JPH05335220A - 電子線描画装置、及び、電子線描画方法 - Google Patents

電子線描画装置、及び、電子線描画方法

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JPH05335220A
JPH05335220A JP4140274A JP14027492A JPH05335220A JP H05335220 A JPH05335220 A JP H05335220A JP 4140274 A JP4140274 A JP 4140274A JP 14027492 A JP14027492 A JP 14027492A JP H05335220 A JPH05335220 A JP H05335220A
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Abstract

(57)【要約】 【目的】本発明の目的は、描画精度を維持しつつ、な
お、描画速度の向上を可能とすることにある。 【構成】電子銃1から電子線2を照射し、ブランカー6
により電子線2を遮断し、さらに、偏向器7に電圧を印
加して電子線2を偏向する電子線描画装置において、偏
向器7の電圧がほぼ安定するまでの第1の所定時間、あ
るいは、前記第1の時間より短い第2の時間、の一方を
選択し、この選択結果によりブランカー6を動作させ
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、試料に電子線を照射し
て描画する電子線描画装置及び電子線描画方法に関す
る。
【0002】
【従来の技術】電子銃で電子線を発生させて試料に照射
し、これにより微細加工を行い描画することは広く為さ
れている。特に、このような微細加工技術は、半導体の
原画を描画するのに多く用いられる。図形を描画するた
めには電子線を試料の任意の位置に照射することが必要
だが、このために、偏向器によって電子線を偏向するよ
うにしている。偏向器は、例えば、コイル等で形成され
磁場を発生するようになっている。偏向器に与える電圧
を変化させると、これに応じて電子線が偏向し、任意の
図形が描画される。さらに、描画が進み電子線を偏向さ
せ得る範囲を超えると、試料そのものを移動させる。こ
のために、試料が載っているステージを移動させる。こ
れらの技術は特開平2−138723 号公報等に記載されてい
る。
【0003】ところで、電子線を偏向させるために偏向
器に与える電圧を変化させても、直ぐには、偏向器の電
圧は変化しない。すなわち、電圧は所定の勾配で上昇
し、さらに、ハンチング状態を経て電圧が安定する。偏
向器の電圧が安定しないと電子線の偏向量が定まらず、
電子線の位置がふらついてしまう。そのために、従来で
は、ブランカーで電子線を遮って、偏向器の電圧が充分
に安定してから電子線を試料に照射していた。
【0004】また、ステージを移動するとステージが振
動してしまい、直ぐには、ステージが安定しない。ステ
ージが安定しないと、電子線が試料に対して正確な位置
に定まらない。そのために、従来では、ステージが充分
に安定するまで電子線を遮っていた。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】近来、複雑な図形の描
画が多く要求されてきている。LSI(Larg Scale Inte
grated Circuit)等は特にこの要求が大きい。例えば、
64M RAM では10の10乗回程度、電子線の照
射を繰返す必要がある。そのために、高速な描画が望ま
れている。描画を完了するための時間は、主に、電子線
の照射時間と共に電子線を遮断している時間に依存す
る。従来技術では偏向器の電圧が充分に安定するまでブ
ランカーで電子線を遮っていたが、この時間を短くすれ
ば高速に描画できる。しかしながら、電子線を遮ぎる時
間を短くすると、電子線がふらついて正確な描画が難し
くなる。
【0006】また、描画を完了するための時間は、ステ
ージの移動のために、電子線を遮断している時間にも依
存する。従来技術では、ステージが充分に安定するまで
電子線を遮っていたが、この時間を短くすれば高速に描
画できる。しかしながら、電子線を遮ぎる時間を短くす
ると、ステージがふらついているときに電子線が照射さ
れ、正確な描画が難しくなる。
【0007】本発明の目的は、描画精度を維持しつつ、
なお、描画速度を向上することを可能とすることにあ
る。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、本発明では、電子線を照射する対象に応じて、偏
向器に与えられた電圧が変化してから偏向器の電圧が実
質的に安定するまでの第1の時間、あるいは、第1の時
間内で第1の時間より短い第2の時間の一方を選択し、
この選択した時間のあいだ電子線を遮り、この時間が経
過してから電子線を試料に照射するようにした。
【0009】さらに、上記の目的を達成するために、本
発明では、試料の移動の有無に応じて原画の描画順序を
変えるようにした。
【0010】
【作用】上記のように構成したことにより、電子線を遮
る時間が選択され、電子線照射の位置精度が必要な対象
では、偏向器の電圧がほぼ安定してから電子線が試料に
照射される。逆に、電子線照射の位置精度がそれほど必
要でない対象では、偏向器の電圧が安定する前に電子線
が試料に照射され、電子線を遮る時間が短くなる。この
ために、描画精度が維持され、なお、描画速度が向上さ
れる。
【0011】さらに、描画の順序が選択され、ステージ
がまだ安定していないときには、位置精度がそれほど必
要でない対象に電子線が照射される。その後、ステージ
が安定してから、位置精度が必要な対象に電子線が照射
される。このように、ステージがまだ安定していないと
きにも、電子線が照射され、このために、描画精度が維
持され、なお、描画速度が向上される。
【0012】
【実施例】本発明の実施例を、電子線描画装置を例とし
て用い、説明する。まず、電子線描画装置の全体構成図
を図2に示す。電子銃1から発生する電子ビーム2は絞
り3aで絞られ、レンズ4aを介して成形偏向器5に収
束される。さらに、電子ビーム2はレンズ4bを介して
絞り3bによって絞られる。ここで、電子ビーム2は成
形偏向器5に印加される電圧に応じて所定の形状(0.
