線で接続する他のリードフレームと、さ
らにこれらの各リードフレ・−ムと外部放熱体との機械
的取付用の金属製タブレットと、前記各要素?c′電気
的に絶縁すると共に、WiJ記半導体チップを保護する
絶縁樹脂とを含むことを特徴とする絶縁形半導体装置に
ある。
一つの電極端子とするリードフレームと、前記半導体チ
ップを内部接続線で接続する他のリードフレームと、さ
らにこれらの各リードフレ・−ムと外部放熱体との機械
的取付用の金属製タブレットと、前記各要素?c′電気
的に絶縁すると共に、WiJ記半導体チップを保護する
絶縁樹脂とを含むことを特徴とする絶縁形半導体装置に
ある。
〔実施例」
以下本発明を実施例に基き詳細に説明する。
第3図(a)Φ)は本発明の一実施例による絶縁形半導
体装置の側面および上面から見た概略説明図である。
体装置の側面および上面から見た概略説明図である。
本発明の基本構造は第1図に示す従来タイプの絶縁用セ
ラミンク板を取シ除き、この部分に樹脂′を充填したも
ので、この場合の缶属製タブレット1の目的は一つには
実装取り扱面で第1図に示す従来タイプと互換性を持た
せるため、即ち・放熱体との締付は強度および接触面と
の物理的、機械的強匿を保ち互換性を持たせる。今一づ
は素子の熱抵抗特性を改善するものである。
ラミンク板を取シ除き、この部分に樹脂′を充填したも
ので、この場合の缶属製タブレット1の目的は一つには
実装取り扱面で第1図に示す従来タイプと互換性を持た
せるため、即ち・放熱体との締付は強度および接触面と
の物理的、機械的強匿を保ち互換性を持たせる。今一づ
は素子の熱抵抗特性を改善するものである。
第3図(a)Φンにおいて半導体ベレット4は導電的に
電極端子3にマウントされ外部電極端子6−2とじ1取
り出されて°いるが、このフレーム3は搭載する半導体
ベレット面積と同等あるいは少し太き目の構造としてお
り、他の外部リード電極6−1.6−3と共に金腐製タ
ブレット1は1−aで隣接した複数個のタブレットが準
備され、(但しフレームとタブレットの対は数は一般に
は同じ数になっている)モールド成形時にはじめて9F
定の成形治具によシ組合わされモールド封入し一体化さ
れる。なお成形絶縁材としてはエポキシあるいはシリコ
ン等の絶縁樹脂を使うのがよい。
電極端子3にマウントされ外部電極端子6−2とじ1取
り出されて°いるが、このフレーム3は搭載する半導体
ベレット面積と同等あるいは少し太き目の構造としてお
り、他の外部リード電極6−1.6−3と共に金腐製タ
ブレット1は1−aで隣接した複数個のタブレットが準
備され、(但しフレームとタブレットの対は数は一般に
は同じ数になっている)モールド成形時にはじめて9F
定の成形治具によシ組合わされモールド封入し一体化さ
れる。なお成形絶縁材としてはエポキシあるいはシリコ
ン等の絶縁樹脂を使うのがよい。
この場合、第2図に示す従来タイプの絶縁耐圧を決める
樹脂厚部は本発明の実施例の第3図テId、 ヘL/ッ
ト4が搭載されるフレーム30面積が小さいため、t1
+ji1部の寸法軸度も構造的に高く、さらに樹脂充填
時に生じ易い樹脂内の気泡(ボイド)発生確率も極めて
小さくなり、製造面の歩留りも大幅に向上するといり特
徴を持っている。
樹脂厚部は本発明の実施例の第3図テId、 ヘL/ッ
ト4が搭載されるフレーム30面積が小さいため、t1
+ji1部の寸法軸度も構造的に高く、さらに樹脂充填
時に生じ易い樹脂内の気泡(ボイド)発生確率も極めて
小さくなり、製造面の歩留りも大幅に向上するといり特
徴を持っている。
なお第3図(a)Φンに示す符号で説明しな力・ったも
のは、第1図(a)(1))オヨび第2図(a)(b)
に準する。
のは、第1図(a)(1))オヨび第2図(a)(b)
に準する。
以上説明したように、本発明によれば従来タイプに比べ
、製造面で簡単になシ、自動化も按易になシ、また高価
なセラミック板を使わず、モールド封入工程での作業歩
留シも高く、さらに使h]面における互換性のある女価
な絶縁形半導体装置を実現することができる。
、製造面で簡単になシ、自動化も按易になシ、また高価
なセラミック板を使わず、モールド封入工程での作業歩
留シも高く、さらに使h]面における互換性のある女価
な絶縁形半導体装置を実現することができる。
る。
1・・・・・・金属製タブレット、2・・・・・・セラ
ミック板、3・・・・・・ペレットマウント用フレーム
、4・・・・・・半導体ペレット、5・・・・・・絶縁
樹脂、6.6−1.6−2゜6−3・・・・・・リード
電極端子、7.7−1.7−2.7−3・・・・・・接
続線(ボンティングワイヤ)、]−a・・・・・・隣接
したタブレットの切断個所、1−b・・・・・・固定用
ビン。
ミック板、3・・・・・・ペレットマウント用フレーム
、4・・・・・・半導体ペレット、5・・・・・・絶縁
樹脂、6.6−1.6−2゜6−3・・・・・・リード
電極端子、7.7−1.7−2.7−3・・・・・・接
続線(ボンティングワイヤ)、]−a・・・・・・隣接
したタブレットの切断個所、1−b・・・・・・固定用
ビン。
Claims (1)
- 半導体チップをはんだ等によシ導電的に接着し一つの電
極端子とするリードフレームと、前記半導体チップを内
部接続線で接続する他のリードフレームと、さらにこれ
らの各リードフレームと外部放熱体との機械的取り付は
用の金属製タブレットと、前記各要素を電気的に絶縁す
ると共に、前記半導体チップを保膜する絶縁樹脂とを含
