JPS5914887B2 - 電子線露光方法 - Google Patents

電子線露光方法

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JPS5914887B2
JPS5914887B2 JP14806080A JP14806080A JPS5914887B2 JP S5914887 B2 JPS5914887 B2 JP S5914887B2 JP 14806080 A JP14806080 A JP 14806080A JP 14806080 A JP14806080 A JP 14806080A JP S5914887 B2 JPS5914887 B2 JP S5914887B2
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JP
Japan
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electron beam
line segment
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supplied
drawn
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JP14806080A
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English (en)
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JPS5771133A (en
Inventor
仁 佐藤
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Jeol Ltd
Original Assignee
Nihon Denshi KK
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Publication date
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Expired legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/30Electron-beam or ion-beam tubes for localised treatment of objects
    • H01J37/302Controlling tubes by external information, e.g. programme control

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Electron Beam Exposure (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は電子線露光方法に関し、特に電子線の照射点を
間引いて照射し、走査する電子線露光方法に関する。
電子線の照射点を一線分走査し、一線分走査する毎に、
1ステップずつ該線分とは垂直な方向に一定量シフトさ
せて次の−線分を描画し、このようにして複数の線分を
充分密に並列して描画し、台形、矩形、三角形等を描画
することが行なわれている。
このような露光方法において、例えば台形を描画するた
め第1図に示すようにA点からB点までの一線分走査す
る場合、電子線を丸印で示した全ての点に照射しながら
移動させる場合と、電子線5 径を大きくして実線の丸
印で示した点にのみ照射して高速で行う場合がある。
もち論後者の場合には名−線分の間隔も実線の丸印に合
わせて粗くなる。さて後者の方法で描画する場合、最も
密に電子線を移動させて描画する場合の基準となる−線
10分の移動距離(即ちABの長さ)が間引き距離(実
線の丸印の間隔)△をの整数n倍でなく、を+△を’で
表わされる場合(但し、を=n・△ι且つ△を’<△を
)、実際に電子線の移動する距離は(n+1)・△ι又
はn・△をとなり、最大15の場合前記基準の距離に対
して一間引き距離△をに略等しい誤差を生じていた。本
発明はこのような従来方法の欠点を解決すべくなされた
もので、以下図面に基づき本発明の一実施例を例えば第
2図に示す如き台形を描画する刃 場合を例にとつて説
明する。
本発明を実施するための装置の−伊リを示す第3図にお
いて、1は電子計算機であり、該電子計算機1より描画
開始X座標発生回路2に第2図に示した台形の描画開始
点C(DX座標Xoを表わすデ25−夕が供給される。
該描画開始X座標発生回路2は一線分ずつ描画する毎に
、Xoから△Xずつ増加した次の−線分の一端のX座標
データを出力する。描画開始X座標発生回路2よりの出
力データはスイッチ3を介してレジスタ4Vc供給され
る。30該レジスタ4の出力信号は加算器5の一方の入
力端に供給されると共に、DA変換器6、増幅器1を介
してX方向偏向器8に供給される。
又加算器5には間引き距離△をを表わすデータがレジス
タ9より供給される。又加算器5の出力信号はスイ35
ツチ3を介してレジスタ4に供給される。レジスタ4
は一線分描画する毎に制御回路24より供給される第4
図aに示す如き読み込み指令信号に基クq一づいてスイ
ツチ3を介して描画開始座標発生回路2よりデータを読
み込む。
又、該レジスタ4は一線分上で電子線照射点を移動する
毎に制御回路24より供給される第4図bに示す如き読
み込み指令信号に基づいてスイツチ3を介して加算器5
よりの出力信号を読み込む。10はY座標発生回路であ
り、Y座標発生回路10VCは電子計算機1より描画前
に前記点COY座標YOを表わすデータが供給される。
該Y座標発生回路10はYOを表わすデータを用いて、
一線分描画する毎に制御回路24よりのタイミング信号
に従つてYOから△Yずつ増加した次の一線分のY座標
を表わすデータを出力する。該Y座標発生回路10の出
力信号はDA変換器11,増幅器12,Y方向偏向器8
Yに供給される。13は電子計算機1より最初の一線分
(即ち底辺)の長さLOを表わすデータが供給されるレ
ジスタであり、該レジスタ13の出力信号はスイツチ1
4を介してレジスタ15に供給される。
16は隣り合う一線分同志の長さの差△Lを表わすデー
タが電子計算機1より供給されるレジスタであり、該レ
ジスタ16よりの出力信号は減算器17に供給される。
該減算器17の出力信号はスイツチ14を介してレジス
タ15に供給される。レジスタ15の出力信号は加算器
18に供給されると共に、前記減算器17に戻される。
レジスタ15は制御回路24よりの第4図AVC示す如
き読み込み指令信号に従つて一線分描画する毎にデータ
の読み込みを行うが、第4図AVC}いてイで示された
指令信号に対応した最初の読み込み時においてのみレジ