1μm 〜2μmの矩形)に成形される。絞り3bから
の電子ビーム2はレンズ4cを介してブランカー6に収
束され、絞り8によって絞られる。ここで、ブランカー
6がオン状態であれば電子ビームは絞り8を通過せず、
逆に、ブランカー6がオフ状態であれば電子ビーム2は
絞り8を通過するようになっている。ブランカー6から
の電子ビーム2はレンズ4dを介して偏向器7に収束さ
れる。ここで、電子ビーム2は偏向器7に印加される電
圧に応じて所定の量だけ偏向され試料19の所定の位置
に照射される。試料19はx−yステージ13上に載っ
て移動する。
【0013】コンピュータ18は予め決められたように
演算を行い、ステージコントローラ17に演算結果を出
力する。ステージコントローラ17はこの信号に基づい
てモータコントローラ16に信号を出力し、モータ14
を駆動し、x−yステージ13を移動させる。このよう
にして、コンピュータ18はx−yステージ13を移動
し、試料を所定の位置に制御する(±1μm以内の高精
度)。また、x−yステージ13の移動量はレーザ干渉
計15によって検出され、検出値はステージコントロー
ラ17に入力される。コンピュータ18は、データコン
トローラ12を介して、成形コントローラ9,ブランカ
ーコントローラ10及び偏向コントローラ11に信号を
出力し、これによって、成形偏向器5,ブランカー6及
び偏向器7を制御する。
【0014】次に、電子ビーム2の制御の詳細を、図3
に示すブロック図を用いて説明する。描画すべき原図形
(例えばLSIパターン)はDISK等の外部メモリーよ
り、逐次、図形データとして、バッファメモリ20に格
納される。図4(a)に原図形25及び原図形データ26
を示す。原図形データ26は、それぞれ、原図形25の
基準位置(横方向の基準位置X27,縦方向の基準位置
Y28)、原図形の幅W29及び原図形の高さH30を
表すデータコードより構成される。
【0015】輪郭分解回路21は、このような原図形2
5を表す図形データ26をバッファメモリ20から読み
込み、原図形25を輪郭部分(31〜34)と内部35
(幅W−2ΔW,高さH−2ΔH)に分解して図形デー
タとして出力する。この処理を図4(b)に示す。なお、
詳細は省略するが、この処理は描画パターンの寸法精度
向上のために行う。輪郭部分は、右横部31(幅ΔW),
左横部32(幅ΔW),下辺部33(幅ΔH),上辺部
34(幅ΔH)からなる。輪郭分解回路21は、このよ
うに分解した図形をそれぞれ図形データ36〜40とし
て、図形データ36〜40の順に出力する。なお、この
時に、輪郭分解回路21は輪郭部分又は内部を示すフラ
グを付して出力する(図形データ36〜40;F1〜F
5)。すなわち、輪郭部分を示すフラグ14は、内部を
示すフラグ0を付して図形データとする。
【0016】図形分解回路22は、輪郭分解回路21の
出力する図形データ36〜40をうけて、さらに、電子
銃1の出力できる最大面積(最大投射スポットサイズ)
以下に分割して、単位図形データ41として出力する。
単位図形データ41は、図4(C)に示されるように、
図形の基準位置(横方向の基準位置Xn,縦方向の基準
位置Yn),図形の幅Wn,図形の高さHn及び輪郭部
分を示すフラグFnのデータコードより構成される。
【0017】成形コントローラ9は、図形分解回路22
からの図形の大きさを示すデータ(図形の幅Wn、図形
の高さHn)を取り込み、これに応じて、成形偏向器5
に電圧を印加し、電子ビーム2を所定の形状に成形す
る。
【0018】偏向コントローラ10は、図形分解回路2
2からの図形の位置を示すデータ(横方向の基準位置X
n,縦方向の基準位置Yn)を取り込み、これに応じ
て、偏向器7に印加する電圧を変化させ、電子ビーム2
を所定の位置に移動させる。ただし、偏向器7に印加す
る電圧を変化させても、図7(a)及び(b)に示され
るように、直ぐには偏向器7の電圧は安定しない。
【0019】ブランカーコントローラ10は、図形分解
回路22からの輪郭部分を示すフラグFn(以下輪郭フ
ラグと称す)に応じて、図5(a)に示されるような関
係から、電子ビーム2の照射時間(ブランカーオフの時
間Toff )を求め、所定の時間だけブランカー6に電圧
を印加しないようにする。すなわち、輪郭部分では電子
ビーム2の照射時間を多くし、逆に、内部では電子ビー
ム2の照射時間を少なくする。原図形25を中央部から