むことを特徴とする絶縁形半導体装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58027165A JPS59152654A (ja) | 1983-02-21 | 1983-02-21 | 絶縁形半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58027165A JPS59152654A (ja) | 1983-02-21 | 1983-02-21 | 絶縁形半導体装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59152654A true JPS59152654A (ja) | 1984-08-31 |
Family
ID=12213441
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58027165A Pending JPS59152654A (ja) | 1983-02-21 | 1983-02-21 | 絶縁形半導体装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS59152654A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61150354A (ja) * | 1984-12-25 | 1986-07-09 | Toshiba Corp | 樹脂封止型半導体装置 |
EP0731505A3 (en) * | 1995-03-06 | 1998-04-15 | Motorola, Inc. | Semiconductor leadframe structure and method of manufacturing the same |
EP3462482A1 (en) * | 2017-09-27 | 2019-04-03 | Nexperia B.V. | Surface mount semiconductor device and method of manufacture |
-
1983
- 1983-02-21 JP JP58027165A patent/JPS59152654A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61150354A (ja) * | 1984-12-25 | 1986-07-09 | Toshiba Corp | 樹脂封止型半導体装置 |
JPH0329307B2 (ja) * | 1984-12-25 | 1991-04-23 | Tokyo Shibaura Electric Co | |
EP0731505A3 (en) * | 1995-03-06 | 1998-04-15 | Motorola, Inc. | Semiconductor leadframe structure and method of manufacturing the same |
EP3462482A1 (en) * | 2017-09-27 | 2019-04-03 | Nexperia B.V. | Surface mount semiconductor device and method of manufacture |
US11728179B2 (en) | 2017-09-27 | 2023-08-15 | Nexperia B.V. | Surface mount semiconductor device and method of manufacture |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN105122446B (zh) | 半导体装置、半导体装置的组装方法、半导体装置用部件以及单位模块 | |
JP3009788B2 (ja) | 集積回路用パッケージ | |
JP2000133767A (ja) | 積層化半導体パッケ―ジ及びその製造方法 | |
KR20010035579A (ko) | 반도체 전력 모듈 및 그 제조 방법 | |
US5783466A (en) | Semiconductor device and method of manufacturing the same | |
EP0444818A2 (en) | Improved integrated circuit package | |
JPS6146061B2 (ja) | ||
JP3169578B2 (ja) | 電子部品用基板 | |
JPS59152654A (ja) | 絶縁形半導体装置 | |
JPH11307721A (ja) | パワーモジュール装置およびその製造方法 | |
JPH07176664A (ja) | 半導体装置およびその製造方法 | |
JPH03280453A (ja) | 半導体装置及びその製造方法 | |
JPS628033B2 (ja) | ||
JPH0514519Y2 (ja) | ||
KR100244826B1 (ko) | 반도체장치 및 그 제조방법 | |
JPH07193164A (ja) | 半導体集積回路装置 | |
JP3318449B2 (ja) | 半導体素子収納用パッケージ | |
JPS5932142Y2 (ja) | 高電力用混成集積回路 | |
JP2922719B2 (ja) | 半導体素子収納用パッケージ | |
JP2814006B2 (ja) | 電子部品搭載用基板 | |
JP2000091475A (ja) | 半導体装置 | |
JPH0964240A (ja) | 半導体装置および半導体装置の製造方法 | |
JP3292609B2 (ja) | 半導体素子収納用パッケージ | |
JP2922718B2 (ja) | 半導体素子収納用パッケージ | |
JPH11219969A (ja) | 半導体装置 |