スタ13の内容を読み込み、その後においては減算器1
7の出力データを読み込む。従つてレジスタ15の出力
データは一線分描画する毎にLOから△Lずつ減少して
行く。加算器18にはレジスタ19より間引き距離の半
値であ仔を表わすデータが供給される。尚、レジスタ9
,19VCは電子計算機1よりその時の間引き距離に応
じて予じめデータが供給される。加算器18の出力信号
はスイツチ20を介して、レジスタ21に供給される。
該レジスタ21の出力信号は減算器22の一方の入力端
に供給されている。該減算器22の他方の入力端にはレ
ジスタ9より前記間引き距離△tを表わすデータが供給
される。該減算器22の出力信号は比較器23に供給さ
れると共にスイツチ20を介してレジスタ21に供給さ
れる。レジスタ21は制御回路27よりの第4図aに示
す如き(正確にはこの信号をやや遅延させFc)読み込
み指令信号に従つて一線分描画する毎に加算器18の出
力信号を読み込むと共に、第4図bに示す如き(正確に
はこの信号をやや遅延させた)読み込み指令信号に従つ
て同一線分上で照射点を移動させる毎に減算器22の出
力データを読み込む。従つてレジスタ″21及び減算器
22の出力は各一線分の描画を開始する時に与えられた
データから照射点を該一線分上で移動する毎に△tずつ
減少して行くことになる。該減算器22の出力信号は比
較器23に供給されている。比較器23にはレジスタ9
の出力信号も供給されて}り、該比較器23は減算器2
2よりの出力信号の表わすデータが△t以下になると第
4図CVC示す如き応答パルスを発生させ、制御回路2
4に供給する。制御回路24においては該応答パルスに
幕づいて、第4図aに示すような読み込み指令信号や、
描画開始X座標発生回路2や、Y座標発生回路10の出
力データを1ピツチずつ変化させるためのタイミング信
号を発生する。又図示していないが、一線分の描画開始
時からのトータルのシフト量を監視する回路構成も備え
られて}り、最後の一線分の描画の後に、新たに一線分
の描画に入らぬようになつている。このような構成に卦
いて、例えば第2図に示す台形上の一線分Mを描画する
場合、まず第4図aに卦いて口で示す如き読み込み指令
信号に幕づいて該一線分の一端P(7)X座標Xを表わ
すデータをレジスタ4が読み込む。又この時Y座標発生
回路10はこの一線分のY座標を表わすデータを出力す
る。従つて電子線はまず一点Pvc.照射される。該照
射が終了すると、第4図bに示す如き読み込み指令信号
に従つて加算器5の出力信号をレジスタ4が読み込み、
電子線は該一線分M上の△tだけ離れた次の点に照射さ
れる。一方、該一線分Mを描画する時にはレジスタ15
に該一線分の電子線照射を最も密にした際の長さLを表
わすデータが格納される。従つて加算器18,スイツチ
20を介してレジスタ21に最初にL+一△tを表わす
データが格納され、従つて減算器22の出力信号はP点
に電子線が照射された時点では(L+−△t)−△tと
なり、又電子線が次の点に照射された時点では(L+一
△t)−2△tとなる。
一般に電子線照射点が点Pから間引き距離△tを単位と
してiピツチ進むと減算器22の出力信号は(L+一△
t)−1・△tとなる。該減算器22の出力信号が△t
より小さくなると比較器23より第4図c・でおいてハ
で示す如き応答パ .″ルスが発生し、制御回路24に
供給される。従つて制御回路24は該一線分Mの描画を
終えて次の−線分を描画するために前述した所定の信号
を発生する。上述した如き本発明によれば、△tを単位
とし 1て描画して来た長さ(電子線の移動距離)とL
との差がΣΔtよりも小さくなつた時にその一線分の描
画を終了して次の一線分の描画に移るようにしているた
め、電子線を最も密に照射して描画する場合の長さ(電
子線の移動距離)Lと、実際に描画される長さ(電子線
の移動距離)との差は最大の場合でもグ△tを越えるこ
とはなく、従来に比して描画図形の精度を2倍向上させ
ることができる。
尚、土述した実施例においてY方向の電子線移2動距離
を監視する回路をX方向の場合と同様に構成し、Y方向
においても誤差が一△tより小さく)
2なるように構成できる。
更に又、上述した実施例装置は一例に過ぎず、例えばレ
ジスタ15の出力信号を直接スイツチ20を介してレジ
スタ21に供給すると共に、比較器23にレジスタ9に
代えてレジスタ19の出力信号を供給するように構成す
ることもできる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の欠点を説明するための図、第2図は描画
すべき台形を例示するための図、第3図は本発明を実施
するための装置の一例を示すための図、第4図は第3図
K示した装置の各回路へ供給される信号を例示するため
の図である。 1:電子計算器、2:描画開始X座標発生回路、3,1
4,20:スイツチ、4,9,13,15,16,19
,21:レジスタ、5,18:加算器、6,11:DA
変換器、7,12:増幅器、8X,8Y:偏向器、10
:Y座標発生回路、17,22:減算器、23:比較器
、24:制御回路。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 電子線で−線分描画する毎に描画すべき位置を1ス
    テップずつ該線分とは垂直な方向にシフトさせて次の一
    線分を描画し台形、矩形、又は三角形を描画するにあた
    り、一線分上における電子線の照射位置間隔をΔlにと
    り最も密に照射する場合に対して間引いて描画する方法
    において、各一線分を描画するにあたり、最も密に電子
    線を移動させて描画する場合の基準電子線移動距離Lと
    前記Δlを単位として描画して来た長さとの差がl/2
    ・Δlよりも小さくなると一線分の描画を終了し次の一
    線分の描画を行なうようにしたことを特徴とする電子線
    露光方法。
JP14806080A 1980-10-22 1980-10-22 電子線露光方法 Expired JPS5914887B2 (ja)

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JPS5771133A JPS5771133A (en) 1982-05-01
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0620580U (ja) * 1992-03-30 1994-03-18 旭コンクリート工業株式会社 Pc鋼材用キャップ
WO2020195762A1 (ja) 2019-03-25 2020-10-01 パナソニック インテレクチュアル プロパティ コーポレーション オブ アメリカ インナーホン

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