切った部分(図5(b)一点鎖線)の電子ビーム2の照
射時間Toff(ブランカーオフの時間)を図5(c)に示
す。
【0020】ブランカーコントローラ10は図形分解回
路22からの輪郭フラグFnの状態に応じて、図6に示
されるような関係から、電子ビーム2の遮断時間T
on(ブランカーオンの時間)を求め、所定の時間だけ
(偏向器7の電圧が安定するまで、又は、これより短い
時間)ブランカー6に電圧を印加する。すなわち、輪郭
部分では電子ビーム2の遮断時間を長くし、逆に、内部
では電子ビーム2の遮断時間を短くする。
【0021】最先端デバイスは構造がますます複雑とな
り、例えば、64MDRAM(64Mビット随意、書き
込み読み出しメモリー)では、一層分の描画に拘る電子
ビームの照射回数が10の10乗回にもなる。一層分の
必要時間(描画時間)は主に電子ビーム2の1回当りの
照射時間及び電子ビーム2の遮断時間で決定され、その
ために、電子ビーム2の遮断時間の短縮が必要となる。
電子ビーム2の遮断時間は、基本的に偏向器8の応答時
間によって決定される。図7(a)及び(b)に示され
るように、偏向器8に印加された電圧が安定する以前
に、電子ビーム2の照射を実施すると、試料19に描画
される描画パターンの位置精度を損ることになる。そこ
で、描画すべきパターンの輪郭分解(枠取り)を実施
し、精度を要する輪郭領域のパターンを描画する際に
は、偏向器8が応答する充分な時間、電子ビーム2を遮
断し、比較的位置精度を必要としない内部は遮断時間を
短くする。例をあげて説明すると、塗り絵をする際に周
辺部は枠からはみ出さぬ様注意深く色を塗るが、内部は
粗く塗っても仕上がりは変わらないことに例えられる。
【0022】一般に、偏向器8が応答する充分な時間は
電子ビーム2の移動距離に依存する。ブランカーコント
ローラ10は、前回の図形の基準位置(横方向の基準位
置Xn−1,縦方向の基準位置Yn−1)及び今回の図
形の基準位置(横方向の基準位置Xn,横方向の基準位
置Yn)から、横方向と縦方向の移動距離をそれぞれ求
める。そして、横方向の移動距離と縦方向の移動距離の
大きい方を選択し、この選択されたものと、図6に示す
関係より、電子ビーム2の遮断時間Ton(ブランカーオ
ンの時間)を求める。これに応じて電子ビーム2を遮断
する。
【0023】輪郭分解回路21の詳細を図8から図11
に示す。図8において、セレクター51の一方の入力に
は、バッファメモリ20から、原図形の幅のデータWが
入力され、セレクター51の他方の入力には、後述する
減算器55の出力が入力される。セレクター51は、そ
のS端子にコントロール回路66の出力を受け、入力端
子A又は入力端子Bの一方を選択して出力する。セレク
ター51の出力はラッチ52に入力される。ラッチ52
はクロック67が変化すると入力情報を格納する。セレ
クター54の一方の入力には数値“0”が、セレクター
51の他方の入力には、レジスタ53に格納されている
輪郭部切出寸法ΔWが入力される。セレクター54は、
セレクター51と同様に、そのS端子にコントロール回
路66の出力を受け、入力端子A又は入力端子Bの一方
を選択して出力する。ラッチ52の出力及びセレクタ5
4の出力は、共に、減算器55に入力される。減算器5
5の出力は、前述したように、セレクター51に入力さ
れる。減算器55の出力はセレクター56の一方の入力
に、また、セレクター56の他方の入力には輪郭部切出
寸法ΔWが入力される。セレクター56の機能は他の機
能と同様である(なお、後述するセレクター59,セレ
クター62及びセレクター64も同様な機能を持っもの
であり、その説明は省力する)。セレクター56の出力
は、ラッチ58によりクロック67と同期して、出力デ
ータとなり、図形分解回路22に入力される。
【0024】セレクター59の一方の入力には、バッフ
ァメモリ20から、原図形の高さのデータHが入力さ
れ、セレクター59の他方の入力には、後述する減算器
63の出力が入力される。セレクター59の出力はラッ
チ60に入力される。セレクター62の一方の入力には
数値“0”が、セレクター62の他方の入力には、レジ
スタ61に格納されている輪郭部切出寸法ΔHが入力さ
れる。ラッチ60の出力及びセレクター62の出力は、
共に、減算器63に入力される。減算器63の出力は、
前述したように、セレクター59に入力される。減算器
63の出力はセレクター64の一方の入力に、また、セ
レクター64の他方の入力には輪郭部切出寸法ΔHが入
力される。セレクター64の出力はラッチ65により、
クロック67と同期して、出力データとなり、図形分解
回路22に入力される。
【0025】フラグラッチ57の入力には、コントロー
ル回路66の出力が入力される。このコントロール回路
66の出力は、クロックに同期して、輪郭フラグFとし
て、図形分解回路22に入力される。
【0026】次に、この回路の動作を説明する(図9に
詳細)。まず、第1番目のクロックが出力される前に、
第1番目のクロックにかかる動作の準備を行う(第0番
目のクロック)。コントロール回路66はコントロール
信号CTLをセレクター51,セレクター54,セレク
ター56,セレクター59、セレクター62及びセレク
ター64のS端子に出力する。これによって、セレクタ
ー51はBの入力を選択し、セレクター54はBの入力
を選択して、これを出力とする。これによって、セレク
ター51は入力データWを選択し、セレクター54はΔ
Wを出力する。これらの値は減算器55に出力され、減
算器55はW−ΔWを出力する。また、セレクター59
はBの入力を選択し、セレクター62はAの入力を選択
する。これによって、セレクター59は入力データHを
選択し、セレクター62は数値“0”を選択して、これ
を出力する。これらの出力が入力される減算器63はH
を出力する。これで、第1番目のクロックにかかる動作
の準備がなされる。セレクター51の出力及びセレクタ
ー59の出力はそれぞれ第1番目のクロックが出力され
るとラッチ52及びラッチ60に格納される。
【0027】第1番目のクロックが出力されると、コン
トロール回路66はセレクター51,54,56,5
9,62及び64のS端子にコントロール信号CTL1
〜6(コントロール信号CTL7はフラグラッチ57に
出力)を出力して、各セレクターの入力を選択する。こ
れにより、セレクター51はAの入力を選択して、これ
を出力する。セレクター54はBの入力を選択して、こ
れを出力とする。セレクター56はBの入力を選択し
て、これを出力する。同様に、セレクター59はAの入
力を、セレクター62はAの入力を選択する。また、セ
レクター64はAの入力を選択する。
【0028】このように、各セレクターが動作すると、
セレクター54は輪郭部切出寸法ΔWを選択して出力す
る。セレクター51は第0番目のクロック時の減算器5
2の出力(W−ΔW)を選択し、ラッチ52に格納する。
減算器55は、0番目のクロック時のラッチ52の格納
内容及びセレクター54の出力を減算し、W−ΔWを出
力する。セレクター56はΔWを選択し出力する。一
方、セレクター62は数値“0”を選択して出力する。
セレクター59は第0番目のクロック時の減算器63の
出力値Hを選択し、ラッチ60に格納する。減算器63
は、0番目のクロック時のラッチ60の格納内容及びセ
レクター62の出力を減算し、Hを出力する。セレクタ
ー64はHを選択し出力する。
【0029】第2番目のクロックが出力されると、コン
トロール回路66は、セレクター51はAの入力を選択
し、セレクター54はBの入力を選択し、セレクター5
6はBの入力を選択し、セレクター59はAの入力を選
択し、セレクター62はA入力を選択し、セレクター6
4はAの入力を選択するように、制御する。
【0030】このように、各セレクターが動作すると、
セレクター54は輪郭部切出寸法ΔWを選択して出力す
る。セレクター51は第1番目のクロック時の減算器5
5の出力(W−ΔW)を選択し、ラッチ52に格納す
る。減算器55は、1番目のクロック時のラッチ52の
格納内容及びセレクター54の出力を減算し、W−2Δ
Wを出力する。セレクター56はΔWを選択し出力す
る。一方、セレクター62は数値“0”を選択して出力
する。セレクター59は第1番目のクロック時の減算器
63の出力値Hを選択し、ラッチ60に格納する。セレ
クター62は数値“0”を選択し、出力する。減算器6
3は、1番目のクロック時のラッチ60の格納内容及び
セレクター62の出力を減算し、Hを出力する。セレク
ター64はHを選択し出力する。
【0031】第3番目のクロックが出力されると、コン
トロール回路66は、セレクター51はAの入力を選択
し、セレクター54はAの入力を選択し、セレクター5
6はAの入力を選択し、セレクター59はAの入力を選
択し、セレクター62はBの入力を選択し、セレクター
64はBの入力を選択するように、制御する。
【0032】このように、各セレクターが動作すると、
セレクター54は数値“0”を選択して出力する。セレ
クター51は第2番目のクロック時の減算器55の出力
(W−2ΔW)を選択し、ラッチ52に格納する。減算
器55は、2番目のクロック時のラッチ52の格納内容
及びセレクター54の出力を減算し、W−2ΔWを出力
する。セレクター56はW−2ΔWを選択し出力する。
一方、セレクター62はΔHを選択して出力する。セレ
クター59は第2番目のクロック時の減算器63の出力
値Hを選択し、ラッチ60に格納する。減算器63は、
2番目のクロック時のラッチ60の格納内容及びセレク
ター62の出力を減算し、H−ΔHを出力する。セレク
ター64はΔHを選択し出力する。
【0033】第4番目のクロックが出力されると、コン
トロール回路66は、セレクター51はAの入力を選択
し、セレクター54はAの入力を選択し、セレクター5
6はAの入力を選択し、セレクター59はAの入力を選
択し、セレクター62はB入力を選択し、セレクター6
4はBの入力を選択するように、制御する。これによ
り、ラッチ52にはW−2ΔWが格納され、また、セレ
クター56はW−2ΔWを選択して出力する。ラッチ6
0にはH−2ΔHが格納され、セレクター64はΔHを
選択して出力する。
【0034】第5番目のクロックが出力されると、コン
トロール回路66は、セレクター54はAの入力を選択
し、セレクター56はAの入力を選択し、セレクター6
2はA入力を選択し、セレクター64はAの入力を選択
するように、制御する。このクロックが出力されると1
サイクルの周期が終了し、次の第0番目のクロックが出
力されると準備段階に入るので、セレクター51及びセ
レクター59は使用されない。第5番目のクロックが出
力されると、セレクター56はW−2ΔWを選択し、セ
レクター64はH−2ΔHを選択する。このクロックが
出力されると1サイクルの周期が終了し、次の第0番目
のクロックが出力されて同様な動作を繰り返す。
【0035】さらに、輪郭分解回路21の詳細を説明す
る。図10において、減算器71の一方の入力には、バ
ッファメモリ20から、原図形の幅のデータWが入力さ
れ、減算器71の他方の入力には、レジスタ70に格納
されている輪郭部切出寸法ΔWが入力される。セレクタ
ー72には3つの入力端子があり、それぞれ、原図形の
幅のデータW,減算器71の出力及び数値“0”が入力
される。セレクター72は、コントロール回路90のコ
ントロール信号CTL1を受け、この3つの入力から1
つを選択して出力する。セレクター72の出力は加算器
73に入力され、加算器73の他方の入力にはバッファ
メモリ20からの横方向の基準位置Xが入力される。さ
らに、加算器73の出力はラッチ74によりクロック9
1に同期して出力され、図形分解回路22に入力され
る。
【0036】減算器76の一方の入力には、バッファメ
モリ20から、原図形の高さのデータHが入力され、減
算器76の他方の入力には、レジスタ75に格納されて
いる輪郭部切出寸法ΔHが入力される。セレクター77
には3つの入力端子があり、それぞれ、原図形の幅のデ
ータH,減算器76の出力及び数値“0”が入力され
る。セレクター77は、コントロール回路90のコント
ロール信号CTL2を受け、この3つの入力から1つを
選択して出力する。セレクター77の出力は加算器78
の一方に入力され、加算器78の他方の入力にはバッフ
ァメモリ20からの縦方向の基準位置Yが入力される。
さらに、加算器78の出力はラッチ79によりクロック
91に同期して出力され、図形分解回路22に入力され
る。
【0037】この回路の動作を説明する(図11に詳
細)。第1番目のクロックが出力されると、コントロー
ル回路90の出力により、セレクター72は数値を
“0”を選び、また、セレクター77も数値“0”を選
ぶ。そのために、バファメモリ20からのデータがその
まま、それぞれ、出力データX及び出力データYとして
図形分解回路22に出力される。第2番目のクロックが
出力されると、コントロール回路90の出力により、セ
レクター72は減算器71の出力(W−ΔW)を選び、ま
た、セレクター77は数値“0”を選ぶ。そのためにそ
れぞれ、X+W−ΔW及びYが図形分解回路22に出力
される。第3番目のクロックが出力されると、コントロ
ール回路90の出力により、セレクター72はレジスタ
ー70の出力(ΔW)を選び、また、セレクター77は
数値“0”を選ぶ。そのためにそれぞれ、X+ΔW及び
Yが図形分解回路22に出力される。第4番目のクロッ
クが出力されると、コントロール回路90の出力によ
り、セレクター72はレジスター70の出力(ΔW)を
選び、また、セレクター77は減算器76の出力(H−
ΔH)を選ぶ。そのためにそれぞれ、X+ΔW及びY+
H−ΔHが図形分解回路22に出力される。第5番目の
クロックが出力されると、コントロール回路90の出力
により、セレクター72はレジスター75の出力(Δ
W)を選び、また、セレクター77は減算器78の出力
(ΔH)を選ぶ。そのためにそれぞれ、X+ΔW及びY
+ΔHが図形分解回路23に出力される。第5番目のク
ロックが出力されると、1回休止し(第0番目のクロッ
ク)、このサイクルが終了する。そして、第1番目のク
ロックに戻る。このように、この回路では、6つのクロ
ックを1サイクルとして、同じ動作が繰り返される。
【0038】次に、ブランカーコントローラ10の回路
の詳細を説明する。図1において、図形分解回路22か
らのX位置座標データXn及びY位置座標データYnは
それぞれ、クロック105に同期して、ラッチ93及び
ラッチ97に取り込まれる。また、図形分解回路22か
らのX位置座標データXn及びY位置座標データYnは
それぞれ、クロック104に同期して、ラッチ94及び
ラッチ98に取り込まれる。クロック104及びクロッ
ク105は共に、クロック103を2分の1に分周して
作ったもので、互いに2分の1周期ずれている。そのた
めに、ラッチ94及びラッチ98は、ラッチ93及びラ
ッチ97より遅れたデータ(クロック103の1周期分
遅延)を出力する。したがって、ラッチ93及びラッチ
97の出力するデータをそれぞれXnおよびYnと表す
と、ラッチ94及びラッチ98の出力するデータはそれ
ぞれXn−1およびYn−1と表される。ラッチ93の
出力とラッチ94の出力はそれぞれ減算器95に入力さ
れる。また、ラッチ97の出力とラッチ98の出力はそ
れぞれ減算器99に入力される。減算器95の出力(X
位置座標の変化分ΔX)及び減算器99の出力(Y位置
座標の変化分ΔY)は、セレクター96及び比較器10
0に入力され、比較器100の出力によってセレクター
96の出力が選択される。これにより、セレクター96
から、ΔXまたはΔYの大きい方が選択され、出力され
る。セレクター96の出力は輪郭待ち時間テーブル10
1に入力される。
【0039】一方、図形分解回路22からの輪郭フラグ
Fnの値は、クロック103に同期して、ラッチ107
に取り込まれる。この出力は輪郭待ち時間テーブル10
1に入力される。輪郭待ち時間テーブル101には予め
図6に示されるような関係が記憶されている。輪郭待ち
時間テーブル101は、X位置座標の変化分ΔX及びY
位置座標ΔYの変化分の大きい方、及び、輪郭フラグF
nの状態に応じて出力する。この出力は、クロック10
3に同期して、ラッチ102に取り込まれる。ラッチ1
02の出力はブランカーオン時間Tonとされ、ブランカ
ーコントローラ10に出力される。
【0040】セレクター108の一方には図5(a)に示
されるブランカーオフ時間Toff1(比較的長い)が入力
され、他方の入力には図5(a)に示されるブランカー
オフ時間Toff2(比較的短い)が入力される。セレクタ
ー108はラッチ107の出力に応じてこれらから一方
を選択する。すなわち、輪郭部であれば照射時間を比較
的に長くし、内部であれば照射時間を比較的に短くす
る。セレクター108の出力は、クロック103に同期
して、ラッチ109に取り込まれる。
【0041】ラッチ109の出力に応じてブランカーは
オフ(電子線2の照射)され、その後、ラッチ102の
出力に応じてブランカーはオンされる(電子線2の遮
断)。この動作が繰り返されることにより、電子線の描
画が進んでいく。
【0042】この実施例の効果を説明する。電子ビーム
2の照射位置と遮断時間の関係について説明する。偏向
器8の電圧の特性は遅延時間を有し、かつ静定に対して
はある種の振動が発生する。偏向器8の電圧が安定する
までの時間は、偏向器8に印加する電圧,回路の時定数
及び、インピーダンス等にも依存するが、、例えば約
0.1〜0.2μsである。最新の半導体素子、例えば6
4MDRAMの場合、電子ビームの照射回数が概略10
の10乗回にも達する。仮に1回の設定時間が0.1μ
s としても、合計時間は約1000秒であり、決して
短い時間ではない。これは全て無駄時間となる。
【0043】図7(a)及び(b)に示すごとく、ある
時刻T1 で電子ビーム2を照射を完了(ブランカー6を
オフ)にした後、電子ビーム2を遮断して、偏向器8の
電圧を次の照射位置決めを行うために偏向器7に印加す
る電圧を変化させる。この場合、高精度を要する輪郭部
においては、偏向器7により位置決めが十分なされたT
3 で電子ビーム2を照射(ブランカー6をオフ)する
が、多少電子ビーム2の位置ずれが発生しても、最終的
なパターン形状の仕上がりに影響を及ぼさない内部にお
いては、電子ビーム2の位置即ち偏向器8の電圧の設定
が未だ不十分な時刻T2 で電子ビーム8を照射(ブラン
カーをオフ)にする。輪郭分解の輪郭部分と内法部分の
図形数(電子ビーム2の照射回数)の比はほぼ1:1と
し、1回の照射遮断時間を0.1μs と仮定すると、1
回当り約0.05μs (半分の照射時間に相当)とする
ことができる。従って64MビットDRAMに置ける全
照射待時間1000秒が、約25%短縮することができ
る。
【0044】次に、図12を用いて第2の実施例を説明
する。第2の実施例では、輪郭分解回路21が出力する
描画順序のみが異なっている。この部分のみを、以下説
明するが、この他の部分は第1の実施例と同様である。
まず、輪郭分解回路21のコントロール回路66,90
はX−Yステージ移動フラグの状態をみる。このX−Y
ステージ移動フラグは、ステージコンローラ17より出
力されるもので、X−Yステージ13の移動があると
“1”となり、X−Yステージ13の移動がないと
“0”となる。
【0045】輪郭分解回路21のコントロール回路6
6,90は、X−Yステージ移動フラグが“1”(X−
Yステージの移動あり)であれば、図12に示される順
に、原図形の描画を行うようにデータを出力する。すな
わち、内部を初めに描画し、その後に、輪郭部を描画す
る。そのために、コントロール回路66,90は、図9
及び図11のサイクルを、0→5→1→2→3→4→の
ようにする。
【0046】輪郭分解回路21のコントロール回路6
6,90は、X−Yステージ移動フラグが“0”(X−
Yステージの移動なし)であれば、図4(c)に示され
る順に、原図形の描画を行うようにデータを出力する。
すなわち、第1の実施例のように輪郭部を初めに描画
し、その後に、内部を描画する。コントロール回路6
6,90は、図9及び図11に示されるサイクルをその
まま実行する。
【0047】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
描画精度を維持しつつ、なお、描画速度を向上すること
が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】ブランカーコントローラの詳細図。
【図2】電子線描画装置の全体図。
【図3】電子ビームの制御の詳細を示すブロック図。
【図4】原図形の描画パターンを示す図。
【図5】ブランカーオフ時間を示す図。
【図6】描画パターンとブランカーオン時間の関係を示
す図。
【図7】ブランカーオン時間の説明図。
【図8】輪郭分解回路の詳細図。
【図9】輪郭分解回路の動作を示す図。
【図10】輪郭分解回路の詳細図。
【図11】輪郭分解回路の動作を示す図。
【図12】第2の実施例を示す図。
【符号の説明】
1…電子銃、6…ブランカー、7…偏向器、10…ブラ
ンカーコントローラ、11…偏向コントローラ、12…
データコントローラ、13…X−Yステージ、18…コ
ンピュータ。

Claims (13)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】試料に電子線を照射する照射手段と、その
    電子線の前記試料に対する照射を阻止するブランカー
    と、与えられた電圧に応じて前記電子線を偏向させる偏
    向器とを有する電子線描画装置において、前記偏向器に
    与えられた電圧が変化してから前記偏向器の電圧が実質
    的に安定するまでの第1の時間、及び、その第1の時間
    内でその第1の時間より短い第2の時間の一方を選択す
    る時間選択手段と、その時間選択手段の選択に応じて前
    記ブランカーを動作させるブランカー制御手段を有する
    ことを特徴とする電子線描画装置。
  2. 【請求項2】請求項1において、前記偏向器は前記電子
    線による前記試料の照射位置を変えるように構成するこ
    とを特徴とする電子線描画装置。
  3. 【請求項3】請求項2において、描画する図形から輪郭
    部を分割する輪郭分解手段を有し、前記時間選択手段は
    前記輪郭分解手段の出力に応じて選択を行うように構成
    することを特徴とする電子線描画装置。
  4. 【請求項4】請求項3において、前記輪郭分解手段の出
    力に応じて描画順序を決定するように構成することを特
    徴とする電子線描画装置。
  5. 【請求項5】請求項4において、前記輪郭部の領域の描
    画では、前記時間選択手段は前記第1の時間を選択する
    ように構成することを特徴とする電子線描画装置。
  6. 【請求項6】請求項1において、前記偏向器に与えられ
    た電圧の変化量に応じて前記第2の時間を変化するよう
    に構成することを特徴とする電子線描画装置。
  7. 【請求項7】請求項1において、前記電子線の偏向量に
    応じて前記第2の所定時間を変化するように構成するこ
    とを特徴とする電子線描画装置。
  8. 【請求項8】請求項6において、前記偏向器に与えられ
    た電圧の変化量に応じて前記第1の時間を変化するよう
    に構成することを特徴とする電子線描画装置。
  9. 【請求項9】試料に電子線を照射する照射手段と、その
    電子線の前記試料に対する照射を阻止するブランカー
    と、与えられた電圧に応じて前記電子線を偏向させる偏
    向器とを有する電子線描画装置において、前記偏向器に
    与えられた電圧が変化してから前記偏向器の電圧がほぼ
    所定の印加電圧に到達するまでの第1の時間、及び、そ
    の第1の時間内で前記第1の時間より短い第2の時間の
    一方を選択する時間選択手段と、前記時間選択手段の選
    択に応じて前記ブランカーを動作させるブランカー制御
    手段を有することを特徴とする電子線描画装置。
  10. 【請求項10】試料に電子線を照射する照射手段と、前
    記試料を移動するステージとを有する電子線描画装置に
    おいて、前記試料の移動の有無に応じて原画の描画順序
    を変えるように構成することを特徴とする電子線描画装
    置。
  11. 【請求項11】請求項10において、描画する図形を輪
    郭部及び内部に分割する図形分解手段を有し、前記ステ
    ージの移動があると前記内部を描画するように構成する
    ことを特徴とする電子線描画装置。
  12. 【請求項12】試料を電子線で照射する手段と、その電
    子線による前記試料の照射を停止する照射停止手段と、
    前記電子線による前記試料の照射位置を変える手段と、
    前記電子線による前記試料の照射位置が変化してから実
    質的に安定するまでの期間、及び、その期間中その期間
    よりも短い期間、を通じて前記電子線による前記試料の
    照射を選択的に停止するように前記照射停止手段を作動
    させる手段を備えることを特徴とする電子線描画装置。
  13. 【請求項13】電子銃で発生する電子線を試料に照射し
    て描画を行う電子線描画方法において、以下の各ステッ
    プを有することを特徴とする電子線描画方法、 (a);前記電子線が試料に到達しないようにブランカー
    を動作させるステップ、 (b);ステップ(a)の後に偏向器に印加する電圧を変化
    させるステップ、 (c);前記偏向器の電圧がほぼ安定するまでの第1の時
    間、及び、その第1の時間内でその第1の時間より短い
    第2の時間、の一方を選択するステップ、 (e);ステップ(b)の後に、ステップ(c)で選択された
    時間待つステップ、 (f);ステップ(e)の後に電子銃から照射された前記電
    子線が試料に到達するように前記ブランカーを動作させ
    るステップ。
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